「Tested」に関連した英語例文の一覧と使い方(17ページ目) - Weblio英語例文検索

Turning off the energization to the electromagnet causes the arm 2 to fall while the object 1 to be tested is being suspended, only the object 1 to be tested first collides with a collision surface, and then the arm 2 is subjected to buffer collision to an arm stopper.例文帳に追加

電磁石への通電がＯＦＦされるとアーム２は試験対象物１を吊り下げた状態で落下し、試験対象物１のみがまず衝突面に衝突し、続いてアーム２がアームストッパーに緩衝衝突する。 - 特許庁

An external semiconductor memory test device 5 provided with data holding circuits F/F11-14 and switching circuits MUX21-24 is connected to a semiconductor memory test device 6, and devices MUT1-MUT4 to be tested are tested.例文帳に追加

半導体メモリ試験装置６にデータ保持回路（Ｆ／Ｆ１１〜１４）と切換回路（ＭＵＸ２１〜２４）とを備えた外付け半導体メモリ試験装置５を接続して、被試験デバイス（ＭＵＴ１〜４）の試験を行う。 - 特許庁

A BIST circuit 13A performs read-out of background data from an address to be tested, also, performs write-in/read-out of reversed data in which the background data are reversed for at least one part of the address to be tested.例文帳に追加

ＢＩＳＴ回路１３Ａは、テスト対象アドレスからバックグラウンドデータの読み出しを行い、かつ、テスト対象アドレスの少なくとも一部に対してバックグラウンドデータを反転させた反転データの書き込み／読み出しを行う。 - 特許庁

To perform substitution washing of the inside of a reaction vessel having a binding substance fixed thereon with a material to be tested fixed on the inner wall without fluctuating the level of a liquid in the reaction vessel and exfoliating the material to be tested.例文帳に追加

結合物質が固定された反応容器の内壁面に被検物質を固定した状態で、反応容器内の液面を変動させず、かつ被検物質を剥離することなく反応容器内を置換洗浄する。 - 特許庁

To accurately and easily measure a solution concentration, even when a sample is contaminated, even when a tested solution is suspended, and even when a disturbance factor such as a suspended particle exists, in measurement of a specified component in the tested solution.例文帳に追加

被検溶液中の特定成分の計測において、サンプルセルの汚れ、被検溶液の懸濁、浮遊粒子などの阻害要因がある場合でも、正確な溶液濃度を簡便に測定できる手段を提供する。 - 特許庁

If the relative change of the expression amount of the marker genes in the Bhas 42 cell treated with a substance to be tested is used as an index, the carcinogenesis promoting activity can be detected by treatment with the substance to be tested in a time shorter than before.例文帳に追加

被検物質で処理したＢｈａｓ４２細胞におけるマーカー遺伝子の発現量の相対変化を指標とすれば、従来よりも短時間の被検物質処理で発がんプロモーション活性を検出できる。 - 特許庁

According to this structure, since no excessive pressure acts on the body 2 to be tested, the body to be tested can be protected, every kind of hydraulic pressures can be combined by the process controller 17, and the hydraulic test can be performed repeatedly many times.例文帳に追加

これにより、過大な圧力が被試験体２に作用しないので、被試験体を保護でき、プロセスコントローラ17によりあらゆる種類の水圧を組み合せができ、何回も繰り返し水圧試験を行うことができる。 - 特許庁

When reference stimulation is loaded to the subject, a substance A to be tested is applied onto the left forearm of the subject, then a substance B to be tested is applied onto the right forearm, thereafter ECG (electrocardiogram) and GSR (galvanic skin response) data are obtained from each of the right/left forearms.例文帳に追加

被験者に基準刺激を負荷したとき、被験者の左前膊に被験物質Ａを塗布した後、被験者の右前膊に被験物質Ｂを塗布し後のそれぞれに、ＥＣＧとＧＳＲのデータを取得した。 - 特許庁

In a monitor display, a pace car-displaying area displaying a vehicle driving in front of a car to be tested and a decision-displaying area deciding a distance between the vehicle displayed in the pace car-displaying area and the car to be tested are provided.例文帳に追加

モニタディスプレイに、被試験車の前方を走行する車両が表示されるペースカー表示エリアと、ペースカー表示エリアに表示された車両と試験車両間の距離を判定する判定表示エリアを設ける。 - 特許庁

To provide a torsion tester for a rotary body applying torsional moment to an object to be tested under rotation to be capable of detecting not only the torque acting on the object to be tested during rotation but also an angle of torsion.例文帳に追加

供試体を回転させつつねじりモーメントを負荷し、これによって回転中の供試体に作用するトルクのみならず、ねじれ角度をも検出することのできる回転体用ねじり試験機を提供する。 - 特許庁

To provide an LSI test system in which a plurality of DUTs can be tested without lowering the use efficiency of the test system when the DUTs are tested while being mounted on frames and the throughput of test process can be enhanced.例文帳に追加

複数のＤＵＴをフレームに搭載してテストする場合にテストシステムの使用効率を悪化させることなくテストを行うことができ、テスト工程のスループットも向上させることが可能になるを提供する - 特許庁

To test a device to be tested for outputting a plurality of modulation signals modulated by carrier signals of one and the same frequency or a device to be tested for outputting a plurality of baseband signals with a simple configuration.例文帳に追加

同一周波数のキャリア信号により変調された複数の変調信号を出力する被試験デバイスまたは複数のベースバンド信号を出力する被試験デバイスを、簡単な構成により試験する。 - 特許庁

The testing device having a plurality of replaceable test modules that supply test signals to devices to be tested is emulated to verify a testing environment without use of the real items such as the devices to be tested and the test modules.例文帳に追加

試験信号を被試験デバイスにそれぞれ供給する交換可能な複数の試験モジュールを備える試験装置をエミュレートし、被試験デバイスや試験モジュール等の実物を用いることなく試験環境を検証する。 - 特許庁

To provide a contactless continuity test apparatus and method, capable of checking continuity of a probe for insulation test and electrodes of a component to be tested with the probe attached to the component to be tested.例文帳に追加

絶縁試験用のプローブと試験対象部品の電極との導通を、プローブを試験対象部品に装着した状態で確認することのできる非接触導通試験装置および方法を提供する。 - 特許庁

A method for reducing the amount of a branched amino acid in a tested sample includes converting at least a part of the branched amino acid that is often contained in the tested sample for the analysis of L-methionine into an oxo acid.例文帳に追加

L-メチオニンを分析するための被検試料に含まれる可能性がある分岐鎖アミノ酸の少なくとも一部をオキソ酸に変換することを含む、分岐鎖アミノ酸の被検試料中の量を低減する方法。 - 特許庁

To constitute a test kit by flexibly combining discriminating substances for discriminating objects to be tested use by use and to speedily and easily specify the objects to be tested through the use of discriminating substances.例文帳に追加

検査対象を識別するための識別物質を用途毎にフレキシブルに組み合わせて検査キットを構成できるようにすると共に、識別物質を用いて検査対象を迅速かつ容易に特定できるようにする。 - 特許庁

Furthermore, the substrate test-use jig unit is composed of: the substrate jig board 11; and a substrate holder having an aperture section which contacts with a portion area side to be tested this time in the substrate to be tested 101 and exposes it.例文帳に追加

また、基板検査用治具ユニットは、上記基板治具ボード１１と、被検査基板１０１における今回検査分の部分領域側と当接してこれを表出させる開口部を有する基板ホルダとで構成した。 - 特許庁

To provide a device test equipment and a device test method which can secure stable thermal contact between a stage and a device to be tested, while being able to suppress a need for load and a contamination of the device to be tested.例文帳に追加

荷重の必要性および被試験デバイスの汚染を抑制できるとともに、ステージと被試験デバイスとの熱的な安定接触を確保することができるデバイス試験装置およびデバイス試験方法を提供する。 - 特許庁

Eccentricity of the i-surface of a tested object 1 placed in an optical path of an interferometer is obtained from the interference fringe of the optical path including the i-surface obtained by passing luminous flux through the tested object 1, and data on eccentricity obtained by calculation.例文帳に追加

干渉計光路中に置かれた被検物１に光束を通し得られたｉ面を含む光路の干渉縞と、計算で求めた偏心に関するデータとから被検物１のｉ面の偏心を求める。 - 特許庁

To provide a test method for a semiconductor test device realizing an efficient device test method without testing doubly an address region already tested, in simultaneous measurement of plural DUT(device to be tested) utilizing a matched mode function.例文帳に追加

マッチモード機能を利用した複数ＤＵＴの同時測定において、試験済のアドレス領域を重複試験しないで効率的なデバイス試験方法を実現する半導体試験装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

Since the driving wheel of the vehicle 20 to be tested is forcibly rotated by the rotation of the support rotating body 43, the vehicle speed of the vehicle 20 to be tested can be controlled, by controlling the rotation of the test machine-side power source 42.例文帳に追加

この支持回転体４３の回転により試験車両２０の駆動輪は強制的に回転するから、試験機側動力源４２の回転を制御することで試験車両２０の車速を制御する。 - 特許庁

This continuity inspection device includes open/short detection circuits (2_1 to 2_n) provided to each to-be-tested terminal (1_1 to 1_n), respectively, and configured to determine the presence or absence of at least of either an open-circuit failure or a short-circuit failure in to-be-tested terminals.例文帳に追加

本発明にかかる導通検査装置は、検査対象端子（１_１〜１_ｎ）毎に、検査対象端子のオープン不良とショート不良の少なくとも一方を判定するオープン／ショート検出回路（２_１〜２_ｎ）を有する。 - 特許庁

A semiconductor integrated circuit device 50 is provided with a burn-in counter 1, a control unit 2, and a circuit 3 to be tested.例文帳に追加

半導体集積回路装置５０には、バーインカウンタ１、制御部２、及び被テスト回路３が設けられる。 - 特許庁

The purity of the aluminum to be produced is tested, and the extent of cathode wear is detected by the fact whether the tracer materials are present or not.例文帳に追加

製造したアルミニウムの純度を検査し、トレーサ物質の有無で陰極の消耗の程度を検出する。 - 特許庁

Thereafter, the electrical characteristics of the semiconductor device are tested by applying a voltage to the supporting base and the contact pin (step S4).例文帳に追加

そして、支持台とコンタクトピンに電圧を印加して、半導体素子の電気的特性を試験する（ステップＳ４）。 - 特許庁

The fracture strength and the durability under the operation are tested by driving the test gear with load applied thereto.例文帳に追加

また負荷状態で試験歯車を駆動させることで、動作状態の破壊強度や耐久性を試験する。 - 特許庁

As a result, the precision of a route through which the treatment solution flows is enhanced and the detection precision of a substance to be tested is also enhanced.例文帳に追加

その結果、処理液が流れる経路の精度も向上し、被検物質の検出精度も向上する。 - 特許庁

A block between an IC and an MG and a block between the MG and a router adjacent to the MG are tested so as to be overlapped.例文帳に追加

ＩＣとＭＧとの区間およびＭＧとこのＭＧに隣接するルータとの区間を重複して試験する。 - 特許庁

A special packet generating section 114 generates a special packet and transmits it to a network terminal 102 at a side to be tested.例文帳に追加

特殊パケット生成部１１４は特殊パケットを生成して被試験側ネットワーク端末１０２へ送信する。 - 特許庁

A computer 12 outputs test purpose encoded data E1 to a circuit 10 to be tested via a test circuit 18.例文帳に追加

コンピュータ１２がテスト用符号化データＥ１を、テスト回路１８を介して被テスト回路１０に出力する。 - 特許庁

To provide a surge test circuit that can realize the same testing condition regardless of consumption current of tested-equipment.例文帳に追加

被試験機器の消費電流によらず、同一の試験条件を実現できるサージ試験回路を提供する。 - 特許庁

To make it possible to vary the crash angle of a vehicle to be tested in a test apparatus for vehicle crash.例文帳に追加

車両衝突試験装置において、テスト車両の衝突角度を変えることができるようにすることである。 - 特許庁

To provide a recognition device whose recognition accuracy is high even when an object to be tested being a recognition object moves.例文帳に追加

認識対象である被検査体が動いているときでも、認識精度が高い認識装置を提供する。 - 特許庁

An auto-handler 1 sucks an IC 40, which is to be tested, with a sucking hand 11, and transfers it to a specified position.例文帳に追加

オートハンドラ１は、吸着ハンド１１で被試験体となるＩＣ４０を吸着し、所定の位置に移載する。 - 特許庁

Processing included in a processing history in the normal operation of an information processing system is reproduced and tested.例文帳に追加

情報処理システムの通常運用における処理履歴に含まれる処理を再現実行してテストを行う。 - 特許庁

Based on the plural measured values, a quality of CMOS integrated circuit 108 to be tested is decided.例文帳に追加

そして、複数個の測定値に基づき、試験対象ＣＭＯＳ集積回路１０８の良否判定を行う。 - 特許庁

To provide a method for reducing multiple reflections between the surface of a phased array probe and the surface of a material to be tested.例文帳に追加

フェーズドアレープローブ表面と被検材表面との間の多重反射を軽減する方法を提供する。 - 特許庁

To easily create a scenario according to the state of equipment to be tested or the specification of the equipment in a short time.例文帳に追加

テスト対象機器の状態や機器の仕様に応じたシナリオを容易にかつ短時間で作成すること - 特許庁

The contact revolutions or the like ca be tested by measuring the shape of wave of the detected voltage using an oscilloscope 14.例文帳に追加

かかる検出電圧の波形をオシロスコープ１４により測定することで、接触回転数等を検査できる。 - 特許庁

To provide a method of identifying a risk category of a chemical product whose hazard has not been tested.例文帳に追加

危険有害性試験データが得られていない化学品について危険度区分を特定する方法を提供する。 - 特許庁

Under a high-temperature environment, the electrical characteristics of the semiconductor element are tested through the wiring (S105).例文帳に追加

高温環境下において前記配線を介して前記半導体素子の電気的特性の試験を行う（Ｓ１０５）。 - 特許庁

The operation of the internal synchronous control circuit is tested using the reference signal 29 and the conflict signal 20.例文帳に追加

そして、基準信号２９と競合信号２０を用いて内部同期制御回路の動作テストを行なう。 - 特許庁

The test circuit includes a subtest circuit 1a corresponding to each of a plurality of output buffers 11 to be tested.例文帳に追加

テスト対象とされる複数の出力バッファ１１のそれぞれに対応してサブテスト回路１ａを備える。 - 特許庁

The IP address setting part 14 sets the transferred IP address as an IP address of the apparatus 10 to be tested.例文帳に追加

ＩＰアドレス設定部１４は、渡されたＩＰアドレスを試験対象装置１０のＩＰアドレスとして設定する。 - 特許庁

Semiconductor devices 310-380 to be tested are disposed in a cascaded state on a burn-in board.例文帳に追加

バーンインボード上にテスト対象の半導体装置３１０−３８０をカスケード接続した状態で配置する。 - 特許庁