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Testedを含む例文一覧と使い方

該当件数 : 2937



例文

To provide micromanipulators capable of operating an object to be tested without a complicated structure and a micromanipulator system supplying easily and rapidly the appropriate micromanipulators according to the object to be tested.例文帳に追加

複雑に構成することなく被検体を操作できるマイクロマニピュレータ及び、被検体に応じて適切なマイクロマニピュレータを容易かつ迅速に供給するマイクロマニピュレータシステムを提供する。 - 特許庁

A measuring beam L1 including a contrast image is projected from the projection optical system 10 to the tested lens 100 and a beam L2 which passes the tested lens 100 is made incident on the measuring instrument body 20.例文帳に追加

投射光学系10から被検レンズ100へコントラスト像を含む測定光L1を投射し、被検レンズ100を通過した光L2を測定装置本体20へ入射させる。 - 特許庁

The reference image and the image to be tested are partitioned into blocks (42), a difference index of the blocks corresponding to the image to be tested and the reference image are calculated (44) to determine whether the difference index is smaller than a threshold (46).例文帳に追加

基準イメージ及び被試験イメージをブロックに区分し(42)、被試験イメージ及び基準イメージの対応するブロックの差指標を計算し(44)、その差指標がしきい値未満かを判断(46)する。 - 特許庁

In these method and device for measuring the interference, a surface to be tested and a reference surface are irradiated with the light of the same wavelength, and the light to be tested and the reference light are led to the same part.例文帳に追加

干渉計測方法および干渉計測装置では、被検面および参照面に同一波長の光が照射され、被検光と参照光とが同一箇所に導かれる。 - 特許庁

例文

To provide a semiconductor integrated circuit, which has a circuit to be tested composed of plural memory cells and a BIST(built-in self test) circuit, wherein the circuit to be tested can be made compact.例文帳に追加

複数のメモリセルからなる被試験回路とBIST回路とを有する半導体集積回路であって、被試験回路を小型化可能な半導体集積回路を提供する。 - 特許庁


例文

To prevent torque measurement accuracy from being decreased by a bend and vibration of the support part of a brake to be tested, at the same time, to easily confirm the operation of the brake to be tested, and to reduce the space of a test room.例文帳に追加

被試験ブレーキの支持部の曲げや振動によるトルク測定精度の低下を防止するとともに、被試験ブレーキの動作確認を容易とし、かつ試験室のスペースを小さくする。 - 特許庁

To solve a problem that it is impossible to obtain the same sensitivity of a test in the outer peripheral part and the center part of a tested specimen since charged characteristics are different between the outer peripheral part and the center part of the tested specimen.例文帳に追加

被検査試料の外周部と中心部とで帯電特性が異なることから、被検査試料外周部と中心部とで同等の検査感度を得ることができない。 - 特許庁

Thereby, the above first diagnostic system 100 can be tested in the above first test mode and the above second diagnostic system 200 can be tested in the above second test mode.例文帳に追加

これにより、上記第1テストモードにおいては上記第1診断系のテストを行うことができ、上記第2テストモードにおいては上記第2診断系のテストを行うことができる。 - 特許庁

The state of the particles in the water to be tested is measured based on the intensity of the scattering light received by the plurality of photo detecting sections respectively, and a specific chromaticity component of the water to be tested is measured.例文帳に追加

そして複数の受光部にてそれぞれ受光される散乱光の強度から検水中の粒子の状態を計測すると共に、検水の特定の色度成分を計測する。 - 特許庁

例文

To more exactly volumetrically display the motion of an object to be tested in real time when the high-quality static image of the volume of the object to be tested can be previously acquired and utilized.例文帳に追加

被検物の容積の高品質静止画像が事前に取得され利用可能である場合に、該被検物の運動をより正確に実時間で容積表示できるようにする。 - 特許庁

例文

A cable 162 is provided with a test device-side RFID tag 164 at an end on the side of the test device and with a tested device-side RFID tag 166 at an end on the side of the tested device.例文帳に追加

ケーブル162は、試験装置側の端部に試験装置側RFIDタグ164が設けられ、被試験器側の端部に被試験器側RFIDタグ166が設けられている。 - 特許庁

The test pattern generated by the test pattern generator 10 is input in the tested LSI2 and the output pattern output from the tested LSI2 is input in a comparator 12.例文帳に追加

テストパターン発生部10によって発生されたテストパターンは被試験LSI2に入力され、被試験LSI2から出力された出力パターンは比較部12に入力される。 - 特許庁

The estimation means estimates the internal variable on the basis of data transmitted from the device to be tested to the testing device and data transmitted from the testing device to the device to be tested.例文帳に追加

前記推定手段は、被試験装置から試験装置に送信されたデータ、および試験装置から被試験装置へ送信されたデータに基づいて前記内部変数を推定する。 - 特許庁

Thus, the communication to be tested between the mobile phone 30 and the mobile phone 40 is tested by the test program uploaded only to the mobile phone 30.例文帳に追加

これにより、携帯電話30と携帯電話40相互間で行われる通信試験を、一方の携帯電話30のみにアップロードされた試験用プログラムによって行うことができる。 - 特許庁

The first ion detector receives ion produced from primary gas in the gas to be tested while the second ion detector receives the ion produced from the contaminant substance gas in the sample to be tested.例文帳に追加

第1イオンディテクタは、試験されるガス内の一次ガスから生成されたイオンを受け、第2イオンディテクタは、試験されるサンプル内の汚染物質ガスから生成されたイオンを受ける。 - 特許庁

The slave system server also has an auxiliary database 33 for storing facility data collected via the local system to which facilities to be tested are connected, when the facilities are tested.例文帳に追加

また、スレーブ系サーバは、設備に試験が行われる場合に、試験が行われる設備が接続されるローカルシステムを介して収集した設備データを保存する補助データベース33と、を備える。 - 特許庁

On a server 209, which is connected, via a network 208, to a tool personal computer 201 which executes a testing program 202 for a machine 200 to be tested, testing state information 210 on all the machines to be tested is stored.例文帳に追加

被試験機200の試験プログラム202を実行する冶具パソコン201とネットワーク208で接続されたサーバ209上に、全被試験機の試験状況情報210を保持する。 - 特許庁

To provide a measuring device using a surface plasmon resonance advantageous for securing measurement accuracy while adopting a system of turning a tested object holding part for holding a tested object.例文帳に追加

被検査物を保持する被検査物保持部を回動させる方式を採用しつつ、計測精度を確保するのに有利な表面プラズモン共鳴を用いた計測装置を提供する。 - 特許庁

To judge the quality of LSI in an LSI verification in which the output of a simulator output is taken as the expected value of the output of an LSI to be tested by interrupting the operations of the LSI to be tested and the simulator at an optional timing during operation description, and comparing the output of the LSI to be tested with the expected value.例文帳に追加

シミュレータ出力を被試験LSI出力の期待値とするLSI検証において、任意の動作記述中のタイミングで被試験LSIとシミュレータの動作を中断させ、被試験LSIの出力を期待値と比較してLSIの良否を判定する。 - 特許庁

The instrument comprises a light source for directing a light beam via a fluid tested toward the reflecting surface, and a sensor for detecting the light reflected on the reflecting surface and returned via the tested fluid and outputting a signal indicating the turbidity of the tested fluid.例文帳に追加

本発明の計測器は、反射表面に向けて試験される流体を介して光ビームを方向付ける光源と、反射表面で反射され、試験される流体を介して戻される光を検出し、試験される流体の濁度を指示する信号を出力するセンサとからなることを特徴とする。 - 特許庁

To provide an environmental testing apparatus in which, even if adhesion between a dew condensation sensor and an object to be tested is slightly deteriorated, a change of a dew condensation amount on the surface of a tested object is hardly caused before and after the deterioration of adhesion, that is, the dew condensation state of the surface of the tested object can be stabilized.例文帳に追加

結露量センサと被試験物との間の密着性がある程度悪化しても、密着性悪化前と悪化後とで被試験物表面の結露量の変化が生じにくい、すなわち被試験物表面の結露状態を安定させることができる環境試験装置を提供する。 - 特許庁

In situations where the electromagnetic wave is fed to the circuit 22 to be tested from the electromagnetic wave feeding part 18 and the test pattern is fed to the circuit 22 to be tested from the pattern feeding part 12, the power supply current measuring part 14 can measure the power supply current of the circuit 22 to be tested.例文帳に追加

電源電流測定部14は、電磁波供給部18により電磁波が被試験回路22に供給され、パターン供給部12によりテストパターンが被試験回路22に供給されている状態において、被試験回路22の電源電流を測定することができる。 - 特許庁

The supply current measuring part 14 can measure a supply current in the circuit 22 to be tested in the state where the electromagnetic wave is supplied to the circuit 22 to be tested by the electromagnetic wave supply part 18 and the test pattern is supplied to the circuit 22 to be tested by the pattern supply part 12.例文帳に追加

電源電流測定部14は、電磁波供給部18により電磁波が被試験回路22に供給され、パターン供給部12によりテストパターンが被試験回路22に供給されている状態において、被試験回路22の電源電流を測定することができる。 - 特許庁

To provide a cell continuity inspection system by which an ATM tester is connected to a plurality of devices to be tested and simultaneously inspected, an inspection time for the ATM cell continuity inspection is shortened, and the inspection of a plurality of the devices to be tested can be executed in real time without enlarging a circuit scale of the device to be tested.例文帳に追加

ATM試験器を複数の被試験装置に接続して同時に検査し、ATMセル導通検査の検査時間を短縮するとともに、被試験装置の回路規模を大きくすることなく、複数の被試験装置の検査を実時間で行えるセル導通検査システムを提供する。 - 特許庁

The method for predicting biorhythm of an individual to be tested includes measuring amounts of expression of two clock genes having different phases of circadian cycle of change in the amount of expression with regard to biological samples collected from an individual to be tested three times within 24 hours and predicting the biorhythm of the individual to be tested on the basis of obtained data of time series amount of expression.例文帳に追加

被検個体から24時間以内に3回採取した生体試料について、発現量変化の概日周期の位相が異なる2つの時計遺伝子の発現量を測定し、得られた時系列発現量データに基づいて、被検個体の生体リズムを予測する方法を提供する。 - 特許庁

To provide an electronic device being tested at high speeds through the use of a conventional testing apparatus.例文帳に追加

従来の試験装置を用いて高速の試験を行うことができる電子デバイスを提供する。 - 特許庁

To accurately and quickly place the driving wheel of a vehicle to be tested directly on a roller for accurate testing.例文帳に追加

被試験車両の駆動輪をローラの真上に正確に短時間で載置し、正確な試験を行う。 - 特許庁

In this method, serum of a rat with stress loaded through water-submersion arresting is tested to two-dimensional electrophoresis.例文帳に追加

水浸拘束によりストレスを負荷したラットの血清を二次元電気泳動に供試する。 - 特許庁

The slate plate produced in the above-mentioned is tested in accordance with a bending test method regulated in JIS.例文帳に追加

このようにして製造したスレート板をJISに規定の曲げ試験方法で試験を行う。 - 特許庁

To provide a verifying device for easily searching the cause of the abnormality of software to be tested.例文帳に追加

試験対象ソフトウェアの異常の原因追求を容易にする検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing a secondary battery by which the secondary battery can be tested safely at low cost.例文帳に追加

安全かつ低コストで二次電池を検査できる二次電池の検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a communication device capable of being tested in a simple manner at low cost.例文帳に追加

簡単かつ低コストで試験を行うことができる通信装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

In one embodiment, the testing device is a glucose meter and the analyte being tested is glucose.例文帳に追加

一実施形態において、試験機器はグルコース測定器であり、試験される検体はグルコースである。 - 特許庁

The present invention provides an improved system for testing a tested object by an IC tester.例文帳に追加

本発明は、被試験対象をICテスタにより試験するテストシステムに改良を加えたものである。 - 特許庁

After removing the measuring tool, the substrate is arranged on the chuck to be tested using a testing system.例文帳に追加

測定ツールを取り外した後、チャック上に基板を配置し、試験システムを用いて試験を行う。 - 特許庁

To detect a surface position of a tested surface with high precision without being affected by fluctuation in an optical member.例文帳に追加

光学部材の変動に影響されずに被検面の面位置を高精度に検出する。 - 特許庁

In this manner, the transient voltage protective device may be highly reliably tested during its lifetime.例文帳に追加

それにより過渡電圧保護デバイスは、稼働寿命の間に信頼性良くテストすることができる。 - 特許庁

The signal processing unit 2 properly sets paths except paths to be tested of the synchronous circuitry 1.例文帳に追加

同期回路部1のテスト対象のパス以外のパスは、信号処理部2により適宜設定される。 - 特許庁

An inspection device images and inspects a material to be tested having a plurality of elements to be inspected.例文帳に追加

検査装置は、複数の検査対象要素を有する被検査体を撮像して検査する。 - 特許庁

A probe normalization fixture 300 is inserted between the device to be tested 120 and a probe 110.例文帳に追加

被試験装置120及びプローブ110の間にプローブ正規化フィクスチャ300を挿入する。 - 特許庁

An address referenced within the web pages is identified and tested against the safe site data.例文帳に追加

ウェブ・ページ内において参照されているアドレスが識別され、安全サイト・データに照らしてテストされる。 - 特許庁

Leaked gas or liquid from the tested body is discharged through an inner hole of the silica capillary tube 3.例文帳に追加

被試験体からのガス又は液体漏れはシリカキャピラリーチューブ3の内孔を通して放出される。 - 特許庁

The AF sensor 23a is arranged at a position equivalent to the area sensor 22 to the tested lens 100.例文帳に追加

AFセンサ23aは、被検レンズ100に対してエリアセンサ22と等価な位置に配設されている。 - 特許庁

An integrator 313 computes a phase value by integrating the frequency command signal of a tested inverter.例文帳に追加

積分器313は被試験インバータの周波数指令信号を積分し位相値を算出する。 - 特許庁

To display a waveform by piling up the waveforms based on signals to be tested taken in by a plurality of take-in devices.例文帳に追加

複数の取り込み装置で取り込んだ被試験信号に基づく波形を重ねて表示する。 - 特許庁

PROBE NEEDLE FOR WAFER TEST AND ITS PRODUCTION METHOD AND SEMICONDUCTOR DEVICE TESTED WITH THE PROBE NEEDLE例文帳に追加

ウエハテスト用プロ—ブ針とその製造方法およびそのプロ—ブ針によってテストした半導体装置 - 特許庁

To provide a semiconductor circuit which can be tested efficiently, and a test method for the same.例文帳に追加

効率よくテストを行うことが可能な半導体回路およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

In one embodiment, the testing device is a glucose meter and the analyte being tested is glucose.例文帳に追加

一実施形態では、試験装置は、ブドウ糖メータであり、試験される検体は、ブドウ糖である。 - 特許庁

To facilitate the test evaluation of an internal system of a device such as a copying machine to be tested.例文帳に追加

試験評価の対象となる複写機等の装置の内部システムの試験評価を容易にする。 - 特許庁

例文

The IC tester for simultaneously testing two or more tested objects is improved.例文帳に追加

本発明は、2以上被試験対象を同時に試験するICテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁




  
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