「Tested」に関連した英語例文の一覧と使い方(15ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a decoupling circuit capable of preventing a lightning surge over voltage applied to a device to be tested from flowing into an opposite device that is a communication apparatus such as an IT apparatus not to be tested.例文帳に追加

被試験装置に印加した雷サージ過電圧が試験の対象としていないＩＴ機器等の通信機器である対向装置へ流入するのを防止可能な減結合回路を提供する。 - 特許庁

The test result setting part 10 tests one code clone in the detected code clone set, and sets test case numbers to the tested source code lines to indicate that the entire code clone set has been tested.例文帳に追加

テスト結果設定処理部10は、検出したコードクローンセットの内１つのコードクローンをテストし、テストされたソースコード行にテストケース番号を設定してコードクローンセット全体がテストされたことを表示する。 - 特許庁

To provide organic light emitting display devices which are tested in sheet units on a mother substrate and out of which a particular organic light emitting display device is separately turned on/off when being tested.例文帳に追加

マザー基板上で元板単位の検査を遂行して、元板検査の時特定有機電界発光表示装置を独立的にオン/オフさせるようにした有機電界発光表示装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of performing functional tests at the actual speed of a part to be tested and connection tests between parts to be tested and reducing costs by reducing the number of external pins dedicated for tests.例文帳に追加

試験対象部の実速度での機能試験と、試験対象部間の接続試験と、試験専用の外部ピンの削減によるコストダウンとを図ることができる半導体装置を提供する。 - 特許庁

The output voltage of a tested device in a designated clock timing is stored with a clock timing, and at the intervals of designated clock timing, the output voltage of the tested device is compared with a designated reference voltage.例文帳に追加

所定のクロックタイミングにおける被試験デバイスの出力電圧をクロックタイミングと共に記憶し、所定のクロックタイミング毎に被試験デバイスの出力電圧と所定の基準電圧とを比較する。 - 特許庁

The composition can be used in the method for stimulating the immune response in a vertebrate animal to be tested.例文帳に追加

本組成物は、脊椎動物被験体における免疫応答を刺激する方法において使用され得る。 - 特許庁

A second switch (55) routes a signal from the optical device to be tested to a test signal output port (26).例文帳に追加

第２のスイッチ（５５）は被試験光学装置からの信号を試験信号出力ポート（２６）に導く。 - 特許庁

To provide a double data rate synchronous DRAM integrated circuit device which can be tested by a low speed test device.例文帳に追加

低速テスト装置でテストできるダブルデータレート同期式ＤＲＡＭ集積回路装置を提供すること。 - 特許庁

To change setting of pin arrangement in a test of a plurality of devices to be tested having the same pin arrangement.例文帳に追加

同一のピン配置を有する複数の被試験デバイスの試験において、ピン配置の設定を変更する。 - 特許庁

The tested data prior to a die bonding process is recorded by recording means while being associated with the number.例文帳に追加

そして、この番号に関連付けて、ダイボンド工程以前に行ったテストのデータを記録手段に記録する。 - 特許庁

To provide a light spectrum analyzer for detecting a calibration light signal and a tested light signal at the same time.例文帳に追加

光スペクトラム・アナライザにおいて、校正光信号及び被試験光信号を同時に検出する。 - 特許庁

A test constituting circuit 10 gains a present set of an actual time measurement value 42 from a tested part 108.例文帳に追加

試験構成回路（１０）は被試験部品（１０８）から実時間測定値（４２）の現集合を取得する。 - 特許庁

The automatic analyzer 1 to obtain a measured result by dispensing and agitating a sample to be tested provided from a person to be tested and a reagent in response to a measuring item and then analyzing a chemical component included in the sample to be tested includes a detecting means (light receiving part 23 and light emitting element 24) to detect the seating or idling of an operator.例文帳に追加

被検者から提供された被検試料と試薬とを測定項目に応じて分注して撹拌し、被検試料に含まれる化学成分を分析することで測定結果を得る自動分析装置１は、操作者の着席及び離席を検知する検知手段（受光部２３と発光素子２４）を有する。 - 特許庁

To provide a high- and low-temperature test device capable of efficiently performing temperature testing on an object to be temperature-tested.例文帳に追加

効率的に温度試験対象物の温度試験ができる高低温度試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory of which the memory function can be tested without using an expensive tester.例文帳に追加

高価なテスタを用いなくとも、メモリ機能のテストを行うことができる半導体メモリ装置を提供する。 - 特許庁

To an inside rotating axis 16 of the tested motor 10, a load motor 42 is coupled through a torque sensor 40.例文帳に追加

試験モータ１０の内側回転軸１６には、トルクセンサ４０を介し負荷モータ４２を接続する。 - 特許庁

The memory utilized in the functional core part having the different operation clock can be tested by this constitution.例文帳に追加

このような構成により、動作クロックの異なる機能コア部が利用するメモリのテストが可能となる。 - 特許庁

To provide a test program preparing device and method which is capable of performing failure analysis of a tested LSI.例文帳に追加

試験後のＬＳＩの故障解析を考慮したテストプログラム作成装置およびその方法を提供する。 - 特許庁

Whether or not a ridge is present in a correlation surface described by the values of the ordered collection is tested.例文帳に追加

該順序付きコレクションの値によって記述される相関面内にリッジが存在するかどうか調べる。 - 特許庁

This test light is output via a light circulator 123 toward an optical cable which is a subject to be tested.例文帳に追加

この試験光は、光サーキュレータ１２３を経て、試験対象である光線路へ向けて出力される。 - 特許庁

The near end monitor has tasks of starting a program to be tested, monitoring a test status, and recording test data.例文帳に追加

ニヤエンドモニタはテストすべきプログラムを開始し、テストステータスを監視し、テストデータを記録する役目がある。 - 特許庁

Therefore, the objected to be tested can be accurately placed on the resonating rack 102 with vibrations in the horizontal directions.例文帳に追加

このため、共振架台102 に載置される試験体には、水平方向の振動が正確に与えられる。 - 特許庁

Further, a debugging module is included in the created program to be tested and an executable program is created.例文帳に追加

更に、作成された被テストプログラムにデバッグ用モジュールを組み込み、実行可能なプログラムを作成する。 - 特許庁

To enable characteristic evaluation due to internal pressure, in particular, pressure fluctuation of a body to be tested with high accuracy.例文帳に追加

被試験体の内圧、特に圧力変動に伴う特性評価を精度よく行うことを可能にする。 - 特許庁

To provide a link cable assembly as an interface between a network cable and the network to be tested.例文帳に追加

ネットワークケーブルとテストされるべきネットワークとの間にインターフェイスとしてリンクケーブルアセンブリを提供する。 - 特許庁

Last year JAXA tested an unmanned airship together with the National Institute of Information and Communications Technology (NICT). 例文帳に追加

昨年，宇宙機構は情報通信研究機構(NICT)と共同で無人飛行船の試験を行った。 - 浜島書店 Catch a Wave

To improve measurement sensitivity of an object to be analyzed in a liquid to be tested.例文帳に追加

本発明は、被検液中の分析対象物の測定感度をより向上させることを目的とする。 - 特許庁

The verification module 24 calls an individual application module 22 to be tested after DB initial setting.例文帳に追加

この検証モジュール２４は、ＤＢ初期設定後にテスト対象の個別業務モジュール２２をコールする。 - 特許庁

All signals indicate more accurately an actual vibrating force generated by a tire to be tested.例文帳に追加

全信号は、試験されるタイヤにより生成される実際の振動力をより正確に現している。 - 特許庁

A recognition matrix is tested using the factor of the learning vector and the biological parameter is noninvasively measured.例文帳に追加

学習ベクトルの係数を用いて、認識行列が試験されて、バイオパラメータを非侵襲的に測定する。 - 特許庁

In this IC testing system, an IC testing device 150 impresses a test pattern signal to a tested IC.例文帳に追加

ＩＣ試験システム１０において、ＩＣ試験装置１５０は、被試験ＩＣに試験パターン信号を印加する。 - 特許庁

RESPONSE OUTPUT SIGNAL READING METHOD OF IC TO BE TESTED AND IC TESTING DEVICE USING THIS READING METHOD例文帳に追加

被試験ＩＣの応答出力信号読取方法及びこの読取方法を用いたＩＣ試験装置 - 特許庁

A trigger circuit 520 generates a trigger signal, and capturing memories 551-554 each stores the digital sample of the signal to be tested.例文帳に追加

トリガ回路520は、トリガ信号を発生し、取込みメモリ551-554は、被試験信号のデジタル・サンプルを蓄積する。 - 特許庁

In this immunity measurement method, the sample to be tested is supplied for antigen-antibody reaction in the presence of hyaluronic acid.例文帳に追加

被験試料をヒアルロン酸の存在下で抗体抗原反応に供することからなる免疫測定法。 - 特許庁

The wafer ring having been tested is conveyed by a conveying device 22 from the test section 26 to a selection section 24.例文帳に追加

試験済みのウェハーリングは搬送装置２２によって試験区２６から選別区２４に搬送される。 - 特許庁

A grip holder 30 arranged at the support 18 fixes the grip of the torque wrench 12 to be tested.例文帳に追加

支持体１８に配置されたグリップホルダ３０により、検査すべきトルクレンチ１２のグリップが固定される。 - 特許庁

To prevent a displacement and a lead bend in an IC and an IC socket when a semiconductor is tested.例文帳に追加

半導体試験時におけるＩＣとＩＣソケットの位置ずれとリード曲がりを防止することである。 - 特許庁

To provide a socket for burning in, comparatively small in size for an IC to be tested.例文帳に追加

試験するＩＣのサイズに対するソケットの外形が比較的小さいバーンイン用のソケットを提供する。 - 特許庁

In the clinical test company 5, the specimen 40 is tested according to the electronic form 26 of the test request.例文帳に追加

臨床検査会社５では検査依頼の電子フォーム２６にしたがって検体４０の検査を行う。 - 特許庁

To provide a biosensor device that can detect a tested matter at a high sensitivity, has a carrier of high operability capable of fixing a measured object or a matter for capture at a high density, and can rapidly measure the concentration of the tested matter, and to provide a concentration measuring method of the tested matter using the biosensor device.例文帳に追加

被験物質を高感度に検出可能であり、高密度に前記被測定物あるいは捕捉用物質が固定化可能であり、かつ操作性のよい担体を備え、迅速に被験物質の濃度が測定可能なバイオセンサー装置、及び該バイオセンサー装置を用いた被験物質の濃度測定方法を提供する。 - 特許庁

Thereby, write-in margin for a memory cell array can be tested without considering write-in margin.例文帳に追加

これにより、書込余裕を考慮することなく、メモリセルアレイに対する書込マージンをテストすることができる。 - 特許庁

To simplify a system construction in testing and evaluating tested devices, to reduce maintenance cost by making maintenance easy, to reduce development cost by making easy development of boards for the tested devices, to shorten a development period, to measure correctly signals for testing and examining the tested devices, and to decrease down time.例文帳に追加

被試験デバイスの試験及び診断における装置構成を簡単にし、メンテナンスを容易にしてメンテナンス費を削減し、被試験デバイスのボードの開発を容易にして開発コストを削減し開発期間を短縮し、被試験デバイス試験用及び診断用の信号を正確に測定し、ダウンタイムを低減することである。 - 特許庁

To accurately give to an object to be tested vibrations in the horizontal directions by preventing a pitching movement of a resonating rack.例文帳に追加

共振架台のピッチング動作を防止して、水平方向の振動を正確に試験体に与える。 - 特許庁

To reduce the testing time by conducting the test of a memory to be tested and the analysis of a defect in parallel.例文帳に追加

被試験メモリの試験と不良解析を並行処理することによって試験時間を短縮する。 - 特許庁

In order to improve manufacturing yield of the module, all components are tested preliminarily and have almost the same thickness.例文帳に追加

全部品は、モジュールの製造歩留りを高めるため予備試験され、互いに略同等の厚さを有する。 - 特許庁