「Tested」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

A unit is defined as the smallest part of an application that can be tested. 例文帳に追加

ユニットは、テスト可能なアプリケーションの最小部分として定義されています。 - NetBeans

The code is correct, but it does not include any error checking.Return values dpy, vi, cx, cmap, and win should all be tested. 例文帳に追加

これは正しいコードであるが、エラーチェックは全く入っていない。 - XFree86

(Note: This hasn't been tested with FBDev support and probably won't work.)例文帳に追加

( 注意:このオプションは FBDev サポートについてはテストされておらず、たぶん動作しない。 - XFree86

The scanning part scans an irradiation position of the signal light with respect to the eye to be tested.例文帳に追加

走査部は、被検眼に対する信号光の照射位置を走査する。 - 特許庁

62 companies from 19 countries road tested WBCSD Road Testing Companies 例文帳に追加

19の国から62の企業が、2010年1月～6月にかけて両基準のロードテストを実施 - 経済産業省

The common testing electrode Y is such, that when it is brought into contact with the tested board for testing, independent wiring networks formed in the tested boards will not form an electrically closed circuit through the common testing electrode.例文帳に追加

または、検査用電極は、各配線ネットワークの１つの被検査電極に対応して代表検査用電極として形成されている。 - 特許庁

To provide a contrast chart device capable of easily obtaining an aberration of an eye to be tested by simultaneously measuring the contrast sensitivity and the diameter of a pupil of the eye to be tested.例文帳に追加

コントラスト感度と被検眼の瞳の径とを同時に測定することによって、被検眼の収差が容易に得られるコントラストチャート装置を提供する。 - 特許庁

Since a detector cell is constituted in this manner, the thin film filament 9 is prevented from being in contact with the gas to be tested and from being corroded by an active gas in the gas to be tested.例文帳に追加

これにより、薄膜フィラメント９は被験ガスと接触することがないので、被験ガス中の活性ガスにより腐食されることが防止できる。 - 特許庁

To provide a test circuit which can prevent operation errors or start errors of a circuit to be tested regardless of items to be tested and can reduce the power consumption during the test.例文帳に追加

試験項目によらず、被試験対象回路の誤作動や誤起動を防止でき、試験時の消費電力を削減できる試験回路を提供する。 - 特許庁

This IC tester is improved so that a converted address is given to an object to be tested and fail information of the object to be tested is stored.例文帳に追加

本発明は、アドレスを変換して被試験対象に与え、被試験対象のフェイル情報を格納するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

The process variation of the object to be tested is evaluated by processing with comparison using the noise characteristics and the image of the object to be tested.例文帳に追加

また、このノイズ特性と被検査対象物の画像を用いて比較処理を行うことにより、被検査対象物のプロセスばらつきを評価する。 - 特許庁

To provide an evaluation method of the spinning performance of a material to be tested which can objectively evaluate the degree of the cob-webbing of the material to be tested by a dynamic parameter.例文帳に追加

被験物質の糸引きの程度を力学的パラメーターにより客観的に評価できる、被験物質の曳糸性の評価方法を提供すること。 - 特許庁

The electron microscope 12 electronically scans, radiates an electron beam to the tested element T after the deterioration has been promoted, and measures a shape of the tested element T.例文帳に追加

電子顕微鏡１２は、電子走査型であり、劣化促進後の試験体Ｔに電子線を照射して試験体Ｔの形状を測定する。 - 特許庁

To obtain a system and method for test by which a device to be tested can be tested for an A/D- or D/A-converting function by using a memory tester.例文帳に追加

メモリテスタを用いて被試験デバイスのＡＤ変換機能またはＤＡ変換機能の試験が可能なテストシステムおよびテスト方法を実現する。 - 特許庁

A means for inputting that equipment is being tested is added to a monitor device, and information indicating whether the equipment is being tested is added to trigger recording by the inputting operation.例文帳に追加

モニタ装置に試験中であることを入力する手段を追加し、その入力の操作によりトリガ記録に試験中か否かの情報を付加する。 - 特許庁

A write-in means 105 sequentially writes only the data to be applied to a device to be tested selected by a tested device selection means 103.例文帳に追加

書込み手段１０５は、被試験デバイス選択手段１０３により選択された被試験デバイスに与えるデータのみを順次記憶手段１０１に書き込む。 - 特許庁

A circuit operation verification system includes a computer, a programmable logic device constituting a circuit to be tested, a test bench unit for performing operation verification of the circuit to be tested.例文帳に追加

回路動作検証システムは、計算機と、被テスト回路が構成されたプログラマブルロジックデバイスと、被テスト回路の動作検証を行うテストベンチ部と、を備える。 - 特許庁

A color corresponding to the acceptability of each lens to be tested 42 is displayed on the screen of the acceptability display-use LCD at a position being opposite to each lens to be tested 42.例文帳に追加

合否表示用ＬＣＤ２２の画面上において各被検レンズ４２に対向する位置に、各被検レンズ４２の合否に応じた色が表示される。 - 特許庁

The display to be tested which is the same type as the display (1) for displaying calibration pattern is tested with a sensor (4) which obtains the calibrating function (F).例文帳に追加

校正パターン表示用ディスプレイ装置（１）と同型の試験対象のディスプレイ装置を、校正関数（Ｆ）を取得したセンサ（４）により試験する。 - 特許庁

In each of the take-in devices 110, an take-in unit 113 takes in the signal to be tested, the signal to be tested is processed at a process and display 114.例文帳に追加

取り込み装置１１０の各々では、取り込みユニット１１３で被試験信号を取り込み、処理及び表示ユニット１１４で処理して表示する。 - 特許庁

CONVEYANCE ROUTE REGULATION SENDING-OUT MECHANISM OF LINEAR OBJECT TO BE TESTED AND CONVEYANCE MECHANISM FOR FLAWLESS INSPECTION OF LINEAR OBJECT IN INSERTION TYPE INSPECTION DEVICE TO BE TESTED USING THE MECHANISM例文帳に追加

直状被検査体の搬送路規制送り出し機構と、これを用いた挿通型検査装置における直状被検査体の無傷検査用搬送機構 - 特許庁

To provide an apparatus capable of detecting any type of flaws such as a dot-like flaw, a long flaw in the width direction of a body to be tested, and a long flaw in the length direction of the body to be tested.例文帳に追加

点状の疵、被検査体の幅方向に長い疵、被検査体の長さ方向に長い疵のいずれをも検出できる装置を提供する。 - 特許庁

To provide a tester apparatus having a function for protecting a tested device from the signal supplied to the tested device formed in a wafer and/or a power supply anomaly.例文帳に追加

ウエハーに形成されている被試験デバイスに供給する信号や電源の異常から、被試験デバイスを保護する機能を有するテスター装置を提供する。 - 特許庁

The energy dispersing X-ray analyzing apparatus 1206 detects the electron beam emitted from the tested element T and analyzes composition of the tested element T.例文帳に追加

エネルギー分散形Ｘ線分析装置１２０６は、試験体Ｔから出る電子線を検出して試験体Ｔの組成を分析するように構成されている。 - 特許庁

To conduct a testing by using a small amount of a solution to be tested, and to conduct the testing with high precision, by accurately controlling a transferring quantity of the solution to be tested.例文帳に追加

少量の試液を用いて試験を行うことができ、試液の移動量を正確に制御することが可能で精度のよい試験を行うこと。 - 特許庁

When the tested object S is irradiated with ultraviolet rays from the ultraviolet emitter 5, fluorescence which is a visible light is produced, and the tested object is illuminated from the inside, so that the whole of the tested object is brightened without shadows even in its end part.例文帳に追加

紫外線照射器５からの紫外線が被検査物Ｓに照射されると可視光である蛍光が発生するので、被検査物は内部から照明されることとなり端においても影を生じることなく全体が明るくなる。 - 特許庁

A device to be tested 20 is pressed against the one surface side of the metal block 1 to bring electrode terminals 21-24 of the device to be tested 20 each into contact with tip parts of the probes 3-5 to test the characteristics of the device to be tested 20.例文帳に追加

この金属ブロック１の一面側に被検査デバイス２０が押し付けられ、その被検査デバイス２０の各電極端子２１〜２４とそれぞれプローブ３〜５の先端部とを接触させて被検査デバイス２０の特性検査がなされる。 - 特許庁

To provide a technique of a simple circuit constitution for generating analogue test signals optimized for each LSI to be tested without complicating the circuit constitution of a performance board when a plurality of the LSI to be tested are simultaneously tested.例文帳に追加

複数個の被試験ＬＳＩを同時に試験する際に、パフォーマンス・ボードの回路構成を複雑化させることなく、被試験ＬＳＩごとに最適化されたアナログ試験信号を簡単な回路構成で生成する技術の提供。 - 特許庁

According to status information from bodies 1 to be tested (magnetooptic disk drive etc.), the testing device 2 diagnoses its device side including parts 2a in contact with the bodies to be tested, connection cables, etc., and the side of the body to be tested.例文帳に追加

複数の被試験体（光磁気ディスクドライブなど）１からの各ステ−タス情報に基づいて、試験装置２が、被試験体との接触部２ａや接続ケ−ブルなどを含む自装置側や、被試験体側の診断を行なう。 - 特許庁

To shorten the transmission time of parameters to respective semiconductor devices to be tested in a semiconductor device testing apparatus setting parameters of different values to individual semiconductor devices to be tested to test a plurality of the semiconductor devices to be tested at the same time.例文帳に追加

被試験半導体デバイスの各個に異なる値のパラメータを設定して同時に複数の被試験半導体デバイスを試験する半導体デバイス試験装置において、各被試験半導体デバイスにパラメータを転送する時間を短縮する。 - 特許庁

This horizontal balancing machine 10 for testing a balancing condition of a body W to be tested when rotating the body W is provided with a support part 1 for supporting the body W to be tested, a driving means for rotating the body W to be tested, and the belt 3 for transmitting driving force of the driving means to the body W to be tested.例文帳に追加

被試験体Ｗを回転させたときの被試験体Ｗの釣合い状態を試験する横型釣合い試験機１０は、被試験体Ｗを支持する支持部１と、被試験体Ｗを回転させる駆動手段と、駆動手段の駆動力を被試験体Ｗに伝達するベルト３と、を備えている。 - 特許庁

The pump recycled is tested at the reverse factory 5 to determine its selling price.例文帳に追加

再生ポンプは、逆工場５において試験され、販売価格が決定される。 - 特許庁

Impact resistance of a wafer 5 with a chip for an inertia sensor formed is tested in this impact resistance testing device.例文帳に追加

慣性センサー用のチップを形成したウエハ５の耐衝撃を試験する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of shortening the testing interval and being easily tested.例文帳に追加

テスト時間を短縮でき、テスト容易な半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

The test program 10 instructs execution of the test to an application program 20 to be tested (S4).例文帳に追加

テストプログラム10は、テスト対象のアプリケーションプログラム20にテスト実行を指示する（S4）。 - 特許庁

The TFD tested this system from June to July last year. 例文帳に追加

同庁は，昨年の６月から７月にかけてこの制度を試験的に行った。 - 浜島書店 Catch a Wave

To precisely adjust the focus even when there is aberration in the eye to be tested.例文帳に追加

被検眼に収差がある場合でも、正確なフォーカス合わせを可能とする。 - 特許庁

To test surely a circuit component to be tested at minimum cost.例文帳に追加

テストすべき回路コンポーネントを最小のコストで確実にテストできるようにする。 - 特許庁

To effectively insert a test point into a logic circuit of a tested object.例文帳に追加

テスト対象の論理回路に対してテストポイントを効果的に挿入すること - 特許庁

To reproduce actual dynamic load conditions of an exhaust system to be tested accurately.例文帳に追加

試験される排気システムの現実の動的負荷条件を正確に再現する。 - 特許庁

Suction cups 21, 22, 23a, 23b collect atmospheric air at sites to be tested.例文帳に追加

サクションカップ２１，２２，２３ａ，２３ｂは、試験対象部位の雰囲気を収集する。 - 特許庁

Such an object can be bound to a unit to be tested at an execution time.例文帳に追加

そのようなオブジェクトは、テスト対象ユニットに実行時バインドすることができる。 - 特許庁

To provide a test system for efficiently testing a tested device.例文帳に追加

被試験装置の試験を効率良く行うことができる試験システムを提供する。 - 特許庁

The probe 2 and the electrode pad are brought to a contact state, and the semiconductor wafer is tested.例文帳に追加

プローブ針２と電極パッドが接触状態になり検査が行われる。 - 特許庁

Consequently, the operations of various control valves 2 can be tested.例文帳に追加

これにより、多種多様な制御弁２等の動作テストが行なえるようにする。 - 特許庁