「Tested」に関連した英語例文の一覧と使い方(22ページ目) - Weblio英語例文検索

Input signals detected from a tested device by a 17-channel probe are each received by an IC 100 for a receiving circuit in each channel.例文帳に追加

１７チャネルのプローブが被試験装置から検出した入力信号を各チャネルの受信回路用ＩＣ１００が受ける。 - 特許庁

The HC adsorbent has high heat resistance and keeps high XRD (X-ray diffraction) intensity after tested for heat resistance and durability.例文帳に追加

当該ＨＣ吸着剤は、耐熱性が高く耐熱耐久処理後におけるＸＲＤ回折強度が高く維持される。 - 特許庁

In this structure, the special circuits can be tested by a small number of the exterior terminals, without stopping the operation of the data processing device 1.例文帳に追加

この構成により、データ処理装置１の動作を止めることなく、少ない外部端子で専用回路のテストを行なえる。 - 特許庁

The ultrasonic flaw detection method uses an acoustic contact medium via a metal between the ultrasonic probe and the object to be tested.例文帳に追加

超音波探触子と被検査体との間に金属を介して音響接触媒質とする超音波探傷方法である。 - 特許庁

The first gate set provides bit output indicating an error in the given memory while the given memory word is tested.例文帳に追加

所与のメモリ・ワードがテスト中である間に第１ゲート・セットは、所与のメモリ内の誤りを示すビット出力を提供する。 - 特許庁

To efficiently prepare a test pattern for an updated program when contents of a program to be tested are changed.例文帳に追加

テスト対象のプログラムの内容が更新された場合に、更新後のプログラム用のテストパターンを効率的に作成できるようにする。 - 特許庁

To provide an IC tester capable of evaluating a complicated input pattern and shortening a non-defective or defective evaluating time of an IC to be tested.例文帳に追加

複雑な入力パターンでの評価ができて、被試験ＩＣの良否評価時間を短縮できるＩＣテスタを提供する。 - 特許庁

An ANA spokesperson says, "We have tested the Internet system and found it doesn't interfere with the navigation systems on our planes." 例文帳に追加

全日空の代表者は，「インターネットのシステムを検査し，飛行機の航行システムを妨(さまた)げないということがわかった。」と話す。 - 浜島書店 Catch a Wave

To efficiently perform an operation verify test required and enough for detecting the error of a specification latent in an object to be tested.例文帳に追加

被テスト対象物に潜在する仕様の誤りを検出するのに必要十分な動作検証テストを効率よく行う。 - 特許庁

To allow a wire state of a bonding wire to be tested, where the bonding wire connects a chip terminal for grounding to a grounding plate or a grounding terminal.例文帳に追加

接地プレート或いは接地端子と接地用チップ端子を接続するボンディングワイヤのワイヤ状態をテスト可能にする。 - 特許庁

The engine testing apparatus 1 is connected to one of a plurality of engines distinct from one another, where the engine connected is to be tested.例文帳に追加

エンジン試験装置１は、互いに異なる複数のエンジンのうちの１つが接続されて、この接続されたエンジンを試験する。 - 特許庁

Consequently, the mask function of input/output data can be tested or evaluated efficiently at read-out in a test mode.例文帳に追加

結果として、テストモードでの読み出し時においても入出力データのマスク機能を効率良く検査または評価することができる。 - 特許庁

To provide a testing device which can shorten a testing time of a memory to be tested having a repair block for each area domain.例文帳に追加

リペアブロックをエリア領域毎に有する被試験メモリの試験時間を短縮することができる試験装置を提供する。 - 特許庁

A low level voltage is fed to the terminals test1, test2 normally and a high level voltage is applied to the terminals test1, test2 when a function of the selector is tested.例文帳に追加

ｔｅｓｔ1 ，ｔｅｓｔ2 には、通常時にはローレベル電圧が、セレクタの機能試験時にはハイレベル電圧が印加される。 - 特許庁

To provide a testing method by which presence/absence of defects of current copy type pixels is tested in the state where an EL element is not enclosed.例文帳に追加

ＥＬ素子未封入の状態でカレントコピー型の画素の欠陥の有無を試験することができる試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test apparatus for a power device, which is capable of suppressing damage to an electrode of the power device to be tested and is easy to maintain.例文帳に追加

テスト対象のパワーデバイスの電極の損傷を抑制できかつメインテナンスが容易な、パワーデバイスのテスト装置を提供する。 - 特許庁

To keep the order of voltage application and eliminate unnecessary loss of time, when applying a voltage to a device to be tested.例文帳に追加

被試験デバイスに電圧を印加するときに、不要なタイムロスをなくし、電圧印加の順番を遵守させることを目的とする。 - 特許庁

The lever body 26 includes a thermocouple 29 on the edge, and contacts on the battery 5 to be tested on the board when the lever body is lowered.例文帳に追加

杆体２６は先端に熱電対２９を備え、これが、杆体が降下したとき、基板上の被験電池５に当接する。 - 特許庁

To minimize the frequency of movement of a probe and to shorten a test time when semiconductor chips formed on a wafer are tested.例文帳に追加

ウエハ上に形成された半導体チップを試験するときに、プローブの移動回数を最小限にし、試験時間を短縮する。 - 特許庁

The server computer 104 has a JTAG scan program 103 and capable of issuing a scan test to a desired device to be tested.例文帳に追加

該サーバコンピュータ104は、JTAGスキャンプログラム103を備えており、所望の被試験装置へスキャンテストを発行することが可能なものである。 - 特許庁

For bit errors, bus segments, device interface, and connection between devices and device interface are tested.例文帳に追加

実施形態によって、ビット・エラーに対して、バス・セグメント、デバイス・インターフェース、デバイスとデバイス・インターフェースとの間の結合、をテストすることができる。 - 特許庁

To provide a method for determining whether or not a protein to be tested is capable of interacting with a retinoid X receptor protein.例文帳に追加

被験タンパク質がレチノイドX受容体タンパク質と相互作用する能力を有するか否かを判定する方法を提供する。 - 特許庁

A test pattern generating device 2 reads and writes a test pattern with regard to each address of semiconductor memories to be tested.例文帳に追加

テストパターン発生装置２は、試験対象とする半導体メモリの各アドレスに対してテストパターンの書き込み，読み出しを行う。 - 特許庁

To provide a technique for accurately determining the insulation resistance of an object to be tested in a thunder impulse withstand voltage test.例文帳に追加

雷インパルス耐電圧試験において対象物の絶縁耐性を正確に判定することが可能な技術を提供する。 - 特許庁

To provide a burn-in board capable of supplying a low and sufficiently precise voltage to a device to be tested.例文帳に追加

試験対象デバイスに低電圧且つ十分な精度の電圧を供給することができるようにしたバーンインボードを提供する。 - 特許庁

To enable many semiconductor devices to be tested at a time, and enable programs and data to be written therein collectively, in order to improve efficiency.例文帳に追加

一度に多くの半導体デバイスに一括でテストやプログラムやデータの書き込みなどを可能にし効率を上げる事である。 - 特許庁

To provide a testing arrangement supplying test signal of proper voltage accordingly to the specification of the input terminal of a tested device.例文帳に追加

被試験デバイスの入力端子の仕様に応じて適切な電圧の試験信号を供給する試験装置を提供する。 - 特許庁

Therefore, electrical properties can be tested, without using a high-precision, high-resolution, and expensive analog voltage- generating circuit.例文帳に追加

このため、高精度、高分解かつ高価なアナログ電圧発生回路を用いることなく、電気的特性のテストを行うことができる。 - 特許庁

To reload a significant value as a reference value into a word recognizer while a logic analyzer is fetching data from a circuit to be tested.例文帳に追加

ロジック・アナライザが被試験回路からのデータ取り込み期間中に、意味のある値を基準値としてワード・レコグナイザに再ロードする。 - 特許庁

A 2nd testing device receives only processing data as a result of processing of the tested device for the target data to evaluate the result.例文帳に追加

第２の試験装置は、ターゲットデータに対する被試験装置における処理の結果である処理データのみを受信して評価する。 - 特許庁

To provide a ferroelectric memory and its test method in which characteristics of a memory can be tested without performing bake-processing.例文帳に追加

ベーク処理を行うことなく、メモリの特性をテストすることのできる強誘電体メモリ及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

In response to a request for data, addressed data and associated control information of the memory device are tested for an error.例文帳に追加

データに対する要求に応答して、メモリ装置のアドレスされたデータおよび関連制御情報をエラーに関して検査する。 - 特許庁

With such a testing jig board, required continuity test can be executed for all wiring networks of the tested board.例文帳に追加

本発明の検査方法は、上記の検査用治具基板を用い、各配線ネットワークの導通検査と、絶縁検査を行う。 - 特許庁

The photographing optical system is coaxial to a light path of the signal light in the interference optical system and photographs a front eye part of the eye to be tested.例文帳に追加

撮影光学系は、干渉光学系における信号光の光路と同軸で被検眼の前眼部を撮影する。 - 特許庁

To provide a means by which a medicine for inducting the anagenetic period of a hair is detected precisely and simply from a medicine to be tested.例文帳に追加

被験薬剤から、正確に、かつ、簡便に、毛髪の成長期を誘導する薬剤を検出する手段を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor test apparatus capable of accurately and efficiently discriminating normal/defective products of a device to be tested.例文帳に追加

被試験デバイスの良品・不良品の判定を精度良く且つ効率的に行うことができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

Before high-temperature heating, delay time of a tested circuit 1401 is measured.例文帳に追加

本発明にかかる半導体集積回路の試験方法では、まず、高温加熱前に、被試験回路１４０１の遅延時間を測定する。 - 特許庁

Even if a fault occurs in the mobile communication system to be tested, the test result can surely be acquired.例文帳に追加

これにより試験対象の移動通信システムに障害が発生していても試験結果を確実に取得することができる。 - 特許庁

To provide an integrated circuit capable of reducing the number of test probes, and avoiding generation of a route not tested.例文帳に追加

テスト用プローブの数を減らすことができ、しかもテストが行われない経路の発生を回避できる集積回路を提供すること。 - 特許庁

The model of an original board having a conductor pattern to be tested is selected, and model data according to the pattern mode is read.例文帳に追加

検査されるべき導体パターンを備えた元基板の機種が選定され、そのパターン態様に応じた機種データが読み込まれる。 - 特許庁

The normal operation of the A/D converter 74 can be easily tested by the reinput (the regular signal V_out) in real time.例文帳に追加

この再入力（定形信号Ｖ_out ）により、Ａ／Ｄコンバータ７４の正常動作を実時間で容易にテストすることができる。 - 特許庁

The deterioration promoting apparatus 10 promotes the deterioration of a tested element T comprising the material as an object to be observed.例文帳に追加

劣化促進装置１０は、観測対象物である、材料から構成される試験体Ｔの劣化を促進させるものである。 - 特許庁

To provide a testing system, a control method therefor and a testing device, capable of easily connecting or separating a tested part.例文帳に追加

容易に試験部の接続や試験部の離脱が可能な試験システムおよびその制御方法並びに試験装置を提供すること。 - 特許庁

Then, the large number of product dies on one or more of wafer(s) can be tested using a test die 618.例文帳に追加

次いでテストダイ６１８を使用して１つ又は２つ以上のウェハ上の多数の製品ダイをテストすることが可能となる。 - 特許庁

To provide a corrosion resistance testing method for a copper-based member with which the corrosion resistance of a copper-based member can be tested promptly.例文帳に追加

銅系部材の耐孔食性を迅速に試験することができる銅系部材の耐食性試験方法を提供する。 - 特許庁