「Tested」に関連した英語例文の一覧と使い方(26ページ目) - Weblio英語例文検索

To attain a voltage current generator of the reduced number of component items capable of outputting a precise voltage to a tested object.例文帳に追加

少ない部品点数で、被試験対象に高精度な電圧を出力する電圧電流発生装置を実現することを目的にする。 - 特許庁

The system is capable of generating an efficient and effective treatment plan based on tested procedures and 'best in class' products.例文帳に追加

システムは、テスト済の処置および「最も優れた」製品に基づいて効率的かつ効果的な治療計画を生成することができる。 - 特許庁

The present invention provides the improved IC tester capable of carrying out measurement by subtracting the off-set voltage from an output of a tested object.例文帳に追加

本発明は、被試験対象の出力をオフセット電圧で減算して測定を行うＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

To supply a high-quality clock signal to a device to be tested without having an influence on test speed or a device constitution.例文帳に追加

試験速度や装置構成に影響を与えることなく、高品質なクロック信号を被試験デバイスに供給することを目的とする。 - 特許庁

A magnetic card 15 is allowed to travel while being sandwiched between the two belts 3, 4, and the magnetic recording characteristics thereof are tested by means of the magnetic head 8.例文帳に追加

磁気カード１５を二つのベルト３，４により挟み込んで走行させながら磁気ヘッド８により磁気記録特性を検査する。 - 特許庁

The quantity of flow Q etc. of a fluid to be tested is computed, on the basis of the transmission and reception of ultrasonic waves Wt between two transducers 2a and 2b.例文帳に追加

２つのトランスデューサ２ａ，２ｂの間での超音波Ｗｔの送受信により被験流体の流量Ｑ等を算出する。 - 特許庁

The function of the DAC 14 can easily be tested by checking the comparison result signal CO of the comparator 19.例文帳に追加

従って、比較器１９の比較結果信号ＣＯをチェックすることにより、ＤＡＣ１４の機能を簡単に試験することができる。 - 特許庁

To provide a method for testing characteristics of a communication device, in which the characteristics can be tested via a communication interface which the communication device has.例文帳に追加

通信機器が有する通信インタフェースを介して特性を試験することが可能な通信機器の特性試験方法を提供する。 - 特許庁

In 2010, 60 companies from a variety of industry sectors road-tested the standards and provided feedback on their practicality and usability. 例文帳に追加

2010 年には、さまざまな産業分野から60 社が新基準のロードテストに参加し、実用性や使い勝手についてフィードバックを行いました。 - 経済産業省

To provide an indentation forming mechanism capable of preventing a sample other than a measuring object from being tested, and a hardness testing machine.例文帳に追加

測定対象外の試料を試験してしまうことを未然に防止することが可能な圧痕形成機構及び硬さ試験を提供する。 - 特許庁

Behold, a certain lawyer stood up and tested him, saying, “Teacher, what shall I do to inherit eternal life?” 例文帳に追加

見よ，ある律法の専門家が立ち上がり，彼を試そうとして言った，「先生，わたしは何をすれば永遠の命を受け継げるのでしょうか」。 - 電網聖書『ルカによる福音書 10:25』

In this program to be tested resources competition testing method for verifying an operation about competition of computer resources for a program 2 to be tested being a test target operating on a computer, a competitive program 4 having a function for creating a competing state of the computer resources gives disturbance to processing of the program 2 to be tested to verify the operation by intentionally using applicable resources to the computer resources.例文帳に追加

コンピュータ上で動作するテスト対象の被テストプログラム２に対し、コンピュータ資源の競合に関して動作検証する被テストプログラム資源競合テスト方法において、コンピュータ資源に対して意図的に該当資源を使用することで、コンピュータ資源の競合状態を作り出す機能を有する競合プログラム４により、被テストプログラム２の処理に外乱を与えて前記動作検証を行う。 - 特許庁

The method for screening anti-carcinogenic substance candidates contacts Cdt1 protein with Geminin protein and measures binding of the Cdt1 protein and the Geminin protein, and then selects a material to be tested that reduces the binding as an anticarcinogenic substance, in the presence of a material to be tested.例文帳に追加

被験物質の存在下においてＣｄｔ１タンパク質とＧｅｍｉｎｉｎタンパク質とを接触させ、Ｃｄｔ１タンパク質とＧｅｍｉｎｉｎタンパク質との結合を測定し、該結合を低減する被験物質を抗癌剤候補として選択することを特徴とする抗癌剤候補のスクリーニング方法。 - 特許庁

To realize a test device having a loop antenna of which the size can be easily changed corresponding to the change of the size of a tested device, with respect to the test device having the plurality of loop antennas mounted in X, Y and Z axial directions so as to surround the tested device placed on a pedestal.例文帳に追加

台座上に置かれた被試験装置の周囲をかこむようにＸ、Ｙ、Ｚ軸方向に設けられた複数のループアンテナを有する試験装置において、被試験装置の大きさの変化に対し容易に大きさを変えられるループアンテナを有する試験装置を実現する。 - 特許庁

This semiconductor integrated circuit includes a functional block comprising a functional flip-flop tested in scan testing, the macro-block with a signal outputted from the functional flip-flop inputted thereinto and not tested in scan testing, and a flip-flop for observation for obtaining the result of scan testing from the inputted signal.例文帳に追加

半導体集積回路は、スキャンテスト時にテストされる機能フリップフロップを有する機能ブロックと、機能フリップフロップから出力された信号が入力され、スキャンテスト時にテストされないマクロブロックと、入力された信号からスキャンテストの結果を得る観測用フリップフロップとを備える。 - 特許庁

In addition, when the condition for opening the left or right test window is set when a right tested eye switching button (an "R" button 14R) is operated, the controller 10 opens the left and right test windows 7L and 7R and sets the right eye as the eye to be tested by the refraction correction lens.例文帳に追加

また、コントローラ１０は、右の検査対象眼切替ボタン（[Ｒ]ボタン１４Ｒ）の操作時に、左右の検査窓７Ｌ，７Ｒの開放条件設定がなされた場合、左右の検査窓７Ｌ，７Ｒを開いて、右眼を前記屈折矯正レンズによる検査対象眼に設定するようになっている。 - 特許庁

The tested protocol 4a generates protocol data and transmits the protocol data to a logical connection identifier conversion means 6, in which only a connection identifier is converted into a different value, the means 6 loops back the resulting protocol data to a tested protocol 4b, so as to obtain the similar effect to that of an opposed test.例文帳に追加

それにより生成されたプロトコルデータを論理的コネクション識別子変換手段６に送信し、その内部でコネクション識別子のみを異なる値に変換し、そのプロトコルデータを折り返し被試験プロトコル４ｂに送信することにより、対向試験と同様の効果を得ることが出きる。 - 特許庁

Then, the individual authentication of the person is conducted by collating the feature data of the face image of the person when tested for alcohol with face image feature data registered in the database of persons to be tested specified from ID information entered from the ID inputting device 18.例文帳に追加

そして、アルコール検査時の被験者の顔画像の特徴データと、ＩＤ入力装置１８から入力されたＩＤ情報から特定された被験者の被験対象者データベースに登録されている顔画像特徴データを照合して、被験者の本人認証をおこなう。 - 特許庁

When a condition for opening the left or right test window is set when a left tested eye switching button (an "L" button 14L) is operated, a controller 10 opens left and right test windows 7L and 7R and sets the left eye as the eye to be tested by a refraction correction lens.例文帳に追加

コントローラ１０は、左の検査対象眼切替ボタン（[Ｌ]ボタン１４Ｌ）の操作時に、左右の検査窓の開放条件設定がなされた場合、左右の検査窓７Ｌ，７Ｒを開いて、左眼を前記屈折矯正レンズによる検査対象眼に設定するようになっている。 - 特許庁

Allotting plural discrimination terminals for each circuit chip to be tested is not required, chips of the same number as the number of discrimination terminals provided in a tester restricted physically by the total number of discrimination terminals are collectively and simultaneously tested, testing efficiency is improved, and a testing cost is reduced.例文帳に追加

テスト対象となる回路チップ１個ごとに判定端子複数本を割り当てる必要はなく、総判定端子数に物理的な制約を受けるテスターに備わった判定端子と同数のチップを一括して同時にテストし、テスト効率を向上し、かつテストコストを切り下げる。 - 特許庁

A device for testing 3 reproduces the information of the radio waves recorded by the recorder 2, transmits the information to the wireless communication apparatus 1 being tested, and causes the wireless communication apparatus 1 being tested to operate a processing function executed by the received radio wave, thereby testing the wireless communication apparatus 1.例文帳に追加

試験用装置３は、記録装置２により記録された電波の情報を再生し、試験対象の無線通信機器１に伝達して、この試験対象の無線通信機器１に、受信した電波に基づいて実行する処理機能を働かせて、試験を行なわせる。 - 特許庁

The torque calibration device 1 includes a coupling 6 for attaching a machine to be tested; the shaft torque meter 5, attached to one end side of a rotary shaft 3 of a dynamometer 2 and measuring the torque of the machine to be tested; and a load-loading mechanism 10 for calibrating the dynamometer 5 at the other end side of the rotary shaft of the dynamometer 5.例文帳に追加

トルク検量装置１は、被試験機を取り付けるカップリング６と、ダイナモメータ２の回転軸３の一端側に取り付けられ被試験機のトルクを計測する軸トルクメータ５と、ダイナモメータ５の回転軸の他端側に該ダイナモメータ５の校正をするための荷重負荷機構１０と、を備えている。 - 特許庁

The excitation control unit includes: a means of computing a transfer function of a system with the servo control unit and the table as ending and starting points, respectively; and a means of correcting the transfer function of a system obtained by the computation by the weight of the object to be tested and a load applied to the object to be tested.例文帳に追加

加振制御装置に、サーボ制御装置を起点としてテーブルを終点とする系の伝達関数を演算する手段と、演算で求めた系の伝達関数を、被試験体の重量と被試験体に加わる荷重とで伝達関数を補正する手段とを設ける。 - 特許庁

Test conditions such as temperature or voltage of each device to be tested are registered in a database 30, and the device to be tested is periodically monitored by a test block equipment control program 44 for obtaining the present conditions of the device and registering them in the database 30.例文帳に追加

データベース３０には各被試験装置ごとに温度や電圧などの試験条件が登録され、また定期的に各被試験装置の状態を取得すべく試験ブロック機器制御プログラム４４によって測定がおこなわれて現在の状態がデータベース３０に登録される。 - 特許庁

In other words, since the opening part of the holder 1 with the taper is made smaller downward by the taper part 10 with the area of the opening becomes narrower downward, the object to be tested 18 can be held at the inclined part of the taper part 10 by placing the object to be tested 18 from above.例文帳に追加

すなわち、テーパ付ホルダー１の開口部は、テーパ部１０により下側に行くほど先細り、下側に行くほど開口面積が狭くなっており、上方から試験物１８をおくことにより、テーパ部１０の傾斜部分で試験物１８を保持することができる。 - 特許庁

In this semiconductor memory test apparatus 1, when a test of a device 20 of a synchronous type to be tested is performed, output data of the device 20 to be tested corresponding to a test pattern is held by an output holding part 11, it is compared with expected value data by an expected value data comparing part 12, and log data are generated.例文帳に追加

本発明の半導体メモリ試験装置１は、同期型の被試験デバイス２０の試験を行う際、テストパターンに対応する被試験デバイス２０の出力データを出力保持部１１で保持し、期待値比較部１２にて期待値データと比較してログデータが生成される。 - 特許庁

To overcome such a problem that even if the number of circuit elements to be arranged is increased, all of them cannot be electrically tested because there is a limit of the number of channels for electric application or measurement, that the tester has, when a test element group where circuit elements are arranged is tested by using a parametric tester.例文帳に追加

パラメトリックテスターを用いて回路素子を配置した評価素子群を評価する場合、テスターの有する電気的な印加もしくは測定が可能なチャネル数に制限があり、配置する回路素子の数を増加させてもその全てを電気的に評価することが出来ない。 - 特許庁

These adaptations include circuitry to generate a modulated RF carrier signal and signal processing circuitry that can detect modulation imposed on the RF carrier, allowing the smart card chip to be tested without modifications to the device to be tested.例文帳に追加

これらの適応形態は、変調されたＲＦ搬送波信号を生成するための回路と、ＲＦ搬送波にかけられる変調を検出することができる信号処理回路とを含み、検査にかけられるデバイスに変更を加えることなく、スマートカードチップが検査できるようになる。 - 特許庁

The film-type probe unit inspects wires formed on a drive IC for driving the object being tested by bringing the wires into contact with electrodes on the object being tested, wherein at least one of the wires is a dummy that never electrically comes in contact with the electrodes.例文帳に追加

本発明に係る被検査体を駆動させる駆動ＩＣに形成された配線を前記被検査体の電極に接触させて検査するフィルムタイプのプローブユニットは、前記配線のうち少なくともいずれか１つは、前記電極に電気的に接触しないダミーであることを特徴とする。 - 特許庁

Then a layout program 50 monitors the contents of the database 30 periodically for operating a main test execution control program 34 immediately when the conditions of any device to be tested reach the test condition to execute a characteristic measurement test for the device to be tested.例文帳に追加

そして、割付処理プログラム５０によって定期的にデータベース３０の内容が監視され、いずれかの被試験装置の状態が試験条件に到達した場合にはただちに主試験実行制御プログラム３４を起動して、その被試験装置に対する特性測定試験が実行される。 - 特許庁

This IC test device for testing an object to be tested is provided with a plurality of pin electronics cards for giving and receiving signals to and from the tested object, and a daisy chain signal conductor for daisy-chain connecting between the pin electronics cards, thereby performing data transmission.例文帳に追加

本発明は、被試験対象を試験するＩＣ試験装置において、被試験対象と信号の授受を行う複数のピンエレクトロニクスカードと、このピンエレクトロニクスカード間をディジチェーン接続するディジチェーン信号線とを設け、データ伝送を行うことを特徴とするものである。 - 特許庁

The test pattern signal is further supplied from the programmable logic device 150 to a plurality of devices DUT to be tested, and output signals from the devices DUT to be tested are compared with the logical value in the programmable logic device 150, and the compared results are stored in the programmable logic device 150 as test results.例文帳に追加

テストパターン信号は、プログラマブルロジック装置１５０から、さらに複数の被試験デバイスＤＵＴに供給され、被試験デバイスＤＵＴからの出力信号は、プログラマブルロジック装置１５０で論理値と比較され、その比較結果は、試験結果として、プログラマブルロジック装置１５０に格納される。 - 特許庁

To realize a burn-in test simply even by a beginner by forming a waveform forming file and a schedule file and performing the burn-in test of an IC to be tested in an apparatus and a method for testing which supplies a testing waveform to the IC to be tested and performing the test.例文帳に追加

本発明は、試験波形を被試験ＩＣに供給して試験を行う試験装置および試験方法に関し、波形成形ファイルおよびスケジュールファイルを作成してこれらをもとに被試験ＩＣのバーイン試験を行い、初心者でも簡易にバーイン試験を可能にすることを目的とする。 - 特許庁

In the method, a hairless animal is used as an animal to be tested, and the object to be evaluated is administered in its ophthalmic region, and then a rubbing behavior of the animal to be tested is observed, which is found when pruritus causing materials are administered, thereby evaluating the antipruritic effect of the object to be evaluated.例文帳に追加

被験動物としてヘアレス動物を用いて、評価対象物を眼部に投与した後、掻痒惹起物質を投与した際にあらわれる該被験動物の掻破行動を観察することにより、評価対象物の鎮痒効果を評価することを特徴とする。 - 特許庁

In the method for forming a dynamic test pattern, a matter wherein a set to be tested is chosen automatically as probability of fault having capabilities and as function of machine performance data in order to maximize optimization criteria, and a matter wherein the set to be tested is mounted on a digital test pattern are contained.例文帳に追加

可能性のある不具合の確率及び機械性能データの関数として、及び最適化基準を最大化するために、試験対象のセットを自動的に選択することと、試験対象のセットをデジタル・テストパターンの上に置くことと、を含む、動的テストパターン生成のための方法。 - 特許庁

The tester is provided with a reference voltage source, a voltage generation part for conducting calibration due to a voltage of the reference voltage source and for supplying a voltage to the tested object, and a voltage measuring part for conducting calibration due to the voltage of the reference voltage source and measuring an output of the tested object.例文帳に追加

本装置は、基準電圧源と、この基準電圧源の電圧で校正し、被試験対象に電圧を供給する電圧発生部と、基準電圧源の電圧で校正し、被試験対象の出力を測定する電圧測定部とを備えたことを特徴とする装置である。 - 特許庁

Moreover, a detection circuit for detecting the life of this electrolytic capacitor 3a being a component to be tested is provided, and by detecting the life of the electrolytic capacitor 3a as a component to be tested, the life of each electrolytic capacitor 2a, 2b as an electric / electronic component to be an object of life evaluation is estimated.例文帳に追加

さらに、この該被試験部品電解コンデンサ３ａの寿命を検出する検出回路を設け、被試験部品の電解コンデンサ３ａの寿命を検出することによって寿命評価対象となる電気・電子部品の電解コンデンサ２ａ，２ｂの寿命を推定する。 - 特許庁

A control signal corresponding to the input signals is outputted to the control apparatus 21 to be tested, and a control signal outputted from the control apparatus 21 to be tested and the reproduced control signal outputted from the plant data reproduction apparatus 23 are displayed on display devices 22, 24, 25 in a mode capable of mutually comparing these control signals.例文帳に追加

そして、入力信号に対応する制御信号を被試験制御装置２１に出力させ、被試験制御装置２１から出力される制御信号とプラントデータ再生装置から出力される再生制御信号とを比較可能な態様で表示装置２２，２４，２５に表示する。 - 特許庁

A test controlling device 20 performs a test while using at least one tested circuit in the lot as a sample, and on the basis of the result of the test on this sample, a test on a tested circuit other than the sample is omitted as to the test item for which the allowance information is set by the condition setting part 10.例文帳に追加

試験制御装置２０は、ロット内の少なくとも１つの被試験回路をサンプルとして試験し、このサンプルに対する試験結果に基づいて、条件設定部１０により許可情報が設定された試験項目の、サンプル以外の被試験回路に対する試験を省略する。 - 特許庁

A micro pinhole 3 is irradiated with illumination light, a spherical wave L2 emitted from the pinhole 3a is projected to a tested optical system 6, light emitted from the system 6 is brought into shearing-interference, and an interference fringe therein is measured to measure the wave front aberration of the tested optical system 6.例文帳に追加

微小なピンホール３ａに照明光を当て、該ピンホール３ａから発せられる球面波Ｌ２を被検光学系６に照射し、該被検光学系６から出射される光をシアリング干渉させ、その干渉縞を測定することにより上記被検光学系６の波面収差を測定する。 - 特許庁

To provide a biosensor which detects electric characteristics of a bio-related substance contained in fluid to be tested such as aqueous solution arranged in a sensitive film and observes the bio-related substance contained in the fluid to be tested by observation equipment such as a microscope and with high magnification.例文帳に追加

感応膜に配置された水溶液などの被検査流体に含まれる生体関連物質の電気的特性を検出し、顕微鏡などの観察機器によって、かつ、高倍率によって被検査流体に含まれる生体関連物質を観察するバイオセンサを提供する。 - 特許庁

A test signal is supplied to the semiconductor device so as to be tested, the test signal is supplied to the ideal semiconductor device so as to be tested equally, and the accuracy of a debugging operation about whether a program for semiconductor test is operated normally can be increased.例文帳に追加

この半導体デバイスに対して試験信号を供給し、試験することによって、理想的な半導体デバイスに対して試験信号を供給し、試験を行うことと等しくなり、半導体試験用プログラムが正常に動作するか否かのデバッグ精度を高めることが可能となる。 - 特許庁

This detection material is equipped with color reaction base material 4 in which the reaction reagent color-reacting with the tested gas is carried on a carrier and a film 3 having permeability with respect to the tested gas, and is structured so that the film 3 is layered at least on the inflow surface side of the base material 4.例文帳に追加

被検ガスと呈色反応する反応試薬を担体に担持させた呈色反応基材４と、被検ガスに対して透過性を有する膜３とを備え、呈色反応基材４の少なくとも被検ガスの流入面側に膜３を積層して構成されている。 - 特許庁

On the basis of the image data of the image signal inputted via an image storing means 8, a stage controlling means 9 moves the tested lens l via an XYZ gonio-stage 4 and a lens base 3 so as to control it for collecting the laser beams transmitted through the tested lens 1 on a single point.例文帳に追加

ステージ制御手段９は画像記憶手段８を介して入力した該映像信号の画像データを基に、ＸＹＺゴニオステージ４及びレンズ台３を介して被検レンズ１を動かし被検レンズ１を透過したレーザー光が１点に集光するように制御する。 - 特許庁

To provide a city water meter testing device, capable of knowing the level of a start-up flow rate in a tested city water meter, and capable of precisely attaching a pilot detecting part for generating a pulse signal, in response to the rotation of a pilot, to an indication part of the tested city water meter.例文帳に追加

被試験水道メータにおける始動流量の大きさを知ることができるとともに、パイロットの回転に応じたパルス信号を発生するパイロット検出部を、被試験水道メータの指示部に精度よく取りつけることのできる水道メータ試験装置を実現する。 - 特許庁