「Tested」に関連した英語例文の一覧と使い方(30ページ目) - Weblio英語例文検索

The kit for CEA analysis is used with a cut off value being set in the range of 5 to 30 ng in terms of CEA content in an extract of tested tissue.例文帳に追加

カットオフ値が被検組織の抽出液中のＣＥＡの含有量として５〜３０ｎｇの範囲に設定されたＣＥＡの分析用キットを用いる。 - 特許庁

At the Tobishima plant of Mitsubishi Heavy Industries' Nagoya Aerospace Systems Works, rocket components are assembled and tested. 例文帳に追加

三(みつ)菱(びし)重工業株式会社名古屋航空宇宙システム製作所の飛(とび)島(しま)工場では，ロケット部品の組み立てや試験が行われています。 - 浜島書店 Catch a Wave

A host computer is provided with at least two serial communication ports connected to a power card for supplying operation power to each hard disk drive to be tested.例文帳に追加

テストされる各ハードディスクドライブに動作電源を提供するパワーカードに接続される少なくとも二つの直列通信ポートを有するホストコンピュータである。 - 特許庁

To realize an IC tester which can test objects to be tested at high speeds without setting an A/D converter and a digital signal-processing part.例文帳に追加

Ａ／Ｄコンバータやデジタル信号処理部を設けることなく、高速に被試験対象の試験を行うことができるＩＣテスタを実現することを目的にする。 - 特許庁

When there is little optical aberration in the eye E to be tested, two images on fundus by a primary sensor overlap to become a sensor image Sab as is shown in (a).例文帳に追加

被検眼Ｅに光学的な収差が少なければ、（ａ）のように一次元センサによる眼底上の２つの像は重なってセンサ像Ｓａｂとなる。 - 特許庁

Variations in the lift-off separation between a probe 1 and the surface of a structure 2 to be tested often mask the detection of defects in the structure.例文帳に追加

探触子（１）とテスト対象構造（２）の表面の間のリフトオフ分離のバラツキによって構造内の欠陥の検出がマスクされることが多い。 - 特許庁

Since a test can be performed without installing a device for exclusive use inside a vehicle, when only the breaker is tested, the device is very useful.例文帳に追加

遮断機のみの試験を実施する場合においては、車両内部に専用の装置を設置せずに試験を実施することができるので、非常に有用である。 - 特許庁

To obtain a wavefront aberration measuring device which allows for high-precision measurement of the wavefront aberration of a tested optical system by suppressing the impact of interference pattern due to noise light.例文帳に追加

ノイズ光による干渉縞の影響を抑えて被検光学系の波面収差を高精度に計測することのできる波面収差計測装置。 - 特許庁

To provide a measuring apparatus capable of measuring the absolute distance between a reference plane and a surface to be tested with high accuracy, even with a simple configuration.例文帳に追加

簡易な構成でありながら、参照面と被検面との間の絶対距離を高精度に計測することができる計測装置を提供する。 - 特許庁

When performing a test, the RF test port is connected via the probe to test equipment, and the portable electronic device is tested.例文帳に追加

テストを行う場合には、前記無線周波数テストポートは前記プローブを介してテスト機器に接続されて、前記携帯式電子装置に対してテストを行う。 - 特許庁

To accurately measure the surface position of an object to be tested by independently adjusting the relative position and the optical path-length difference between reference light and test light.例文帳に追加

参照光と被検光との相対位置及び光路長差を独立して調整することにより、被検物の面位置を高精度に計測する。 - 特許庁

The testing device 2 tests a signal S1 to be tested which is output from DUT 1 and makes the voltage level vary according to the value thereof.例文帳に追加

試験装置２は、ＤＵＴ１から出力される被試験信号Ｓ１であって、その値に応じて電圧レベルが変化する被試験信号Ｓ１を試験する。 - 特許庁

Based on the magnitude and pattern of warping of the sample to be tested and the known critical application voltage, a voltage to be applied to the electrostatic chuck is set up.例文帳に追加

検査対象の試料の反りの大きさ及び反りのパターンと、既知の臨界印加電圧に基づいて、静電チャックへの印加電圧を設定する。 - 特許庁

To provide an apparatus for giving a test framework where multimedia APIs are exercised and tested independently of multimedia applications in a wireless device, and a method.例文帳に追加

無線デバイスにおいて、マルチメディアＡＰＩがマルチメディア・アプリケーションとは独立にテスト使用されるテスト基本構造を与える装置及び方法を提供する。 - 特許庁

The test base 10 supports and fixes the inner magnet C_1 of a tested pump C to the inside circumferential side of the inspecting coupling unit A in a non-contact insertion state.例文帳に追加

前記テスト台１０にて被テストポンプＣのインナーマグネット部Ｃ_１ を前記検査用カップリング体Ａ内周側に非接触挿入状態で支持固定すること。 - 特許庁

The test mode control unit 22 notifies a diagnostic mode control unit 20 of a transmission condition under which ΔE becomes minimum, of a plurality of tested transmission conditions.例文帳に追加

テストモード制御部２２は、試した複数の送信条件の中でΔＥが最少となる送信条件を診断モード制御部２０に通知する。 - 特許庁

To easily change a driving voltage, which is generated by a voltage generating circuit, without changing a power supply voltage when a nonvolatile semiconductor memory is tested.例文帳に追加

不揮発性半導体メモリのテスト時に、電源電圧を変えることなく、電圧生成回路によって生成される駆動電圧を容易に変えること。 - 特許庁

An antenna elevator 7 moves an antenna for a near field irradiation 4 to a specific position overhead of a tested LSI2 based on the direction of a controller 15.例文帳に追加

アンテナ昇降部７は、制御部１５の指示に基づいて、近接照射用アンテナ４を被試験ＬＳＩ２の頭上の所定の位置に移動させる。 - 特許庁

To provide a scan testing method of a semiconductor integrated circuit of advanced integration, and the semi-conductor integrated circuit to be tested by the scan testing method.例文帳に追加

集積化の進んだ半導体集積回路に対するスキャンテスト方法、及び該スキャンテスト方法によりテストされる半導体集積回路を求める。 - 特許庁

To provide an intake valve closing timing detection device of a tested engine wherein a productivity in an engine assembly process is increased.例文帳に追加

エンジンの組み立て工程における生産性を向上させることが可能となるテスト対象エンジンにおける吸気バルブの閉タイミング検出装置を提供する。 - 特許庁

Data tested in the testing machine body 10 are stored in the storage part of a data processing device 30 via a measurement control device 20 at normal measurements.例文帳に追加

通常の測定時には、試験機本体１０で試験されたデータは計測制御装置２０を介してデータ処理装置３０の記憶部に保存される。 - 特許庁

Thus the functions of the service aid device are tested by simultaneously or time-differentially starting respective PCs through the batch control PC 19.例文帳に追加

一括制御用パソコンを介して各シミュレータ用パソコンを一斉起動または時間差起動させることにより、保守支援装置の機能試験を行う。 - 特許庁

The opposite side of the second piston is brought into contact with the caustic/corrosive fluid 30 touching it in the similar manner to the sensor face of the tested article 34.例文帳に追加

第２のピストンの反対側は、試験されている物品（３４）のセンサ面と同様に接触する苛性又は腐食性流体（３０）と接触する。 - 特許庁

In a communication line inspection method, by using a plurality of combinations of amplitude voltages and frequencies of communication signals, a communication line is tested.例文帳に追加

本発明に係る通信線検査方法では、通信信号の振幅電圧および周波数の組み合わせを複数用いて、通信線をテストする。 - 特許庁

When necessity of relieving defect is tested, a low level is applied externally to the pad electrode PD, the n-channel field effect transistor TN0 is made an off-state.例文帳に追加

欠陥救済の要否を検査する場合、パッド電極ＰＤに外部からロウレベルが印加され、ｎ型電界効果トランジスタＴＮ０がオフ状態とされる。 - 特許庁

A microprocessor is programmed to become familiar with a plurality of identification marks through learning, and to analyze and detect seals within documents to be tested.例文帳に追加

マイクロプロセッサは、学習によって複数の識別マークに精通するように、かつ、試験文書内のシールを分析・検出するようにプログラムされている。 - 特許庁

An improved semiconductor test device performing test of an object to be tested by a test part to which electricity is supplied from a power source part is provided.例文帳に追加

本発明は、電源部より給電される試験部により、被試験対象の試験を行なう半導体試験装置に改良を加えたものである。 - 特許庁

To provide a method for easily and quickly assaying cutaneous sensitization of a substance to be tested in its small quantity without performing a complicated animal experiment.例文帳に追加

被験物質の皮膚感作性を、煩雑な動物実験を行うことなく、少量の被験物質で、簡便かつ迅速に検定する方法を提供すること。 - 特許庁

The processor is arranged to process the signals so as to assess a distortion of the magnetic fields sensed by the magnetic field sensors at the tested location.例文帳に追加

プロセッサは、検査される場所で磁界センサーによって検知される磁界のひずみを評価するために、信号を処理するように構成されている。 - 特許庁

At the time of testing, the signal SA is retained by the FF33 through the selectors 31, 32, and therefore the signal path between the circuit blocks 10A, 10B can be tested.例文帳に追加

テスト時に、信号ＳＡはセレクタ３１，３２を介してＦＦ３３に保持されるので、回路ブロック１０Ａ，１０Ｂ間の信号経路がテストできる。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device such as a semiconductor memory or the like which can be tested with a frequency exceeding the specifications of a tester and its test method.例文帳に追加

テスタの仕様を越えた周波数でテストすることができる半導体メモリなどの半導体集積回路装置及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

The tested object with high polarity is ionized in a thermal ionization process inside the heating tube 3, and then is moved to the reaction chamber 3.例文帳に追加

高い極性の被検体は、加熱チューブ３の内部での熱的イオン化過程によってイオン化され、高い極性の被検イオンは反応室３へと進む。 - 特許庁

Thereby, when plural non-volatile semiconductor memories are tested simultaneously, read-out operation of all chips can be performed simultaneously as well as write-in and erasion operation.例文帳に追加

そのため、複数の不揮発性半導体メモリを同時にテストする際、書き込み／消去動作と同じく、読み出し動作も全チップ同時に行うことが出来る。 - 特許庁

The test accuracy is enhanced when the driving characteristics of the DUT in the domain part 23 of the array substrate 22 are electrically tested by the tester body 47.例文帳に追加

アレイ基板22の表示領域部23における被検査対象デバイスの駆動特性をアレイテスタ本体47にて電気的に検査する際の検査精度が向上する。 - 特許庁

To provide a sensor element having an outside pump electrode not exposed directly to a gas mixture to be tested, and formed as simply as possible.例文帳に追加

外側ポンプ電極が試験すべきガス混合物に直接に晒されておらず、同時にできるだけ簡単に形成されているセンサー素子を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test system which can cope flexibly with large capacity of a semiconductor device to be tested without burdening a high cost.例文帳に追加

高いコストの負担を伴うことなく、試験対象となる半導体装置の大容量化等に柔軟に対応しうる半導体試験システムを提供する。 - 特許庁

If the termination condition is not satisfied, an arithmetic operation on the set of locational codes is performed to directly index a next cell to be tested.例文帳に追加

終了条件が満たされていないときは、判定される次のセルを直接インデックス付けするために、位置コードの組に算術オペレーションが実行される。 - 特許庁

To provide an authentication device utilizing the vein pattern of a finger which can accurately read the vein pattern of the finger, the finer being an object to be tested.例文帳に追加

指を検査対象とし、その静脈パターンを正確に読み取ることができる、指の静脈パターンを利用した認証装置を提供する。 - 特許庁

To precisely test a device to be tested outputting a clock signal, clock inversion signal, and a data signal synchronizing to the clock signal or the clock inversion signal.例文帳に追加

クロック信号、クロック反転信号、並びにクロック信号及びクロック反転信号に同期したデータ信号を出力する被試験デバイスを精度よく試験する。 - 特許庁

To provide a test emulator which emulates the test device equipped with a plurality of the test modules supplying a test signal to the test device to be tested.例文帳に追加

試験信号を被試験デバイスにそれぞれ供給する複数の試験モジュールを備える試験装置をエミュレートする試験エミュレート装置を提供する。 - 特許庁

To provide a built-in self test controller and a programmable method by which the selection and modification of an algorithm applied to a related memory to be tested are attainable.例文帳に追加

ビルト・イン・セルフ・テスト・コントローラと、関連するテストされるメモリに適用されるアルゴリズムの選択及び変更を可能にするプログラマブルな方法を提供する。 - 特許庁

A system clock signal 1c is inputted from the generator 18 to the IC 12 to be tested, and a clock signal A14 is inputted to the generator 11.例文帳に追加

システムクロック発生器１８から被試験ＩＣ１２にシステムクロック信号１ｃが入力され、パターン発生器１１にクロック信号Ａ１４が入力される。 - 特許庁

To make repairing and replacing operation for a part in contact with a body to be tested efficient by finding the necessity of the operation with rational standards.例文帳に追加

被試験体との接触部などの修理・交換作業の必要性を合理的な基準で求め、当該作業の効率化を図ることを目的とする。 - 特許庁

To provide a wind resistance testing device using no wind tunnel and a method for wind resistance test by which the stability of the wind resistance of a model which is an object to be tested for wind resistance can be confirmed.例文帳に追加

風洞を用いない耐風試験装置と耐風試験対象物である模型の耐風安定性を確認する試験の方法を実現する。 - 特許庁

Bar code marks BC having information such as ID numbers are displayed on a plurality of IC trays CR carrying ICs to be tested respectively.例文帳に追加

被試験ＩＣを搬送する複数のＩＣトレイＣＲのそれぞれにＩＤ番号などを含む情報が設定されたバーコードマークＢＣを表示する。 - 特許庁