「Tested」に関連した英語例文の一覧と使い方(33ページ目) - Weblio英語例文検索

This device comprises a bad block determining part 15 for determining an unusable block (bad block) of a tested memory 20 on the basis of a result of comparison of contents of an output signal SG6 from the tested memory 20 and an expected value included in an expectation signal SG5, and storing a block address for specifying the block.例文帳に追加

被試験メモリ２０からの出力信号ＳＧ６の内容と期待信号ＳＧ５に含まれる期待値とを比較する比較部１３の比較結果に基づいて、被試験メモリ２０の使用不可能なブロック（バッドブロック）の判定を行い、そのブロックを特定するブロックアドレスを記憶するバッドブロック判定部１５を備える。 - 特許庁

To provide a power-supply current measuring method for a semiconductor device capable of detecting the defect generation state of a semiconductor device to be tested by a test system, and measuring stably the change of the power-supply current flowing in the semiconductor device to be tested by another testing device, while maintaining the defect generation state.例文帳に追加

テストシステムにより被試験半導体デバイスの不良発生状態を検出し、その不良発生状態を維持したまま、他の試験装置が被試験半導体デバイスに流れる電源電流の変化を安定に測定することができる半導体デバイスの電源電流測定方法を提案する。 - 特許庁

After a tested IC device 2 is transferred from the socket 40 of a test head 5, a pusher 30 is brought closer to or into contact with the socket 40 of the test head 5, before the next IC device 2 to be tested is transported to the socket 40, so that the pusher 30 presses the IC device 2 against the socket 40.例文帳に追加

試験が終了したＩＣデバイス２がテストヘッド５のソケット４０から移送された後、次の被試験ＩＣデバイス２がテストヘッド５のソケット４０に搬送されてくるまでの間、プッシャ３０をソケット４０に近接または接触させ、このプッシャ３０により被試験ＩＣデバイス２をソケット４０に押し付けるようにする。 - 特許庁

The device test method includes a medium supply step which supplies the medium on the stage 40 for mounting the device to be tested 130, an arrangement step which arranges the device to be tested on the stage, and a temperature control step which controls the stage temperature, after the arrangement step, below the freezing temperature of the medium.例文帳に追加

デバイス試験方法は、被試験デバイス（１３０）を搭載するためのステージ（４０）上に媒介物を供給する媒介物供給ステップと、ステージ上に被試験デバイスを配置する配置ステップと、配置ステップ後にステージの温度を媒介物の凍結温度以下に制御する温度制御ステップと、を含む。 - 特許庁

A report output part 16 judges whether all test items are tested for every test from information indicating correspondence between the message to be stored in the message storage part 14, a test vector name to be stored in a test information storage part 15 and the test item to be tested by them and outputs its result by a report.例文帳に追加

そして、レポート出力部１６は、このメッセージ記憶部１４に記憶されるメッセージとテスト情報記憶部１５に記憶されるテストベクトル名とそれによりテストされるテスト項目との対応を示す情報とからテスト毎にその全てのテストの項目がテストされているか否かを判定し、その結果をレポート出力する。 - 特許庁

While the defect information of the DUT 10 is written into the memory 7 under the control of the CPU 1. the defect information of the DUT 10, that is tested previously and stored in the memory 8, is read by the CPU 2 and a defect analysis of the DUT 10, which was tested previously, is conducted.例文帳に追加

試験用ＣＰＵ１の制御下でＤＵＴ１０の不良情報を第１不良解析メモリ７に書き込んでいる間に、第２不良解析メモリ８から前回試験したＤＵＴ１０の不良情報を不良解析用ＣＰＵ２に読み込んで、前回試験したＤＵＴ１０の不良解析をする。 - 特許庁

A plurality of test patterns is set to a test device 6 of a semiconductor memory, a different test pattern is applied to a plurality of semiconductor memories 1 to be tested, while it is discriminated whether test result output of each semiconductor memory 1 to be tested is in the prescribed tolerance or not.例文帳に追加

半導体記憶装置の試験装置６に複数のテストパターンを設定し、試験装置に接続された複数個の被試験半導体記憶装置１に異なるテストパターンを適用すると共に、各被試験半導体記憶装置１の試験結果出力が所定の許容範囲内にあるか否かを判定するようにした方法。 - 特許庁

An input terminal 6A of the input and output terminal 6 is connected through a first connection line put through the clip main body 1 with an input side 8 of the IC to be tested, and the IC 7 to be tested is connected through a second connection line put through the clip main body 1 with an input side 12 of the opposite element 5.例文帳に追加

入出力端子部６の入力端子６Ａはクリップ本体１中に通される第１接続線を介して被試験用ＩＣの入力側８に接続され、被試験用ＩＣ７はクリップ本体１中に通される第２接続線を介して対向素子５の入力側１２に接続されている。 - 特許庁

Defective speed in the ROM depending upon the address can be tested even in the microcomputer with the built-in ROM having no data bus, in which the counter output signal and the inversion signal TOB are selected and input as the address of the ROM and a ROM data can be tested in the ascending order/the descending order of the address and connected to the outside, and having no up-down counter.例文帳に追加

カウンタ出力信号と該反転信号ＴＯＢとを選択しＲＯＭのアドレスとして入力してＲＯＭデータをアドレスの昇順／降順でテスト可能で外部に接続するデータバスを持たず、アップダウンカウンタを備えないＲＯＭ内蔵マイコンでも、アドレスに依存するＲＯＭでのスピード不良がテスト可能となる。 - 特許庁

The improved IC tester comprises a first current apply section for outputting current to the tested object and a second current apply section that outputs small current more accurately than in the first current apply section, adds it to the output current of the first current apply section, and outputs it to the tested object.例文帳に追加

本装置は、被試験対象に電流を出力する第１の電流印加部と、この第１の電流印加部より高精度で、小電流を出力し、第１の電流印加部の出力電流に加算して、被試験対象に出力する第２の電流印加部とを備えたことを特徴とする装置である。 - 特許庁

In this in vitro evaluation method or screening method of the sensitive material, the tested material is mixed with amyloid P hexamer selected from a group of H-Phe-Thr-Leu-Cys-Phe-Arg-NH_2 and H-Phe-Thr-Leu-His-Phe-Arg-NH_2, then the existence of bonded material of the amyloid P hexamer and the tested material is measured.例文帳に追加

本発明は、H-Phe-Thr-Leu-Cys-Phe-Arg-NH_2及びH-Phe-Thr-Leu-His-Phe-Arg-NH_2から成る群から選ばれるアミロイドＰヘキサマーと被験物質とを混合した後、前記アミロイドＰヘキサマーと被験物質との結合物の有無を測定することを特徴とする感作性物質のインビトロ評価方法またはスクリーニング方法を提供する。 - 特許庁

This device is characterized by having a signal generator for inputting a white noise into the test object, an analytical means for executing frequency analysis of an output of the test object, and calculating a spectrum to be tested, and a determination means for determining the quality based on the spectrum to be tested of the analytical means.例文帳に追加

本装置は、被試験対象に白色ノイズを入力する信号発生器と、被試験対象の出力を周波数解析し、被試験スペクトルを算出する解析手段と、この解析手段の被試験スペクトルに基づいて、良否を判定する判定手段とを有することを特徴とする装置である。 - 特許庁

A sample to be tested and a reagent are housed in the reaction tube 1 from a test sample storage part storing the sample to be tested and a reagent storage part storing the reagent, a reaction solution within the reaction tube 1 is measured, the reaction solution is removed from the reaction tube 1, and the reaction tube 1 is washed with a detergent having a pH value in a neural region.例文帳に追加

被検試料を収納する被検試料収納部及び試薬を収納する試薬収納部からそれぞれ試料及び試薬を反応管１に分注し、反応管１内の反応液を測定後、反応液を反応管１から廃液し、その後、ｐＨが中性域にある洗剤により反応管１を洗浄する。 - 特許庁

There were two methods in the Yoro Code, each of which delivered a total of nine questions: in the first, three questions were drawn from the "Kyushosanjutsu" with each of the remaining documents other than "Rokusho" and "Tenjutsu" providing one of the other six; in the second, three questions were drawn from "Rokusho" and the remaining six from "Tenjutsu," so that the former method tested knowledge of basic arithmetic while the latter tested knowledge of advanced mathematics. 例文帳に追加

養老律令では方法が2通りあり、前者は『九章算術』3問と『六章』・『綴術』以外の残り6書から各1問の計9問から出題されるもの、後者は『六章』3問と『綴術』6問の計9問から出題されるもので、前者は基礎算術、後者は高等数学の知識を試した。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

The test system 1 includes: a test device 2; a tested device 3 connected to the test device 2 by a data communication line 5 and a power supply line 6, where a test program runs with power supplied from the test device 2; and a detection means 4 detecting operation current of the tested device 3.例文帳に追加

本発明の試験システム１は、試験装置２と、試験装置２とデータ通信線５及び電源供給線６によって接続されており、試験装置２からの電源の供給によって試験プログラムが稼働する被試験装置３と、被試験装置３の稼働電流を検出する検出手段４と、を備える。 - 特許庁

Furthermore, an electrical property which is represented by liquid molecules coupled to solid molecules making up the object to be tested, and another property which is represented by liquid molecules included in spaces among the solid molecules making up the object to be tested, are detected separately from each other, based on the calculated complex impedance values by using a calculating section 25.例文帳に追加

また、演算部２５によって、算出した複素インピーダンスに基づいて、試験体を構成する固体分子と結合した液体分子によって示される電気的特性と、上記試験体を構成する固体分子の間隙に含まれる液体分子によって示される電気的特性とを、互いに分離して検出する - 特許庁

A tested body 1 constituted to be equivalent to an isolator of the seismic base isolating device is pressurized by a pressurizing means 2 comprising a hydraulic cylinder, at a pressure equivalent to load applied to the isolator of the seismic base isolating device, and the deformation quantity of the tested body 1 is monitored through a gauge to monitor the degraded state of the isolator of the seismic base isolating device.例文帳に追加

免震装置のアイソレータと同等に構成された被試験体1 を油圧シリンダからなる加圧手段2 で免震装置のアイソレータに印加される荷重と同等の圧力で加圧し、ゲージでこの被試験体1 の変形量を監視することにより免震装置のアイソレータの劣化状態を監視する。 - 特許庁

When a test object to be vibrated Tp on a plane is tested, for instance, vibration units 1A and 1B are tightened on right and left sides of the test object to be vibrated Tp to be controlled under the vibration control part 4 to generate composition vibration such as reciprocation, rotation, compression, tension and torsion on the test object Tp so as to be tested.例文帳に追加

平面上の被振動試験物Ｔｐを検査する場合は、例えば、被振動試験物Ｔｐの左右に振動ユニット１Ａ、１Ｂを締結して振動制御部４の下に制御し、その被振動試験物Ｔｐに往復、回転、圧縮、引っ張り、捩り等の合成振動を発生させて試験する。 - 特許庁

To provide a tester for a semiconductor integrated circuit capable of reducing the consumption power at a time when a judgement result of good or bad of an object to be tested is written into a memory.例文帳に追加

被試験対象の良否の判定結果をメモリに書き込むときの消費電力を低減することができる半導体集積回路試験装置を提供する。 - 特許庁

A control voltage value for correction for maintaining the output at 2.50 V is tested in the field, to obtain a numerical value described in the lower half of a section 92 for the control voltage value (V).例文帳に追加

この出力を２．５０Ｖに維持するための補正用制御電圧値を実地に試験して、制御電圧値（Ｖ）欄９２の下１／２に記述されている数値が得られる。 - 特許庁

The potential difference set by the potential difference setting means is applied to the first and the second terminals via the inter-terminal connection control means to test the circuit to be tested.例文帳に追加

電位差設定手段によって設定された電位差を、端子間接続制御手段を介して、第１及び第２の端子に印加して、被試験回路を試験する。 - 特許庁

To reduce a noise component contained in an electric signal acquired from a material to be tested by recovering the component generated from an inverter in a tester having the inverter.例文帳に追加

インバータを有する試験装置において、このインバータが発生するノイズ成分を回収し、被試験体から取得する電気信号に含まれるノイズ成分を低減する。 - 特許庁

To provide a circuit testing device capable of selectively testing any of a plurality of circuits to be tested.例文帳に追加

本発明は回路の試験装置に関し、複数の被試験回路の何れかを選択して試験することができる回路の試験装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

A detachable and exchangeable attachment is installed at the tip of the probe and the attachment is exchanged or disposed for measuring each eye to be tested, thereby infection is prevented.例文帳に追加

プローブの先端部に脱着・交換が可能なアタッチメントを設置し、アタッチメントを被検眼毎に交換または使い捨てで測定を行うことにより、感染を防止する。 - 特許庁

The kinds of the plurality of the nucleic acids necessary for the analysis are easily synthesized by utilizing a primer aggregate annealing to the plurality of the domains of the tested nucleic acid.例文帳に追加

解析に必要な複数種の核酸は、被検核酸の複数の領域に対してアニールするプライマー集合体を利用して、容易に合成することができる。 - 特許庁

The sealing means shields the second surface of the tested circuit board from flow of the atmospheric air to prevent a frost that is a cause of leak current generation, from being generated.例文帳に追加

この密封手段がテスト回路ボードの第２表面上を大気の流れから遮断することにより、漏洩電流発生原因である霜発生を防止することができる。 - 特許庁

By this method, the coating film 13 of the article having a surface shape of every kind can be tested using one clothlike sheet 16 and the request of simplification can be satisfied.例文帳に追加

これにより、１種類の布状シート１６で種々の表面形状の物品の塗装膜１３を試験することができ、簡易化の要求を満たすことができる。 - 特許庁

Like actual positioning instructions, the simulated positioning instructions include information of satellite number, and the object to be tested 10 receives and acquires the simulated satellite signal, in accordance with the instructions.例文帳に追加

模擬測位指示は測位指示と同じく衛星番号情報を含んでおり、検査対象品１０はそれに従い模擬衛星信号を受信及び捕捉する。 - 特許庁

To provide an IC test device for suppressing IC to be tested from deteriorating due to discharge current of a capacitor in an IC test, and to provide an IC test method.例文帳に追加

ＩＣの試験において、コンデンサの放電電流によって被試験ＩＣが劣化するのを抑止することができるＩＣテスト装置およびＩＣテスト方法を提供する。 - 特許庁

The whitening of the printing face can be prevented even under the high humidity condition or even when the ink to be tested is cooled by the printing testing method according to the present invention.例文帳に追加

本発明の印刷試験方法により、高湿度の環境においても、試験するインキが冷えている場合でも印刷面のブラッシングを防止することができる。 - 特許庁

When determined to be coincident, the control circuit 23 transmits a random pattern 40 read out from a vector memory 22 toward the semiconductor device (logic product) to be tested.例文帳に追加

一致すると判定された場合には、制御回路２３は、ベクタメモリ２２から読み出したランダムパターン４０を、被試験半導体装置（ロジック製品）に向けて送信する。 - 特許庁

To set an optimal condition on image processing which gets no false information from the fluctuation of brightness between the images to be compared which is caused by an object to be tested and an image detection system.例文帳に追加

被検査対象物および画像検出系起因に起因して生じる、比較画像間の明るさばらつきを虚報としない、最適な画像処理条件を設定する。 - 特許庁

The measuring device is provided with a driving device 7 for rotating the tested object holding part 3 and relatively changing the angle θ1 of incidence of light from the light source with the rotation.例文帳に追加

被検査物保持部３を回動させ回動に伴い光源からの光の入射角θ１を相対的に変化させる駆動装置７が設けられている。 - 特許庁

A reference block 110 which is formed so as to be closely resembled to an integrated-circuit device, to be tested, in required various points is inserted into the fixture 107 of a test head 103.例文帳に追加

被試験集積回路デバイスと所要の諸点でできるだけ近似するように作った規準ブロック１１０をテストヘッド１０３のフィクスチャ１０７に挿入する。 - 特許庁

This testing system is constituted of a test control section (PC) 1 and a transmission-reception control section (TST) 2 and a multiple-frequency encoder (DUT) 4 to be tested is connected to an encoder connecting section (CON) 3.例文帳に追加

試験制御部（ＰＣ）１と送受信制御部（ＴＳＴ）２とで構成され、符号器接続部（ＣＯＮ）３に試験用の符号器（ＤＵＴ）４が接続される。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus enabling easy and efficient evaluation for the drug sensitivity of microorganisms to be tested or of tumor cells, and identification of microorganisms.例文帳に追加

被験微生物又は腫瘍細胞の薬剤感受性の評価や、微生物の同定を、簡易且つ効率よく行うことが可能な方法及び装置を提供する。 - 特許庁

When the last tested pair chip 6 is mounted, a function test as an electronic circuit device is carried out, and when it is determined to be good, the electronic circuit device is completed.例文帳に追加

最後の被試験ベアチップ６を実装した場合は、電子回路装置としての機能テストを行い、良品であると判定された場合は、電子回路装置の完成品とする。 - 特許庁

An engine testing device 10 comprises: a dynamometer 14 for applying a load to an engine 12 to be tested; and a control device 20 that controls the engine 12 and the dynamometer 14.例文帳に追加

エンジン試験装置１０は、試験対象であるエンジン１２に負荷を与えるダイナモメータ１４と、エンジン１２及びダイナモメータ１４を制御する制御装置２０とを備える。 - 特許庁

The cable to be tested after being electrified with a DC voltage is grounded and then electrified with an AC voltage and the residual electric charges are measured.例文帳に追加

そのために、ケーブルが一様に軽微な水トリー劣化なのか、局部的に極度に水トリー劣化、つまり長い水トリーが存在しているのか判定することが困難であった。 - 特許庁

Image data, outputted from an image memory 1g of the circuit board 1 to be tested as the electronic circuit board, are fetched in a FIFO memory 2a of an inspection device 2 by one screen.例文帳に追加

電子回路基板としての被検査基板１の画像メモリ１ｇから出力された画像データを検査装置２のＦＩＦＯメモリ２ａに１画面分取り込む。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit verifying device which speedily verifies the function of a device to be tested and a test pattern used for its test fast without using the actual device and a tester.例文帳に追加

被試験デバイスの機能やその試験に用いるためのテストパターンを実際のデバイスやテスタを用いずに高速に検証する半導体集積回路検証装置の提供。 - 特許庁

In the apparatus 20 for displaying the acceptability, an acceptability display-use LCD 22 is embedded in the top plate 82, and the lens tray 40 is disposed thereabove in which the lens to be tested 42 is loaded.例文帳に追加

合否表示装置２０には、天板８２に合否表示用ＬＣＤ２２が埋設され、その上方に被検レンズ４２を装填したレンズトレー４０が装填される。 - 特許庁

Next, the ROM pre-charge signal RP is made an L level, and the data holding time of the dynamic ROM is tested by confirming that a holding capacitor potential Vc0 is an H level.例文帳に追加

次に、ＲＯＭプリチャージ信号ＲＰをＬレベルにし、保持容量電位Ｖｃ０がＨレベルであることを確認することで、ダイナミックＲＯＭのデータ保持時間を検査する。 - 特許庁

To provide an apparatus, method, and program capable of precisely extracting an area belonging to a predetermined constitution section from the image of a subject being tested.例文帳に追加

被検体の画像から所定の構成部位に属する領域を精度良く抽出することができる画像処理装置、画像処理方法、および画像処理プログラムを提供する。 - 特許庁

Also, a result storage position where processing to store a test result to be obtained for the test conditions of the object to be tested in predetermined variables is executed on the test program is acquired.例文帳に追加

また、テストプログラム上の、被テスト対象のテスト条件に対して得られるテスト結果を所定の変数に格納する処理が実行される結果格納位置を取得する。 - 特許庁