「Tested」に関連した英語例文の一覧と使い方(29ページ目) - Weblio英語例文検索

This invention is acquired by improving a test system for testing objects to be tested which have a plurality of output pins and output a multi-level current.例文帳に追加

本発明は、複数の出力ピンを有し、多階調電流を出力する被試験対象を試験するテストシステムに改良を加えたものである。 - 特許庁

To recover from a trouble in a short time even if a hinge mechanism 3 fails in an IC socket used when an IC is tested and inspected electrically.例文帳に追加

ＩＣを電気的試験および検査するときに使用するＩＣソケットにおいて、ヒンジ機構３が故障しても極めて短時間で修復できる。 - 特許庁

In this diagnostic method for three-dimensional imaging, especially in mammography, a projection image of a subject to be a tested is prepared and stored in an electronic form.例文帳に追加

３次元画像化、特にマンモグラフィにおける診断方法において、検査対象の投射撮影が作成されて電子的な形で記憶される。 - 特許庁

To provide a method for generating a perturbation signal applicable for the exciting of input variables of a system when the system is tested for the purpose of obtaining a model.例文帳に追加

モデルを得る目的でシステムをテストする時のシステムの入力変数を励起するのに適用可能な摂動信号を生成する方法の実現。 - 特許庁

The region corresponding to each region on the image to be tested among respective regions is specified based on the order of layout of the respective specified regions (S1311).例文帳に追加

特定した各領域の並び順に基づいて、各領域のうち、被験画像上における各領域に対応する領域を特定する（Ｓ１３１１）。 - 特許庁

To provide a micro-reactor and an inspection device each for inspecting a biosubstance that has a pretreatment means and enables multi-testing items to be tested on the biosubstance with high reliability.例文帳に追加

前処理手段を有し、多項目同時検査を高い信頼性で可能とする生体物質検査用マイクロリアクタおよび検査デバイスを提供すること。 - 特許庁

Each multi-chip module 102 has a plurality of fine electric mechanical switches between a connector 106 set to the tester and a connector 108 set to the devices to be tested.例文帳に追加

各マルチチップモジュール１０２は、テスターへのコネクタ１０６のセットと被試験デバイスへのコネクタ１０８のセットとの間に複数の微小電気機械スイッチを有する。 - 特許庁

By connecting the terminals 13A, 13B to an external test device, the ROM 11 having an error correction function can be tested.例文帳に追加

この端子１３Ａおよび１３Ｂを外部テスト装置に接続することにより、誤り訂正機能付きＲＯＭ１１に対するテストを行うことができる。 - 特許庁

To provide an antioxidant property evaluation method for more accurately evaluating antioxidant power exhibited by a tested substance in an vegetable cell.例文帳に追加

被検物質が植物細胞内において発揮する抗酸化能を、より正確に評価することが可能な抗酸化能評価方法を提供すること。 - 特許庁

For an integrated circuit containing a plurality of functional macros, the function macros are tested concurrently after constituting as described above.例文帳に追加

集積回路が複数の機能マクロを内蔵する場合には、上述のように構成した上で各機能マクロの試験を同時並列的に行うようにする。 - 特許庁

To obtain a semiconductor device and a test method wherein different kinds of chips can be properly tested by using a jig for test which is constituted of a common probe card.例文帳に追加

異なる品種のチップを共通のプローブカードからなるテスト用治工具により適切にテストできる半導体装置およびテスト方法を得る。 - 特許庁

To provide a method for absolutely calibrating a tested surface (spherical surface) by obtaining measured interference data of the surface in a vertically erected state.例文帳に追加

垂直方向に立てた状態の被検面（球面）について、その状態で干渉測定データを求め、これを絶対校正する方法を提供する。 - 特許庁

The β-type zeolite for the SCR catalyst is used in the SCR catalyst which exhibits high NOx reducibility at low temperature after tested for hydrothermal endurance and hardly discharges pungent ammonia to exhaust gas.例文帳に追加

水熱耐久処理後における低温ＮＯｘ還元性が高く、排ガスへの刺激性のアンモニア排出を小さくすることができる。 - 特許庁

To provide a nonvolatile memory device wherein the burning-in of a device easily and efficiently tested by using a driver circuit which is a peripheral circuit.例文帳に追加

周辺回路であるドライバ回路を用いて、簡易かつ効率的にデバイスのバーンイン試験を実行することが可能な不揮発性記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device for testing helium leakage that can eliminate a time to pull out a cap mounted on the convex part of an object to be tested having a convex part with an opening.例文帳に追加

孔付凸部を有する被試験体の凸部に装着したキャップを抜き取る手間を省くことができるヘリウムリークテスト装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device incorporating an analog/digital converter, which can be tested while a permissible error is set in a short time at a low cost.例文帳に追加

Ａ／Ｄコンバータを内蔵した半導体装置に対して許容誤差を設定してテストを行う場合、短時間かつ低コストで実現することを目的とする。 - 特許庁

A bit Ci+1 of a CPU register is tested by a temporary register while designating an address and the conditional addition/subtraction of the coordinate of a second input vector Xij is executed.例文帳に追加

ＣＰＵレジスタのビットＣ_i+1がアドレス指定されテンポラリレジスタでテストされ第２の入力ベクトルＸ_ijの座標の条件付き加減算が実施される。 - 特許庁

Hence, a through current is not made to flow between the power source and ground even if the fuse is not a cut off state when necessity of relieving the defect is tested.例文帳に追加

従って、欠陥救済の要否を検査する際にヒューズが未切断状態であっても、電源と接地との間に貫通電流が流れない。 - 特許庁

An IC tester for testing an object to be tested is improved by pattern data being outputted from a pattern memory based on an address.例文帳に追加

本発明は、アドレスに基いてパターンメモリが出力するパターンデータにより、被試験対象を試験するＩＣ試験装置に改良を加えたものである。 - 特許庁

To detect a specimen in a sample to be tested obtained by diluting a biological sample with a specimen extract with high sensitivity by an immunity measurement method.例文帳に追加

生体試料を検体抽出液で希釈して得られた被験試料中の検体を免疫測定法によって高感度に検出できるようにする。 - 特許庁

A currently and unused signal line is used for the test connector, and served for exchanging indicated contents and the results between the card throttle of tested object and the external tester.例文帳に追加

テスト・コネクタは、既存の未使用バス信号ラインを使用して、テスト対象のカード・スロットと外部テスタとの間でテストの指示内容と結果をやりとりする。 - 特許庁

To provide a test method for a non-volatile semiconductor memory by which quantity of disturbance and margin of disturbance can be tested and evaluated surely and in a short time.例文帳に追加

ディスターブ量及びディスターブマージンを正確に短時間で試験評価することができる半導体不揮発性メモリの試験方法を提供する。 - 特許庁

In a test in which the same value is written in a plurality of memory cells and written data is read out again and it is tested whether the data is surely written and read out or not.例文帳に追加

複数のメモリセルに同じ値を書き込みその書き込んだデータを再び読み出して、正確に書き込まれ読み出されるかをテストする試験がある。 - 特許庁

A marker 14 indicating vehicle conditions is displayed at the intersection point of the terrain information 13 and a reference line 15 indicating the current position of the vehicle to be tested.例文帳に追加

この地形情報１３と被試験車両の現在位置を示す基準線１５との交点に、車両の状態を示すマーカ１４を表示する。 - 特許庁

To reduce the test cost of liquid to be tested, improve the preserving property and inspection precision thereof, and simplify the collection work and test work.例文帳に追加

検査対象液の検査コストの低減化や保存性及び検査精度の向上を図ると共に、採取作業及び検査作業の簡素化を図る。 - 特許庁

To provide a test system for easily changing connection states between measuring instruments and tested devices without requiring knowledge of hardware.例文帳に追加

ハードウエアの知識がなくても、測定器と被試験器との間の接続状態を変更することを、容易に行うことができることのできる試験システムを提供する。 - 特許庁

To provide an electronic circuit system inspection method, capable of surely and in a short time detecting malfunctioning of an electronic circuit to be tested in an electronic circuit system.例文帳に追加

電子回路システム内の被試験電子回路の動作不良の検出を確実に、かつ、短時間で行える電子回路システムの検査方法を提供する。 - 特許庁

A test pattern is generated by a test pattern generator 230 and supplied to a semiconductor device to be tested, and the semiconductor device is operated.例文帳に追加

テストパターン発生部２３０によりテストパターンを発生して被試験デバイスである半導体装置に供給し、この半導体装置を動作状態とする。 - 特許庁

To facilitate the generation of test specifications for testing the operations of a system to be tested and enhance the reliability of the test by reducing test leakage.例文帳に追加

試験対象システムの動作を試験する試験仕様の生成を容易にするとともに、試験漏れを少なくして、試験の信頼性を向上する。 - 特許庁

To obtain a considerable cost reduction effect in a chip test by making an expensive chip tester unnecessary and shortening the inspection time of a chip to be tested by simultaneous parallel inspection.例文帳に追加

高価なチップテスターを不用とし、また同時並列検査による被テストチップの検査時間も短縮し、チップテストにおいて大幅なコスト削減効果を得る。 - 特許庁

As a result of this, the memory control device 100 rejects the bit of the memory 200 to be tested, when the memory does not pass the test at the second determination level.例文帳に追加

この結果、メモリ制御装置１００は、第二判定レベルでの試験をパスしなかった場合には、試験対象のメモリ２００のビットをリジェクトする。 - 特許庁

A dummy data generation portion 12a is provided corresponding to a node link of a tested device as a node device and generates dummy data of a simple meaningless data pattern.例文帳に追加

ダミーデータ生成部12aは、ノード装置である被試験装置のノードリンクに対応して設けられ、意味を持たない単純なデータパターンのダミーデータを生成する。 - 特許庁

The pump recycled is conveyed to a reverse factory 5, tested, and demolished, with its non-reusable parts replaced with reuse parts or new parts.例文帳に追加

回収されたポンプは、逆工場５に搬送されて試験され、分解され、再使用不可能な部品が再使用部品又は新品と取り替えられる。 - 特許庁

By this tester, a plurality of semiconductor integrated circuits can be tested in parallel using a test data stored in a set of memories.例文帳に追加

本発明よるテスト装置は、１つのメモリセットに蓄積されたテストデータを使用して複数の半導体集積回路を並列にテストすることができる。 - 特許庁

In a fault simulation, a pattern input part 14 inputs a test pattern to a tested circuit whose fault generation is supposed by a fault supposing part 12.例文帳に追加

開示される故障シミュレーションでは、故障仮定部１２により故障が仮定された被テスト回路にパターン入力部１４からテストパターンが入力される。 - 特許庁

To simply and highly sensitively determine the presence or absence of an ingredient originated from an animal and contained in a sample to be tested or the species of the animal from which the ingredient is originated.例文帳に追加

被検試料中に含まれる動物に由来する成分の有無または同成分が由来する動物種を簡便に高感度で判定する。 - 特許庁

The reagent is mixed into a solution to be tested and thereby the solution is made turbid; the strength of transmitted or scattered light is measured to measure the concentration of proteins.例文帳に追加

この試薬を被検溶液に混入することで、被検溶液を混濁させ、透過光または及び散乱光強度を計測し、タンパク質濃度を計測する。 - 特許庁

To provide a test system capable of improving the efficiency of operation to connect a plurality of cables connecting a test device and a tested device to each other.例文帳に追加

試験装置と被試験器とを接続する複数のケーブルを接続する際の作業効率を向上させることができる試験システムを提供する。 - 特許庁

To automatically array a sleeve self-contained with a tested device to be loaded on a loading part of a handler.例文帳に追加

テストするデバイスが内装されたスリーブを自動に整列して、ハンドラのローディング部にローディングさせ得るようにしたハンドラのデバイススリーブ自動ローディング装置を提供する。 - 特許庁

To test plural logic circuits at the same time to shorten a test time, when the plural logic circuits having the same function in an integrated circuit are tested.例文帳に追加

集積回路内の同一機能を持った複数の論理回路をテストする際、これ等の複数の論理回路を同時にテストして、テスト時間を短縮する。 - 特許庁

To provide a testing device capable of preventing a noise from being applied onto a semiconductor chip or the like of a tested object, and capable of measuring an electric characteristic stably.例文帳に追加

ノイズが被試験対象の半導体チップ等に加わることを防止し、安定的に電気的特性を測定できる試験装置を提供すること。 - 特許庁

It is possible to similarly calibrate the quantity of flow on a plurality of serially connected flowmeters to be tested having different measuring ranges of the quantity of flow.例文帳に追加

直列に接続された流量の測定範囲が異なる複数の被試験流量計についても同様にして流量校正が可能である。 - 特許庁

To provide a method for testing a nonvolatile memory element which does not separately execute operations for masking failed bits when the nonvolatile memory element is tested on a wafer.例文帳に追加

不揮発性メモリ素子をウェーハ上でテストするとき、フェールしたビットのマスキング動作を別途に行わない不揮発性メモリ素子のテスト方法の提供。 - 特許庁

To provide a multi-channel probe head with low input capacitance not requiring a standing connector on a device to be rested and connectable with the device to be tested.例文帳に追加

被試験装置に常設的なコネクタを必要とせず、この被試験装置に接続できる低入力容量の多チャネル信号プローブ・ヘッドを提供する。 - 特許庁

A test state display program 203 reads the test state information on all the machines to be tested for each interval designated by display interval information 206.例文帳に追加

試験状況表示プログラム２０３は、表示間隔情報２０６で指定された間隔毎に全被試験機の試験状況情報を読み込む。 - 特許庁