Testedを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 2937件
A plurality of driver output lines are connected to a tested device input end side, and conversion into a low impedance equivalently lower than a characteristic impedance of the respective driver output lines is carried out, so that matching with a characteristic impedance, which is lower than a characteristic impedance of each driver output line, of the tested device can be carried out.例文帳に追加
複数のドライバ出力ラインを被試験デバイス入力端側で接続し、各ドライバ出力ラインの特性インピーダンスよりも等価的に低いインピーダンスに変換し、各ドライバ出力ラインの特性インピーダンスよりも低い被試験デバイスの特性インピーダンスに整合させる。 - 特許庁
In the apparatus for detecting the leakage occurring through the member to be tested from the second chamber to the first chamber, a seal member which is used for fixing the member to be tested, is disposed doubly so as to form a space (intermediate space) therebetween in order to prevent the leakage out of the seal member.例文帳に追加
第2室から第1室へ被試験部材を通じて発生する漏れを検出する装置において、被試験部材を固定するために用いるシール部材からの漏れを防止するために、間に空間(中間室)を設けた状態でシール部材を二重に配設した。 - 特許庁
To provide a new fixing method which is related to a fixing method of an object to be tested in a compression test and uses a mounting jib of a component (hereinafter referred to as the object to be tested) in a static compression test of an automobile component when specially performed per the sub-assembled component.例文帳に追加
この発明は、圧縮試験における被試験物の固定方法に関するものであり、特に、自動車部品でサブアセンブリされた部品単位で行う際の静圧縮試験における部品(以下、被試験物)の取付治具を用いた新規な固定方法を開発・提供するものである。 - 特許庁
Chloride ion containing ^36Cl in a sample to be tested is separated from chloride ion containing ^36S by allowing a sample to be tested to be subjected to column chromatography using a strong basic anion exchange resin in which counter ion thereof is composed of an anion other than chloride ion as a filler.例文帳に追加
対立イオンが塩化物イオン以外の陰イオンからなる強塩基性陰イオン交換樹脂を充填剤として被検試料を対象にカラムクロマトグラフィーを行うことにより、被検試料中の^36Cl含有塩化物イオンを^36S含有硫酸イオンから分離するようにした。 - 特許庁
To provide an insert for an electronic component handling apparatus which can improve throughput or can downsize the apparatus by increasing the number of simultaneous measurement of electronic components to be tested per unit area, and further can suppress occurrence of a contact error caused by position deviation of the electronic components to be tested.例文帳に追加
単位面積あたりの被試験電子部品の同時測定数の増加によりスループットの向上または装置の小型化が図られ、しかも、被試験電子部品の位置ずれに起因するコンタクトミスの発生を抑制し得る電子部品ハンドリング装置用のインサートを提供する。 - 特許庁
The controller is structured to input a detected angular speed signal, and conduct a three-stage differential operation using damping of rigidity of the restraint system and a tested vehicle, spring rigidity, inertia of the tested vehicle, and inertia of a roller to calculate the torque current instruction.例文帳に追加
この制御コントローラは、検出された角速度信号を入力し、拘束装置と被試験車両剛性のダンピング及びバネ剛性と、被試験車両の慣性と、ローラの慣性を用い、3階微分演算を実行してトルク電流指令を演算するよう構成したものである。 - 特許庁
After a single test process system 130 tests an object process to be tested 100 and its result is stored in a trace log file 125, the program to be tested 100 calls an initializing function 111 for testing and common memory information is read in from a common memory information file 120.例文帳に追加
被テスト対象プロセス100のテストを単体テスト処理システム130によりテストし、その結果をトレースログファイル125に格納後、被テストプログラム100よりテスト用初期化関数111がコールされ、共有メモリ情報を共有メモリ情報ファイル120より読み込む。 - 特許庁
To provide a scenario generation device, program, and scenario generation method for generating a test scenario for testing about wheter or not a tested device normally operates even when the tested device operates based on not only a manual operation but also an external signal.例文帳に追加
テスト被対象装置が人手の操作だけではなく外部信号に基づいて動作する場合であっても、そのテスト被対象装置が正常に動作するか否かについてテストするテストシナリオを生成することができるシナリオ生成装置、プログラム及びシナリオ生成方法を提供する。 - 特許庁
Many report data prepared in the past are analyzed, a dictionary data base composed of dictionaries corresponding to each region to be tested is prepared and a Kana/Kanji conversion processing is performed by using the dictionary corresponding to the region to be tested of a medical image as the dictionary in diagnosing report preparation from it.例文帳に追加
過去に作成された多数のレポートデータを解析し、各検査部位に対応した辞書からなる辞書データベースを作成し、その中から診断レポート作成時の辞書として医用画像の検査部位に対応した辞書を用いてかな漢字変換処理を行なうようにした。 - 特許庁
While in isolation, the isolated process is tested and appropriate action, such as, for example, rehabilitation, change of the rules, or termination, is performed.例文帳に追加
隔離されている間、その隔離されたプロセスは検査され、たとえば修復、規則の変更又は終了等の適当な動作が実行される。 - 特許庁
To enable a lot of ICs to be simultaneously conveyed and simultaneously tested without increasing any implementation area for IC sockets in a test board.例文帳に追加
検査ボードにおけるICソケットの実装面積を増やすことなく、多数のICを同時に搬送し、同時に検査することを可能とする。 - 特許庁
To display an electronic equipment test state on one screen, together with character and color information, just as a machine to be tested is actually arranged even when viewed from two directions.例文帳に追加
電子機器の試験状況を、2方向から見ても実際の被試験機の配置通りに、文字、色情報を付記して一画面で表示する。 - 特許庁
To provide a distortion detecting optical cable capable of detecting even a minute crack of about 0.1 mm generated in an object to be tested for distortion such as mortar.例文帳に追加
モルタル等の歪み測定対象物に生じた0.1mm程度の微小クラックをも検出可能な歪み検出用光ケーブルの提供。 - 特許庁
To increase success rate of path delay test by enhancing the controllability of path delay test thereby making active a path to be tested stably and surely.例文帳に追加
パス遅延テストの制御性を向上させてテストしたいパスを安定且つ確実にアクティブとして、パス遅延テストの成功率を高くすること。 - 特許庁
Thus, whether the signal wiring connected to the input terminal 31 is good or not is tested by analyzing the control signal TDO.例文帳に追加
従って、制御信号TDOを解析することにより、入力端子31に接続される信号配線の良否を試験することができる。 - 特許庁
To provide a wavefront-aberration-measuring device capable of measuring wavefront aberration of a to-be-tested optical system with high precision, and to provide an exposure apparatus equipped with the same.例文帳に追加
被検光学系の波面収差を高精度に測定可能な波面収差測定装置及びこれを備えた露光装置を提供する。 - 特許庁
To suppress repeated measurement of a frequent path included in a program to be tested, and to avoid unnecessary overhead in a program testing method.例文帳に追加
プログラムのテスト方法において、テスト対象プログラムに含まれる頻出経路の繰り返しの計測を抑止し、無用なオーバーヘッドを回避する。 - 特許庁
Respective semiconductor chips of the resin sheet, which becomes electrically independent have their electrical characteristics tested, while still in the resin sheet, as it is.例文帳に追加
電気的に独立となった前記樹脂シートの各半導体チップに対して、ステップS9において樹脂シートのまま電気的特性をテストする。 - 特許庁
A test circuit conducting the starting test of the oscillation circuit where a quartz oscillator is oscillated is provided with an oscillator to be tested, and a control unit.例文帳に追加
これは発振器の起動試験装置のON−OFF回路が遅いため、規定された試験回数を行うのに時間がかかる問題があった。 - 特許庁
When the pin switch S1 is operated, whether the output of an amplifier varies or not is automatically tested with a function tester 62.例文帳に追加
そして、このピンスイッチS1を操作したときに、実際にアンプの出力が変化するか否かをファンクションテスタ62によって自動的に検査する。 - 特許庁
Additionally, when the self-diagnosis program is executed, a pin of the IC device used by the device program is judged, and only the pin concerned is tested.例文帳に追加
また、自己診断プログラムの実行の際には、デバイスプログラムで使用するIC装置のピンを判断し、当該ピンのみを試験対象とする。 - 特許庁
The motion of the object to be tested is detected by two-dimensional X-ray fluorescent radiographing images and is reconstructed to three-dimensional angiographic (X-ray) reconstruction images.例文帳に追加
被検物の動きは、二次元X線蛍光透視画像で検出され、三次元血管造影(X線)再構成像へと再構成される。 - 特許庁
In this friction testing device, two of four regular prism type test pieces are paired, and held in the test piece fixing means respectively so as to be tested.例文帳に追加
この摩擦試験機では、4つの正四角柱状の試験片の2つを一組とし、それぞれ試験片固定手段に保持し、試験する。 - 特許庁
The direct-current voltage containing a ripple component in conformity with a use condition is impressed to the testing direct-current capacitors 1, 2 to be tested.例文帳に追加
これにより供試直流コンデンサ1および2に使用状態に則したリップル分を含む直流電圧を印加して試験することができる。 - 特許庁
Sequence for testing circuit block of discrete die is selected in order to optimize testing time of a set of dies to be parallel-tested.例文帳に追加
個別のダイの回路ブロックをテストするためのシーケンスは、並列テストが実施されるダイのセットのテスト時間を最適化するために選択される。 - 特許庁
A pattern generator PG generates expected value data EXP showing an expected value of the signal S1 to be tested which is input to an I/O terminal P_IO.例文帳に追加
パターン発生器PGは、I/O端子P_IOに入力される被試験信号S1の期待値を示す期待値データEXPを発生する。 - 特許庁
The corrosion testing device includes a thermohygrostat bath 1, a salt water discharge mechanism 2, a cleaning mechanism 3, and a moving rack 4 to test a body 5 of which corrosion is tested.例文帳に追加
恒温恒湿槽1,塩水吐出機構2,洗浄機構3および移動架台4から構成され、被腐食試験体5を試験する。 - 特許庁
A personal computer (PC) 61 functioning as a simulated server or a signaling tester 62, being associated therewith supplies simulated positioning instructions to an object to be tested.例文帳に追加
模擬サーバを構成するパーソナルコンピュータ(PC)61或いはそれと連携するシグナリングテスタ62から検査対象品に模擬測位指示を与える。 - 特許庁
The reaction plate is incubated, and the reaction product is tested for biologically measuring a related interaction effect of the compound.例文帳に追加
この反応プレートをインキュベートし、そして反応生成物を、上記化合物の関連相互作用効果の生物学的測定のために試験する。 - 特許庁
A packet monitoring part 12 acquires a packet received by an interface 11 of an apparatus 10 to be tested, and transfers the packet to an ARP (Address Resolution Protocol) request detecting part 13.例文帳に追加
試験対象装置10のインタフェース11が受信したパケットをパケット監視部12が取得し、ARPリクエスト検知部13に渡す。 - 特許庁
To write and read data to and out of a tested circuit in substantially arbitrary order only by adding a simple circuit.例文帳に追加
簡単な回路を追加するのみで実質的に任意の順序で被テスト回路に対するデータの書き込み/読み出し動作を行えるようにする。 - 特許庁
To measure a wavefront aberration of a tested optical system, without being influenced by aberrations caused by a wavefront splitting element, while using it.例文帳に追加
波面分割素子を用いながらもその波面分割素子に起因した誤差の影響を受けずに被検光学系の波面収差を測定する。 - 特許庁
To provide a semiconductor memory in which various static breakdown strength capability can be tested with a WLBI test.例文帳に追加
本発明の目的は、WLBI試験において様々な静電耐圧能力を試験可能な半導体記憶装置を提供することである。 - 特許庁
To provide a sensor of which the functionalities can be tested periodically or continuously, and which is used for a pressure sensor, a flow sensor, an actuator accelerometer or the like.例文帳に追加
定期的または連続的に機能性のテストができる圧力およびフローセンサ、アクチュエータの加速度計等に使用するセンサを提供する。 - 特許庁
The weight of the vehicle to be tested is set to collect the characteristic parameters of the restraint system and the vehicle rigidity when operating an accelerator a plurality of times.例文帳に追加
被試験車両重量を設定して、複数回のアクセル操作時の拘束装置と車両剛性の特性パラメータを収集する。 - 特許庁
To provide a disturbing signal examination device to quantitatively and quickly evaluate an influence of an interference on a device to be tested.例文帳に追加
妨害信号検査装置において、妨害信号が被検装置に及ぼす影響を、定量的かつ迅速に評価することができるようにする。 - 特許庁
To provide the test equipment for a tone generator TNG and the exchange by which the TNG of dual configuration is tested.例文帳に追加
2重化構成されたTNGの試験を行うことのできるTNGの試験装置及び交換機を提供することを目的としている。 - 特許庁
To control a device to be tested at a desired temperature without installing a mechanism for controlling the flow rate of a refrigerant in individual temperature control blocks.例文帳に追加
個々の温度制御ブロックに冷媒の流量を制御する機構を設けずとも被試験デバイスを所望の温度に制御可能にする。 - 特許庁
Among the division cells, those which include coordinates representing patterns characteristics to be tested as a reference point are set as correction application cells.例文帳に追加
前記分割セルのうち、検査対象となる模様の特徴を表す座標を基準点として含むものを補正適用セルとして設定する。 - 特許庁
To provide an inexpensive RF test probe capable of ensuring consistent measurement of RF signals with minimum effect on a circuit to be tested.例文帳に追加
テストされる回路に最小の影響を有する一方で、RF信号の一貫した測定を提供する安価なRFテストプローブを提供する。 - 特許庁
To provide a microscope by which the number of grounding cables is suppressed and also the electrostatic breakdown of a sample to be tested is surely prevented.例文帳に追加
グランド線の本数が抑えられ、しかも確実に被検物試料の静電破壊を防止できる顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁
A primitive generating means 3 issues a primitive to a tested protocol 4a under the control of a control means 7 of the protocol test device 1.例文帳に追加
プロトコル試験装置1の制御手段7の制御によりプリミティブ発生手段3から被試験プロトコル4aに対してプリミティブを発行する。 - 特許庁
A connection section 22 of the shaft-lock mechanism 7 is provided between the end face 6a for attaching the machine to be tested, installed at the coupling 6 and the shaft torque meter 5.例文帳に追加
カップリング6に設けられた被試験機を取り付ける端面6aと軸トルクメータ5との間に軸ロック機構7の結合部22を設けた。 - 特許庁
The diodes are tested (S2) at least before or after one of write operation, erase operation and read operation with respect to the memory cells.例文帳に追加
メモリセルに対して書き込み動作、消去動作、読み出し動作のうちの1つを実行する少なくとも前又は後にダイオードがテストされる(S2)。 - 特許庁
A measured value sensor 22 is arranged at the support 18 and the measured value sensor 22 is coupled to a head piece 36 of the torque wrench 12 to be tested.例文帳に追加
支持体18には測定値センサ22が配置されており、この測定値センサ22は検査すべきトルクレンチ12のヘッドピース36と結合される。 - 特許庁
According to such a device test method, the electrical characteristics of the semiconductor device are tested with high precision without damaging the semiconductor device.例文帳に追加
このような素子試験方法によれば、半導体素子に損傷が与えられず、且つ半導体素子の電気的特性が高精度に試験される。 - 特許庁
To provide a technique for accurately determining the insulation resistance of an object to be tested in a thunder impulse withstand voltage test.例文帳に追加
雷インパルス耐電圧試験において対象物の絶縁耐性を正確に判定することが可能な技術を提供することを目的とする。 - 特許庁
To test the packet throughput or the like of a router to be tested by forming the state of connecting the router in multiple stages.例文帳に追加
試験対象のルータが多段接続された場合等の状態を作り出して当該ルータのパケット処理能力等についての試験を行う。 - 特許庁
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