「Tested」に関連した英語例文の一覧と使い方(31ページ目) - Weblio英語例文検索

A compensation rotary shaft 10 having a compensating weight 11 to offset the free moment of the crank shaft 5 of a tested body is provided in a vibration frame 1.例文帳に追加

振動架台１に、被試験体であるクランクシャフト５のフリーモーメントを打ち消すための補償ウェイト１１を有する補償回転軸１０を設ける。 - 特許庁

Improvement is added on the memory testing device which stores test results of the memory to be tested in a fail memory and counts the number of fails of the fail memory.例文帳に追加

本発明は、被試験メモリの試験結果をフェイルメモリに格納し、このフェイルメモリのフェイル数をカウントするメモリ試験装置に改良を加えたものである。 - 特許庁

To provide a vibration tester capable of enlarging the maximum loading size of a sample while maintaining the vibration frequency to be tested in a high range.例文帳に追加

試験可能な振動の周波数を高い状態で維持させつつ供試品の最大搭載サイズを拡大することが可能な振動試験機を提供する。 - 特許庁

The voltage between the terminals of the voltage accumulation circuit is kept constant, by turning on and off the bias-stabilizing switching elements, and thereby electricity is applied to the zero-volt object to be tested.例文帳に追加

バイアス安定化スイッチング素子のオン，オフによって該電圧蓄積回路の端子間電圧を一定に保持してゼロ電圧被試験体を通電する。 - 特許庁

In addition, in such a case, data inherent to the DUT can be serially extracted and tested to be able to shorten a test time.例文帳に追加

また、この時、ＤＵＴ固有のデータをシリアルに取り出し検査を行うことができ、検査時間の短縮を図ることができるようにすることができる。 - 特許庁

To accurately measure unnecessary radiation waves with decreased energy loss when the environmental temperature and humidity of an object to be tested are made to the predetermined conditions.例文帳に追加

被試験体の周囲の温湿度を所定条件にする際のエネルギーロスを小さくしつつ精度の高い不要輻射波の測定を可能にする。 - 特許庁

In this address converting circuit 23, a memory array is divided into a test program region 32 and a memory region 31 to be tested in accordance with the control signal for test.例文帳に追加

このアドレス変換回路２３は、テスト用制御信号に応じて、メモリアレイがテストプログラム領域３２とテスト対象メモリ領域３１とに分割される。 - 特許庁

The maximum analyzing voltage and the minimum analyzing voltage when the electronic component 12 is tested may be used as the first analyzing voltage and the second analyzing voltage.例文帳に追加

第１の分析電圧及び第２の分析電圧は、電気部品を試験する際の最高分析電圧及び最低分析電圧であってもよい。 - 特許庁

The caps 100 held by the first and the second rotatable turret 10, 20 are tested by using first and second test cameras 31, 32 and 33.例文帳に追加

第１及び第２の回転ターレット１０、２０に保持されたキャップ１００は第１及び第２の検査カメラ３１、３２、３３によってそれぞれ検査する。 - 特許庁

A characteristic obtaining means 40b determines a characteristic between an input and an output of the optical switch 10 to be tested from the information of the result of the analysis and the connection pattern.例文帳に追加

特性取得手段４０ｂは、その解析結果の情報と接続パターンとから被試験光スイッチ１０の入出力間の特性を求める。 - 特許庁

A test-only wiring pattern 5 is arranged on a base board 1 for every tested pair chip 6 so as to be connected to a testing terminal 10.例文帳に追加

基板１に、各被試験ベアチップ６毎にテスト用の専用パターン配線５を設け、これらの専用パターン配線５をテスト用端子１０に接続する。 - 特許庁

To measure a current by removing a malfunction during a test, while changing each level of a variable voltage and an input voltage of a circuit to be tested, and to thereby detect a failure.例文帳に追加

被テスト回路の可変電圧と入力電圧のレベルを可変して、テスト時の誤動作をなくして電流を測定し、故障を検出する。 - 特許庁

The test result of the optical fiber to be tested is transmitted to the communication device 30 from the communication device 50 via the optical switch 71 and the optical fiber 18 for communication.例文帳に追加

被試験光ファイバの試験結果は、通信装置５０から光スイッチ７１および通信用光ファイバ１８を経て通信装置３０へ送信される。 - 特許庁

A read signal in this position in radial direction is obtained from the track number position of each of the identified servo areas and the servo area is tested by the read signal.例文帳に追加

さらに、特定された各サーボエリアのトラック番号位置からこの位置の半径方向の読出信号を得て、この読出信号によりサーボエリアの検査をする。 - 特許庁

To provide a method for testing a mutual authentication device in which operations of a pair of transmittable and receivable devices can be tested without binding the devices to each other in advance.例文帳に追加

一対の送受信可能なデバイスの動作試験を予め紐付けすることなく実施できる相互認証デバイスの試験方法を提供する - 特許庁

To accurately detect and specify an easy-to-occur scab by minimizing the dead zone existing near a front/rear end of a tested material such as a thick plate.例文帳に追加

厚板等の被検材の先尾端付近に存在する不感帯を最小にして、そこで発生しやすいヘゲを正確に検出し、特定すること。 - 特許庁

The redundant unit RWL1 can be tested before programming of restoration information in the redundant circuit 1, moreover, the circuit is not made complex so much.例文帳に追加

冗長回路１における修復情報のプログラミングの前に、冗長ユニットＲＷＬ１をテスト可能であり、しかも回路はたいして複雑にはならない。 - 特許庁

An error rate measuring apparatus 1 includes one input end 1a to which a light signal is inputted from a device W to be tested following input of a test signal.例文帳に追加

誤り率測定装置１は、テスト信号の入力に伴う被試験デバイスＷから光信号が入力される１つの入力端１ａを有する。 - 特許庁

The device for testing piping includes at least one drive unit and at least one testing unit and can be inserted into piping to be tested.例文帳に追加

本発明の配管検査装置は、少なくとも１個の駆動ユニットと少なくとも１個の検査ユニットとを有し、検査対象の配管内に挿入可能である。 - 特許庁

To perform a drop test having improved reproducibility by dropping an object to be tested in a state close to free drop while maintaining attitude when starting to drop.例文帳に追加

試験対象物を落下開始時の姿勢を保持したまま自由落下に近い状態で落下させ、再現性の良い落下試験を行うことを可能とする。 - 特許庁

To manage scribed tested results of respective chips corresponding to the position of a wafer, even without loading memory which is not required for original functions.例文帳に追加

本来の機能に必要のないメモリを搭載しなくても、スクライブされた各チップのテスト結果をウェハの位置に対応させて管理できるようにする。 - 特許庁

To execute simulation for an operation confirmation test of a function to be tested, without having to influence other functions, in a plant monitor and control system.例文帳に追加

プラント監視制御システムにおいて、システム内の他の機能に影響を与えることなく試験対象機能の動作確認試験のためのシミュレーションを行う。 - 特許庁

To evaluate the performance of a lens to be tested in a short time, without adding a separate optical observation system, and without reducing the magnification of an image magnifying detection optical system.例文帳に追加

別の観察光学系を付加することなく、さらに、像拡大検出光学系の倍率を下げることなく、被検レンズの性能を短時間で評価する。 - 特許庁

The first analysis part 15 acquires a predicted value of the path delay obtained through timing analysis on the circuit to be tested from a predicted value storage part 130.例文帳に追加

第１の解析部１５は，予測値記憶部１３０から，テスト対象回路に対するタイミング解析により得られるパス遅延の予測値を取得する。 - 特許庁

To provide a test apparatus testing appropriately a memory to be tested which performs simultaneously write-in and read-out of data for a plurality of blocks by multi-bank operation.例文帳に追加

マルチバンク動作により複数のブロックに対して同時にデータの書き込み又は読み出しを行う被試験メモリを適切に試験する試験装置を提供する。 - 特許庁

Then, the transmitter 14 judges the tested result from returned test packets 17a-17c, decides the priority classes of communication packets 18a, 18c,..., and performs communication afterwards.例文帳に追加

その試験結果を、返送されてきた試験結果パケット１７ａ〜１７ｃより判断して、通信パケット１８ａ，１８ｃ，…の優先クラスを決定し、以降通信をなす。 - 特許庁

At least two packet generating sections 23A, 23B are included and by confirming communication therebetween, recovery of a transmission line to be tested is confirmed.例文帳に追加

パケット生成部２３Ａ，２３Ｂは、最低２つを有し、その間での疎通確認を行うことにより、試験対象伝送路の復旧確認を行う。 - 特許庁

To provide a method and device for correcting a pulse width timing error while a high-performance integrated circuit device is being tested by an automatic testing device(ATE).例文帳に追加

自動式試験装置（ＡＴＥ）で高性能集積回路デバイスの試験中にパルス幅タイミング誤差を補正する方法および装置を提供する。 - 特許庁

Sedimentary substance, bubbles and impurity are removed from the raw water 20 in a raw water adjusting tank 1 to be sent as tested water 22 to a water quality measuring device 40.例文帳に追加

原水２０は、原水調整槽１で沈殿性の物質や気泡や夾雑物が除去され、被検水２２として水質測定機器４０に送られる。 - 特許庁

The generated burn-in pattern signal is input into the semiconductor device of the tested object attached to a burn-in card 32 to conduct a burn-in test.例文帳に追加

生成されたバーンインパターン信号は、バーンインカード３２に装着された被試験対象の半導体装置に入力されバーンイン試験が行われる。 - 特許庁

(4) Items to be tested, test methods and other matters necessary for the carrying-out of the growing tests set forth in paragraph (2) of this Article shall be specified by the Ordinance of the Ministry of Agriculture, Forestry and Fisheries. 例文帳に追加

４　栽培試験の項目、試験方法その他第二項の栽培試験の実施に関して必要な事項は、農林水産省令で定める。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

Some of the more uncommon system architectures are not fully compatible with Linux 2.6, and some users prefer the tried-and-tested Linux 2.4 kernel.例文帳に追加

あまり一般的でないいくつかのアーキテクチャでは、2.6はまだ完全に動きません。 また、実績があり、よくテストされたLinux2.4カーネルを好むユーザーもいるでしょう。 - Gentoo Linux

If you believe the package does work file a bug at our bugzilla website.missing keyword means that the application has not been tested on your architecture yet.例文帳に追加

もしパッケージが動作すると信じているならbugzillaにバグを提出してください。 missing keywordはあなたのアーキテクチャでは未だテストされていないことを意味します。 - Gentoo Linux

If the length of an argument is two characters, the argument is tested to see if it is executable (unfortunately, any register which contains a non-zero value appears executable). 例文帳に追加

引数の長さが 2 文字であれば、その引数が実行可能(ゼロでない値を含むすべてのレジスタは実行可能なように見えます)かどうかテストされます。 - JM

At self diagnostic test, the memory macro 1 can be tested with an internal clock signal iCLK and a second latency value information L1 optimal to the memory macro.例文帳に追加

また自己診断試験時にはメモリマクロに最適な内部クロック信号ｉＣＬＫや第２レイテンシ値情報Ｌ１でメモリマクロ１の試験を実行することができる。 - 特許庁

For example, it is required that the sample can be tested by a simple method at room temperature without entirely heating the microscope from a low temperature to a high temperature.例文帳に追加

例えば、顕微鏡を低温から室温に全体的に加熱することなしに、簡単な方法において室温で試料を検査し得る必要がある。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit and its test method, which change the number and combinations of memories which are simultaneously tested even after manufacture.例文帳に追加

製造後であっても、同時にテストするメモリの数および組み合わせを変更することのできる半導体集積回路およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

This probe card for testing the electric characteristics of a tested body including a plurality of electrode pads includes a printed board, and the probe assembly joined to the printed board.例文帳に追加

複数の電極パッドを有する被検体の電気的特性をテストするプローブカードであって、プリント基板と、プリント基板に結合されるプローブ組立体を含む。 - 特許庁

Since these behaviors often happen when counterfeit bills are tested, the host computer registers the account on a monitoring database to monitor cancel frequency, rejection rate, and so on.例文帳に追加

これらの行為は、偽券のテスト時に生じることが多いため、ホストコンピュータは、この口座を監視データベースに登録し、取消頻度、リジェクト率などを監視する。 - 特許庁

The voltage conversion circuit 4 divides the voltage of an electric power source being tested 1 and outputs a differential voltage V1 between the divided voltage and a predetermined reference voltage.例文帳に追加

電圧変換回路部４は、被試験電源１の電圧を分圧しその分圧された電圧と所定の基準電圧との差動電圧を得る。 - 特許庁

Thereby, the multichip semiconductor integrated circuit allows the first semiconductor chip or the second semiconductor chip to be tested well through the rewiring layer.例文帳に追加

これにより、マルチチップ半導体集積回路は、再配線層を介して第１の半導体チップ又は第２の半導体チップの検査を良好に行うことができる。 - 特許庁

To provide a fundus camera for easily obtaining a photographing image in a desired state without caring about the holding state of the fundus camera to an eye to be tested.例文帳に追加

被検眼に対する眼底カメラの保持状態を気にすること無く、所望する状態の撮影画像を容易に得ることができる眼底カメラを提供する。 - 特許庁

In this system, the failure diagnosing is performed by exchanging diagnostic information between the remote testing device 4A and the devices to be tested 4B through a communication network.例文帳に追加

通信ネットワークを介して遠隔試験装置４Ａと被試験装置４Ｂとの間で診断情報を交換することにより故障診断を行う。 - 特許庁

The pusher raises heat transmission efficiency between the pusher and the semiconductor device to be tested to attain an exact and prompt semiconductor test.例文帳に追加

プッシャおよび被試験半導体デバイスの間の熱伝導効率を向上させ、正確で迅速な半導体試験を実現するプッシャを提供する。 - 特許庁

To solve a problem wherein time is required as to lateral and diagonal-directional centering although longitudinal-directional centering is relatively easy, in a centering device for a vehicle to be tested.例文帳に追加

被試験車両のセンタリング装置においては、前後方向のセンタリングは比較的容易であるが、左右、斜め方向のセンタリングについては時間を要している。 - 特許庁