「Tested」に関連した英語例文の一覧と使い方(35ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a test method by which burn in test for each integrated circuit chip to be tested formed on a semiconductor wafer can be conducted in a lump in the state of semiconductor wafer.例文帳に追加

半導体ウエハ上に形成された各被試験集積回路チップのバーンイン試験を半導体ウエハ状態で一括して実施することができる試験方法の提供。 - 特許庁

A plurality of the first measurement modules receive the trigger signal through the trigger bus, and the IC tester for testing a to-be-tested object is modified.例文帳に追加

本発明は、複数の第１計測モジュールがトリガバスを介してトリガ信号の授受を行い、被試験対象の試験を行うＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

To provide the manufacturing method of a semiconductor device and a semiconductor integrated circuit device which can be tested in a short time and can suppress increase of chip area.例文帳に追加

短時間でテストが可能で、かつ、チップ面積の増大を抑制することが可能な半導体装置および半導体集積回路装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a frequency synthesizer circuit which can be tested easily in a wafer-probing test before setup, without the terminal of a voltage control oscillator outputting signals to the outside.例文帳に追加

電圧制御発振器の端子が外部に出力することなしに、組み立て前のウエハプロービング試験で容易に試験可能な周波数シンセサイザ回路を提供する。 - 特許庁

In the method for measuring the collagen, the sample to be tested is treated by using reducing agents in a collagen measuring process carrying out an immunity analysis using an anti-collagen antibody.例文帳に追加

抗コラーゲン抗体を用いる免疫分析によるコラーゲンの測定方法において被験試料を還元剤で処理することを特徴とする、コラーゲンの測定方法。 - 特許庁

Test data and test sequence required for test operation are set in a register, in an input signal region of the functional block to be tested from the outside of the LSI or the CPU.例文帳に追加

テスト対象とする機能ブロックの入力信号領域におけるレジスタにＬＳＩの外部又はＣＰＵからテスト動作に必要なテストデータとテストシーケンスを設定する。 - 特許庁

This allows each individual capacitor to be tested for performance prior to its incorporation into the capacitor assembly, thereby increasing a product yield and quality.例文帳に追加

これは、各個々のコンデンサが、コンデンサアセンブリ内へのその組込みの前に性能に関して試験されることを可能にし、それによって製品の収量及び品質が高められる。 - 特許庁

The software (software to be tested) of the substrate processor is installed in the computer 40, and this is operated, so that the control unit of the substrate processor can be simulated.例文帳に追加

コンピュータ４０には、基板処理装置のソフトウェア（試験対象のソフトウェア）をインストールし、これを動作させることにより基板処理装置の制御ユニットを模擬させる。 - 特許庁

By using an electrolyte film/electrode junction, of which the values tested by the above test fulfill the criteria, a fuel cell with high reliability is provided.例文帳に追加

この試験により測定された値が判定基準をパスする電解質膜電極接合体を用いることにより、信頼性の高い燃料電池を提供することができる。 - 特許庁

A heater device can be visually inspected and tested by connection for freely detachable fixing and can be detached and/or replaced.例文帳に追加

取り外し自在に固定する連結により、ヒータ装置を視覚的に検査することができ、試験することができ、取り外すことができ、及び／又は交換することができる。 - 特許庁

And the pick and place device is installed in the input/output area between the transfer device and the input/output tray so as to take in and out for the waiting component for test or the tested component.例文帳に追加

また、テスト待ち部品またはテスト済み部品を出し入れするように、移載装置とインプット／アウトプット・トレイの間にインプット・アウトプットエリアに取放装置を設ける。 - 特許庁

This semiconductor testing apparatus 1 tests a plurality of devices to be tested 20a-20d in parallel using a test pattern P1 generated by a pattern generating section 11.例文帳に追加

半導体試験装置１は、パターン発生部１１で発生した試験パターンＰ１を用いて複数の被試験デバイス２０ａ〜２０ｄの試験を並行して行うものである。 - 特許庁

To adjust the number of test items to a practicable range for test item candidates obtained by combining information on design related with software to be tested.例文帳に追加

テスト対象とするソフトウェアに関する設計上の情報を組み合わせて得られるテスト項目候補に対してテスト項目の数を実施可能な範囲に調整する。 - 特許庁

To provide a method for evaluating a substance to be tested which evaluates a substance for suppressing an abnormality of a skin condition caused by sebum by a simple operation.例文帳に追加

皮脂によって引き起こされる皮膚の状態の異常を抑制する物質を簡便な操作で評価することができる被験物質の評価方法を提供すること。 - 特許庁

The residual values can also be tested for alert (non-zero) conditions (927), and patterns (914) of alerts thus generated are analyzed for failure mode signature patterns (916).例文帳に追加

残余値はまた、アラート（０でない）条件についてテストすることもでき９２７、このように生成されたアラートのパターン９１４を、故障モードサインパターン９１６に対して分析する。 - 特許庁

To provide a testing system capable of providing a test environment in which a wireless communication apparatus can be tested as if the test were performed in a place where the wireless communication apparatus is actually used.例文帳に追加

無線通信機器が実際に使用される場所で試験が実際的に行われるような試験環境を提供することができる試験システムを提供する。 - 特許庁

The test signal S1, outputted from a test head 3 by an attenuator 11 provided on a DUT board 8, is attenuated to be applied to the object 4 to be tested.例文帳に追加

本発明は、ＤＵＴボード８に設けた減衰器１１によりテストヘッド３から出力される試験信号Ｓ１を減衰させて試験対象４に印加する。 - 特許庁

To individually acquire autofluorescence information based on autofluorescence and chemical agent fluorescence information based on chemical agent fluorescence from a part to be tested administered with a fluorescent chemical agent.例文帳に追加

蛍光薬剤を付与された被検部から、自家蛍光に基づいた自家蛍光情報および薬剤蛍光に基づいた薬剤蛍光情報を個別に取得する。 - 特許庁

This ferroelectric material is heated up to 50°C or higher, and the leakage current is tested, and the leakage current of the ferroelectric material below 50°C is evaluated from the result.例文帳に追加

５０℃以上の温度に強誘電体材料を加熱して漏れ電流を試験して、結果から５０℃以下での強誘電体材料の漏れ電流を評価する。 - 特許庁

The discharge current flowing due to the dielectric breakdown of a tested device DUT is made to flow in the photodiode PD1 or the like without being converted into voltage, thereby emitting infrared light.例文帳に追加

これにより被試験デバイスＤＵＴの絶縁破壊で流れる放電電流を電圧に変換することなく、フォトダイオードＰＤ１等に流して赤外光を発光させる。 - 特許庁

A lightning surge voltage by the thunder surge generator 2 is applied from the ground terminal of the equipment 1 to be tested and a test is made for allowing the lightning current to pass through from the grounded power supply line.例文帳に追加

雷サージ発生器２による雷サージ電圧を、被試験機器１のアース端子から印加して、接地された電源線から雷電流が抜けるような試験を行う。 - 特許庁

To provide a method for testing microorganisms, capable of quickly and easily monitoring the increase or decrease of the microorganisms presenting on a tested surface after passing a certain period of time from a time point.例文帳に追加

ある時点から一定時間経過後の被験面に存在する微生物の増減を、迅速かつ簡易にモニタリングできる微生物試験方法を提供することである。 - 特許庁

A test system comprises communication channels 220 and 222 of which terminals are in probes 110d and 110e which have contact with input terminals 208 and 210 of an electronic device 112 to be tested.例文帳に追加

テストシステムは、テストされる電子デバイス１１２の入力端子２０８，２１０と接触するプローブ１１０ｄ,１１０ｅ内を終端とする、通信チャネル２２０，２２２を備える。 - 特許庁

In the case of YES, whether all of the block pairs are tested is decided (47), in the case of YES, the images are considered to be similar, and in the case of NO, the next block pair is selected to be returned to a step 44.例文帳に追加

イエスの場合、総てのブロック対が試験されたかを判断し(47)、イエスならばイメージが類似するとし、ノーならば次のブロック対を選択してステップ44に戻る。 - 特許庁

When the particulate filter regenerating device is tested, firstly an ECU 6 controls an operational status of a diesel engine to be in a first operational status in which particulate is susceptible to generation.例文帳に追加

パティキュレート再生処理装置を検査する際に、まず、ＥＣＵ６がディーゼルエンジンの運転状態をパティキュレートが発生しやすい第１の運転状態に制御する。 - 特許庁

To easily adjust alignment while observing the image of the fundus of an eye to be examined even if the presenting position of a fixation sign to be presented in the eye to be tested is changed.例文帳に追加

被検眼に呈示する固視標の呈示位置を変更するする場合であっても被検眼の眼底像を観察しながらのアライメント調整を容易に行う。 - 特許庁

Samples 1 to 5 were not detected, but a sample 6 was detected, in the examination of reactivity with a metal detector, wherein five samples in a total weight of 10g are together tested, respectively.例文帳に追加

また、それぞれ５個合計１０ｇを一括しての金属探知機に対する反応性の調査では、試料１〜試料５が「なし」、試料６が「あり」であった。 - 特許庁

To conduct a selection test of a test of a very-multiple-terminal LSI by an LSI tester which has a small number of terminals without incorporating a circuit dedicated to the test in the tested LSI.例文帳に追加

超多端子ＬＳＩのテストの選別テストを、被テストＬＳＩにテスト専用の回路を内蔵させることなく端子数が少ないＬＳＩテスタにより可能とする。 - 特許庁

The finish of 'unraveling' and 'inverting' is tested for each kind of coaxial wire 10 in advance, and action time is determined, based on the data for controlling with a timer.例文帳に追加

「ほぐし」と「反転」の終了は、予め、同軸線１０の種類毎に試験を行い、それぞれのデータに基づいて作用時間を決定しておき、タイマで制御する。 - 特許庁

When a printer driver is installed in a computer, a UPD file in which the default value of print setting is stored is read, and a PreConfig flag included in it is tested (S1203).例文帳に追加

プリンタドライバのコンピュータへのインストール時に、印刷設定のデフォルト値が保存されたＵＰＤファイルを読み、そこに含まれるＰｒｅＣｏｎｆｉｇフラグをテストする（Ｓ１２０３）。 - 特許庁

In accordance with the types read, a personal computer 40 selects from a hard disk 20 the test data that shows the kind of a test signal suited for output to the devices to be tested.例文帳に追加

パソコン４０は、読み取られた型式に基づき、被試験器へ出力するのに適した試験信号の種類を表す試験用データをハードディスク２０から選択する。 - 特許庁

In the evaluation method of moistureproofness, a substance to be tested is brought into contact with a three-dimensional tissue cell culture to estimate the moistureproof effect with respect to the skin of a person of the substance to be treated.例文帳に追加

3次元的組織細胞培養物に被験物質を接触させて、該被験物質の人の肌に対する保湿効果を予測する保湿性評価方法。 - 特許庁

To provide a fast speed test pattern verifying apparatus for verifying without using an actual LSI tester or a device to be tested based on logic simulation data formed by a CAD.例文帳に追加

ＣＡＤで作成された論理シミュレーションデータを基にして、実際のＬＳＩテスタや被試験デバイスを用いずに検証する高速テストパターン検証装置を提供する。 - 特許庁

To provide a wireless connection confirmation testing device that discriminates whether or not a communication opposite party is a terminal to be tested, so as to reduce interference on other communication.例文帳に追加

通信相手が試験をされるべき端末であるかを判断することで他の通信への干渉を低減させることのできる無線接続確認試験装置を得ること。 - 特許庁

Therefore, an expensive chip tester is made unnecessary and the inspection time of the chip to be tested is shortened by simultaneous parallel inspection, whereby a considerable cost reduction effect is obtained in the chip test.例文帳に追加

これにより、高価なチップテスターが不用になり、また同時並列検査によって被テストチップの検査時間も短縮し、チップテストにおいて大幅なコスト削減効果が得られる。 - 特許庁

An AND region is calculated overlapping the position of a chip that becomes defective in a measurement test for a semiconductor wafer to be tested, and the latent defective region map.例文帳に追加

被検査対象の半導体ウェハの実測テストで不良となったチップの位置と、前記潜在不良領域マップとが重なったＡＮＤ領域を算出する。 - 特許庁

A network device is first tested for regulatory organization's compliance on a standard network.例文帳に追加

ネットワークデバイスは、標準規格のネットワークにおいて規制機関の準拠規定を満たしているか試験し、出力電圧を、最大許容ＣＭ電流が検出されるまで調節する。 - 特許庁

By means of this improved IC tester, a test signal is given to a test object, and the test object is tested according to an output from itself.例文帳に追加

本発明は、被試験対象に試験信号を与え、被試験対象の出力により被試験対象の試験を行うＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

To satisfy both of versatility and reduction of a logic scale and a cost of a semiconductor device tester, by configuring a pin electronics logic of the tester so as to correspond to a semiconductor device to be tested.例文帳に追加

半導体装置テスタのピンエレクトロニクス論理を被試験半導体装置に合わせ構成することで、テスタの論理規模や費用の低減と汎用性を両立する。 - 特許庁

The peripheral fixation lamps 96a-96h can be selectively lighted, made to flicker and color-changed in the middle of positioning so as to stabilize the fixation of the eye E to be tested.例文帳に追加

周辺固視灯９６ａ〜９６ｈは被検眼Ｅの固視を安定化させために位置合わせの途中に選択的に点灯、点滅、色変化可能とする。 - 特許庁

For each of the necessary number of the products, the product is sampled and the sampled product is cut off and the hardened degree is tested and in this way, the quality accuracy of the product is further improved.例文帳に追加

所要数の製品１毎に、製品を抜き取り、その製品を切断し焼入れ度合を検査することにより、製品の品質精度がさらに向上する。 - 特許庁

To provide a flash memory device and a test method in which a test time and a test cost can be reduced and a redundant memory cell can be tested, without requiring the other circuit.例文帳に追加

別途の回路を不要にして、かつテスト時間とテストコストを削減してリダンダントメモリセルをテストすることができるフラッシュメモリ装置およびテスト方法を提供すること。 - 特許庁

A reference gear 12 and a gear 2 which is to be tested are rotated together while they are urged in the direction, approaching each other, to be meshed.例文帳に追加

基準歯車１２と被試験歯車２とを、互いに近づく方向に付勢してかみ合わせた状態で、基準歯車１２を被試験歯車２と共に回転させる。 - 特許庁

The reaction part 120 is a closed cell, which has a space for storing a tested material and a reactive solution containing a reagent or the like and a penetrating hole for putting the reactive solution in the space.例文帳に追加

反応部１２０は閉鎖型セルであり、被検物質と試薬等を含む反応液を収容する空間と、これに反応液を入れるための貫通穴とを有している。 - 特許庁

A mammography equipment 1 is used to irradiate a breast of a tested person with light and detect diffused light to acquire the internal information of the breast.例文帳に追加

乳房撮像装置１は、被検者の乳房に光を照射し、拡散光を検出することにより乳房の内部情報を取得するための装置である。 - 特許庁