「Tested」に関連した英語例文の一覧と使い方(39ページ目) - Weblio英語例文検索

The next contact position is engaged sequentially with the lead of the tested device, when the terminal is about to rotate about an axis substantially perpendicular to a plane formed by the terminal.例文帳に追加

その端子が、該端子によって形成された平面に略垂直な軸線の回りに回転しようとする時、次の接触位置が試験される装置のリードに順次係合される。 - 特許庁

When a semiconductor device is tested, a selector 13 selects the output of a flip-flop 15 according to a selection signal and the conversion result is output directly to the outside of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置のテスト時には、セレクタ１３が選択信号に応じてフリップフロップ１５の出力を選択することにより、変換結果が直接半導体装置の外部に出力される。 - 特許庁

To simplify a noise test capable of preventing surely breakage of an internal unit even when insulation between a noise application terminal of a device to be tested and the internal unit is imperfect, and having many test patterns.例文帳に追加

被試験装置のノイズ印加端子と内部ユニットとの間の絶縁が不完全な場合にも内部ユニットの破損を確実に防止でき、しかも試験パターンの多いノイズ試験を簡易にする。 - 特許庁

The liquid to be tested is treated by anti-f PSA monoclonal antibody which does not react with ACT-PSA to react with latex sensitizing antibody for PSA and then PSA is measured by a normal method.例文帳に追加

被検液をＡＣＴ−ＰＳＡと反応しない抗ｆＰＳＡモノクローナル抗体で処理し、ＰＳＡに対する抗体を感作したラテックスと反応させた後常法でＰＳＡを測定する。 - 特許庁

To provide a reliability testing device capable of preventing breakage of the testing device by blocking a member to be tested from a current detection means at high speed.例文帳に追加

本発明は、被試験部材と電流検出手段とを高速に遮断することにより、試験装置を破損させることを防止することができる信頼性試験装置を提供する。 - 特許庁

Thereby, reference voltage Vref is changed and tested, bit line voltage applied to an input, that is, characteristics of a ferroelectric capacitor C0 (or C1) are measured quantitatively.例文帳に追加

これにより、参照電圧Ｖｒｅｆを変更してテストし、入力に印加されるビット線電圧、言い換えれば強誘電体キャパシタＣ０（またはＣ１）の特性を、定量的に測定する。 - 特許庁

At a time when the international community’s unity in stabilizing the market is being tested, we strongly hope that other countries will also announce their pledges to make financial contributions to the IMF as soon as possible. 例文帳に追加

市場を安定させるための国際社会の結束が試されている今、他の国々からもIMFに対する資金貢献ができるだけ速やかに表明されることを切に期待します。 - 財務省

The contact 92 has the elasticity in the direction vertical to the surface of the base 94, so that it can be elastically abutted on a connection terminal formed on a tested circuit during the test.例文帳に追加

接触子９２は、基板９４の表面に対して垂直方向に弾性を有し、試験中、被試験回路に形成された接続端子に、弾性をもって接触することが可能となる。 - 特許庁

A subscriber test control means 11 transmits test information related with the test of a subscriber and the identification information of a test subscriber being a subscriber to be tested, and operates test control.例文帳に追加

加入者試験制御手段１１は、加入者試験に関する試験情報及び試験対象となる加入者である試験加入者の識別情報を送信し、試験制御を行う。 - 特許庁

To provide an event type test system reducing size of memory by compressing and storing event data for generating an event to be used for a test of a tested semiconductor device (DUT).例文帳に追加

被試験半導体デバイス（ＤＵＴ）の試験に使用するイベントを生成するためのイベントデータを圧縮して格納することによりメモリのサイズを減少させるイベント型テストシステムを提供する。 - 特許庁

A shield 2 provided by an electromotive device 10 which generates voltage for burn in test is stuck on a surface while corresponding to the semiconductor wafer 1 which is to be burn in tested in the state of wafer.例文帳に追加

ウエハ状態でバーンイン試験対象である半導体ウエハ１に対応して、表面にバーンイン試験のための電圧を発生する起電デバイス１０が設けたシールド２を貼り付ける。 - 特許庁

To achieve a highly reliable test by enabling to test at the most suitable operating ratio to a circuit margin of an circuit to be tested with an excellent efficiency against an electric power source noise in a short testing period of time.例文帳に追加

電源ノイズに対応して効率良く、短い試験時間で、被検査回路の回路マージンに最適な動作率で試験を行うことを可能とし、信頼性の高い試験を実現する。 - 特許庁

To provide a suction device for an electronic component testing device capable of ensuring a uniform pushing pressure at the time of pressing an electronic component to be tested in an adhered state by suction against the contact part of a test head.例文帳に追加

被試験電子部品を吸着した状態でテストヘッドのコンタクト部へ押し付ける際の押圧力を均一化できる電子部品試験装置用吸着装置を提供する。 - 特許庁

Since the inspection is performed using information on which the signal transition comes through, the LSI can be finally inspected (tested) precisely with high quality.例文帳に追加

また、信号遷移がどの経路を通って出てくるかの情報を使って検査を行うことにより、最終的にＬＳＩを高精度且つ高品質な検査（テスト）を可能にするものである。 - 特許庁

When the functional operation of the semiconductor circuit 30 itself is to be tested, the test data is fed to an input terminal TDI, and a test control signal is fed to control terminals TCK and TMS, and TRST.例文帳に追加

半導体テスト回路３０自体の機能動作をテストする場合、テストデータを入力端子ＴＤＩに入力すると共に、テスト制御信号を制御端子ＴＣＫ，ＴＭＳ，ＴＲＳＴに入力する。 - 特許庁

This structure is provided with a plurality of arrangements (arrangement A, B) of memory cells, a bus for input signals to be tested (line for analog signal) connected in parallel to each of the plurality of fetch cells.例文帳に追加

メモリ・セルの複数の配列（配列Ａ、Ｂ）と；複数の取り込みセル１０の各々に並列接続された被試験入力信号用バス（アナログ信号用ライン）とを具えている。 - 特許庁

To provide a coagulation time measuring instrument having a function of evaluating PT(Prothrombin Time) itself by correcting the PT of a specimen to be tested based on its INR.例文帳に追加

本発明の課題は、被検検体のＰＴを、そのＩＮＲ値を基に補正することによりＰＴそのものも評価できる機能を有した凝固時間測定装置を提供することである。 - 特許庁

To provide an excrement property measuring instrument excelling in the hygienic aspect while being prevented from giving a physiological feeling of dislike to a tested person in checking the properties of feces.例文帳に追加

大便の性状を確認するにあたり、衛生面に優れると共に、被験者に生理的な嫌悪感を与えることを防止した排泄物性状測定装置を提供すること - 特許庁

For the recovery confirmation, outputs are connected to all bridges of the transmission line to be tested in one-to-one correspondence via an output selecting section 24 and the bridge to input a generated packet thereto is selected.例文帳に追加

この復旧確認は出力選択部２４を介して試験対象伝送路の全ブリッジに出力を１対１に接続し、生成したパケットを入力するブリッジが選択される。 - 特許庁

As a defective memory cell MC can be replaced by the spare memory cell SMC, yield is improved, and as a plurality of memory chips 2-4 are tested in parallel, a test time may be short.例文帳に追加

パッケージング後でも不良メモリセルＭＣをスペアメモリセルＳＭＣで置換できるので歩留りが向上し、複数のメモリチップ２〜４を並列にテストするのでテスト時間が短くて済む。 - 特許庁

A very small constant current source 2 for always applying such a very small d.c. constant current IM that heat eneration is ignored to a semiconductor element 4 to be tested is connected to the element 4.例文帳に追加

被試験用半導体素子４には、当該素子の発熱が無視できる程度の微少な直流定電流ＩMを常時通電させるための微少定電流源２が接続されている。 - 特許庁

To provide an ultrasonic probe, by which ultrasonic flaw detection on an object to be tested can be performed even in a highly radioactive site, a contact medium can be used repeatedly and the operation before and after tests is simple.例文帳に追加

高放射線場においても被検査体の超音波探傷が可能で、接触媒質を繰返し使用でき、かつ検査前後の作業が容易な超音波探触子を提供する。 - 特許庁

To provide error correction method in current measurement for solving conventional problems that there is no other action for degradation in accuracy due to aged deterioration of CT used on current measurement in distribution line than replacement of the CT itself, and that measurement error cannot be measured unless the CT is removed to be tested.例文帳に追加

配電線の電流計測にはＣＴを用いているが、そのＣＴの経年劣化による精度低下の対応としてはＣＴ本体を取り替えるしかない。 - 特許庁

To provide a test circuit, for example a BIST(Built-In Self Test) circuit, capable of testing any circuit to be tested (for example, a high speed semiconductor memory) easily with the actually working frequency.例文帳に追加

テスト回路（例えば、ＢＩＳＴ（Ｂｕｉｌｔ−Ｉｎ Ｓｅｌｆ Ｔｅｓｔ）回路）において、被テスト回路（例えば、高速の半導体メモリ）を実動作周波数で容易にテストする。 - 特許庁

A concave lens 10 is inserted into a target optical system 6 corresponding to the change of a distance to a device body 1 from the eye to be tested E to form a target image at a fixed distance.例文帳に追加

被検眼Ｅの装置本体１に対する距離の変化に対応して視標光学系６に凹レンズ１０を挿入して視標像が一定の距離に結像するようにした。 - 特許庁

In basic design of a program to be tested, a designer divides the program into two or more small modules, and the debugging system creates a program branch expected value information table 101 from this module hierarchy.例文帳に追加

被テストプログラムの基本設計において、設計者は複数の小さなモジュールに分割し、このモジュール階層からデバッグシステムがプログラム分岐期待値情報テーブル１０１を作成する。 - 特許庁

To provide a compact vehicle-testing device with simple structure where a measuring roller for placing a vehicle to be measured is connected to a hydraulic motor and the vehicle is tested by hydraulic control.例文帳に追加

被測定車両を載置する測定ローラを油圧モータに連結し、油圧制御により車両の試験を行うようにした、構造が簡単、かつ小型の車両の試験装置を提供する。 - 特許庁

A rocking prevention plate 13 where a long hole is opened is mounted to the object 1 to be tested, and a rocking prevention rod 12 fixed to the arm 2 is passed through the long hole of the rocking prevention plate 13.例文帳に追加

試験対象物１には長穴が開口された揺れ防止板１３が取り付けられ、揺れ防止板１３の長穴にはアーム２に固定された揺れ防止棒１２が通される。 - 特許庁

A substrate where a trace 85 to be tested is stored is placed in a vacuum chamber 12 of a low pressure having grid electrodes 51 laid near the trace region 85 on each face of the substrate.例文帳に追加

テストされるトレース（８５）を収容する基板は、基板の各面上のトレース領域（８５）近くに横たわるグリッド電極（５１）を備える低圧力の真空チャンバ（１２）中に載置される。 - 特許庁

To provide a displacement gauge and a displacement measuring method capable of easily assuring a conjugate relation between a light source and an aperture diaphragm, and accurately measuring a change in a distance from an object to be tested, and to provide a thickness gauge.例文帳に追加

光源と絞りの共役関係を容易に確保でき、かつ、検査対象との距離の変化を正確に計測できる変位計、変位測定方法および厚み計を提供する。 - 特許庁

To provide a method for predicting the mechanical characteristics of an aluminum alloy member that is manufactured by a powder metallurgy method also for a site that cannot be tested and evaluated by the conventional method.例文帳に追加

粉末冶金法で製造されるアルミニウム合金製部材の機械的特性を、従来法による試験や評価ができない部位についても予測できる方法を提供する。 - 特許庁

The screen transition is realized, plural screens can be tested according to the order of processing and displayed on a personal computer, and a document is outputted by a printer 108 connected to the personal computer.例文帳に追加

画面遷移を実現させ、複数の画面を処理の順序に従ってテスト可能にし、かつパソコン上に画面表示するとともに、パソコン接続のプリンタ１０８で帳票出力を行う。 - 特許庁

To enable evaluation which suppresses variations of test results, while shortening the time for evaluation, by holding generation of heat of a part to be tested within the appropriate limits.例文帳に追加

タイヤのドラム耐久試験方法において、試験部位の発熱を適切な範囲に保つことにより、評価時間を短縮しつつ、試験結果のバラツキも抑える評価が可能とする。 - 特許庁

This means that there are more applications tested in the32-bit userland that just work "out of the box." 例文帳に追加

PowerPC64アーキテクチャのために、我々はMinimalインストールCDを提供します。 これは、システムをブートしネットワーク接続を準備し、Gentooのインストールを続行することを唯一の目的とする、小さく実用的なブート可能CDです。 - Gentoo Linux

, the addresses are separated by a comma);the line which addr1 matched will always be accepted, even if addr2 selects an earlier line; and if addr2 is a regexp , it will not be tested against the line that addr1 matched. 例文帳に追加

addr1にマッチした行は、たとえaddr2がより前の行にマッチした場合でも、常に処理対象となる。 addr2がregexp(正規表現) の場合には、addr1にマッチした行に対してはaddr2のマッチは行われない。 - JM

The method for predicting biorhythm includes predicting biorhythm especially with high precision by collecting biological samples from an individual to be tested three times at intervals of 8 hours within 24 hours.例文帳に追加

この生体リズム予測方法では、被検個体から24時間以内に8時間間隔で3回生体試料を採取することにより、特に高精度に生体リズムの予測を行うことができる。 - 特許庁

To correct measurement results in wavefront aberrations of tested lenses by analytically obtaining system-inherent astigmatism and coma aberration components caused by system error of interferometers.例文帳に追加

干渉計装置のシステム誤差に起因するシステム固有のアス収差成分やコマ収差成分を解析的に求めて、被検レンズの波面収差の測定結果を補正し得るようにする。 - 特許庁

The base unit 12 provides a pressing force acting on the semiconductor chip side from the wafer pressing plate 32 when a bump of a semiconductor chip to be tested is pressed onto the probe terminal of the probe sheet 13.例文帳に追加

ベースユニット１２は、プローブシート１３のプローブ端子に、被試験対象の半導体チップのバンプが押し当てられるとき、ウエハ押圧プレート３２から半導体チップ側に作用する押圧を与える。 - 特許庁

Herewith, by changing the servo characteristic by software, the servo characteristic adapted to the control characteristic of the pick up to be tested is easily obtained, thereby enabling efficient pick up test.例文帳に追加

これよりサーボ特性をソフト的に変更し、検査対象のピックアップの制御特性に合わせたサーボ特性を容易に得ることができ、効率の良いピックアップ検査が可能になるのである。 - 特許庁

(e) A condition where the driving current flows in the tested semiconductor laser system and where no driving current flows in the semiconductor laser system for the wavelength monitoring is brought to maintain the condition for a period.例文帳に追加

（ｅ）前記被試験半導体レーザ装置に駆動電流が流れ、前記波長モニタ用半導体レーザ装置に駆動電流が流れない状態にし、ある期間この状態を維持する。 - 特許庁

To accurately evaluate light-transmission performance for a tested lens, even when the lens has cylindrical refractivity for astigmatism correction.例文帳に追加

被検眼鏡レンズが乱視矯正用の円柱屈折力を含む場合にも、その透過性能を正確に評価することができる眼鏡レンズの評価方法、および評価装置を提供すること。 - 特許庁

The HDD 1 predicts the number of defects at a stage where a portion of tracks is tested, and stops the test to thereby omit a useless test time when the predicted value exceeds a reference number.例文帳に追加

ＨＤＤ１は、一部のトラックについてテストした段階で欠陥数を予想し、その予想値が基準数を超える場合にテストを中止することで、無用なテスト時間を省略する。 - 特許庁

A test circuit performs test operation of the circuits to be tested in parallel based on the test control information by designating test operation of each test control circuit 42 through a control terminal 32.例文帳に追加

制御端子（３２）を介して各テスト制御回路（４２）にテスト動作を指示することにより、テスト回路は並列的にテスト制御情報に基づいて被テスト回路をテスト動作させる。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit tester and its self- diagnosis method which enable self diagnosis, without the removal of an object to be tested, even in the middle of a test.例文帳に追加

試験の途中においても被試験対象を取り除くことなしに自己診断を行うことができる半導体集積回路試験装置及びその自己診断方法を提供する。 - 特許庁

To complete inspections on the calibration of the quantity of flow of a flowmeter to be tested having a plurality of types of flow measuring ranges and measurement accuracy by one measuring operation of one piston prover.例文帳に追加

複数種類の流量測定レンジを有する被試験流量計の流量校正や計測精度の検査を１台のピストンプルーバの１回の計測動作により完了させる。 - 特許庁