「Tested」に関連した英語例文の一覧と使い方(42ページ目) - Weblio英語例文検索

The jaw heating element of the handpiece 12 with which a thermal tissue operation system 10 is provided is consecutively tested by applying a testing heater power signal to the jaw heating element betweentimes of individual thermal tissue operations.例文帳に追加

熱組織手術システム１０の備えるハンドピース１２のジョー加熱素子は、個別の熱組織手術の合間に試験用ヒーター電力信号をジョー加熱素子に印加することにより継続的にテストされる。 - 特許庁

to provide, with respect to any goods which purport or are alleged to be of uniform number, quantity, measure, gauge or weight, for the number of samples to be selected and tested and for the selection of the samples; 例文帳に追加

均等な数，量，寸法，容量又は重量を有するとされ若しくは主張される商品に関して，選択され，かつ，検査されるべき見本の数及び見本の選択を規定すること - 特許庁

Yarns may be tested by the customs-collector for length and count when he has reason to suspect or on information by any informant that the trade description is false.例文帳に追加

関税徴収官が疑うべき理由を有するとき，又は取引表示が虚偽である旨の通報人の情報があったときは，関税徴収官は，糸について長さ及び番手を検査することができる。 - 特許庁

The balancing machine 10 is provided with a removably belt-attaching mechanism 5 for laying detachably the belt 3 onto the body W to be tested by moving vertically a belt locking member 51 for locking the belt 3.例文帳に追加

この横型釣合い試験機１０に、ベルト３を係止するベルト係止部材５１を、上下に移動させることにより、ベルト３を被試験体Ｗに着脱するベルト着脱機構５を備えた。 - 特許庁

In a first inspection unit 3, a light diffusing plate 4, arranged below a transparent conveyor belt 2 and a first lighting apparatus 5 radiating light beams from the upper side are arranged, and the tested object is illuminated from both of the upper and lower sides.例文帳に追加

第１検査部３において透明なコンベアベルト２の下側に光拡散板４を置き上方から光を照射する第１照明器５を配置し、上下から被検査物を照明する。 - 特許庁

A gas inflow limiting hole 23 is formed in a hermetically sealed container capable of storing a detection material therein and a gas inflow limiting film 24 allowing a tested gas to permeate therethrough is disposed so as to cover the limiting hole 23.例文帳に追加

検知材が収容可能な密封容器に、ガス流入制限孔２３を形成し、ガス流入制限孔２３を覆うように被検ガスの透過が可能なガス流入制限膜２４を配置する。 - 特許庁

To enhance a thin-film transistor array substrate in test efficiency by a method wherein test patterns are checked to screen out defective chips before a drive circuit and pixel transistors are tested through a pulse response method.例文帳に追加

パルス応答法を用いて駆動回路及び画素トランジスタの検査を行う前に、テストパターンの検査を行って不良品チップのスクリーニングを行い、検査効率を向上することを目的とする。 - 特許庁

The probe includes a mechanical fixture for placement at a location to be tested, and one or more magnetic field generators, which are attached to the mechanical fixture and are arranged to generate respective magnetic fields.例文帳に追加

プローブは、検査されるべき場所に置くための機械固定具と、その機械固定具に取り付けられ、かつそれぞれの磁界を生成するように構成された、１つ以上の磁界生成器と、を含む。 - 特許庁

A control circuit 17 imposes negative feedback to the main amplifier 11 via the diode D_2 and the negative-feedback resistance R_fb when the current I_d flowing in the tested device 1 exceeds a current limit value I_2 (I_2>I_1).例文帳に追加

制御回路１７は、被測定デバイス１に流れる電流Ｉ_d が電流制限値Ｉ_2 （Ｉ_2 ＞Ｉ_1 ）より大きい場合、ダイオードＤ_2 及び負帰還抵抗Ｒ_fb を介してメインアンプ１１へ負帰還をかける。 - 特許庁

In the case of testing the breakdown voltage, the one of the units 17, which has the outside diameter size meeting to the inside diameter size of an ambient temperature contraction tube 5a to be tested is selected from the plurality of the units 17.例文帳に追加

耐圧試験を行なう際には、上記複数の電極ユニット１７の中から、試験対象となる常温収縮チューブ５ａの内径寸法に見合った外径寸法を有するものを選択する。 - 特許庁

To provide an apparatus that can estimate an energy consumption quantity based on the motion energy reflecting a tested person's weight or his individual regions' complicated motion that follows an optional and positional physical motion.例文帳に追加

任意の定置的な身体運動にともなうエネルギー消費量を、被験者の体重や身体各部位の複雑な運動を反映した運動エネルギーに基づいて推定できる装置を提供する。 - 特許庁

An optical characteristic measuring apparatus corrects a measurement value according to a change in an exit pupil distance by defocusing and, when an optical system to be tested has anamorphic characteristics, corrects the measurement value in mutually different orthogonal directions.例文帳に追加

デフォーカスによる射出瞳距離変化に応じて測定値を補正し、被検光学系がアナモフィックな特性を有している場合は、互いに異なる直交方向で測定値を補正する。 - 特許庁

To detect the temporal change of a phase difference and to highly accurately provide the phase difference of a reference light and a light to be tested, in a method and a device for measuring interference to which a fringe scanning interference method is applied.例文帳に追加

フリンジスキャン干渉法が適用された干渉計測方法及び干渉計測装置において、位相差の時間変化を検知し、参照光と被検光との位相差を高い精度で求める。 - 特許庁

The corrosion resistance of anti-corrosion coating is tested by bringing a copper-based member into contact with a corrosive liquid containing a corrosive component and an anti-corrosion agent for copper, and generating corrosion in the anti-corrosion coating of the copper-based member.例文帳に追加

腐食性成分と腐食性成分とを含む腐食液に銅系部材を接触させ、銅系部材の防食皮膜に孔食を生じさせて防食皮膜の耐孔食性を試験する。 - 特許庁

To provide a sampling method for current value of power source of an integrated circuit and the device thereof capable of obtaining all information on current of power source when a test pattern is applied to a tested device.例文帳に追加

被試験デバイスにテストパタンを印加したときに流れる電源電流の全ての情報を余すことなく取得する集積回路の電源電流値のサンプリング装置及び方法の提供。 - 特許庁

To provide an alcohol testing device capable of surely preventing spoofing without the witness of a roll caller when breath alcohol of a crew is tested, and rationalizing roll call operation.例文帳に追加

乗務員の呼気中アルコール検査時に、点呼者の立ち会いを必要としないで確実になりすましを防止することができ、かつ、点呼業務の合理化を図ることができるアルコール検査装置を提供する。 - 特許庁

While an application program 3 to be tested is automatically operated by an automatic operation program 4, a screen capture program 5 monitors whether an operation window of the application program 3 is updated in parallel therewith.例文帳に追加

自動操作プログラム４により試験対象のアプリケーションプログラム３を自動操作しながら、これと並行して該アプリケーションプログラム３の操作画面の更新の有無をスクリーンキャプチャプログラム５により監視する。 - 特許庁

(2) The skills necessary to pass the trade skill tests set forth in the preceding paragraph (hereinafter referred to as "trade skill tests" in this Chapter) and the levels of knowledge thereon shall be specified by an Ordinance of the Ministry of Health, Labour and Welfare for each of the job categories to be tested. 例文帳に追加

２　前項の技能検定（以下この章において「技能検定」という。）の合格に必要な技能及びこれに関する知識の程度は、検定職種ごとに、厚生労働省令で定める。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

(7) The items to be tested and any other technical matters necessary for making a determination under paragraphs (1) and (2) of this Article shall be specified by an Ordinance of the Ministry of Health, Labour and Welfare, Ordinance of the Ministry of Economy, Trade and Industry, and Ordinance of the Ministry of the Environment. 例文帳に追加

７　第一項及び第二項の判定を行うために必要な試験の項目その他の技術的な事項は、厚生労働省令、経済産業省令、環境省令で定める。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To provide a system for volatilizing/supplying a volatile substance in which the performance of a filter, an adsorbing material or the like for separating/adsorbing the volatile substance can be tested stably for a long period of time.例文帳に追加

揮発性物質の分離、吸着を行うフィルタや吸着材などの性能試験を長時間安定して行うことを可能にする揮発性物質の揮発供給システムを提供する。 - 特許庁

To provide a DUT board hardly affected by an electric power source/a ground bounce and hardly generating operation failure even in a high-speed operation and a low voltage in a tested LSI, and to provide a testing method using the DUT board.例文帳に追加

被試験用ＬＳＩの動作が高速化かつ低電圧化しても電源／グランドバウンスの影響を受け難く、動作不良を起こし難いＤＵＴボード及びそれを用いるテスト方法を得ることである。 - 特許庁

The photography system equipped with an X-ray generating part 1 and an X-ray detecting part 2 is turned around a subject to be tested 150 several times, and a projected data is formed in each turn at the prescribed heart beat phase.例文帳に追加

Ｘ線発生部１とＸ線検出部２を備えた撮像系を被検体１５０の周囲で複数回回動させ、各回動において所定心拍時相における投影データを生成する。 - 特許庁

On the surface of a probing pad section for wiring to be tested or inspected at a prescribed position, an identifying means which makes the probing pad distinguishable from the peripheral insulating resist is constituted of a distinguishable insulating resist.例文帳に追加

本発明は、所定位置の試験検査対象配線のプロービングパッド部表面に、識別絶縁レジストを構成し、当該プロービングパッド部周囲の周辺絶縁レジストと区別する識別手段を構成する。 - 特許庁

The contact unit 2 has a base block 20, and a plurality of contact parts 21 attached respectively independently and position-regulatably onto the base block 20 to be arrayed along a tape longitudinal direction of the object to be tested.例文帳に追加

コンタクトユニット２は、基台２０と、この基台２０に、被試験物のテープ長手方向に配列されるように、それぞれ独立して位置調整可能に取り付けられた複数のコンタクト部２１とを有する。 - 特許庁

To provide a vibration method for selectively applying vertical and lateral vibration to a lens to be tested without remounting the lens (including a body) removed from a test table.例文帳に追加

試験台にマウントした被試験レンズ（ボディを含む）を外して再マウントしなくても、当該レンズに対して上下方向及び左右方向での振動を選択して加えることができる加振方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a burn-in method for an integrated semiconductor laser device that can constantly hold temperatures of a plurality of semiconductor laser elements when they are to be tested respectively and can shorten a testing time.例文帳に追加

複数の半導体レーザ素子のそれぞれの試験時の温度を均一に保持し且つ試験時間を短くすることができる集積型半導体レーザ装置のバーンイン方法を提供すること。 - 特許庁

To perform accurate testing and measurement without an influence of unnecessary electromagnetic waves and the like by eliminating input/output of the unnecessary electromagnetic waves and the like, in a device for testing and measuring a machine to be tested within a shield box.例文帳に追加

シールドボックス内の被試験機機を試験・測定する装置において、不要な電磁波等の出入りをなくして、不要な電磁波等の影響をうけることなく、正確な試験・測定をおこなう。 - 特許庁

In the testing support device 1, normality determination is made by comparing an output signal obtained from the employment transmission processing apparatus 9 with the output signal of the tested transmission processing apparatus 8.例文帳に追加

試験支援装置１においては、運用通信処理装置９から得た出力信号と、試験対象通信処理装置８の出力信号とを比較することにより、正常性判断を行う。 - 特許庁

An analytical processing part 15 of the analyzer collates pieces of the transmission/reception data received from the two devices 1 to be tested and analyzes a processing of each host protocol processing part 5 in mutual communication.例文帳に追加

解析装置の解析処理部１５は、二つの試験対象装置１から受け取った送受信データをつきあわせて、相互通信における各上位プロトコル処理部５の処理を解析する。 - 特許庁

When a special packet monitor section 117 of the network terminal 102 at the side to be tested detects the special packet, a special packet decision section 118 instructs a return packet generating section 119 to generate a return packet.例文帳に追加

被試験側ネットワーク端末１０２では、特殊パケット監視部１１７が特殊パケットを検知したならば、特殊パケット判断部１１８が返信パケット生成部１１９に返信パケットの生成を指示する。 - 特許庁

To provide an economical pinhole inspecting device of a voltage application type for inspecting the presence of a sealed-packing container of an item to be tested of a fluid content containing gas for a pinhole, a seal defect and the like.例文帳に追加

気体を含有する流動性内容物の被検体の密封包装容器のピンホールの有無、シール不良など欠陥を検査する電圧印加方式の経済的なピンホール検査の提供。 - 特許庁

On the test base, the tested paper is placed, while a transparent adhesive tape T is set on the cylindrical face of the roller, and when the roller is rolled on the test base, the paper powder is collected onto the adhesive face of the transparent adhesive tape.例文帳に追加

試験台上に被試験紙、ローラ円筒面上に透明粘着テープＴをセットし、試験台上でローラを転がすことにより、透明粘着テープの粘着面に紙粉を採取する。 - 特許庁

Elizabeth created file systems containing a large variety of unusual conditions (and some not so unusual ones) and tested each program by doing a backup and restore of those file systems. 例文帳に追加

Elizabeth は多種多様の特異な状態(いくつかはあまり珍しくないものもあります) を含むファイルシステムを作成し、それらのファイルシステムのバックアップとリストアを行って、それぞれのプログラムのテストを行いました。 - FreeBSD

When you've tested all your modifications to ensure that they work properly and you're ready to apply your changes to the repository, follow this two-step process.例文帳に追加

自分で加えた全ての変更をテストし、全てがきちんと動作することを確認したら、その変更をリポジトリに反映する準備が整ったことになります。 次のふたつのステップを実行してください。 - Gentoo Linux

The method for measuring immunity of an influenza virus antigen using an anti-influenza virus antibody serves a sample to be tested having a specimen processed by neuraminidase for an antigen antibody reaction with the antibody.例文帳に追加

抗インフルエンザウイルス抗体を用いるインフルエンザウイルス抗原の免疫測定法において、ノイラミニダーゼで処理した検体を含有する被験試料を前記抗体との抗体抗原反応に供する。 - 特許庁

When they were introduced in 1965 to the Keihin-Tohoku Line, where distances between stations is longer than two kilometers, their suitability as commuting cars was tested by adjusting the gear ratio for a little bit more high-speed or by using MT54. 例文帳に追加

ただ、昭和40年度から2キロ台の駅間距離のある京浜東北線での運用開始に際し、103系のギア比を少し高速よりにセッティングする事や、MT54による通勤電車の可能性を模索した。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

A probe card needle is simultaneously brought into contact with a testing bonding pad of the plurality of semiconductor chip regions adjacent to each other, and normalities or abnormalities of the plurality of semiconductor chip region are simultaneously tested.例文帳に追加

互いに隣接する複数の半導体チップ領域の試験用ボンディングパッドにプローブカード針を同時に接触させて、複数の半導体チップ領域の正常又は異常を同時に試験する。 - 特許庁

Also, the test circuit 20 includes a plurality of vias and contacts to be tested denoted by a symbol 3 and a plurality of wiring patterns, denoted by a symbol 5, formed by sequentially electrically connecting the vias and the contacts in series.例文帳に追加

又該テスト回路２０は、テスト対象になる符号３の複数のビアやコンタクトを含み、又これらを電気的に直列に順次接続した符号５で示す複数の配線パターンを含む。 - 特許庁

The pattern includes an effective line to space ratio and can be tested, by using a microscope or a stepper system, or can be measured directly using a detector for the zeroth-order diffraction measurement.例文帳に追加

このパターンは、効果的なライン対スペース比を含み、顕微鏡またはステッパ・システムを使用して試験することができ、または０次回折測定用の検出器を使用して直接測定することができる。 - 特許庁

The test circuit 100 is provided with a first clock generator 101, a second clock generator 102, the circuit 103 to be tested, a built-in self test circuit 104 for performing the test, and a tester synchronization circuit 105.例文帳に追加

テスト回路１００は、第１のクロックジェネレータ１０１と、第２のクロックジェネレータ１０２、テスト対象回路１０３と、テストを行う組み込み自己テスト回路１０４と、テスタ同期回路１０５を備える。 - 特許庁

Next, the window 42 of the search area 40 selected based on the step size is tested by high speed search by calculating correlation between the template and the selected window and guiding a correlation coefficient.例文帳に追加

次に、テンプレートと選択されたウィンドウとを相関計算し相関係数を導出することで、段階サイズに基づいて選択された探索領域（４０）のウィンドウ（４２）が高速探索でテストされる。 - 特許庁

The combined power system simulator 3 is controlled by a simulator controlling computer 8 and tests the apparatus to be tested 7 in accordance with conditions set by the simulator controlling computer 8.例文帳に追加

複合型電力系統シミュレータ３は、シミュレータ制御用コンピュータ８によって制御されかつシミュレータ制御用コンピュータ８によって設定された条件に従って、被試験装置７の試験を行う。 - 特許庁

The method includes a process for comparing absorbance at a low wavelength side of for example 500-590 nm of visible ultraviolet rays that are transmitted through the water to be tested with absorbance at a high wavelength side of for example 600-680 nm.例文帳に追加

被試験水を透過する可視紫外光の、例えば５００〜５９０ｎｍの低波長側の吸光度と、例えば６００〜６８０ｎｍの高波長側の吸光度とを比較する工程を含んでいる。 - 特許庁

A test device 1 of a semiconductor integrated circuit comprises the input/output circuit 2, the tested circuit 3 formed of a SRAM, a logic circuit 4, a test circuit 5, a multiplexer MUX1, and a multiplexer MUX2.例文帳に追加

半導体集積回路の試験装置１には、入出力回路２、ＳＲＡＭからなる被試験回路３、論理回路４、試験回路５、マルチプレクサＭＵＸ１、及びマルチプレクサＭＵＸ２が設けられている。 - 特許庁

A logic card 11 undergoing live wire insertion is tested before being incorporated in a common bus 7, and only when it is confirmed as normal, control for incorporating an inserted logic card in a bus is performed.例文帳に追加

活線挿入された論理カード１１に対し、共通バス７に組み込む前に試験を行い、正常であることが確認された場合にのみ挿入した論理カードをバスに組み込む制御を行なう。 - 特許庁