「Tested」に関連した英語例文の一覧と使い方(44ページ目) - Weblio英語例文検索

The interference optical system divides low coherence light from the light source unit into signal light and referential light, superimposes reflecting light of the signal light by the eye to be tested and the referential light to generate interference light, and detects it.例文帳に追加

干渉光学系は、光源ユニットからの低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割し、被検眼による信号光の反射光と参照光とを重畳させて干渉光を生成して検出する。 - 特許庁

To provide a signal recording/reproducing device that is capable of reproducing the output of a reproduced signal to a receiver to be tested and that of a video signal to a display device while accurately synchronizing them with each other by an inexpensive configuration.例文帳に追加

再生信号の被試験受信機へ出力と映像信号の表示装置への出力とを安価な構成で正確に同期させて再生することができる信号記録再生装置を提供する。 - 特許庁

And, a product 1 to be tested that is a device to be measured is provided with an information-outputting means 3 and an information-buffering means 4.例文帳に追加

テスト対象製品１の動作過程は、有限状態機能モデルに基づいて、状態及び遷移に分類され、計測装置２でこれら状態及び遷移が検出されることによって、状態遷移網羅度情報が求められる。 - 特許庁

To allow omission of a series of processing such as transmission of writing/reading operation with respect to a fail memory in the case where a semiconductor device to be measured is tested, of which a high speed test for a flash memory, etc. is unnecessary.例文帳に追加

フラッシュメモリなどのように高速の試験を行う必要のない被測定半導体デバイスを試験する場合におけるフェイルメモリへの書込み・読出転送という一連の処理を省略できるようにする。 - 特許庁

To provide a test method capable of generally verifying the abnormality detection of a device to be tested, signal retransmission, a processing to a high order protocol and the operation of the high order protocol when the signal of a low order protocol is abnormal.例文帳に追加

下位プロトコルの信号が異常な時に被試験装置の異常検出、信号再送、上位プロトコルへの処理と上位プロトコルの動作とについて総合的に検証可能な試験方法を提供する。 - 特許庁

To test an element by quickly connecting to a test socket without damaging a solder ball formed on the bottom of the element when the performance of the completed element is tested.例文帳に追加

生産の完了した素子の性能をテストするに際して、素子の底面に形成されたソルダボールを損傷させずにテストソケットに迅速に接続させてテストし得るマイクロBGA型素子用キャリヤーモジュールを提供するにある。 - 特許庁

An insert 516 includes a plurality of core parts 518 each having an electronic component accommodation portion 519 for accommodating an electronic component to be tested, and a holding part 517 for independently holding respective ones of the plurality of core parts 518 in a freely movable manner.例文帳に追加

インサート５１６は、被試験電子部品を収納する電子部品収納部５１９を有する複数のコア部５１８と、複数のコア部５１８をそれぞれ独立して遊動可能に保持する保持部５１７とを備える。 - 特許庁

To shorten the processing time required for the processing of verifying a circuit to be tested on the basis of test patterns of a number larger than that of the memory maximum length of a memory for storing the test patterns without increasing load on a test apparatus.例文帳に追加

テストパターン格納用メモリのメモリ最大長よりもパターン数の大きなテストパターンに基づく被テスト回路に対する検証処理に要する処理時間の短縮を、テスト装置の負荷増大を伴うことなく行う。 - 特許庁

The moving base 12 which carries the vehicle to be tested and the weight and moves along a guide rail 11 has a load cell 52 which elevates by a cylinder 48 and a piston 50 on a lower surface of a bulging part 47 of a side face of the base 12.例文帳に追加

試験用車両およびウエイトを搭載してガイドレール１１に沿って移動する移動台１２は、その側面の張出部４７の下面にシリンダ４８およびピストン５０により昇降するロードセル５２を備える。 - 特許庁

To solve a problem wherein dropping impact body force is difficult to be measured quantitatively, because impacts are applied a plurality of times onto a tested body, with rebounding after dropping collision, and because results vary greatly according to manners of the collision.例文帳に追加

落下衝突後の跳ね返りにより、被試験体に複数回の衝撃を加えてしまう事、衝突の仕方により、結果のばらつきが大きいことから、定量的な落下衝撃体力の測定が困難であること。 - 特許庁

The duct 10 is connected to a gas supplying pipe 17 and a steam supplying pipe 18, the efficiency of the filter can be tested using various kinds of gas, and the humidity of the gas for testing can be adjusted.例文帳に追加

ダクト１０にはガス供給配管１７とスチーム供給配管１８が接続しており、多様な気体をもってフィルターの性能試験を行うことができ、また試験用気体の湿度を調整することができる。 - 特許庁

To provide a technology for significantly reducing test man-hours for the withstand voltage test of a three-terminal capacitor using a simple device, and for making the withstand voltage test by a one-time withstand voltage test process of the three-terminal capacitor to be tested completed.例文帳に追加

簡便な装置で３端子コンデンサの耐電圧試験の試験工数を大幅に削減し、かつ被試験３端子コンデンサを１回の耐電圧試験工程で耐電圧試験を完了させる技術を提供する。 - 特許庁

The number of times of occurrence of failure is counted, when the number of times of occurrence of failure exceeds the number of cells by which failure can be relieved, the semiconductor to be tested is discriminated as a defect and a test is stopped.例文帳に追加

フェイル発生回数を計数し、フェイル発生回数が不良救済可能なセル数を越えた時点でその被試験半導体メモリを不良と判定し、試験を中止する半導体メモリ試験方法を提案する。 - 特許庁

A scenario 3 for a text execution program in which a test execution procedure of a program 7 to be tested is described and a scenario 4 for a simulation I/F in which the operation of a simulation I/F 8 for simulating a plurality of peripheral apparatuses is described are previously prepared.例文帳に追加

テスト対象プログラム７の試験実施手順を記述したテスト実行プログラム用シナリオ３と、複数の周辺機器を模擬する模擬Ｉ／Ｆ８の動作を記述した模擬Ｉ／Ｆ用シナリオ４を作成しておく。 - 特許庁

To rapidly regulate a temperature in a test tank to a predetermined tolerance temperature by an extremely simple constitution in fire retardancy testing equipment equipped with the test tank where a substance to be tested of a fire retardancy test is burnt.例文帳に追加

難燃性試験の被試験物が内部で燃やされる試験槽を備える難燃性試験装置において、ごく簡易な構成により、前記試験槽内の温度を速やかに所定の許容温度に調節できること。 - 特許庁

Power overflow of the battery to be tested from the buffer battery is prevented, by taking advantage of the fact that the conversion efficiency of the two regenerative DC/DC charge and discharge devices 31 and 32 is less than 100%, at regeneration.例文帳に追加

回生時に、２台のＤＣ／ＤＣ回生充放電装置３１，３２の変換効率が１００％以下であることを利用して、検査電池の電力がバッファ電池からオーバーフローすることを防止する。 - 特許庁

An imaging part 16 acquires images of bubbles of the gas leaking into the liquid when a pressure is applied by the gas to the inside (a hollow part) of the seal part of a component to be tested 12 immersed in the liquid stored in the liquid tank 14.例文帳に追加

撮像部１６は、液槽１４内に収容された液体に浸漬した被試験部品１２のシール部内側（中空部）を気体によって加圧したときに液体中にリークした気泡の画像を取得する。 - 特許庁

An interpreter language part 12 performs the preparation of telegraphic message information to be exchanged with a system 50 to be controlled or control of communication with the system 50 to be tested by successively interpreting and executing source codes described in a high-level language.例文帳に追加

インタプリタ言語部１２は、高級言語によって記述されたソースコードを逐次解釈し実行することで、被試験システム５０とやりとりする電文情報の作成や、被試験システム５０との通信制御を行う。 - 特許庁

To prevent measurement errors and prevent generating failures in an optical communication device, by regularly monitoring the level of a disturbance light in a communication light, or the like, for transmitting an optical fiber line to be tested during optical pulse test.例文帳に追加

光パルス試験の最中に、試験対象の光ファイバ線路を伝送する通信光等の外乱光のレベル監視を定常的に行い、測定誤りを防ぎ、光通信器の故障させないようにする。 - 特許庁

The CPU 101 selects an operating condition for operating a circuit 102 to be tested from a plurality of operating conditions stored in a first storage section 103 based on a determined determination result.例文帳に追加

ＣＰＵ１０１は、判定された判定結果に基づいて、第１の記憶部１０３に記憶されている複数の動作条件の中から、試験対象回路１０２を動作させるための動作条件を選択する。 - 特許庁

A reflectivity determining means 11 determines reflectivity data D13 of a test region in an object to be tested on the basis of film thickness information D11, in-chip layout information D12 and test region data D14.例文帳に追加

反射率決定手段１１は、膜厚情報Ｄ１１、チップ内レイアウト情報Ｄ１２及び検査領域データＤ１４に基づき、被検査物の検査領域における反射率データＤ１３を決定する。 - 特許庁

Thus, the output timing of the tested device can be measured more precisely than the resolving power corresponding to the predetermined clock timing in the IC testing device which has not been achieved before.例文帳に追加

こうすることで、従来ではなし得なかったＩＣ試験装置において予め決められているクロックタイミングに対応した分解能以上の細かさで被試験デバイスの出力タイミングを測定することができる。 - 特許庁

To provide a test circuit by which a large-scale semiconductor device is self-tested at an actual operating speed only by additing a few circuits by using a boundary scan register, and which outputs only its test result to the outside.例文帳に追加

バウンダリスキャンレジスタを利用して、ごく僅かな回路の追加だけで、大規模な半導体装置を実動作速度で自己テストし、そのテスト結果だけを外部へ出力することができるテスト回路を提供する。 - 特許庁

To provide a power clip and a testing device enabled to surely perform an power feed and discharge and signal detection at one time without giving damage to electrodes of electronic component as a body to be tested.例文帳に追加

被試験体としての電子部品の電極に傷をつけることなく、又、複数個の電子部品の給放電、信号検出を同時に確実に行うことができる通電用クリップと試験装置を提供すること。 - 特許庁

To reduce the influence of thermal jitter generated in the starting of an auxiliary circuit in a semiconductor device testing device constituted so as to perform a test by applying a test signal to a semiconductor device to be tested through the auxiliary circuit.例文帳に追加

被試験半導体デバイスに対して補助回路を通して試験信号を印加し、試験を行う構成とした半導体デバイス試験装置において、補助回路の起動時に発生する熱ジッタの影響を低減する。 - 特許庁

To provide a test piece measuring apparatus capable of highly accurate measurements in the case of developing a solution to be tested into a test piece having a plurality of reaction areas and optically measuring color reaction in the reaction areas.例文帳に追加

被検査溶液を複数の反応域を有する試験片に展開させ、反応域における呈色反応を光学的に測定する場合に、より高精度に測定できる試験片測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a driving circuit which can be tested before a plurality of driven elements are formed on a substrate by a second manufacturing process after a driving circuit is formed on the same substrate by a first manufacturing process.例文帳に追加

第１製造プロセスにより基板上に駆動回路を形成した後、第２製造プロセスにより同一の基板上に複数の被駆動素子を形成する前にテストを行うことができる駆動回路を提供する。 - 特許庁

For the gradation levels included between the reference supply terminals, all the gradation levels included in the interval are tested by testing while switching input data and a decision level of a comparator in sequence for every one gradation level.例文帳に追加

その基準電源端子間に含まれる階調レベルについて、一階調レベル毎、入力データとコンパレータの判定レベルの設定を順次切り替えながらテストし、その区間に含まれる階調レベルを全てテストする。 - 特許庁

The determination part 16 has a comparison part 24 and a detection part 26, and can determine existence of a failure in the circuit 22 to be tested based on the supply current measured by the supply current measuring part 14.例文帳に追加

判定部１６は、比較部２４および検出部２６を有し、電源電流測定部１４において測定された電源電流に基づいて、被試験回路２２の故障の有無を判定することができる。 - 特許庁

To evade the increase of chip size of a semiconductor device and to suppress the rise of manufacturing costs even when the scale of a BIST circuit is increased in accordance with the increase of the scale of a circuit to be tested in the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の試験対象回路の規模増大に対応してＢＩＳＴ回路の規模も増加する場合においても、半導体装置のチップサイズの増大を回避し、製造コストの上昇を抑える。 - 特許庁

To improve the efficiency and accuracy of a test by preventing the interruption or a delay of the test and the abnormal determination of a test result even if a signal not directly involved in the test is transmitted and received to/from a device to be tested.例文帳に追加

被試験装置との間で試験には直接関与しない信号が送受信されても、試験の中断や遅延、試験結果の異常判定が発生しないようにして、試験の効率と精度の向上を図る。 - 特許庁

This sensor includes a body to be tested 1 having a sealed inner chamber 4 and a pressure gauge 3 for measuring the pressure in the inner chamber, and the inner chamber 4 is filled with gas and/or liquid to produce a pressure difference from the external world.例文帳に追加

密封された内室４を有する被試験体１と、内室の圧力を測定する圧力計３とを備え、内室４は外界との間に圧力差を生じるように気体及び／又は液体を充填する。 - 特許庁

To provide a method for testing a projection optical system and a testing device or the like by which the optical performance of a liquid-immersion type projection optical system wherein a liquid is arranged on the side of an image surface can be tested accurately and easily.例文帳に追加

像面側に液体が配置される液浸式の投影光学系の光学性能を精確且つ容易に検査することができる投影光学系の検査方法及び検査装置等を提供する。 - 特許庁

A color sample 18 for reference for the erythema of skin reaction with a substance to be tested are provided in the vicinity of the gel body 16 for the tests of the transparent film 12 in such a way that the colors 18 for reference have such a degree of transparency as that the skin is observed through.例文帳に追加

透明フィルム１２の検査用ゲル体１６近傍には、被験物質により反応する皮膚の紅斑の色見本１８が、皮膚が透けて見える程度の透明性を有して設けられている。 - 特許庁

To protect a multilayer printed wiring board against damage caused by a contact probe and a check voltage applied from the probe even if a contact probe pressed against a test land breaks through the test land and an outer insulating base when the board is tested.例文帳に追加

基板検査時にテストランドに押し当てられた接触針がテストランド及び外層の絶縁基材を突き破っても、この接触針及び接触針からの検査電圧による基板破壊を防止する。 - 特許庁

As for the microwave-proofness of the film case, tested by filling the film case with water to its half capacity and then heating the case for five minutes in a microwave oven with a rated high frequency output 500 W, the rate of a size change is 20% or less.例文帳に追加

この際の電子レンジ適性としては、フィルムケース内に水を半分入れて、定格高周波出力５００Ｗの電子レンジにて５分間加熱した際に寸法変化率が２０％以下であった。 - 特許庁

A thin film layer is formed on a substrate to be mounted with a semiconductor device to be tested, and a plurality of temperature monitoring circuits are provided on this thin film layer to obtain the heat generation distribution of the device by signals from these circuits.例文帳に追加

試験を行なう半導体装置を実装する基板に薄膜層を形成し、この薄膜層に複数の温度モニタ回路を設け、この温度モニタ回路からの信号によって半導体装置の発熱分布を得る。 - 特許庁

To provide a test route verifying device which extracts an affected place based upon modification for a program test after program modification and verifies whether or not the affected place is tested.例文帳に追加

本発明の課題は、プログラム変更後のプログラムテストにおいて、変更に基づく影響箇所を抽出すると共に、影響箇所のテストが行なわれたかを検証するテストルート検証装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

The tool for water analysis is produced by sealing an enzyme reagent which is made to react specifically with a substance to be tested in a hermetic container made of an elastic material at least partly transparent or wholly translucent.例文帳に追加

弾性を有する、少なくとも一部が透明又は半透明の材料からなる密封容器に、被検物質と特異的に反応し得る酵素試薬を封入してなる水質分析用器具を提供する。 - 特許庁

According to this screening method for human diabetes curative medicines, tested compounds are administered to a diabetes model non-human mammal to select a compound causing the degree of decrease in glycosylated hemoglobin value to be 0.5 % or more after the administration.例文帳に追加

糖尿病モデル非ヒト哺乳動物に試験化合物を投与し、投与後の糖化ヘモグロビン値低下度が０．５％以上である化合物を選択することを特徴とするヒト糖尿病治療薬のスクリーニング方法。 - 特許庁

Thereby the output of the outside rotating axis 18 of the tested motor 10 can be measured by the energy meter 78 or 80 so that a torque sensor for measuring the output of the outside rotating axis 18 become unnecessary.例文帳に追加

これによって、試験モータ１０の外側回転軸１８の出力を電力計７８または８０によって計測することができ、外側回転軸１８の出力計測用のトルクセンサが不要になる。 - 特許庁

Control results at that time are outputted to the communication equipment through the communication controller and the installation type testing device, and the test result state of the communication path to be tested is also decoded and displayed by a portable testing device.例文帳に追加

そのときの制御結果は、通信制御装置，設置型試験装置を介して、通信機に出力され、またその当該被試験通信路の試験結果状態は携帯形試験装置で解読され表示される。 - 特許庁

This invention relates to the communication testing device (1000) including a plurality of data communication module (40 and 50), wherein the data communication module perform data communication with a device to be tested in combination of the plurality of protocols.例文帳に追加

複数のデータ通信手段（４０，５０）を備える通信試験装置（１０００）であって、前記データ通信手段が複数の業務プロトコルの組み合わせで被試験装置とデータ通信を行うことを特徴とする。 - 特許庁

According to the method, a plurality of values of the parameter are tested by calculating for each of these values, a distance between a covariance matrix of vectors composed of samples of the signal and a theoretical covariance matrix.例文帳に追加

この方法によれば、信号のサンプルで構成されるベクトルの共分散行列と理論的共分散行列との間の距離をこれらの値ごとに計算することによって、このパラメータの複数の値が検査される。 - 特許庁

The method for screening a substance having an inhibitory action on colon cancer includes a step of adding a material to be tested to a cultured cell and detecting activation of an aromatic hydrocarbon receptor expressed in the cultured cell.例文帳に追加

また、培養細胞に被験物質を添加し、培養細胞に発現する芳香族炭化水素受容体の活性化を検出する手順を含む、腸がん抑制作用を有する物質のスクリーニング方法をも提供する。 - 特許庁