「Tested」に関連した英語例文の一覧と使い方(48ページ目) - Weblio英語例文検索

Performance of the terminal is tested on a test stage of an idle mode by virtually changing items required for registration such that the terminal excludes the registration and moves into the test stage of the idle mode.例文帳に追加

端末機などが登録を排除し、アイドルモードのテスト段階に進入できるように、登録のために必要なアイテムを仮想的に変更し、前記アイドルモードのテスト段階で前記端末機の性能をテストすることを特徴とする。 - 特許庁

When a seat cushion pad A is tested under a forced vibration test by applying a 50 kg iron plate with the amplitude of ±2.5 mm, it shows 4 in resonance power at 2-4 Hz and 50-70% of impact resilience rate.例文帳に追加

シートクッションパッドＡは、５０ｋｇの鉄研形加圧板を負荷して振幅±２．５ｍｍにて行った強制振動試験により測定した２〜４Ｈｚにおける共振倍率が４以下でかつ反発弾性率が５０〜７０％である。 - 特許庁

To provide a leak inspection method and a leak inspection device that can, when inspecting for leaks using pressure methods, precisely and reliably subtract the temperature-caused portion of change in the pressure of a fluid inside an object being tested.例文帳に追加

圧力式の漏洩検査において、被検査対象内の流体の圧力変化における温度起因の変動分を高精度で確実に除去することの可能な漏洩検査方法および漏洩検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device and a system that are effective when selection of the test mode of an information communication device to be tested is required in the house test for the information communication device comprising e.g. a central processing section, a storage section, a communication control section and a peripheral control section.例文帳に追加

たとえば中央処理部、記憶部、通信制御部、周辺制御部から構成される情報通信機器の社内試験等を行う際に、機器の試験モード切替えが必要な場合に有効な装置、方式を提供する。 - 特許庁

To reduce a temperature of a device to be tested having large self heat generation by a simple structure in a short time and increase its temperature quickly so as to enable temperature control without being affected by the self heat generation.例文帳に追加

本発明は、自己発熱の大きい被試験デバイスを、シンプルな構造で短時間で温度降下させ、また温度上昇も早くして、自己発熱に影響されにくい温度制御ができる半導体試験装置のハンドラを提供する。 - 特許庁

Determination means 222 determines the remaining life of the battery to be tested 1 based on the measured voltage value by the voltage measuring means 212 and correlation data which indicates the correlation between the voltage, the number of charging/discharging cycles and the battery capacity of the secondary battery.例文帳に追加

判定手段２２２は、電圧測定手段２１２による測定電圧値と、二次電池の電圧、充放電サイクル数および電池容量の相関を示す相関データと、に基づいて被試験電池１の余寿命を判定する。 - 特許庁

The testing device is provided with a testing section 20 which performs tests on the object to be tested with respect to the set test items and a test item setting section 10 which sets the test items for the testing section 20 based on the test results obtained by means of the testing section 20.例文帳に追加

被試験対象に対して、設定された試験項目の試験を行う試験部２０と、試験部２０の試験結果に応じて試験項目を試験部２０に対して設定する試験項目設定部１０とを備える。 - 特許庁

Whether or not success/failure conditions specified as conditions for deciding success/failure based on the test result of an object to be tested in a test program are matched with success/failure decision conditions in test required specifications is determined for one test item.例文帳に追加

一のテスト項目について、テストプログラムに被テスト対象のテスト結果に基づく合否判定のための条件として規定された合否判定条件が、テスト要求仕様における合否判定条件に合致するか否かを判別する。 - 特許庁

This particle collector is provided with a plate type test base 2 arranged on a test table 4, a member 3 for sticking tested paper to the test base, and a cylindrical roller 1, and a mechanism such as a motor driving the roller is arranged beneath the test table.例文帳に追加

試験テーブル４上に備えられた平板状の試験台２と試験台に被試験紙を装着する部材３と、円筒上のローラ１を備え、試験テーブル下にはモータ等の前記ローラを駆動する機構が備えられている。 - 特許庁

Continuously, this film is dried and solidified in a hood 5 which is set at a specified wind velocity by a wind velocity control part 3, and after dried, the number of films remaining behind in the measures is counted, and the presence or absence of an defoaming performance is tested by many or few of the number of films remaining behind.例文帳に追加

続いて、風速制御部３によって一定風速とされたフード５内にて該膜を乾燥硬化させ、乾燥後、枡目８に残る膜の数をカウントし、膜残り数の多少によって消泡性能の有無を検査する。 - 特許庁

Furthermore, the sum of voltages of the D+ data output signal and D- data output signal is tested, whereby the test can be performed in the same channel of the testing device, and a precise measurement can be thus performed, without being influenced by skew between channels.例文帳に追加

また、Ｄ＋データ出力信号とＤ−データ出力信号との電圧の和をテストすることで、テスト装置の同一チャンネルでのテストが可能となり、 チャンネル間のスキューの影響を受けることなく高精度での測定が可能となる。 - 特許庁

The apparatus 6 for restraining a vehicle comprises a pitching permitting device 7 arranged at the lower side of a vehicle 4 to be tested, permitting pitching of the vehicle 4 where a width direction line 9 containing the center G of gravity of the vehicle 4.例文帳に追加

車両拘束装置６は、被試験車両４の下側に配置されるピッチング許容装置７を備え、被試験車両４の重心Ｇを含む幅方向線９を中心とする被試験車両４のピッチングを許容する。 - 特許庁

The method for testing the function of suppressing increase in quantity of fat comprises (1) a first process of testing activity of a monoacylglycerol acyltransferase in a contact system of the monoacylglycerol acyltransferase with a material to be tested and (2) a process of evaluating the function of suppressing increase in quantity of the fat depending on difference obtained by comparing the activity tested by the first process with the activity in a control.例文帳に追加

脂肪量増加抑制能力の検定方法であって、（１）モノアシルグリセロールアシルトランスフェラーゼと被験物質との接触系内における前記モノアシルグリセロールアシルトランスフェラーゼの活性を測定する第一工程、及び（２）第一工程により測定された活性と対照における活性とを比較することにより得られる差異に基づき前記物質の脂肪量増加抑制能力を評価する第二工程、を有することを特徴とする脂肪量増加抑制能力の検定方法。 - 特許庁

The tray transfer device comprises a handler body, the loading part set on one side of the handler body for supplying a semiconductor element to be tested, the unloading part for receiving a tested semiconductor element in a tray transferred from the loading part, and a tray handling device for removing the semiconductor element left in the tray from the tray, while moving the tray from the loading part to the unloading part.例文帳に追加

ハンドラ本体、テストしようとする半導体素子を供給するために前記ハンドラ本体の一側に設置されるローディング部、前記ローディング部から移送されたトレイに、テスト済み半導体素子を受納するためのアンローディング部、及び前記トレイを前記ローディング部から前記アンローディング部に移動させながら、前記トレイに残存する半導体素子を前記トレイから除去するためのトレイハンドリング装置（Ｔｒａｙ ｈａｎｄｌｉｎｇ ｄｅｖｉｃｅ）を備える構成とした。 - 特許庁

To provide a verification program, apparatus and method capable of surely verifying design of wiring for electrically connecting a test head body to a plurality of connection terminals to which the plurality of external terminals of an electronic component to be tested are connected.例文帳に追加

テストヘッド本体と、被試験電子部品の複数の外部端子が接続される複数の接続端子とを電気的に接続する配線の設計を確実に検証することのできる検証プログラム、検証装置及び検証方法を提供する。 - 特許庁

NFκB and PPARγ are brought into contact under the present or non-present of a substance to be tested, and the combination between both of them is compared under both conditions in the fat cell differentiation control and/or the screening method of the anti-inflammatory substance.例文帳に追加

被験物質の存在下及び非存在下にNFκBとPPARγとを接触させ、両条件下におけるNFκBとPPARγの結合の度合を比較することを特徴とする、脂肪細胞分化制御及び／又は抗炎症性物質のスクリーニング方法。 - 特許庁

A plurality of burn-in boards 20 having a plurality of integrated circuits 44 each of which is tested in a heated condition are arranged at fixed intervals and stacked, and a plurality of valve trays 22 for controlling air flow are arranged between two adjacent burn-in boards 20.例文帳に追加

各々が加熱された条件下でテストされている複数の集積回路44を有する複数のバーンインボード20を一定間隔で配置し積み重ね、隣接する二つのバーンインボード20の間に複数の空気流量を制御するバルブトレイ22を配置する。 - 特許庁

For this apparatus, the surface of the substrate can be tested by comparing an image image formed by the secondary electron beam with the picture image stored beforehand, or by testing the pattern line width of the patterns on the surface of the substrate, based on the secondary electron beam.例文帳に追加

この装置では、２次電子線に基づき形成される画像を予め記憶した画像と比較したり、基板表面のパターンのパターン線幅を２次電子線に基づき検査することにより、基板表面の検査をすることができる。 - 特許庁

To provide an integrated circuit socket that always maintains a good condition of NDZ including the geometric shape and electric property during the test of IC so as to help soldering of NDZ to PCB precisely, after the IC chip is tested completely.例文帳に追加

ＮＤＺの良好な状態を、幾何学的形状と電気特性とを含め、ＩＣチップが完全にテストされた後、ＮＤＺをＰＣＢに正確に半田付けするのを助けるために、ＩＣテスト中、常に維持する集積回路ソケットを提供する。 - 特許庁

The optical arrangement for a microscope is equipped with the beam splitter (1) arranged in a divergent and/or convergent beam path for separating an illumination light (2) that is produced by an illumination source from a detection light (3) that is emitted by a sample being tested.例文帳に追加

照明源によって発生した照明光（２）と検査対象である試料から出る検出光（３）とを分離させるように発散光路および／または収束光路内に配置されるビームスプリッター（１）を備えた顕微鏡用光学装置。 - 特許庁

This focal distance measuring instrument is equipped with a light source unit 2 for generating a collimated beam, a diffraction grating 3 for deflecting the collimated beam at a deflection angle θ, and an imaging element 4 for detecting the position of a spot beam into which the deflected beam is formed through a tested lens TL.例文帳に追加

コリメート光を発生する光源ユニット２と、コリメート光を偏向角θで偏向させる回折格子３と、偏向した光が被検レンズＴＬを通して結像するスポット光の位置を検出する撮像素子４とを備えている。 - 特許庁

The noncontact single side probe includes the probe to be brought into contact with a conductive line to be tested; a feeding part for applying AC power to the probe; and a sensing part for measuring electrical variation values of the probe.例文帳に追加

検査対象導線に接触するための探針子と、前記探針子に交流電源を入力するための給電部と、前記探針子での電気的変化値を測定するための感知部を含んで接触式シングルサイドプローブを構成する。 - 特許庁

A CPU 1e analyzes the signal displaying the information of the generator according to the analytic indication inputted by the key input section 1d, the keyboard 2 and the mouse 3, and a governor adjusting the rotational speed of the generator is tested.例文帳に追加

そうして、上記キー入力部１d,キーボード２およびマウス３により入力された解析指示に従って、ＣＰＵ１eは発電機の情報を表す信号の解析を行って、発電機の回転速度を調節する調速機の試験を行う。 - 特許庁

To provide a fully on-chip wafer level burn-in test circuit and a method thereof, which enables wafer burn-in to be tested by using an external supply voltage and an external signal (WBI) and generating a voltage for a stress screen within the chip.例文帳に追加

本発明は、外部供給電圧と外部信号（WBI）を利用してストレススクリーン用電圧をチップ内部で発生してウェハバーンインテストを行うことを可能にしたフーリオンチップ・ウェハレベル・バーンインテスト回路及びその方法を提供することである。 - 特許庁

Next, the device 1 transmits a direction to a false active call apparatus 7, and transmits a command to a tested transmission processing apparatus 8 in relation to the false active call same as the call transmitted to the employment transmission processing apparatus 9 based on the acquired input signal.例文帳に追加

次に、取得した入力信号に基づいて、運用通信処理装置９に発せられた呼と同様の疑似呼を試験対象となる試験対象通信処理装置８に対して投入するように、疑似呼装置７に指令を送信する。 - 特許庁

To provide treatment of a subject to be tested, with an effector of a polypeptide or a polysaccharide, which effector is effective as a pharmacological factors when circulating as a free form in blood stream, but which effector is quickly removed from blood stream by renal clearance in the free form.例文帳に追加

血流中で遊離の形態で循環する場合には薬理学的因子として効果的であるが、腎クリアランスによって血流から迅速に遊離の形態で除去されるポリペプチドまたは多糖のエフェクターでの被験体の処置の提供。 - 特許庁

In the semiconductor device of an object to be tested, the signal delaying time is measured and then the noise quantity in the semiconductor device of the object from the signal delaying time and the relation between the noise quantity and the delayed time determined by using the LSI 10 for evaluation.例文帳に追加

試験対象の半導体装置において信号遅延時間を測定し、その信号遅延時間と、評価用ＬＳＩ１０を用いて求めたノイズ量と遅延時間の関係とから、試験対象の半導体装置内のノイズ量を推定する。 - 特許庁

A gas inlet 24 through which a gas to be tested is introduced into a cell chamber 23 and a collector electrode 22 protruding into the cell chamber 23 are disposed in a such a positional relationship that a line extending from the central axis of the gas inlet 24 does not intersect with the collector 22.例文帳に追加

セル室２３に被検ガスを導入するガス導入孔２４の中心軸の延長線がセル室２３内に向けて突設されたコレクタ電極２２と交わることのない関係位置にガス導入孔２４とコレクタ電極２２とを配設する。 - 特許庁

The testing facility terminal (13) automatically changes an interface (14) based on the transferred information to meet the electrical equipment (1) to be tested, carries out the electrical characteristics evaluation/test and transfers the test result via the network (10) to the host computer (11).例文帳に追加

転送された情報から試験設備端末（１３）は、対象となる電気機器（１）に合わせてインターフェイス（１４）を自動的に変更し、電気特性評価試験を行い、試験結果をホストコンピュータ（１１）にネットワーク（１０）を介して転送する。 - 特許庁

Testing food material A is material A is dished out by a moderate weight according to the amounts of food ingested in the morning, noon and evening for the past several weeks of each subject as a tested subject, and testing food C for three days, that is, nine times in total is prepared.例文帳に追加

試験用食品素材（Ａ）を、検査の対象となる被験者１人１人の過去数週間の朝昼晩の摂食量に基づいて、適度な重量に取り分けると共に、３日分・計９回の試験用食品（Ｃ）を作る。 - 特許庁

The flow rate of the non-combustible fluid may be correlated to the flow rate of a combustible fluid through the flow restrictor 12 from a fuel storage section 14 to estimate the flame height of the lighter incorporating the tested flow restrictor 12.例文帳に追加

不燃性流体の流量を、燃料貯蔵区画１４から流量制限器１２を通る可燃性流体の流量に関係付けて、試験された流量制限器１２を取り付けたライターの炎の高さを推定することができる。 - 特許庁

To provide a test handler which can easily correspond to reduction in part replacement period and various types of testers, and to decrease the production cost by markedly reducing the number of replaced parts in accordance with the conversion of semiconductor element to be tested.例文帳に追加

被検査半導体素子の変換に従って交替される部品の数を著しく低減して生産コストの節減、部品交替時間の短縮及び多様なテスタータイプに容易に対応し得るテストハンドラーを提供することを目的とする。 - 特許庁

This detection array is provided with at least one solid base body and a specific affinity probe formed by immobilizing a plurality of kinds of specific affinity substances specifically binding with a plurality of kinds of tested substances onto the surface of the solid base body.例文帳に追加

少なくとも１個の立体状基体と、複数種類の被検物質に対して夫々特異的に結合する複数種類の特異親和性物質を該立体状基体の表面に固相化された特異親和性プローブとを具備する検出用アレイ。 - 特許庁

Presence or absence of c.4957-4958InsA mutation in the EYS gene is tested in a DNA-containing sample collected from a retinitis pigmentosa patient by using the primer, probe and microarray which can detect c.4957-4958InsA mutation in the EYS gene.例文帳に追加

ＥＹＳ遺伝子におけるｃ．４９５７＿４９５８ＩｎｓＡ変異を検出することができるプライマー、プローブ、及び、マイクロアレイを用いることにより、網膜色素変性症患者から採取されたＤＮＡ含有試料において、ＥＹＳ遺伝子におけるｃ．４９５７＿４９５８ＩｎｓＡ変異の有無を検査する。 - 特許庁

In the contact probe, the arm part of the U shape type spring part and the edge part of the cantilever type spring part are used for the electrical connection between a conductor electrode of the probe card and an electrode of an object to be tested, and an aspect fixed by one arm part of the U shape type spring part is desirable.例文帳に追加

かかるコンタクトプローブは、Ｕ字型バネ部の腕部とカンチレバ型バネ部の端部が、プローブカード内の配線電極と被検査物の電極を電気的に導通し、Ｕ字型バネ部の一方の腕部により固定される態様が好ましい。 - 特許庁

A display screen 15 of an eye target presentation device 13 which is shown to a tested eye displays continuously different Landolt rings 11b, having the same directions of notches 11c and different sizes respectively, in ascending order of size.例文帳に追加

被検眼に呈示する視標呈示装置１３の表示画面１５に、切り欠き１１ｃの開放方向がそれぞれ同一であり且つ大きさがそれぞれ異なる複数のランドルト環１１ｂをそれぞれの大きさが小さい順に連続的に表示させる。 - 特許庁

This method can be used for protecting the structure to be tested released from the mold and solving the deformation due to the sticking of the micro machine device in a wet mold release process in manufacturing the micro machine device.例文帳に追加

この方法は、微小機械デバイスの製造で、離型させた試験される構造を保護する為、並びに湿式離型過程に関連する微小機械デバイスの膠着に関係する変形を解決する為の方法として使うことが出来る。 - 特許庁

Thus, by electrically connecting a plurality of connect pins 20 of the testing device with the wide wiring part 17, electric conduction is reliably tested while preventing a connection failure, and damage of an important part such as a semiconductor laser part is prevented.例文帳に追加

したがって、検査装置の複数の接続ピン２０が拡幅配線部１７と電気的に接続することによって、接続不良を回避して確実に導通検査を行い、かつ半導体レーザ部などの重要部の破損を防ぐことができる。 - 特許庁

To provide an apparatus for measuring the amount of adhered contamination, which is superior in portability and manufactured at a low cost and which can measure the amount of adhered contamination relatively accurately, even in the case flow is present in liquid to be tested, and to provide a method for measuring the amount of adhered contamination.例文帳に追加

被検液に流れがあっても比較的正確に付着汚れ量を測定することが可能であり、製造コストが低廉であって、可搬性に優れた付着汚れ量測定装置及び付着汚れ量測定方法を提供する。 - 特許庁

A memory LSI is tested, the number of defect bits are counted for bit map data for each address coordinate, a histogram of the number of defect is made, and wavelet analysis making harl function a base function is performed by assuming the made histogram of the number of defect as a discrete signal.例文帳に追加

メモリＬＳＩを試験し、ビットマップデータに対してアドレス座標毎に不良ビット数をカウントし、不良数ヒストグラムを作成し、作成した不良数ヒストグラムを離散信号とみなして、ハール関数を基底関数としたウェーブレット解析を行う。 - 特許庁

This dropping weight body 11 is provided with a support part 12 provided with travel mechanisms 17a-17d for traveling toward a vertical-directional lower side, and an collision part 13 arranged in a lower part of the support part 12 to collide with a body 10 to be tested arranged in a lower side.例文帳に追加

鉛直下方へ向けて走行するための走行機構１７ａ〜１７ｄを備える支持部１２と、支持部１２の下部に配置されて下方に配置される被試験体１０に衝突する衝突部１３とを備える落錘体１１である。 - 特許庁

A hash value of a bit stream including a value at the point P is calculated and converted into an element of a field, the element of the field is regarded as an x coordinate of the point Q on the elliptic curve, and availability of the x coordinate on a desired elliptic curve is tested.例文帳に追加

まず、点Ｐの値を含むビット列のハッシュ値が計算され、ハッシュ値は体の元に変換され、体の元は、楕円曲線上の点Ｑのｘ座標として見なされ、ｘ座標は、所望の楕円曲線上で有効性がテストされる。 - 特許庁

To provide a road surface water film reproducing system which is capable of stably forming on a virtual road surface a water film of a prescribed thickness which has the same speed as a desired speed of a vehicle to be tested, in an environment below a freezing point, and reproducing a traveling state.例文帳に追加

氷点下の環境において、被試験車両の所望する速度と同じ速度を有する所定厚さの水膜を仮想路面上に安定的に形成し、走行状態を再現できる路面水膜再現装置を提供する。 - 特許庁

An HW selection circuit 7, a channel selecting circuit 8, and a conversion circuit 9 receive the high efficiency multiplex encoded signal of a required time slot that is received/outputted, coverts the signal into a parallel signal and allows a tested signal RAM 6 to store the converted signal.例文帳に追加

この入出力される高能率多重符号化音声信号をＨＷ選択回路７、チャネル選択回路８、変換回路９により必要タイムスロットの信号を取り込み、パラレル信号に変換して被試験信号用ＲＡＭ６に記憶する。 - 特許庁

In a PRPG 20, taps and seeds (set values) are set to generate a large amount of random input patterns, and the generated input patterns are inputted to reference semiconductor integrated circuits 32A, 32B, and 32C and a semiconductor integrated circuit 34 to be tested.例文帳に追加

ＰＲＰＧ２０で、タップ及びシード（設定値）をセットして、ランダムな入力パターンを大量に発生し、基準の半導体集積回路３２Ａ、３２Ｂ、３２Ｃ、及びテスト対象の半導体集積回路３４へ発生した入力パターンを入力する。 - 特許庁