「Tested」に関連した英語例文の一覧と使い方(50ページ目) - Weblio英語例文検索

A switch element 129 being a through current cutting-off means cuts off a through current flowing into the ground voltage pad 126 through a reference voltage generating circuit 127 from a power source voltage pad 125 when a power source current at the standby time is tested of the data processing section 3.例文帳に追加

貫通電流遮断手段としてのスイッチ素子１２９は、電源電圧パッド１２５から基準電圧発生回路１２７を介して接地電圧パッド１２６に流れる貫通電流を、データ処理部３の待機時電源電流の検査の際に、遮断する。 - 特許庁

To provide a method for determining appropriate therapeutic procedure and/or prognosis for a patient diagnosed to be affected by a neurological disease, and to provide a method for identifying human subjects for placement in clinical drug trials of drugs being tested for the treatment of the neurological disease.例文帳に追加

神経疾患であると診断された患者の適当な治療法および／または予後を決定するための方法、および、神経疾患の治療について試験する薬物の臨床試験の対象患者となるヒト被験者を同定する方法の提供。 - 特許庁

Thus, since the comparison timing signals imparted to these logic comparators LC are delayed respectively by the delay times set in the answering variable delay circuits DY1-DY3, they are made to coincide with the timing of the read-out data read out from related memories to be tested.例文帳に追加

これによってこれら論理比較器に与えられる比較タイミング信号は対応する可変遅延回路に設定された遅延時間だけそれぞれ遅延されるから、関連する被試験メモリから読み出される読み出しデータのタイミングと合致させることができる。 - 特許庁

A frequency sweep is performed by a frequency sweep oscillator 11, and measured values x(0), x(1), ..., x(n-1) is obtained through a detection circuit 13 and AD converters 19, 20 in each frequency step Δf as response output of a tested circuit 12.例文帳に追加

周波数掃引発振器１１によって周波数掃引を行い、被試験回路１２の応答出力として、周波数ステップΔｆ毎に検波回路１３とＡＤ変換器１９，２０を通して測定値ｘ（０），ｘ（１），・・・ｘ（ｎ−１）が得られる。 - 特許庁

The semiconductor memory tester for determining whether a memory device to be tested is defective is provided with a measuring part for comparing the output of the target memory device with an expected value at timing based on a clock output from the target memory device.例文帳に追加

テスト対象メモリデバイスの良否判定を行う半導体メモリテスタであって、前記テスト対象メモリデバイスが出力するクロックに基づくタイミングで前記テスト対象メモリデバイスの出力と期待値とを比較する測定部を有することを特徴とするもの。 - 特許庁

The module type test system includes a system controller 102 for controlling at least one site controller 104, and at least one site controller controls at least one test module 108 and a device (DUT 112) to be tested to which the module corresponds.例文帳に追加

モジュール式試験システムは少なくとも１つのサイトコントローラ１０４を制御するためのシステムコントローラ１０２を備え、少なくとも１つのサイトコントローラは少なくとも１つの試験モジュール１０８およびその対応する被試験デバイス（ＤＵＴ１１２）を制御する。 - 特許庁

The device to be tested 2 is constituted of debugger soft 21 for introducing the history information, a trace memory dumped result file 22 filing the history information, a source file group 23 for the program 11, and a trace information analysis program 24 for outputting a corresponding position for fault analysis.例文帳に追加

また、被試験装置２は、履歴情報を導入するデバッガソフト２１、履歴情報がファイルされたトレースメモリダンプ結果ファイル２２、プログラム１１のソースファイル群２３、障害解析のための該当箇所を出力するトレース情報解析プログラム２４から構成した。 - 特許庁

This is the test device with which respective pixels in the organic EL panel are tested from the electric signals obtained by driving the organic EL panel, and it is constituted so that a drive monitoring part 4 to monitor the test driving signals applied to the organic EL panel is provided.例文帳に追加

有機ＥＬパネルの検査装置は、有機ＥＬパネルを駆動して得られる電気的信号から有機ＥＬパネル中の各画素を検査する検査装置であって、有機ＥＬパネルに印加する検査駆動信号を監視する駆動監視部４を備える構成とする。 - 特許庁

To provide a performace board capable of controlling leakage of a signal to outside and inflow of noise, and securing low-loss/low-reflection and stable transmission characteristics, when electronic components under test are tested by utilizing a high frequency signal.例文帳に追加

高周波信号を用いて被試験電子部品をテストする際にも、低損失・低反射で安定した伝送特性を確保することが可能であると共に、信号の外部への漏洩及びノイズの流入を抑制することが可能なパフォーマンスボードを提供する。 - 特許庁

To realize a high accurate test while shortening the test time significantly using a conventional inexpensive tester without requiring any expensive semiconductor tester and to eliminate the need of a reference voltage generator for each type of semiconductor integrated circuit to be tested.例文帳に追加

高価な半導体試験装置を必要とせず、従来の安価なテスタを用いて、テスト時間の大幅な削減と、高精度試験を可能とするとともに、基準電圧発生器を、被検査半導体集積回路の種類毎に用意する必要の無いようにする。 - 特許庁

To enable preventing malfunction caused by a noise or the like and to enable coping with a trend for a thinner gate oxide film, in a semiconductor memory which can be tested in a state of a finished product incorporating the memory.例文帳に追加

本発明は、パッケージングされた最終製品の状態でテストを行うことが可能な半導体メモリにおいて、ノイズなどによる誤動作を防止し得るとともに、ゲート酸化膜の薄膜化にも十分に対応できるようにすることを最も主要な特徴としている。 - 特許庁

Further, the operation control part 40 compares a signal on the lissajous plane which is generated in a process for adhering the eddy current probe 3 closely to a body to be tested with the lift-off allowable area A to evaluate lift-off quantity generated when pressing the eddy current probe 3 to an arbitrary curved surface.例文帳に追加

さらに、演算制御部４０は、渦電流プローブを被検査体に密着させる過程で発生するリサージュ平面上の信号とリフトオフ許容領域Ａを比較して、任意曲面に渦電流プローブを押付けた際のリフトオフ量を評価する。 - 特許庁

The cover glass 21 has a contact retaining means such that the cover glass 20 is kept contacted (attached) with a living tissue of the tested part even when the cover glass 21 moves in a horizontal (X or Y) or vertical (Z) direction to an objective optical system 14.例文帳に追加

このカバーガラス２１は、対物光学系１４に対して水平方向（Ｘ，Ｙ方向）、垂直方向（Ｚ方向）に移動されても、被検部の生体組織に接触させた（くっついた）状態を維持することが可能な接触維持手段を設けている。 - 特許庁

By applying the individual external power supply terminal of an LSI chip to be tested with a 0 V and maintaining the individual external power supply terminal of the other LSI chip in an open state to measure the characteristics of the power supply-side protective diode, connection tests on the common external terminals are performed.例文帳に追加

テストを行う側のＬＳＩチップの個別外部電源端子に０Ｖを印加し、他方のＬＳＩチップの個別外部電源端子はオープン状態として、電源側保護ダイオードの特性を測定することにより、共通外部端子の接続試験を行う。 - 特許庁

The pair of tools for testing piping withstand pressure are provided inside a pipe 4 in a connected state with each other with a connecting component 3, and each of the tools is brought into close contact with an internal surface of the pipe to close a section 6 to be tested for the testing of withstand pressure.例文帳に追加

この１対の配管耐圧試験用治具は、連結部材３で互いに連結された状態で配管４の内部に設置され、その状態でそれぞれが配管の内周面に密接することにより試験対象部６を耐圧試験用に閉止する。 - 特許庁

The gas measuring device has a minute flow generator 5 arranged via an on/off valve communicating with the inside of an object to be tested.例文帳に追加

被試験物の内部に連通する開閉弁を介して配置される微小流量発生器５を備え、その発生器５の内部に、断面形状が長さ方向に略一定とされた微細管５０を設け、この微細管５０の一次側に所定の調整圧力を加えるようにした。 - 特許庁

To reduce signal detection circuits and to perform accurate analysis without an influence of other channel components by solving the problem that the circuit scale is made large-sized by providing signal detection circuits for each channel frequency in order to analyze a signal to be tested which has an unknown channel frequency.例文帳に追加

チャネル周波数が不明の被試験信号を解析するために、チャネル周波数毎に信号検出回路を装備すると回路規模が大きくなってしまうので、信号検出回路を削減し、かつ、他のチャネル成分の影響を受けないで正確に解析する。 - 特許庁

A plurality of featured values p_1 to p_m are extracted from an acquired image for an object to be tested, and a feature extraction image is prepared from each feature value, and a feature extraction array F_e having those plurality of feature extraction images as components is created.例文帳に追加

検査対象物についての取得画像より複数の特徴量ｐ_１〜ｐ_ｍを抽出し、それぞれの特徴量より特徴抽出画像を作成し、これらの複数の特徴抽出画像を成分に持つ特徴抽出配列Ｆ_ｅを作成する。 - 特許庁

To provide a liquid volatility measuring device capable of heating a liquid sample without the use of a wood alloy for heat transfer between a heating block and a sample to be tested by a Noack test to measure the volatility, and a liquid volatility measuring method using the device.例文帳に追加

ノアック試験によって、加熱ブロックと試験される試料との間の熱伝達のためのウッド合金の使用を避けて、液体試料を加熱し、揮発度を測定することができる装置とそれを用いた液体の揮発度測定方法とを提供すること。 - 特許庁

The laser output setting value and the recording pulse setting value when the best results are obtained for each part, are made as test results, and the test results and the model number of the disk 101 are written in a test result storage area 107 as disk information on a tested disk.例文帳に追加

各箇所について最良の結果が得られたときのレーザ出力設定値および記録パルス設定値をテスト結果とし、このテスト結果とディスク１０１の型番とをテスト済みディスクのディスク情報としてテスト結果格納領域１０７に書き込む。 - 特許庁

To prevent a printed board from becoming larger in size due to terminal electrodes for test with which conducting probes are brought into contact when a plurality of printed boards of hybrid integrated circuit devices, etc., is simultaneously manufactured by using a base material substrate and the manufactured printed boards are tested.例文帳に追加

ハイブリッド集積回路装置等のプリント基板２の複数枚を、素材基板１を使用して同時に製作して、そのテストを行う場合に、通電用プローブを接触するテスト用端子電極７を設けることのためにプリント基板が大型化することを防止する。 - 特許庁

In the LSI tester for testing whether an LSI for outputting an analog signal waveform is good or not, at least a part of an arithmetic processing part for processing an output signal from an LSI to be tested (DUT) is configured by logical synthesis based on an FPGA.例文帳に追加

アナログ信号波形を出力するＬＳＩの良否をテストするＬＳＩテスタにおいて、被測定対象ＬＳＩ(ＤＵＴ)の出力信号を処理する演算処理部の少なくとも一部がＦＰＧＡによる論理合成で構成されたことを特徴とするもの。 - 特許庁

Blood is made to permeate into the hemocyte capturing membrane member as it is the whole blood to make blood components except hemocytes permeate into the impregnating member and is chromatographically developed on the carrier, and a complex of the substance to be tested and the first antibody is captured at the capturing section and colored.例文帳に追加

血液を全血のまま血球捕捉膜部材に浸透させ、血球以外の血液成分を含浸部材へ浸透させて担体上にクロマト展開し、検査対象物質と第一抗体との複合体を捕捉部位で捕捉させて呈色させる。 - 特許庁

To provide a material testing apparatus, which can apply sufficient load to micro test specimen collected from an actual machine structure while conducting tests with high accuracy, and has a size-reducible mechanism so that the collected test specimen can be tested on site.例文帳に追加

実機構造物において採取した微小な供試体に対して、高精度に試験することができながら十分な荷重を負荷でき、供試体を採取した現地で試験が行えるように小型化できる機構を有する材料試験機を提供すること。 - 特許庁

In a disk test apparatus 10, first, format conditions (BPI and TPI) in accordance with a rank of a head incorporated in a disk apparatus 20 to be tested is set initially to the disk apparatus 20, and a disk test including an error rate test and a side erase test is performed.例文帳に追加

ディスク試験装置１０は、先ずは、試験対象であるディスク装置２０に組み込まれたヘッドのランクに応じたフォーマット条件（ＢＰＩおよびＴＰＩ）をディスク装置２０に最初に設定し、エラーレート試験やサイドイレーズ試験などを含むディスク試験を実施する。 - 特許庁

In this semiconductor testing device 11, a control part 10 forms a pattern file use frequency table in a pattern file use frequency table memory part 18 and determines the use frequencies of pattern files in the process of testing a preset number of semiconductors to be tested.例文帳に追加

半導体試験装置１１において、制御部１０は、パタンファイル使用頻度テーブル記憶部１８に、パタンファイル使用頻度テーブルを作成し、予め設定された個数分の被試験対象の半導体を試験する過程で、パタンファイルの使用頻度を求める。 - 特許庁

To perform operation even if the terminal voltage of a tested body is zero bolt or near it and also achieve high-speed response by regenerating the electric power wasted as heat in the conventional electronic load and supply it to a commercial power source or the other devices to effectively use the electric power.例文帳に追加

従来電子負荷が熱として無駄に消費していた電力を商用電源や他の機器等に回生して電力の有効利用を図り、被試験体の端子電圧がゼロボルト又はその近傍でも動作するとともに高速応答をも可能とする。 - 特許庁

An electrical connection device includes a probe assembly provided with a plurality of probes each of which is pressured to an electrode of a tested material and a connection piece assembly provided with a plurality of connection pieces contacted to the probes individually and contacted to the conductive part of the substrate individually.例文帳に追加

電気的接続装置は、それぞれが被検査体の電極に押圧される複数のプローブを備えるプローブ組立体と、プローブに個々に当接されると共に基板の導電性部に個々に当接される複数の接続片を備えた接続片組立体とを含む。 - 特許庁

When a return packet monitor section 115 of the test side network terminal 101 detects the return packet, a return packet decision section 116 decides the normality of the network terminal 102 at the side to be tested and the network 103 and informs a monitor control section 113 about the result.例文帳に追加

試験側ネットワーク端末１０１では、返信パケット監視部１１５が返信パケットを検知したならば、返信パケット判断部１１６が被試験側ネットワーク端末１０２およびネットワーク１０３の正常性を判断し、その結果を監視制御部１１３に知らせる。 - 特許庁

In the testing apparatus for the temperature characteristic of the electronic component, the characteristic of the electronic component is tested in a state that the electronic component is maintained at a prescribed temperature, the electronic component is brought into contact with a temperature control unit which is maintained at the prescribed temperature, and the temperature of the electronic component is controlled.例文帳に追加

電子部品を所定温度に維持した状態で該電子部品の特性を試験する電子部品の温度特性試験装置において、前記電子部品を所定温度に維持された温度調節ユニットに接触させ、該電子部品の温度を制御する。 - 特許庁

An error rate detecting part 20 identifies the pattern of a signal level in the measured signal which is inputted via a tested device 50, compares identification pattern data indicating the identification result with a reference pattern held by a reference pattern generating part 10, and then calculates an error rate.例文帳に追加

誤り率検出部２０は、被試験デバイス５０を介して入力した被測定信号の信号レベルのパターンを識別し、その識別結果を示す識別パターンデータと基準パターン発生部１０が保持する基準パターンとを比較してエラーレートを算出する。 - 特許庁

To provide a coupling circuit which is capable of preventing quality degradation, i.e. throughput reduction, of a power-line carrier communication signal transmitted between a device to be tested and an opposite device at a lighting surge breakdown test of an information and communication technology (ICT) device for power-line carrier communication.例文帳に追加

電力線搬送通信用ＩＣＴ機器の雷サージ耐力試験において、被試験装置と対向装置間を伝送される電力線搬送通信信号の品質劣化を生じさせない、すなわちスループットの劣化防止が可能な結合回路を提供する。 - 特許庁

A method of screening a regulator in formation of a complex of prohibitin 2 (PHB2) and a peroxisome proliferator-activated receptor γ/coactivator (PGC1α), including: selecting a material to be tested which promotes or inhibits formation of the complex of the PHB2 and the PGC1α.例文帳に追加

プロヒビチン２（ＰＨＢ２）とパーオキシゾーム増殖因子活性化受容体γ・コアクチベーター（ＰＧＣ１α）との複合体の形成を促進又は阻害する被験物質を選択することを含む、ＰＨＢ２とＰＧＣ１αとの複合体の形成の調節剤のスクリーニング方法。 - 特許庁

An input signal is applied to the input test terminals common to the drivers, and the outputs from the respective output terminals are measured simultaneously, so that both the liquid crystal driver chips are tested simultaneously with one time probing.例文帳に追加

そこで、両液晶ドライバ１４b,１４cに共通する入力テスト端子１７bに入力信号を印加して夫々の出力テスト端子１８a,１８cからの出力を同時に測定して、両液晶ドライバチップ１４b,１４cを１回のプロービングで同時にテストする。 - 特許庁

To solve the problem that a line interface apparatus for converting data into data formats of a plurality of different access point transmission lines and communicating with an access point device via a line interface corresponding to a predetermined transmission format can not be tested during operation.例文帳に追加

データを複数の異なる接続先伝送路のデータフォーマットへ変換を行い、所定の伝送路フォーマットに対応した回線インタフェースを介して接続先装置と通信を行うための回線インタフェース装置の試験を運用中に実行できない問題である。 - 特許庁

In1 a test head 18B, semiconductor devices D in odd-numbered rows and odd-numbered column1s among the semiconductor devices D mounted on the test board 1 after the completion of test in the test head 18A, and then semiconductor devices D in odd-numbered rows and even-numbered columns are tested.例文帳に追加

また、テストヘッド１８Ｂにおいて、テストヘッド１８Ａにおける試験が終了したテストボード１に搭載されている半導体装置Ｄのうち奇数列奇数行の半導体装置Ｄの試験をした後に、奇数列偶数行の半導体装置Ｄの試験を行う。 - 特許庁

The characteristics of the substrate, i.e., the dopant concentration and thickness, are capable of being precisely controlled and tested before the LED device is manufactured so that the fraction of primary light that passes through the substrate without being converted is predictable and controllable.例文帳に追加

基板の性質、すなわちドーパントの濃度及び基板の厚さは、ＬＥＤデバイスを製造する前に正確に制御すること及びテストすることができ、これにより変換されずに基板を通過する一次光の割合を予測し、制御することが可能となる。 - 特許庁

To provide a test device and a test method with which the increase of temperature of a semiconductor device can be suppressed and test can be performed in short time without using any large scale cooling means even if a semiconductor device to be tested is a semiconductor device of high power.例文帳に追加

試験対象とする半導体装置が高パワー半導体装置であっても、大規模な冷却手段を用いることなく、半導体装置の温度上昇を防ぎ、かつ、短時間で試験を行うことのできる試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for detecting an endocrine-disturbing action of a substance to be tested, more particularly a method for detecting an endocrine-disturbing property capable of similarly detecting not only an estrogen- like action but also another hormone-like action or an anti-hormone action.例文帳に追加

被検物質の内分泌撹乱作用を検出する方法、詳しくは、エストロゲン様作用の検出だけに留まらず、他のホルモン様作用または抗ホルモン作用も、同様に検出することができる被検物質の内分泌撹乱性を検出する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test circuit of a semiconductor device in which fault can be recognized even when a switching circuit and a memory are broken down simultaneously, when output from plural memories incorporated in each semiconductor device is switched and tested using the same signal for test.例文帳に追加

同一のテスト用信号を用いて各半導体装置に内蔵されている複数のメモリからの出力を切り替えて検査する際に、切り替え回路とメモリが同時に故障した場合でも、故障の認識が可能な半導体装置のテスト回路を提供する。 - 特許庁

To provide a pile loading test method and its loading test device capable of being tested by using a testing pile in a state to make it possible to actually use, simplifying the constitution, extending the flexibility of the test and contributing to shortening of the testing process and reduction of costs.例文帳に追加

実際に使用される状態の試験杭を用いて試験することができ、構成が簡単で、試験の自由度を広げることができ、更には試験工程の短縮及びコストの削減に寄与する杭の載荷試験方法及び載荷試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test instrument for an optical element package which enable easy, efficient test operation and can perform high-precision testing, evaluation, or measurement by transmitting a high-frequency signal from a test signal generator as it is to an optical element package to be tested.例文帳に追加

試験操作を簡単かつ能率的に行え、試験信号発生器からの高周波試験信号を、そっくりそのまま、試験対象の光素子パッケージに伝送して、高精度の試験評価又は測定ができる、光素子パッケージの試験器具を提供すること。 - 特許庁

To provide a magnetic field shielding device which is easy to bring in and take out a tested object, can observe an internal situation easily, is small and light, and is advanced with a high magnetic field shielding ratio, and a biomagnetic field measuring apparatus and a biomagnetic field measuring method which use the magnetic field shielding device.例文帳に追加

検査対象の搬入、搬出が容易であり、内部の状況を容易に観察でき、小型、軽量で、大きい磁場遮蔽率をもつ高性能な磁場遮蔽装置及びこれを用いる生体磁場計測装置、生体磁場計測方法を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus for detecting an abnormality in water quality which prevents the generation of bubbles in a measuring tank, keeps the temperature of water to be tested within a predetermined range, and therefore prevents a false warning of "abnormality in water quality" from being caused by bubbles and/or low temperatures.例文帳に追加

測定槽内での気泡の発生を防ぎ、しかも被検水の温度を所定範囲に保持するので、気泡や低温などに起因する『水質異常』の誤警報を防止できる異常水質検出装置及び異常水質検出方法を提供する。 - 特許庁

Respective measured chips 109, 110 which are the two respective semiconductor integrated circuit chips tested at the same time on a semiconductor wafer 189 are so provided that the output-terminal pads 111, 112 of the chip 109 and the output-terminal pads 115, 116 of the chip 110 are disposed symmetrically and adjacent to each other.例文帳に追加

半導体ウエハ１８９上で同時に試験される２個の各半導体集積回路チップである各被測定チップ１０９、１１０を、互いに出力端子用パッド１１１、１１２、１１５、１１６側が隣り合うように対称配置して設ける。 - 特許庁