「Tested」に関連した英語例文の一覧と使い方(54ページ目) - Weblio英語例文検索

(8) In determining the order under the preceding paragraph, efforts shall be made to consider fully the international trends regarding the establishment of items to be tested relating to the evaluation of the safety of chemical substances, and other trends regarding the technical standards relating to the evaluation of the safety of chemical substances. 例文帳に追加

８　前項の命令を定めるに当たつては、化学物質の安全性の評価に関する試験の項目の設定についての国際的動向その他化学物質の安全性の評価についての技術上の基準に関する動向に十分配慮するよう努めなければならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

The backscattered beams of the test light produced on the optical cable are received by a receiving part 124 via the light circulator 123 and changes in strength of the received backscattered beams with time are totalized by an analyzing part 125, so that the optical cable is tested based on the result.例文帳に追加

光線路で発生した試験光の後方散乱光は、光サーキュレータ１２３を経て受光部１２４により受光されて、解析部１２５により、受光された後方散乱光の強度の時間変化が積算されて、この積算結果に基づいて光線路が試験される。 - 特許庁

To solve the problem that when a display having high resolution called as an XGA is to be tested, since the clock frequency of data becomes a very high speed such as becoming 65 MHz, it is a problem to provide a general purpose automatic display signal deciding device which is of inexpensive and which is capable of automatically and surely deciding till a display having high resolution.例文帳に追加

ＸＧＡと呼ばれる高解像度の表示をテストする場合、データのクロック周波数が６５ＭＨｚと非常に高速になるため、安価で尚且つ高解像度の表示まで自動でかつ確実に判定できる汎用の表示信号自動判定装置を提供することである。 - 特許庁

Electrical characteristics are tested by supporting the back surface of a semiconductor element 11 with a supporting part 16 having a distorted surface, bringing a large number of probes (contact pins 12 in Fig.2) into press-contact with the surface having electrodes disposed thereon of the semiconductor element 11, and distorting the shape of the distorted surface of the semiconductor element 11.例文帳に追加

歪曲表面を有する支持部１６により半導体素子１１の裏面を支持して、半導体素子１１の、電極が配置された表面に多数の探針（図２では、コンタクトピン１２）を圧接して、半導体素子１１を歪曲表面の形状に歪曲させて、電気特性を試験する。 - 特許庁

The images photographed by means of the two image pickup devices are processed by means of an image processor 11, and existence of a defect is determined if a part colored in black or white is detected in the tested object S, and subsequently, removal as a defective item is carried out by means of a defective item removing device 12.例文帳に追加

２つの撮像装置によって撮影された被検査物Ｓの映像は画像処理装置１１によって処理され、被検査物Ｓに黒色または白色の着色部分が検出されると欠陥があると判断され、不良品除去装置１２によって不良品として除去される。 - 特許庁

A part (a part before testing) is taken from the tray TR of a second tray storing part 12 or the like (a first tray placing part) by a head 23 of a P & P robot 20, and the tested part is stored in a tray Tr of a third tray storing part 13 or the like (a second tray placing part) by the head 23.例文帳に追加

Ｐ＆Ｐロボット２０のヘッド２３により第２トレイ収納部１２等（第１トレイ載置部）のトレイＴｒから部品（試験前の部品）を取出す一方、試験後の部品をヘッド２３により第３トレイ収納部１３等（第２トレイ載置部）のトレイＴｒに収納するようにした。 - 特許庁

The contact has a contact part on one end side to be in contact with the electrodes of the body to be tested; a contact part on the other end side to be in contact with electrodes on the main body side; and a ring-like elastic body provided between the contact part on one end side and the contact part on the other end side for elastically supporting them.例文帳に追加

前記接触子は、前記被検査体の電極に接触する一端側接触部と、本体側電極に接触する他端側接触部と、これら一端側接触部及び他端側接触部の間に設けられこれらを弾性的に支持する環状弾性体部とを備えた。 - 特許庁

The circuits in such a configuration are connected in parallel as many as the number of capacitors to be tested, the terminal of each circuit connecting the anode of the diode 4 and a terminal connecting the cathode side of the capacitor 2 while sandwiching each measuring terminal 3b are used as power supply terminals, and a test voltage is impressed by a power source 5.例文帳に追加

この構成の回路を、被試験コンデンサ個数分並列に接続し、各回路におけるダイオード４のアノードを接続した端子と、コンデンサ２の陰極側を各測定端子３ｂを挟んで接続した端子とを電源端子とし、電源５により試験電圧を印加する。 - 特許庁

When an imaging lens is moved to show the state where the imaging magnification of the fundus image Pr of the eye to be tested E is changed, and the image is enlarged from (a) to (b), a mark M1 is matched to about the center of a macular part Po of the eye in (a), but the macular part Po is shifted from the mark M1 in (b).例文帳に追加

結像レンズを移動させて、被検眼Ｅの眼底像Ｐｒの結像倍率を変化させた状態を示し、（ａ）から（ｂ）へと拡大した場合に、（ａ）ではマークＭ１と被検眼黄班部Ｐｏの略中心が一致しているが、（ｂ）ではマークＭ１から黄班部Ｐｏがずれたことになる。 - 特許庁

When a pattern formed on a specimen is tested by using a scanned electron microscope, and optically aligning the specimen put on a specific position of the scanned electron microscope, light used for alignment is obliquely cast on the specimen and alignment is performed by using the obtained image information of the pattern.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡を用いて試料に形成されたパターンを検査において、試料を走査型電子顕微鏡の所定の位置に載置する光学的なアライメントを行う際に、アライメントに用いる光を試料に斜めから照射して、これにより得られたパターンの画像情報を用いて行う。 - 特許庁

A burn-in pattern generating part 11 generates a control signal such as an RAS and CAS supplied to the semiconductor device of the tested object based on the flies 21, 23, generates an address signal based on the file 22, and generates the data signal based on the file 24.例文帳に追加

バーンインパターン発生部１１は、上記ファイル２１，２３に基づき被試験対象となる半導体装置に与えられるＲＡＳ，ＣＡＳ等のコントロール信号を生成し、上記ファイル２２に基づきアドレス信号を生成し、上記ファイル２４に基づきデータ信号を生成する。 - 特許庁

The receptor conformation sensing assay comprises reacting an estrogen receptor with the chemical substances to be tested, adding a sensing antibody with the 12 helix of the estrogen receptor as an antibody to the reaction product and detecting the binding ratio of the antibody to the 12 helix of the estrogen receptor.例文帳に追加

女性ホルモン受容体と被検化学物質とを反応させた後、女性ホルモン受容体の第１２へリックスを抗原とするセンシング抗体を添加して、前記抗体の女性ホルモン受容体第１２へリックスに対する結合割合を検出する受容体コンホメーションセンシングアッセイ。 - 特許庁

The measuring instrument body 20 is transferred to the tested lens 100 in the predetermined direction, a focusing state by the AF sensor 23a at a position where the contrast of the contrast image on the area sensor 22 becomes maximum is detected and the detected focusing state is measured and stored as the focal position correction amount.例文帳に追加

被検レンズ１００に対して測定装置本体２０を所定方向に移動し、エリアセンサ２２上のコントラスト像のコントラストが最大になる位置でのＡＦセンサ２３ａによる焦点調節状態を検出し、これを焦点位置補正量として測定して記憶する。 - 特許庁

The identification information of an optical fiber to be tested included in an optical cable 10 is transmitted to a station communication device 50 through a specific optical fiber 18 for communication and a station optical switch 71 from a communication device 30 located on the side of a fusion part and is received by a system control part 81.例文帳に追加

光ケーブル１０に含まれる被試験光ファイバの識別情報は、融着部の側にある通信装置３０から、特定の通信用光ファイバ１８および局の光スイッチ７１を経て、局の通信装置５０へ送信され、システム制御部８１により受信される。 - 特許庁

This screening method for a useful yeast having an aimed phenotype includes the step of leading mutation for a tested yeast and the step of culturing the yeast after mutation induction in the presence of an organic acid which can diffuse into the yeast cell in its proton undissociated state.例文帳に追加

本発明は、目的とする表現型を有する酵母のスクリーニング方法であって、被験酵母に変異を誘導する工程、及び、前記変異誘導後の酵母を、プロトン非解離状態で酵母細胞内に拡散し得る有機酸の存在下で培養する工程を含む方法である。 - 特許庁

When video signals are transmitted through component signals from the tuner to the monitor and the harness connection is checked and tested for the bathroom television, the tuner outputs signals to the monitor for test display using at least blue or red.例文帳に追加

コンポーネント信号によってチューナ部からモニタ部に対して映像を送信するものにあっては、浴室に設置した際のハーネスの接続状態をチェックするテスト時に、モニタ部に、青と赤の内の少なくとも一方の色彩によるテスト用表示をさせる信号をチューナ部からモニタ部に出力するようにした。 - 特許庁

Thereafter, the memory circuits 4 are tested on the wafer 2 and, in case either one of the memory circuits 4 on both sides of one logic circuit 6 is defective, the semiconductor chip of one memory IC is formed by joining the other defectless memory circuit 4 with the logic circuit 6.例文帳に追加

その後、すべてのメモリ回路４に対してウェハー２上で試験を行い、ロジック回路６を挟む２つのメモリ回路４のうちの一方が不良品であった場合には、もう一方の良品のメモリ回路４とロジック回路６とを組にして１つのメモリＩＣの半導体チップを形成する。 - 特許庁

To provide a tester which can achieve high precision measurement of discrete static current consumption properties, even if two or more semiconductor integrated circuits are tested simultaneously on one wafer for their static current consumption.例文帳に追加

半導体集積回路装置の静的消費電流テストを、一枚のウェーハ上で、複数の半導体集積回路装置で同時に行っても、半導体集積回路装置個々の静的消費電流特性を、高い精度で測定できる半導体集積回路装置の検査装置を提供すること - 特許庁

In this evaluation method of the anion-exchange resin for testing an ion exchange capacity relative to the anion-exchange resin taken out from ion exchange equipment, after polystyrene sulfonic acid having a molecular weight below 3,000 is adsorbed onto the anion-exchange resin taken out from the ion exchange equipment, the ion exchange capacity is tested.例文帳に追加

イオン交換装置から取り出されたアニオン交換樹脂についてイオン交換能を試験するアニオン交換樹脂の評価方法において、イオン交換装置から取り出されたアニオン交換樹脂に分子量３０００以下のポリスチレンスルホン酸を吸着させた後、イオン交換能を試験する。 - 特許庁

To specify a cause of damage in an evaluation after test using the recording operation evaluation apparatus of the magnetic recording medium of a head load/unload system, by avoiding the mixture of the damage of a head on a medium to be tested during loading and unloading.例文帳に追加

本発明の課題は、ヘッドロード・アンロード方式の磁気記録媒体の記録動作評価装置において、被試験媒体上におけるヘッドの導入（ロード）動作時の損傷と待避（アンロード）動作時の損傷の混在を避け、試験後の評価において損傷原因の特定を可能にすることにある。 - 特許庁

To solve a problem that when a third-generation portable telephone is tested, the invasion of an electromagnetic wave from the outside or the leakage of the electromagnetic wave from inside influences the accuracy of measurement whereby a pressing force is necessarily increased and a gap is necessarily reduced in a conventional electromagnetic wave shielding method, however, a locking mechanism becomes complicated in this case.例文帳に追加

第３世代の携帯電話機を試験する場合、外部からの電磁波の侵入又は内部からの電磁波の漏洩が測定精度に影響し、従来の電磁波シールド方法では、さらに押圧力を上げて隙間を少なくする必要があるが、ロック機構が複雑になる。 - 特許庁

Information transmitted from the transmitter of another adjacent vehicle is evaded from being received, and identification information transmitted from the transmitter of its own vehicle is received by a receiving device 40, and compared with identification information preliminarily stored in a memory 37 so as to be tested.例文帳に追加

受信装置４０においては、隣接する他車両の送信装置から送信された情報が受信されることがなく、自車両の送信装置から送信される識別情報が受信され、メモリ３７に予め記憶されている識別情報と比較することで検査が行われる。 - 特許庁

The tape library test device transfers a medium sequentially from the top cell to the final cell on the basis of cell information that is predetermined in a tape library device to be tested, and measures a medium conveyance time required for each inter-cell transfer of the medium.例文帳に追加

テープライブラリ試験装置は、試験対象のテープライブラリ装置において予め定義されるセル情報に基づいて、先頭セルから順次媒体を最終セルまで移動させて、各セル間ごとに、媒体を移動させるのに要した時間である媒体搬送時間を計測する。 - 特許庁

A test order setting part 62 provided in the tester 36 calculates a failure rate for each test item based on a plurality of tested results obtained by testing a plurality of solid-state imaging devices, and rearranges a test order of each test item in order of a high failure rate to reset the test pattern.例文帳に追加

テスタ３６に設けられた検査順序設定部６２は、複数の固体撮像素子を検査することによって得られた複数の検査結果を基に、検査項目毎の不良率を算出して、この不良率の高い順に各検査項目の検査順序を並べ替え、テストパターンを再設定する。 - 特許庁

To provide a method for decreasing eluviation of heavy metals, especially lead, As and Cd in solid waste substance contaminated by heavy metals and can be classified as nonhazardous substances in the case where tested in a natural or simulated water eluviating condition.例文帳に追加

自然の又は模擬水溶脱条件下で試験した場合に廃棄物が重金属を溶脱せず、非有害物として分類され得るように、重金属で汚染された固体廃棄物における重金属、特に鉛、ＡｓおよびＣｄの溶脱を減少させる方法を提供すること。 - 特許庁

This method for detecting a material expressing an ecdysteroid activity is to measure expression of a reporter gene by bringing a compound to be tested to coexist with culture cells derived from lepidopterans containing a reporter plasmid DNA having >3 copies of ecdysteroid-responsive arrangements, a promoter and a firefly luciferase gene.例文帳に追加

３コピー以上のエクジステロイド応答配列、プロモーターおよびホタルルシフェラーゼ遺伝子を有するレポータープラスミドDNAを含有する鱗翅目昆虫由来継代培養細胞に被検化合物を共存させ、レポーター遺伝子の発現を測定することによりエクジステロイド活性物質を検出する方法を開示する。 - 特許庁

Concretely, the validity of a material to be tested as the treating agent of the bone or cartilage diseases is evaluated based on the effects on the expressed amount or activity of at least ≥1 glutamic acid transmission signal molecule selected from a glutamic acid transporter, glutamic acid receptor and serine transporter, or serine racemase.例文帳に追加

具体的には、グルタミン酸トランスポーター、グルタミン酸レセプター、セリントランスポーターから選ばれる少なくとも１つ以上のグルタミン酸伝達系シグナル分子、あるいはセリンラセマーゼの発現量又は活性に対する作用に基づいて、被験物質の骨・軟骨疾患治療薬としての有効性を評価する。 - 特許庁

In the test method of the semiconductor wafer, when the wafer is tested, a semiconductor device in which overcurrent flows is detected among a plurality of semiconductor devices formed on the semiconductor wafer, and then power supply to the semiconductor device in which the overcurrent flows is shielded automatically.例文帳に追加

ここに開示された半導体ウェーハ及びそれのテスト方法は、テスト時、半導体ウェーハ上に形成された複数個の半導体装置のうち過電流が流れる半導体装置を検出し、 過電流が流れる半導体装置の電源供給を自動的に遮断する。 - 特許庁

To enable sure application of test signals from desired signal levels, even when applying test signals with low amplitude to an object to be tested, by especially applying a test device of integrated circuits formed on a semiconductor wafer, with respect to the test device.例文帳に追加

本発明は、試験装置に関し、特に半導体ウエハ上に形成された集積回路の試験装置に適用して、小さな振幅により試験信号を試験対象に印加する場合でも、確実に所望する信号レベルにより試験信号を印加することができるようにする。 - 特許庁

Values of ≧1.5 - <2.3 for erythema/eschar or for edema in at least 2 of 3 tested animals from grading at 24, 48 and 72 hours after patch removal or, if reactions are delayed, from grading on 3 consecutive days after the onset of skin responses (when not included in the irritant category above).例文帳に追加

試験動物3匹のうち少なくとも2匹で、パッチ除去後24、48および72時間における評価で、または反応が遅発性の場合には皮膚反応発生後3日間連続しての評価結果で、紅斑／痂皮または浮腫のスコア値が≧1.5-＜2.3である（上述の刺激性区分には分類されない場合） - 経済産業省

We employed five indices in our analysis: the entry rate; the exit rate; the Tokyo Stock Price Index (TOPIX); the lending rate 21); and the index of wages. We statistically tested causal connections (Granger causality test) between indices by applying the vector auto regression (VAR) model to long-term chronological data for each index.例文帳に追加

分析対象として、「開業率」、「廃業率」、「東証株価指数」、「貸出金利」、「賃金指数」という5種類の指標を採用し、各々の長期時系列データを用いてVARモデルを適用することで、各指標間の因果関係を統計的に検証した（Grangerの因果性テスト）。 - 経済産業省

Furthermore, it is necessary to provide information about hepatitis to examinees to ensure that all those tested understand their hepatitis test results, and all health care workers involved in hepatitis treatment should be provided with the opportunity to receive training to ensure they have up-to-date knowledge regarding hepatitis testing.例文帳に追加

さらに、肝炎ウイルス検査の結果について、受検者各自が正しく認識できるよう、肝炎の病態等に係る情報提供を行うとともに、肝炎医療に携わる者に対し、最新の肝炎ウイルス検査に関する知見の修得のための研修の機会を確保する必要がある。 - 厚生労働省

It was created by artificially hybridizing 'Yamada Ear' and 'Dwarf Watashibune' at Hyogo Prefectural Agricultural Experiment Station (now Hyogo Prefectural Agriculture, Forestry and Fishery Technology General Center) in Yashiro Town, Kato County, Hyogo Prefecture (present-day Kato City) in 1923, and its adaptability to the production areas was tested in sake rice production regions (presently, sake rice testing areas) in 1928. 例文帳に追加

1923年に兵庫県加東郡社町（現：加東市）の兵庫県立農事試験場（現：兵庫県立農林水産技術総合センター）で「山田穂」「矮性渡船」を人工交配させて誕生し、1928年に酒造米生産地（現酒米試験地）で産地適応性の試験が行われた。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

A start test program selection means 21 started from an input device 1 decides a test program able to be tested from information stored in a device mount information storage section 31, obtains scheduling information from a start information storage section 32 for parallel execution to generate start information.例文帳に追加

起動試験プログラム選択手段２１は、入力装置１から起動を受けると、装置実装情報記憶部３１の情報から起動可能な試験プログラムを決定し、起動情報記憶部３２から並列実行するためのスケジューリング情報を得て、起動情報を作成する。 - 特許庁

A control signal outputted to command a test from communication equipment arranged at the receiving point side of the communication path to be tested is received and decoded by an installation type testing device, and a control instruction corresponding to the control signal is transmitted to a communication controller arranged at a transmitting side.例文帳に追加

被試験通信路の受信ポイント側に配置された通信機から試験を指令するために発出された制御信号は、設置型試験装置により受信解読され、その制御信号に対応する制御命令が送信側に配置された通信制御装置に伝達される。 - 特許庁

To provide a facsimile test system capable of improving examination efficiency, and reducing examination cost, by automatically performing an operational direction, a measurement and the like to a facsimile device, without needing manual operation at the side of a facsimile device to be tested and also a special device for examination.例文帳に追加

被試験装置であるファクシミリ装置側で人の操作が不要で、且つ試験用の特別な装置を必要とせず、ファクシミリ装置に対する動作指示、測定等を自動的に行い、試験効率の向上と試験コストの低減を図るファクシミリ試験システムを提供すること。 - 特許庁

A pulse current amplitude value applied to the write element of a magnetic head to be tested is set to an un-saturation state current value with which a magnetic field having magnitude in which magnetic moment included in one bit region does not become a saturation state is generated, test data is written, and asymmetry A_asym is measured.例文帳に追加

被試験磁気ヘッドのライト素子に印加するパルス電流振幅値を１ビット領域に含まれる磁気モーメントが飽和状態とならない大きさの磁界を発生させる未飽和状態電流値に設定してテストデータを書き込み、非対称性Ｂ_asymを計測する。 - 特許庁

Then, the surface of the object to be tested 2 and the ultrasonic probe 1 are adhered tightly via a third metal (silver sheet 3c), which is a different material from the first and second metals which form films thereon, and a predetermined temperature and load are applied to this adhered portion for a certain period of time, and then the load is removed.例文帳に追加

その上で、被検査体２の面及び超音波探触子１に成膜した第１及び第２の金属とは異なる材質の第３の金属（銀シート３ｃ）を介して密着させ、この密着部に所定の温度及び荷重を一定時間印加した後、荷重を開放する。 - 特許庁

To provide a method for evaluating steering stability which enables the precise evaluation of the steering stability of a tire mounted to a vehicle by fluctuating the friction of a damper of the vehicle to which the tire to be tested is mounted, in a tire steering stability test.例文帳に追加

タイヤの操縦安定性能試験において、被検体のタイヤを装着した車両のダンパーのフリクションを変化させて車両に装着されたタイヤの操縦安定性能の評価を精度良く行うことを可能にする操縦安定性能評価方法を提供する。 - 特許庁

In the phase noise-measuring apparatus that has a PLL circuit and an analysis section for measuring the phase noise of a device to be tested by a PLL detection method, the noise difference of the phase noise by a voltage- controlled oscillator in the PLL circuit is stored at the analysis section in advance to correct a phase noise measurement value.例文帳に追加

ＰＬＬ回路と解析部とを備えて、ＰＬＬ検波法により被試験デバイスの位相雑音を測定する位相雑音測定装置において、前記ＰＬＬ回路の電圧制御発振器による位相雑音の誤差分を解析部に予め記憶して、位相雑音測定値を補正する。 - 特許庁

Since the test circuit is provided on the other test wafer 210 separated from the test object wafer 10 on 1 to 1 of the test object chip CP, a number of the chips CP can be simultaneously tested in parallel during the wafer test without increasing the area of the test object chip CP.例文帳に追加

試験回路を、試験対象チップＣＰと１対１に、試験対象ウェハ１０とは別のテストウェハ２１０上に備えるので、試験対象チップＣＰの面積を増加させることなく、ウェハテスト時において、同時に多数個のチップＣＰを並列にテストすることができる。 - 特許庁

Scores to which peak intensity is added are determined by searching for paths on the basis of a peak list in which the mass and intensity of peaks derived from peptides to be tested are collected to specify each amino acid as selecting paths having large scores and tracing them backward and determine amino acid sequences.例文帳に追加

そして、被検ペプチドに由来するピークの質量と強度とを集めたピークリストに基づいて経路探索を実行することでピーク強度を加算したスコアを求め、スコアの大きなものを選択して経路を逆に辿りながら各アミノ酸を特定し、アミノ酸配列を求める。 - 特許庁

When an operator inputs via a keyboard 6 the application to be tested and a batch file, the CPU 7a of an IC card test apparatus 3 reads from an HDD 8 a profile and a batch file that correspond to the designated application A, and creates a batch file that is characteristic of the application A.例文帳に追加

オペレータによってキーボード６を介してテストを実施するアプリケーションとバッチファイルが入力されると、ＩＣカード試験装置３のＣＰＵ７ａはＨＤＤ８から指定されたアプリケーションＡに対応するプロファイル、バッチファイルを読み出し、アプリケーションＡ固有のバッチファイルを作成する。 - 特許庁

The high speed memory interfaces of the semiconductor devices are tested in such a manner that same signals of bidirectional high speed signal line are connected with each other between two semiconductor devices having the high speed memory interfaces and one semiconductor device is caused to perform a writing operation while the other semiconductor device is caused to perform a reading operation.例文帳に追加

高速メモリインタフェースを持つ２つの半導体装置間において、双方向高速信号線の同じ信号同士を接続し、一方の半導体装置は書き込み動作をさせ、他方の半導体装置は読み出し動作させてこれら半導体装置の高速メモリインタフェースを試験する。 - 特許庁

Meanwhile, a second authentication apparatus using the vein pattern of the finger is provided with a placing surface (8) of the object to be tested in which a position (8a) where the distal end side (3a) of the finger is placed is higher than a position (8b) where the proximal end side (3b) of the finger is placed.例文帳に追加

一方、本発明にかかる、指の静脈パターンを利用した、第二の認証装置は、検査対象となる指(3)の先端側(3a)が置かれる位置(8a)が、該指の基端側(3b)が置かれる位置(8b)よりも高くなっている検査対象載置面(8)を備えていることを特徴とする。 - 特許庁