「Tested」に関連した英語例文の一覧と使い方(53ページ目) - Weblio英語例文検索

A crystal resonator is assembled (step 1), characteristic including a frequency temperature characteristic is subsequently tested (step 2), the frequency temperature characteristic of the crystal resonator is made a data code, marking is made at a prescribed position (step 3), and the crystal resonator is temporarily placed at the pocket of a guide plate (step 4).例文帳に追加

水晶振動子の組み立て後（ステップ１）、周波数温度特性を含む特性の検査を行い（ステップ２）、水晶振動子の周波数温度特性をデータコード化して、所定の位置にマーキングし（ステップ３）、ガイド板のポケットに水晶振動子を仮置きする（ステップ４）。 - 特許庁

The such-converted data signal and clock are performed data process by a main circuit 4, whereby when operations of the main circuit 4 are tested by a tester, a various-purpose logic tester operating in synchronism with the clock of a frequency f/N is directly connected to the main circuit 4, thereby inspecting it.例文帳に追加

このように変換されたデータ信号とクロックを主回路４でデータ処理を行うようにすることで、該主回路４の動作をテスタで検査するとき、周波数ｆ／Ｎのクロックに同期して動作する汎用のロジックテスタを主回路４に直接接続して検査することができる。 - 特許庁

The terminal that is used in a test set and attachable to a load substrate of a testing device has a first end part for forming a large number of contact positions, and connects at least one lead of a tested device electrically to a corresponding metal conductive wire on the load substrate.例文帳に追加

テストセットにおいて使用され、試験装置のロード基盤に取付け可能な端子は、多数の接触位置を形成する第１の端部を有し、試験される装置の少なくとも１つのリードを、ロード基板上の対応する金属製の導電線に電気的に接続する。 - 特許庁

A test container is fitted onto a section to be tested on the lining in the water, an ejector is actuated by a negative pressure generating unit to drain the water in the test container and keep the negative pressure condition in the test container, and a foaming liquid injection unit is actuated to squirt a foaming liquid at the lining face of the test container.例文帳に追加

水中ライニングの検査対象部分に検査容器を装着し、負圧発生ユニットによりエゼクタを作動させ、検査容器内の水を排出し、検査容器内を負圧状態に保ち、発泡液注入ユニットを作動し、検査容器内のライニング面に発泡液を噴射する。 - 特許庁

This device is provided with a test mode switching circuit 4 in which sense amplifier circuits 5a-5d in all operation blocks 2a-2d are activated independently of block selecting signals BS1-BS4 at the time of test mode where it is tested whether an operation current of a semiconductor memory 1 satisfies a standard requirement or not.例文帳に追加

半導体記憶装置１の動作電流が規格を満足しているか否かをテストするテストモード時に、外部から入力されるブロック選択信号ＢＳ１〜ＢＳ４に関係なく、すべての動作ブロック２ａ〜２ｄにおけるセンスアンプ回路５ａ〜５ｄを活性化させるテストモード切換回路４を備えた。 - 特許庁

The incident angle of the parallel light which is set at an intermediate position of the steel sheet 1 in both width and length directions, is determined from a shape of the above minute irregular flaw being an object to be detected in the width direction, a shape in the length direction and a shape of the body to be tested.例文帳に追加

平行光の入射角度は、鋼板１の長さ方向、幅方向の中間位置とされ、検出の対象となる前記微小凹凸疵の前記幅方向に沿った方向の形状、前記長手方向に沿った方向の形状、及び被検査体の形状から決定される - 特許庁

The invention relates to the method for detecting carcinoma comprising estimation of the presence of the carcinoma based on deletion or not or insertion or not of an A in the A10 region comprising ten sequential A on a 10nt to 19nt position in exon 3 of RFC 3 gene in a specimen separated from a person to be tested.例文帳に追加

癌の検出方法は、被検者から分離された被検試料中のRFC3遺伝子のエクソン３中の10ntから19ntの位置にある１０個の連続するAから成るA10領域中のAが１個欠失しているか否か又はAが１個挿入されているか否かに基づき癌の有無を予測することを含む。 - 特許庁

This method for discriminating the bacteria by their biochemical properties is provided by culturing a specimen to be tested, making a colony growing on a medium in contact with a substrate substance, holding them under an atmosphere of ≥40°C temperature and detecting the signals derived from substances generated from the above substrate substance by the enzymatic activity of the bacteria.例文帳に追加

生化学的性状による細菌の鑑別において、被検試料を培養して培地上に発育した孤立集落を基質物質と接触させ、４０℃以上の雰囲気に保持し、細菌が有する酵素活性により前記基質物質から生成した物質由来のシグナルを検出する。 - 特許庁

A testing device 1 in the fault information tracing device 10 is constituted of an execution format program 11, an execution history collection part 12 for forming history information, a trace memory 13 for storing the history information, and a debugging monitor 14 for making the contents stored in the memory 13 dumped to a device to be tested 2.例文帳に追加

本発明に係る障害情報トレーサ装置１００の試験装置１は、実行形式のプログラム１１、履歴情報を編成する実行履歴収集部１２、履歴情報を記憶させるトレースメモリ１３、その記憶内容を被試験装置２にダンプさせるデバッグモニタ１４から構成した。 - 特許庁

Overlapping of the alternating voltage is applied by inserting an alternating power source 50 in series between a low-voltage side terminal 22 of a direct current power source 20 to generate the direct current voltage and an earth point, or between a low-voltage side conductor of the electric power equipment to be tested and the earth point.例文帳に追加

交流電圧の重畳は、直流電圧を発生させる直流電源２０の低圧側端子２２と接地点との間、または被試験電力機器の低圧側導体と接地点との間に交流電源５０を直列に挿入することによって行う。 - 特許庁

A life of the dropping weight body 11 is prolonged because the collision part 13 constituting the dropping weight body 11 and colliding with the body 10 to be tested is arranged separately in the lower part, an impact test cost is thereby restrained from getting high, and an operation rate of the dropping weight type impact testing machine is also restrained thereby from getting low.例文帳に追加

落錘体１１を構成する、被試験体１０に衝突する衝突部１３を、支持部１２の下部に分けて配置するので、落錘体１１の延命を図ることができ、これにより、衝撃試験コストの上昇や落錘衝撃試験機の稼働率の低下をいずれも抑制できる。 - 特許庁

In the method of manufacturing the plasma display module, a PDP 10 is formed, and then protection members 20 are temporarily fixed to at least four corners of a panel peripheral edge, and the PDP 10 is tested in the state that a chassis 40 of the module power supply unit provided with a driving circuit and a power source is temporarily fixed to the temporarily fixed protection members 20.例文帳に追加

プラズマディスプレイパネル１０の形成後、パネル周縁の少なくとも四隅に保護部材２０を仮固定し、仮固定された保護部材２０に駆動回路および電源を備えるモジュール電源ユニットのシャーシ４０を仮固定した状態で前記プラズマディスプレイパネル１０の試験を実施する。 - 特許庁

The probes include first arm parts inserted into the insert slots formed in the side surface of the support body, second arm parts inserted into the insert slots formed in the under surface of the support body, a first terminal part connected to the printed board, and a second terminal part connected to a tested body.例文帳に追加

プローブは、支持体の第１側面に形成された第１挿入スロットに挿入される第１アーム部と、支持体の第１下面に形成された第１挿入スロットに挿入される第２アーム部と、プリント基板に接続される第１端子部と、被検体に接続される第２端子部とを含む。 - 特許庁

The system is provided with both a current measuring part for measuring output of an object to be measured and a current generating part provided between the current measuring part and a path of the object to be measured for providing a reverse current based on an expected value of output of the object to be tested.例文帳に追加

本装置は、被試験対象の出力を測定する電流測定部と、この電流測定部と被試験対象の経路間に設けられ、被試験対象の出力の期待値に基づく反転電流を与える電流発生部とを備えたことを特徴とする装置である。 - 特許庁

A flame-retardant composition contains a polymer base material, the non-halogenated flame-retardant material, and a synergist which exists in a concentration about 1 wt% in the composition and does not substantially contain the metal oxide, wherein the composition achieves at least the UL combustibility rating of V-2, when tested under the UL test condition.例文帳に追加

ポリマーベース材料、非ハロゲン化難燃性材料、及び組成物の約１wt％の濃度で存在し、金属酸化物を実質的に含まない相乗剤を含み、ＵＬテスト条件により試験を行った場合に少なくともＶ−２の易燃性等級を達成する難燃性組成物。 - 特許庁

The method for detecting a bacterium having activity of discharging a quinolone-based antimicrobial agent from bacterial cells comprises subjecting a bacterial sample to be tested to a PCR reaction or a Southern blot hybridization method and detecting the presence of qep gene (SEQ ID NO: 1).例文帳に追加

本発明はさらに、被検細菌サンプルに対してPCR反応またはまたはサザンブロットハイブリダイゼーション法を行って、qep遺伝子（SEQ ID NO: 1）の存在の有無を検出することによる、細胞内からキノロン系抗菌薬を排出する活性を有する細菌の検出方法もまた提供する。 - 特許庁

To provide a detection array capable of reducing an amount of reagents required in respective working processes, performing treatment without causing any uneven reaction in any position of the detection array, and stably treating a great number of tested substances easily at once without any reaction variation.例文帳に追加

各作業工程で必要とされる試薬を少量化し、且つ検出用アレイの何れの位置においても反応むらを生じることなく処理を実施でき、また、多くの数量を一度に簡便に且つ反応むらなく安定して処理できる検出用アレイを提供する。 - 特許庁

A burn-in board includes a plurality of programmable logic devices 150 which are capable of changing a circuit configuration on the basis of configuration data, and a plurality of sockets SK which are connected to one of the plurality of programmable logic devices 150 and on which devices DUT to be tested are mounted.例文帳に追加

バーンインボードは、コンフィギュレーションデータに基づいて回路構成を変更することができる複数のプログラマブルロジック装置１５０と、複数のプログラマブルロジック装置１５０のいずれか１つに接続され被試験デバイスＤＵＴが装着される複数のソケットＳＫとを備える。 - 特許庁

To provide a probe card capable of performing a testing process of a plurality of semiconductor elements (for instance, 4 elements) with same performance as that when one element is tested to a plurality of semiconductor elements formed on a semiconductor substrate; and to provide a testing method thereof.例文帳に追加

本発明によれば、一つの半導体基板に形成された複数個の半導体素子に対し、１個測定の場合と同等の性能をもって、複数個（例えば４個）同時に試験処理を行うことができるプローブカード及び試験方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

When the semiconductor device 30 is tested, a calibration data acquiring circuit 18 measures the jitter width of each test signal, controls the delay amount of each comparison variable delay circuit 12 and regulates the skew such that the position at a specific ratio of the jitter width overlaps among the test signals.例文帳に追加

半導体装置３０の試験に際して、キャリブレーションデータ取得回路１８は、各テスト信号のジッタ幅を測定し、各比較可変遅延回路１２の遅延量を制御して、各テスト信号のジッタ幅の特定比率位置が信号間で重なるようにスキュー調整を行う。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit, which can achieve high precision measurement of discrete static current consumption properties, even if two or more semiconductor integrated circuits are tested simultaneously on one wafer for their static current consumption.例文帳に追加

半導体集積回路装置の静的消費電流テストを、一枚のウェーハ上で、複数の半導体集積回路装置で同時に行っても、半導体集積回路装置個々の静的消費電流特性を、高い精度で測定できる半導体集積回路装置を提供すること。 - 特許庁

The invention relates to the equipment for differentiation of the variety of rice by hybridization of a captured oligonucleotide with a nucleic acid derived from the rice to be tested comprising immobilized oligonucleotide, etc., on a substrate for detecting a polymorphism in a specific base sequence.例文帳に追加

捕獲オリゴヌクレオチドと被検米試料由来の核酸とのハイブリダイゼーションにより、米の品種を識別するための器具であって、特定の塩基配列における多型を検出するためのオリゴヌクレオチド等が、支持体に固定化されてなることを特徴とする米の品種識別器具。 - 特許庁

To provide a method for simply analyzing, in a high sensitivity, L-methionine contained in a tested sample by using a function-modified phenylalanine dehydrogenase having substrate specificity to L-methionine and a method capable of reducing measurement errors caused by an amino acid other than L-methionine occurring in a blood sample.例文帳に追加

L-メチオニンに対して基質特異性を有する改変型フェニルアラニン脱水素酵素を用いた、被検試料に含まれるL-メチオニンの高感度かつ簡便な分析方法、及び血液試料に存在するL-メチオニン以外のアミノ酸による測定誤差を抑制できる方法を提供する。 - 特許庁

The sustained release medicinal composition contains tamsulosin or its pharmaceutically permissible salt and a support for the sustained release medicinal composition and has about 20-85% elution of tamsulosin when tested according to the second method of the Japanese pharmacopeia elution method (paddle method:200rpm).例文帳に追加

タムスロシンまたはその製薬学的に許容される塩、および徐放性医薬組成物用担体を含有し、日本薬局方溶出試験法第二法（パドル法：200rpm）により試験を行うとき、溶出開始7時間後のタムスロシン溶出率が約20%〜約85%であることを特徴とする徐放性医薬組成物。 - 特許庁

In analyzing a color material composition, a chromatography process of imposing a tested sample containing the color material composition onto a chromatography device for holding a substrate for separation containing cellulosic material and metallic oxide material and performing chromatography with a moving phase of liquid is performed.例文帳に追加

色材組成物を分析するのにあたり、色材組成物を含有する被験試料を、セルロース系材料と金属酸化物系材料とを含有する分離用基材を保持するクロマトグラフィー装置に対して負荷し、液体の移動相によりクロマトグラフィーを行うクロマトグラフィー工程を実施する。 - 特許庁

(2) As for Applications for which filings were previously made outside the Kingdom and were or would be tested abroad, the Directorate may benefit from the results of the test and adopt them if the test was performed in environmental conditions compatible with the environmental condition of the Kingdom.例文帳に追加

2. 以前王国外でなされ，かつ，王国外でテストされたか又はテストされることになっている出願については，そのテストが王国の環境条件に見合う環境条件において行われた場合は，局は，そのテストの結果を利用し，かつ，採用することができる。 - 特許庁

Thereby, during self-refresh, it can be tested whether a self-refresh period is within the standard or not by performing write-in of data for a memory cell on a row address decided by a refresh counter in a state in which write-in of data for the memory cell can be performed by the circuit means.例文帳に追加

これにより、セルフリフレッシュ時に、前記回路手段によって前記メモリセルへのデータ書き込みを可能にさせた状態にてリフレッシュカウンタにより決められるロウアドレス上のメモリセルにデータ書き込みを行なうことにより、セルフリフレッシュ周期が規格内であるかをテスト可能にした。 - 特許庁

Then, the test conditions specified as conditions necessary for acquiring the test result of the object to be tested in the test program according to the acquired result storage position are extracted, and whether or not the extracted test conditions are matched with test conditions in the test required specifications is determined.例文帳に追加

そして、その取得された結果格納位置に従ってテストプログラムに被テスト対象のテスト結果を得るために必要な条件として規定されたテスト条件を抽出し、その抽出したテスト条件がテスト要求仕様におけるテスト条件に合致するか否かを判別する。 - 特許庁

To provide a semiconductor tester device for testing electronic devices with a fine electrode structure to be tested by keeping a good electric contact, and to provide a contact substrate for testing the semiconductor device, and a test method for the semiconductor device, the semiconductor device, and its manufacturing method.例文帳に追加

微細な電極構造を有する被試験電子部品の試験を良好な電気接触を保持して行うことが可能な半導体試験装置、半導体装置試験用コンタクト基板、半導体装置の試験方法及び半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

A virtual CPU 2 (program execution circuit) and a virtual RAM 3 (program storage circuit) are modeled on a computer by a hardware description language; the entire test program is stored in the virtual RAM 3; and a semiconductor integrated circuit modeled by a hardware description language of a test object is tested.例文帳に追加

仮想ＣＰＵ２（プログラム実行回路）と仮想ＲＡＭ３（プログラム格納回路）とをハードウェア記述言語によりコンピュータ上でモデル化し、テストプログラムの全てを仮想ＲＡＭ３に格納し、テスト対象のハードウェア記述言語でモデル化された半導体集積回路をテストする。 - 特許庁

The method includes steps of: thereafter heating or cooling the probe card to the set temperature; measuring a needle point position of the contact when the probe card is put under the set temperature; determining whether the measured needle point position is within a reference range; and determining a temperature for using the probe card in testing an object to be tested.例文帳に追加

その後プローブカードを設定温度に加熱又は冷却し、プローブカードが設定温度におかれているときの接触子の針先位置を測定し、測定した針先位置が基準範囲内にあるか否かを判定して、プローブカードを被検査体の試験に使用するときの温度を決定する。 - 特許庁

This integrated circuit is comprised of a track hold circuit 30 built in a device 20 to be tested, a means 36 for inputting a timing signal to the track hold circuit 30, and a means for outputting a signal from the track hold circuit 30 corresponding to the inputting of the timing signal of the means 36.例文帳に追加

被試験デバイス２０に内蔵されたトラック・ホールド回路３０と、トラック・ホールド回路３０へとタイミング信号を入力する手段３６と、手段３６のタイミング信号の入力に応じてトラック・ホールド回路３０から信号を出力する手段とを含んでなる集積回路を提供する。 - 特許庁

To provide: a synchronization system capable of carrying out individualized time synchronization with a tested apparatus (an opposite apparatus) that performs an opposite test and communications to establish a flexible opposite environment, and capable of reducing a development work quantity of a pseudo switching equipment (the communications apparatus); a synchronization method; a synchronization program; and a communications apparatus.例文帳に追加

対向試験や通信を行う被試験装置（対向装置）と個別の時刻同期を行い柔軟な対向環境を構築することができ、擬似交換機（当該通信装置）の開発作業量を削減することができる同期システム、同期方法、同期プログラム及び通信装置を提供する。 - 特許庁

A parameter to be loaded by changed by referring to saved nonvolatile items required for registration to exclude the terminal from being registered in a base station and to move the terminal into the test stage of the idle mode, and the performance of the terminal is tested on the test stage of the idle mode.例文帳に追加

登録に必要な既に貯蔵された不揮発性アイテムを参照してローディングされるパラメータを変更して端末機が基地局に登録されることを排除し、アイドルモードのテスト状態へ進入し、前記アイドルモードのテスト段階で前記端末機の性能をテストすることを特徴とする。 - 特許庁

This building inspection support device 1 acquires photograph data formed by photographing a test position to be tested in a building via an I/F 9, and then, associates the photograph data with test position data showing the location of the test position to store them in a result data storage area 46 in a storage part 4.例文帳に追加

建物検査支援装置１が、Ｉ／Ｆ９を介して、建物の検査すべき検査箇所を撮像した撮像データを取得すると、その撮像データに、その検査箇所の位置を示す検査位置データを対応つけて、記憶部４の結果データ格納領域４６に記憶する。 - 特許庁

Accordingly, in the functional inspection of the fire detector 24, the elevating body 2 is raised and lowered by the operation of the test control device to oppose the testing means 25 to the fire detector 24, whereby the fire detector 24 can be tested by the operation of the testing means to facilitate the functional inspection work.例文帳に追加

これによって、火災検出器２４の機能点検時に試験用制御装置の動作により、昇降体２が昇降して火災検出器２４に試験手段２５が対向し、試験手段の動作によって火災検出器２４を試験でき、機能点検作業を容易化する。 - 特許庁

This method for screening the insulin resistance improving agent is characterized by selecting a KKLF gene expression inhibitory substance, KKLF (kidney enriched kruppel-like factor) expression inhibitory substance or KKLF function inhibitory substance as a candidate substance based on the KKLF gene or KKLF expression inhibitory activities, or KKLF function inhibitory activities of tested substances.例文帳に追加

被験物質の、KKLF遺伝子もしくはKKLFの発現抑制活性、又はKKLF機能抑制活性に基づき、KKLF遺伝子発現抑制物質、KKLF発現抑制物質又はKKLF機能抑制物質を候補物質として選択することを特徴とする、インスリン抵抗性改善剤のスクリーニング方法。 - 特許庁

A pulse current amplitude value applied to the write element of a magnetic head to be tested is set to a saturation state current value with which a magnetic field having sufficient magnitude to reverse all magnetic moment included in one bit area can be generated, test data is written, and asymmetry A_asym is measured.例文帳に追加

被試験磁気ヘッドのライト素子に印加するパルス電流振幅値を１ビット領域に含まれる磁気モーメントをすべて反転させるのに十分な大きさの磁界を発生させることが可能な飽和状態電流値に設定してテストデータを書き込み、非対称性Ａ_asymを計測する。 - 特許庁

This event type test system has a plurality of pin units assigned to a device pin to be tested, a test finishing signal generator for generating a signal for indicating finishing of the test for a corresponding pin unit independently of the other pin unit, and a system controller for controlling an entire operation of the event type test system.例文帳に追加

イベント型テストシステムは、被試験デバイスピンに割り当てられる複数のピンユニットと、対応するピンユニットについてのテストの終了を示す信号を他のピンユニットと独立して発生するテスト終了信号発生器と、イベント型テストシステムの全体的動作を制御するシステムコントローラとを有する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device, which can be tested for confirming the function of each semiconductor chip element and for confirming only the connecting state of a first semiconductor chip and a second semiconductor chip etc., even after the first semiconductor chip and the second semiconductor chip are jointed.例文帳に追加

第１の半導体チップと第２の半導体チップとを接合した後であっても、各半導体チップ単体での機能を確認するためのテストや第１の半導体チップと第２の半導体チップとの接続状態のみを確認するためのテストなどを行うことができる半導体装置を提供する。 - 特許庁

At the time of an initial operation, one absolute location is selected as an unadjusted steering location from a plurality of absolute locations, the unadjusted steering location is updated according to a sensor output change, a pair of recursion offsets are tested at the update location, the recursion offset outside the range of the absolute locations are eliminated and lastly left recursion offsets are latched.例文帳に追加

初期操作時には、未調整操舵位置として複数の絶対位置から一つを選択し、センサ出力変化に応じて未調整位置を更新し、該更新位置での１組の回帰オフセットをテストし、絶対位置の範囲外のものを除外し、最後に残った回帰オフセットをラッチする。 - 特許庁

When the film is loaded by aligning the perforation of the film with the index of the frame 15a, the offset amount of the picture of the film with respect to the window of the stereoscopic slide mount is fixed at the position relatively equal to the offset amount of the picture projected with respect to the focusing screens tested by the testing device.例文帳に追加

べースフレーム５１ａの指標とフィルムのパーフォレーションを位置合わせしてフィルムを装着すれば、ステレオスライドマウントの窓に対するフィルムの画面のオフセット量が、検定装置により検定した焦点板に対する投影画面のオフセット量と相対的に等しい位置に固定される。 - 特許庁

In a step of manufacturing the harness module 1, the wire is distributed to the guide body 3 in a state where the guide body 3 is arranged on the assembly stand 201 two-dimensionally, which is electrically connected to a terminal of the connector 7 or the like, and after potting is performed on the electrical connection portion, the harness module 1 is tested.例文帳に追加

ハーネスモジュール１の製造工程では、ガイド体３を組立台２０１上に平面的に配置した状態で、そのガイド体３に電線を配索するとともに、コネクタ７等の端子と電気接続し、その電気接続部にポッティングを行った後、ハーネスモジュール１の検査を行う。 - 特許庁

To provide a burn-in test program simulation device, its method, and a storage medium for simulating a burn-in test program for executing a burn-in test on an IC without using any actual device or any IC to be tested so as to shorten the evaluation time.例文帳に追加

本発明の課題は、ＩＣのバーンイン試験を実行するためのバーンイン試験プログラムを実装置及び被試験ＩＣを使用せずにシミュレーションすることで評価時間を短縮するバーンイン試験プログラムのシミュレーション装置及び方法と記憶媒体を提供することである。 - 特許庁

The device test equipment 100 includes a stage 40 for mounting the device to be tested 130, a medium supply means 80 which supplies a medium consisting of a liquid or gas on the stage, and a temperature control means 30 which controls the stage temperature below freezing temperature of the medium.例文帳に追加

デバイス試験装置（１００）は、被試験デバイス（１３０）を搭載するためのステージ（４０）と、ステージ上に液体もしくは気体からなら媒介物を供給する媒介物供給手段（８０）と、ステージの温度を媒介物の凍結温度以下に制御する温度制御手段（３０）と、を備える。 - 特許庁