「Tested」に関連した英語例文の一覧と使い方(51ページ目) - Weblio英語例文検索

An input signal Sina output from the test terminal Padt1 and a clock signal Sclka output from the test terminal Padt2 are input to the test circuitry 3, and test results of the paths to be tested are output via the test terminal Padt3.例文帳に追加

テスト回路部３はテスト端子Ｐａｄｔ１から出力される入力信号Ｓｉｎａとテスト端子Ｐａｄｔ２から出力されるクロック信号Ｓｃｌｋａが入力され、テスト対象のパスのテスト結果がテスト端子Ｐａｄｔ３を介して出力される。 - 特許庁

A module-after- correction test part 3 conducts the confirmation test of the program 35 (after correction) to be tested by using the input database generation information 31 and input data generation information 32 and outputs the results as a database dump list 37 and an output information dump list 38.例文帳に追加

修正後モジュール試験部３は、入力データベース作成情報３１、入力データ作成情報３２を用いて試験対象プログラム（修正後）３５の確認試験を行い、その結果をデータベースダンプリスト３７、出力情報ダンプリスト３８として出力する。 - 特許庁

This hand-held fundus camera for photographing the fundus of the eye to be tested includes: a photographing optical system provided with a photographing means for photographing the fundus illuminated by photographing illuminating light; and a rotating means for rotating the photographing means around the axis of a photographing optical axis.例文帳に追加

被検眼眼底を撮影する手持ち式の眼底カメラにおいて、撮影用の照明光により照明された眼底を撮影する撮影手段が配置された撮影光学系と、撮影手段を撮影光軸の軸回りに回転する回転手段と、を備える。 - 特許庁

The tester is provided with an A/D converter for inputting the output of the object to be tested, a memory for storing the output of the A/D converter, and a digital comparator for comparing the output of the A/D converter with a comparison voltage data.例文帳に追加

本装置は、被試験対象の出力を入力するＡ／Ｄ変換器と、このＡ／Ｄ変換器の出力を格納するメモリと、Ａ／Ｄ変換器の出力と比較電圧データとを比較するデジタルコンパレータとを備えたことを特徴とする装置である。 - 特許庁

A module-before-correction test part 1 conducts a confirmation test of a program (before correction) to be tested by using input database generation information 11 and input data generation information 12 and outputs the results as a database dump list 17 and an output information dump list 18.例文帳に追加

修正前モジュール試験部１は、入力データベース作成情報１１、入力データ作成情報１２を用いて試験対象プログラム（修正前）１５の確認試験を行い、その結果をデータベースダンプリスト１７、出力情報ダンプリスト１８として出力する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device testing apparatus, capable of simultaneously testing a plurality of semiconductor devices, when the timing of a test pattern signal applied on a specied pin by each semiconductor device to be tested must be selected to timing which is suitable for each device.例文帳に追加

被試験半導体デバイス毎に特定のピンに印加する試験パターン信号のタイミングを各デバイスに適したタイミングに選定しなければならない場合に、複数の半導体デバイスを同時に試験することを可能にした半導体デバイス試験装置を提供する。 - 特許庁

A semiconductor testing system 1 includes: a test board 2 on which a semiconductor device 4 of an object to be tested is mounted; and a semiconductor testing device 3 which outputs test signals of the semiconductor device 4 to the test board 2.例文帳に追加

本発明の一形態に係る半導体試験システム１は、試験対象の半導体装置４が搭載される試験ボード２と、試験ボード２に半導体装置４の試験信号を出力する半導体試験装置３と、を備える半導体試験システムである。 - 特許庁

(1) Applications for which no filings were previously made outside the Kingdom shall be tested by the Directorate or by any national or foreign institution specified by the Directorate, in accordance with" UPO Guidelines for the Conduct of Tests for Distinctness, Uniformity an Stability".例文帳に追加

1. 以前王国外でなされたことのない出願は，「識別性，均一性及び安定性についてのテストを行うための植物新品種保護国際同盟ガイドライン」に従って，局又は局により指定された王国の又は外国の機関によりテストされる。 - 特許庁

If a person having any claim to, or in relation to, any goods of which samples have been selected and tested in pursuance of rules under sub-section (1), or of an order under sub-section (2), desires that any further samples of the goods be selected and tested, such further samples shall, on his written application and on the payment in advance by him to the court or officer of customs, as the case may be, of such sums for defraying the cost of the further selection and testing as the court or officer may from time to time require, be selected and tested to such extent as may be permitted by rules made by the Central Government in this behalf or as, in the case of goods with respect to which provision is not made in such rules, the court or officer of customs may determine in the circumstances to be reasonable, the samples being selected in the manner prescribed under sub-section (1), or in sub-section (2), as the case may be. 例文帳に追加

(1)による規則又は(2)による命令に従い見本を選択し，かつ，検査した商品に対して又は関して不服がある者が，更に追加見本を選択し，かつ，検査すべきことを希望する場合において，その者の申請書の提出があり，かつ，裁判所若しくは税関吏の随時必要とする追加選択検査費に充当する金額の裁判所又は場合に応じて税関吏に対する前納があったときは，本件について中央政府が制定した規則が許容し又はそのような規則に規定されていない商品については，裁判所若しくは税関吏がその状況下で適切であると決定することができる範囲で，前記追加見本を選択し，かつ，検査しなければならないものとし，見本は，(1)又は場合に応じて(2)に規定する方法により選択する。 - 特許庁

When a message reception receiving part receives the message reception from the test scenario analysis performing part 101 and also receives the message from the part 102 for performing the program to be tested, a message waiting part 112 transmits the received message to the test scenario analysis performing part 101.例文帳に追加

メッセージ待合せ部１１２は、メッセージ受理受付部がテストシナリオ解釈実行部１０１からメッセージ受理を受信し、かつ、被テストプログラム実行部１０２からメッセージを受信すると、受信したメッセージを、テストシナリオ解釈実行部１０１に送信する。 - 特許庁

The gate circuit 230 blocks outputs, from the flip-flop circuit, of either of regular output data Q, Qb outputted to a circuit of a tested target and output data SIN for scanning outputted to a following flip-flop circuit according to an operation mode.例文帳に追加

ゲート回路２３０は、被テスト対象の回路に出力される正規の出力データＱ，Ｑｂおよび後段のフリップフロップ回路に出力されるスキャン用の出力データＳＩＮの何れかについて、動作モードに応じて当該フリップフロップ回路からの出力を阻止する。 - 特許庁

In this dynamic burn-in system for inputting a signal output from a signal generator 1 into the semiconductor device of a tested object stored in a burn-in vessel 2 to conduct the burn-in for the semiconductor device, the converter 3 is provided in an output side of the signal generator.例文帳に追加

信号発生器１が出力する信号をバーンイン槽２内に収納された被試験対象の半導体装置に入力し、半導体装置のバーンインを行うダイナミック・バーンイン装置において、上記信号発生器の出力側に変換器３を設ける。 - 特許庁

A changeover means 16 is provided on the partial channel of the supply system path of the test pattern signal applied on each semiconductor device, and the test pattern signal of the other channel is selected by the changeover means to be applied on the specied pin of the semiconductor device to be tested.例文帳に追加

各半導体デバイスに印加する試験パターン信号の供給系路の一部のチャンネルに切換手段１６を設け、この切換手段により他のチャンネルの試験パターン信号を選択して被試験半導体デバイスの特定のピンに印加する構成とした。 - 特許庁

The semiconductor device probing apparatus comprises: a housing configured to define a test chamber; a device holder 70 arranged in the housing and on which at least of one device 62 to be tested is to be loaded; and at least one probe stage 50 arranged in the housing.例文帳に追加

半導体デバイスプロービング装置は、試験チャンバを定めるように構成されたハウジング、ハウジング内に配置され、少なくとも１つの被試験デバイス６２を載せるように構成されたデバイスホルダ７０及びハウジング内に配置された少なくとも１つのプローブステージ５０を備える。 - 特許庁

This fluorescence detecting system emits an excitation light L1 with a wavelength of 750 nm to a part 1 to be tested of a subject previously administered with the fluorescent chemical agent, and captures the image of the chemical agent fluorescence emitted from the fluorescent chemical agent with a CCD image pickup device 107 to acquire the fluorescence image information.例文帳に追加

予め蛍光薬剤が投与された被検体の被検部１へ波長７５０ｎｍの励起光Ｌ１を照射し、蛍光薬剤から発せられる薬剤蛍光をＣＣＤ撮像素子１０７で撮像して蛍光画像情報を取得する。 - 特許庁

In a first server 12 included in a regular machine being really operated, a virtual directory 36 is independently arranged from a regular directory 34 in a hard disk 13, and data related to the program to be tested, which is registered in a job register part 22 by a user, is stored in the virtual directory 36.例文帳に追加

実運用されている本番機に含まれる第１サーバ１２において、ハードディスク１３に、本番ディレクトリ３４と別に、仮想ディレクトリ３６を設け、ユーザがジョブ登録部２２に登録したテスト対象のプログラムに係るデータは、仮想ディレクトリ３６に格納する。 - 特許庁

To efficiently perform a rough positioning without requring the switch operation by a photographer by switching a fundus observation state to an anterior ocular segment observation state on the basis of the presence of receipt of the reflected image of an index projected to the anterior ocular segment of an eye to be tested.例文帳に追加

被検眼前眼部に投影された指標の反射像の受光の有無に基づき、眼底観察状態から前眼部観察状態に切換えることにより、撮影者がスイッチ操作を行わなくても大まかな位置合わせを効率的に行えるようにする。 - 特許庁

In a chamber 6, a wafer 1 to be inspected which is tentatively locked by a chuck holder 4 and a probe pin module 2 are pinched between upper and lower parts by a heating block 3, and are further pressed by a press 7 so that the entire probe pin 2 is completely brought into contact with a wafer to be tested.例文帳に追加

相互位置合わせ後、チャックホルダ４に仮止めした、切断前の半導体ＩＣウエハ１とウエハ・プローブ・ピン・モジュール２とをチャンバー６内に入れ、プレス７により半導体ＩＣウエハ１とウエハ・プローブ・ピン・モジュール２とを接触方向に加圧する。 - 特許庁

(i) The construction of the machines, etc., which has passed the examination for the authorization of the type or the equipment, etc., with which the machines, etc., has been manufactured or tested are not in conformity to the standards provided for by the Ordinance of the Ministry of Health, Labour and Welfare set forth in paragraph (3) of Article 44-2. 例文帳に追加

一　型式検定に合格した型式の機械等の構造又は当該機械等を製造し、若しくは検査する設備等が第四十四条の二第三項の厚生労働省令で定める基準に適合していないと認められるとき。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To shorten the preliminary exhaust duration time, to detect a large quantity of leak, to make the sensitivity of a leak detector adapt to a detection according to the characteristic of the leak to be tested, and to remove the background noise of helium resulted from a primary pump by use of the same primary pump.例文帳に追加

同じ一次ポンプによって、予備排気持続時間を短縮すること、大量の漏れを検出すること、テストすべき漏れの特性に応じて漏れ検出器の感度を適合させること、一次ポンプから来るヘリウムの背景雑音を取り除くことである。 - 特許庁

To provide an inverter-testing device, capable of preventing a DC input capacitor and its peripheral circuit from deterioration or voltage breakdown, due to the application of voltage higher than the break withstand voltage applied to the DC input capacitor, which is likely to occur, when the inverter to be tested has made abnormal stop.例文帳に追加

被試験インバータが異常停止したときに起こり得る、直流入力コンデンサへの耐圧以上の電圧印加による直流入力コンデンサおよびその周辺回路の劣化または耐圧破壊を防止することができるインバータ試験装置を提供する。 - 特許庁

The VII-type and/or the IV-type collagen production control factor can be screened in such a way that a VII-type collagen production cell and/or a IV-type collagen production cell are brought into contact with an factor to be tested and that VII-type collagen and/or IV-type collagen which are produced by the cells are quantitatively determined.例文帳に追加

VII 型及び／又はIV型コラーゲン産生制御因子は、VII 型及び／又はIV型コラーゲン産生細胞を被験因子と接触させ、しかる後に当該細胞が産生するVII 型／又はIV型コラーゲンを定量することによりスクリーニングすることができた。 - 特許庁

A frequency of the signal output from the signal generator 1 is made N times by the converter 3, and a burn-in signal output from the converter 3 is input into the semiconductor device of the tested object stored in the vessel 2 to conduct the fast dynamic burn-in.例文帳に追加

そして、変換器３により、上記信号発生器１が出力する信号の周波数をＮ倍にし、変換器３が出力するバーンイン信号をバーンイン槽２内に収納された被試験対象の半導体装置に入力して高速ダイナミック・バーンインを行う。 - 特許庁

The quality of the engine starting device is tested by a trial starting of the engine starting device 2 during the engine 1 running, and the starting of the engine 1 with the engine starting device 2, whose test is judged as rejectable, is prohibited or the automatic stop of the engine 1 is prohibited.例文帳に追加

エンジン１の運転中にエンジン始動装置２を試動させることによりエンジン始動装置２の良否をテストし、テストにより不良と判定されたエンジン始動装置２によるエンジン１の始動を禁止するか、又は、エンジン１の自動停止を禁止する。 - 特許庁

The intensity of transmitted light and/or the intensity of scattered light are/is measured of the tested solution before and after a reagent is mixed therein for changing the optical characteristics of the solution owing to a specific constituent, and the concentration of the specific constituent in the solution is found from the measured values.例文帳に追加

特定成分に起因して被検溶液の光学特性を変化させる試薬を混入する前後の被検溶液の透過光強度および／または散乱光強度を計測し、これらの計測値から被検溶液中の特定成分の濃度を求める。 - 特許庁

The belt type load simulator comprises an endless flat belt 11 formed as a substitution road surface with which wheels of a vehicle to be tested come into contact by being wound around both-end support bodies and an intermediate support body, and a conveying drive device for conveying the endless flat belt 11.例文帳に追加

ベルト式ロードシミュレータは、両端支持体と中間支持体に巻き付けられて被試験車両の車輪が接触する代用路面として形成された無端フラットベルト１１と、この無端フラットベルト１１を移送駆動する移送駆動装置を備えている。 - 特許庁

Further, if an input/output instruction appears during the execution of the tested instruction group by the logic simulator 5, the logic simulator 5 issues the input/output instruction to the instruction level simulator 2, which executes the input/output instruction.例文帳に追加

さらに、論理シミュレータ５での試験対象命令群の実行中に入出力命令が出現した場合に、論理シミュレータ５から命令レベルシミュレータ２へ入出力命令を発行し、命令レベルシミュレータ２で入出力命令を実行する構成としている。 - 特許庁

To provide a direct-current testing device capable of applying a stable constant voltage to a device to be tested (DUT), realizing high-density mounting by suppressing heat generation, and realizing miniaturization and cost reduction, and a semiconductor device equipped with the device.例文帳に追加

安定した一定の電圧をＤＵＴに印加することができ、発熱を抑えることにより高密度実装が可能であり、更には小型化及び低コスト化を実現することができる直流試験装置、及び当該装置を備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

Failure information for indicating a failure memory cell (x mark) at a data storage part 1a of a memory to be tested is read from a failure memory 2a, and is counted for each of column and row addresses to obtain failure memory cell count values 3d and 3e of the column and row addresses, respectively.例文帳に追加

被試験メモリのデータ記憶部１ａでの不良メモリセル（×印）を表わす不良情報を不良メモリ２ａから読み出し、行及び列アドレス毎にカウントして列アドレスの不良メモリセルカウント値３ｄ、行アドレスの不良メモリセルカウント値３ｅを得る。 - 特許庁

A prescribed density of plasma 7 is generated between an electrode 13 on the display substrate 11 including the TFT array of a tested circuit and a testing electrode 16, and a testing signal is transmitted between the electrode 13 and the testing electrode 16.例文帳に追加

被試験回路であるＴＦＴアレイを含むディスプレイ基板（１１）上の電極（１３）と試験電極（１６）との間に所定の密度を有するプラズマ（７）を生成し、このプラズマ（７）を介して電極（１３）と試験電極（１６）との間に試験信号を伝送させる。 - 特許庁

A composition is preferably used for evaluating the bondability of a tested substance to the GPCR, with the composition made by adding dithiodipyridine to a base solution containing fusion protein comprising chaperonin subunits or chaperonin subunit joint bodies joined to a desired GPCR at the N-end side thereof.例文帳に追加

所望のＧＰＣＲのＮ末端側にシャペロニンサブユニット又はシャペロニンサブユニット連結体が連結された融合タンパク質を含む基本溶液に、ジチオジピリジンを添加してなる組成物が、被検物質のＧＰＣＲに対する結合性評価に好ましく用いられる。 - 特許庁

To provide a flowmeter module that provides for real time measurement of the mass flow rates of various gaseous pollutants based on the actual exhaust flow rate, and does not require any correction of a vehicle to be tested.例文帳に追加

実際の排気ガス流量に基づく様々なガス状汚染物質の質量流量のリアルタイムの測定を規定するものであり、且つ試験を受けるべき車両に対して何の修正も要求しないように成した流量計モジュールを提供するものである。 - 特許庁

Adding to instructions to TEPCO, MHLW instructed TEPCO 22 master contractors to survey workers whose dosimetry assessment of internal radiation exposure dose had not been completed and to have these workers tested without delay.例文帳に追加

東京電力への指導に加え、元方事業者２２社に対し、内部被ばくの測定評価が終了していない者を調査の上速やかに受検させること及び関係請負人を含めた安全衛生管理体制を確立することについて指導（平成23年7月22日） - 厚生労働省

If any of the doctests fail, then the synthesized unit test fails, and a failureException exception is raised showing the name of the file containing the test and a (sometimes approximate) line number.Optional argument module provides the module to be tested.例文帳に追加

何らかの doctest の実行に失敗すると、この関数で生成した単位テストは失敗し、該当するテストの入っているファイルの名前と、(場合によりだいたいの) 行番号の入ったfailureException 例外を送出します。 オプション引数 module には、テストしたいモジュールの名前を指定します。 - Python

Since we do not want to interfere with the current locale setting we thusemulate the behavior in the way described above.To maintain compatibility with other platforms, not only the LANG variable is tested, but a list of variables given as envvars parameter.例文帳に追加

Python では現在のロケール設定に干渉したくないので、上で述べたような方法でその挙動をエミュレーションしています。 他のプラットフォームとの互換性を維持するために、環境変数 LANGだけでなく、引数 envvars で指定された環境変数のリストも調べられます。 - Python

To provide an apparatus for a memory device by which the delay of a main portion of a memory can be tested by adding only a simple circuit without using any expensive device, a memory development period can be shortened, and development cost can be reduced.例文帳に追加

高価な装備を使用せずに簡単な回路のみを追加することで、メモリにおける主要部分の遅延をテストすることができ、メモリの開発期間を短縮させるとともに、開発費用を節減させることができるメモリ素子のテスト装置を提供する。 - 特許庁

Afterwards, when an incoming signal inputted from the telephone switchboard 2 via the telephone line 2a is detected, the telephone line 2a is switched into busy state and after the lapse of the 'speaking time', a non-busy state is recovered so that the telephone switchboard 2 can be tested.例文帳に追加

その後、電話交換機２から電話回線２ａを介して入力される着信信号が検出されたときに電話回線２ａを通話状態に切り替え、「通話時間」が経過したときに非通話状態に戻すことで電話交換機２を試験する。 - 特許庁

In addition, the optical pulse testing device suppresses output light intensity of DFB-LD 2-1 to 2-N up to a degree not generating induced brillouin scattering in a fiber to be tested 18, and increases the intensity of total testing light pulses by wavelength-multiplexing each output light (testing light).例文帳に追加

また、ＤＦＢ−ＬＤ２−１〜２−Ｎの出力光強度を、被試験ファイバ１８において誘導ブリルアン散乱を生じない程度にまで抑えるとともに、各出力光（試験光）を波長多重することでトータルの試験光パルスの強度を増加させる。 - 特許庁

A rotor angle θ of the simulated motor is obtained from a rotary speed command ω to be inputted into a motor simulation operating control unit 11, and currents id, iq on d, q axes are obtained on the basis of output currents iu, iw of an inverter 1 to be tested and the angle θ.例文帳に追加

モータ模擬運転制御部１１に入力される回転速度指令ωから模擬モータの回転子角度θを算出し、被試験体のインバータ１の出力電流ｉｕ、ｉｗと角度θを基に、ｄ、ｑ軸上の電流ｉｄ、ｉｑを求める。 - 特許庁

To improve accuracy in timing calibration for making uniform the signal propagation time of each pattern signal propagation path of a semiconductor device testing device, constituted in such a way as to be provided with a plurality of channel pattern signal propagation paths for providing test pattern signals for a semiconductor device to be tested.例文帳に追加

被試験半導体デバイスに試験パターン信号を与える複数のチャンネルのパターン信号伝送路を具備して構成される半導体デバイス試験装置の各パターン信号伝送路の信号伝播時間を揃えるためのタイミング校正の精度を向上する。 - 特許庁

Therefore, because the probe pin can be easily and precisely inserted into a connector terminal hole 1a, not only whether an assembly of the terminal 2 is good or bad can be precisely tested, but also a conduction test can be appropriately performed, and as a result an inspection work is improved by that share.例文帳に追加

そのため、コネクタ端子孔１ａにプローブピンを容易にかつ的確に差し込むことができるので、端子２の組み付けの良否を的確に検査できるばかりでなく、導通検査をも的確に行うことができ、それだけ検査作業が向上する。 - 特許庁

In measurement of the light emission, the sample is made to flow in the flow passage, and reaches the focal area of the objective lens after the self-fluorescence of the foreign substance disappears after a predetermined time passes after irradiating the exciting light, and the light emission from the substance to be tested is detected there.例文帳に追加

発光の計測に於いては、試料は流路内に流通され、励起光が照射されてから所定時間経過後、夾雑物の自家蛍光が消滅してから、対物レンズの焦点領域に到達し、そこで、被検物質からの発光が検出される。 - 特許庁

To implement charge-discharge tests of high accuracy, the current value detected is allowed to approach to a constant current set value efficiently in a controller 31 for charge-discharge test controlling a DC power source apparatus 13 and an electronic load apparatus 14 for implementing charge-discharge test for an object to be tested.例文帳に追加

被試験物の充放電試験を行うために、直流電源装置１３および電子負荷装置１４を制御する充放電試験用コントローラ３１において、効率よく定電流設定値に近づけ、高精度の充放電試験を実施する。 - 特許庁

To provide an automobile testing apparatus capable of performing axial alignment for a short time in the step replacement of an FF vehicle and a FR vehicle being objects to be tested, easily enabling axial alignment, having no danger in handling and capable of also reducing labor cost.例文帳に追加

ＦＦ車とＦＲ車の供試体段取替において短時間で軸心合わせが行え、かつ容易に軸心合わせが可能となり、また取り扱いに危険性がなく、更に人件費も軽減することが出来る自動車用試験装置を提供することにある。 - 特許庁

After that, the DRAM part is DC-tested in a step 107, the DRAM part is judged to be good or defective in a step 108 from the result, and the entire LSI is inspected on and after a step 109 if it is good while the inspection completes if defective.例文帳に追加

それらを行った後にステップ１０７でＤＲＡＭ部のＤＣテストを行い、その結果からステップ１０８でＤＲＡＭ部が良品か不良品かを判断し、良品ならばステップ１０９以降でＬＳＩ全体の検査を行い、不良品ならば検査を終了する。 - 特許庁