「Tested」に関連した英語例文の一覧と使い方(47ページ目) - Weblio英語例文検索

According to the present invention, even when the active element and the passive element are mounted inside the board, a connection state of each element can be effectively tested, so that whether or not defects occur in the circuit board can be easily determined.例文帳に追加

本発明によれば、能動素子及び受動素子が基板の内部に実装された場合にも夫々の素子の連結状態を効果的にテストすることができて、回路基板の不良の有無を容易に判別することができる。 - 特許庁

To conduct an insulation test after checking the contact condition between an electrode pad formed on a chip to be tested and a bump of an inspection probe so as to accurately determine the quality of the chip on the basis of the insulation test.例文帳に追加

試験対象のチップに形成される電極パッドと検査プローブのバンプとの接触状態を確認した後に絶縁試験を実施し、絶縁試験結果に基づいたチップの良否判定を正確に実行することを目的とする。 - 特許庁

A metabolism measuring agent of CYP3A4 serves as substrates of CYP3A4 and CYP2C19 and contains a ^13C labeled substrate compound having a capacity for generating ^13CO_2 by CYP2C19 after medicating to a mammal to be tested.例文帳に追加

ＣＹＰ３Ａ４及びＣＹＰ２Ｃ１９の基質となり、被験哺乳類に投与した後にＣＹＰ２Ｃ１９によって^13ＣＯ_2を生成する能力を有する^13Ｃ標識基質化合物を含有するＣＹＰ３Ａ４の代謝機能測定剤。 - 特許庁

In the electrochemical measurement, the stainless steel material to be tested is etched to show a linear etching trace on crystal grains, and an etching trace density is determined, and the plastic strain of the stainless steel material is detected by using the etching trace density as an index.例文帳に追加

該電気化学的測定は、被検ステンレス鋼材をエッチングして結晶粒上に直線状のエッチング痕を現出せしめ、エッチング痕密度を求め、該エッチング痕密度を指標としてステンレス鋼材の塑性ひずみを検出する。 - 特許庁

To provide a dosimeter being compact, lightweight, and mountable on a tested person, and allowing a rapid and sure response by radio-transmitting a measurement result even in cases where an emergency has occurred.例文帳に追加

被検者に装着することが可能なコンパクトかつ軽量で、測定結果を無線送信することにより緊急事態が発生したような場合であっても迅速かつ確実に対応させることができる線量計を提供できる。 - 特許庁

In the sensor chip equipped with a molecular recognition element to be specifically bound with an object to be analyzed and a substrate, the molecular recognition element is held on the substrate so as to be eluted from the substrate when contacted with the liquid to be tested.例文帳に追加

分析対象物に特異的に結合する分子認識素子と基板とを備え、前記分子認識素子は被検液に接触したときに前記基板から溶出するように前記基板上に保持されている、センサーチップ。 - 特許庁

A displacement mechanism 52 is formed as a displacement lever 52, the displacement lever 52 acts on a head piece 24 of the torque wrench 26 to be tested, and a support 12 is provided to stand still with respect to the displacement lever 52.例文帳に追加

変位機構５２が、変位レバー５２として形成されており、該変位レバー５２が、検査したいトルクレンチ２６のヘッドピース２４に作用するようになっており、支持体１２が、変位レバー５２に対して静止して設けられているようにした。 - 特許庁

The tester 1 of a semiconductor integrated circuit comprises a liquid crystal source driver 2 as a semiconductor integrated circuit being tested DUT, a differential amplifier circuit array module 3, a tester 4 for system LSI, and a reference voltage generating circuit 5.例文帳に追加

半導体集積回路の試験装置１には、被試験半導体集積回路ＤＵＴとしての液晶ソースドライバ２、差動増幅回路アレイモジュール３、システムＬＳＩ用テスタ４、及び基準電圧発生回路５が設けられている。 - 特許庁

To make currents for measuring on-resistance values to be made to flow to individual switch elements to be tested even when no exclusive external terminal is provided for leading out an internal common node to the outside of a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

内部共通ノードを半導体集積回路の外部に引き出すための専用の外部端子を設けなくても、個々のテスト対象スイッチ素子に対してオン抵抗値を測定するための電流を流すことができるようにする。 - 特許庁

To easily replace contacts for contact with IC terminals and eliminate the need for preparing IC sockets for every IC package in an IC testing apparatus for the electrical connection between ICs to be tested and IC terminals.例文帳に追加

被試験ＩＣのＩＣ端子と電気的接続をとるためのＩＣ試験装置において、ＩＣ端子に接触させるための接触子を容易に取り替えることができ、ＩＣパッケージごとにＩＣソケットを作成しなくてもよいようにする。 - 特許庁

Power source voltage generators (301A-301D) are disposed, corresponding to the plurality of semiconductor integrated circuit devices (1A-1D) to be tested simultaneously, and generate power source voltage for operating each semiconductor integrated circuit device.例文帳に追加

電源電圧発生器(301A-301D)は、同時に検査される複数の半導体集積回路装置(1A-1D)に対応して設けられ、半導体集積回路装置毎に、半導体集積回路装置を夫々動作させるための電源電圧を発生する。 - 特許庁

The semiconductor wafer or a sample 10 having a substrate 12 of a semiconducting material is tested by compressing a dielectric 14 between three electrically conductive contacts 6 and the top surface 16 of the substrate 12 of the semiconductor wafer or the sample 10.例文帳に追加

半導体材料の基板１２を有する半導体ウエハまたはサンプル１０は、３つの導電性接触子６と半導体ウエハまたはサンプル１０の基板１２の上面１６との間の誘電体１４の圧縮により検査される。 - 特許庁

To provide a semiconductor device 10 having a structure in which a plurality of semiconductor chips are stacked, which can be tested without contact with a bump electrode BP_0 and increase in the load capacity of a penetrating-electrode TSV_0.例文帳に追加

複数の半導体チップが積層された構造を有する半導体装置において、パンプ電極ＢＰ＿０に接触せずに、かつ、貫通電極ＴＳＶ＿０の負荷容量を増やさずにテストできる半導体装置１０を提供する。 - 特許庁

Thus, with the semiconductor memory device and the method for testing whether the ODT resistor is on/off during the data read mode, whether the ODT circuit is on/off during reading of data is tested.例文帳に追加

したがって、本発明によるデータ読出モードでＯＤＴ抵抗部のオン／オフ状態をテストできる半導体メモリ装置及びＯＤＴ回路の状態テスト方法は、データが読出される間にＯＤＴ回路のオン／オフ如何をテストできる。 - 特許庁

To provide a test device for testing the characteristics of each semiconductor chip by bringing a probe into contact therewith from both surfaces of a semiconductor wafer, in which each semiconductor chip can be tested by heating the semiconductor wafer to a desired temperature.例文帳に追加

半導体ウエハの両面よりプローブを接触させて各半導体チップの特性を試験する試験装置において、所望の温度に半導体ウエハを加熱して各半導体チップを試験することができる試験装置を提案する。 - 特許庁

Also, by making only the wiring resistor 19 function as a shunt resistor even in the wafer state without the presence of the bonding wire 20, since a current control circuit 18 can be operated, the electric characteristics can be tested.例文帳に追加

また、ボンディングワイヤ２０が存在しないウエハ状態でも、配線抵抗１９のみをシャント抵抗として機能させることで、電流制御回路１８が動作可能であるため、その電気的特性検査を行うことが可能となる。 - 特許庁

To efficiently and automatically perform a regression test by automatically extracting a portion to be preferentially tested according to a changed part so as to avoid an excessive large number of test items when performing the test.例文帳に追加

リグレッションテストを行う場合に、テスト項目が膨大になってしまわないように、変更した箇所に応じて優先的にテストすべき部分を自動的に抽出し、リグレッションテストを効率的、自動的に行うことを可能にすること。 - 特許庁

When the actual soft endoscope image of the subject to be tested is obtained, the actual endoscope image is compared with the virtual endoscope image in the database to determina the virtual endoscope image having the highest similarity to the endscope image.例文帳に追加

検査対象の実軟性内視鏡画像を取得すると、前記実内視鏡画像を前記データベース内の仮想内視鏡画像と比較して、前記内視鏡画像と最も類似度が高い仮想内視鏡画像を決定する。 - 特許庁

To provide a senario creation program for creating a senario for enabling a virtual Web client to properly perform the transmission of a request message and the reception of a response message even in the case of imposing an access load on a Web server device to be tested.例文帳に追加

試験対象のウェブサーバ装置にアクセス負荷を掛ける場合において、仮想ウェブクライアントがリクエストメッセージの送信とレスポンスメッセージの受信とを適切に行えるシナリオを作成できるようにするシナリオ作成プログラムを、提供する。 - 特許庁

If a required number of test pins for tests increases according to test items, specified one is selected from among a plurality of integrated circuits and they are tested with cooperating the selected one semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

試験項目によって試験に必要なテストピン数が増えた場合には、複数の半導体集積回路のうち特定の１つを選択し、複数の試験装置が選択された１つの半導体集積回路を協調動作しながら試験する。 - 特許庁

To inexpensively provide a drop and impact tester capable of subjecting an object to be tested to free fall, while maintaining a fixed dropping attitude and collide with a collision surface and obtaining accurate measurement data.例文帳に追加

本発明は、試験物の落下姿勢を一定に保った状態で自由落下させて衝突面に衝突させることができ、正確な測定データを得ることができる落下衝撃試験装置を安価に提供することを課題とする。 - 特許庁

In the similar way, after the delay time of another tested circuit 1401 is measured, a high-temperature heating is performed for a specified time while a second frequency signal having a frequency different from the first frequency signal is inputted.例文帳に追加

同様にして、別の被試験回路１４０１の遅延時間を測定した後、第１の周波数信号とは異なる周波数を有する第２の周波数信号を入力した状態において一定時間高温加熱する。 - 特許庁

To provide a bias supply device, capable of surely suppressing oscillations over a broad band, by certainly preventing connection between the inlet side and outlet side of a tested device, without affecting the existing measurement system.例文帳に追加

既存の測定系には何ら影響を与えることなく、被試験デバイスの入力側と出力側との結合を確実に防止して、広帯域にわたって確実に発振を抑制することができるバイアス供給装置を提供する。 - 特許庁

The coating amount of the microcapsules is in the range of 1-50 g/m^2, and the smoothness of the surface coated with the microcapsules is set at 20-600 sec when tested by a smoothness testing method using a Beck tester described in JIS-P8119.例文帳に追加

マイクロカプセルの塗工量は１ｇ／ｍ^2から５０ｇ／ｍ^2の範囲にあり、マイクロカプセルの塗工面の平滑度がＪＩＳ−Ｐ８１１９記載のベック試験器による平滑度試験方法で２０〜６００秒の範囲に設定する。 - 特許庁

To create an optimal schedule in consideration of a constraint condition in which "for some testing devices, different kinds of components can be set and tested together using the same testing device, the same tool and the same test condition".例文帳に追加

「一部の試験装置については、同一の試験装置、同一の治具、同一の試験条件で、異なる種類の部品をセットにして一緒に試験を行うことが可能」といった制約条件を考慮して、最適なスケジュールを作成する。 - 特許庁

A device to which network equipment to be tested is connected determines a state of the network equipment from a value of its address and reports a server device for controlling test of the network equipment of connection information indicating the determined state of the network equipment.例文帳に追加

試験対象のネットワーク機器が接続される装置は、該ネットワーク機器の状態を、そのアドレスの値から判別し、判別したネットワーク機器の状態を示す接続情報をネットワーク機器の試験を制御するサーバ装置へ通知する。 - 特許庁

There is no need for the person T being tested to input the information consciously while viewing and listening to the video image, and the person T can concentrate on viewing and listening to the video image, so the living body information can be collected on which the change of feeling is reflected faithfully.例文帳に追加

これにより、被験者Ｔは映像を視聴する際に、意識して情報を入力する必要が無く、映像の視聴に集中できるので、感情の変化を忠実に反映した生体情報を収集できる。 - 特許庁

In an apparatus and a method in which a tilted strand connection part 22 in a small electric component 23 is tested, a testing tool 21 which can be moved simultaneously along two mutually orthogonal exes in a direction at right angels to the direction of a strand is provided.例文帳に追加

小型電気素子における傾斜したストランド接続部を試験するための装置および方法は、ストランドの方向に直交する方向に互いに直交する２軸に沿って同時に移動可能な試験工具を備えている。 - 特許庁

Then, a state determining means 23 monitors and determines internal information about the device 1 to be tested, so that application of the route update information to the route control table 11 and input of a control command to the port 5A are competed.例文帳に追加

そして，状態判定手段２３が被試験装置１の内部情報を監視および判定することにより、経路制御表１１への経路更新情報の印加とポート５Ａの制御コマンドの入力との競合を発生させる。 - 特許庁

When there is aberration in the eye E to be tested and a conjugated plane of the fundus before the vicinity of the conjugated plane, two sensor images Sa and Sb are displaced vertically and, as is shown in (b), the sensor image Sa is displaced downward and the sensor image Sb is displaced upward.例文帳に追加

被検眼Ｅに収差があり、共役面の付近の手前に眼底の共役面がある場合に、２つのセンサ像Ｓａ、Ｓｂは上下にずれ、（ｂ）のようにセンサ像Ｓａが下方に、センサ像Ｓｂが上方にずれる。 - 特許庁

By analyzing a source code to be tested, a change in an input/output interface can be reflected, and input-related information including an input value (test case) and an output value (expectation value) or input/output relationship information after the change is created.例文帳に追加

テスト対象ソースコードを解析して、入出力インタフェースの変更を反映することができ、入力値（テストケース）と出力値（期待値）を含む入力関係情報又は変更後入出力関係情報を作成する。 - 特許庁

Switching circuits 20, which are connected in series, include each a switch 22, which is connected in series to a battery 21 to be tested, a switch 24, which is connected in parallel with this series circuit, and a detector 25, which detects a voltage across it.例文帳に追加

直列接続される切替回路部２０はそれぞれ、試験対象のバッテリ２１に直列接続されたスイッチ２２と、この直列回路に並列接続されたスイッチ２４と、両端電圧を検出する検出部２５を含む。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for evaluation wherein the sticking strength, the tearing strength, the tearing property and the like of a film or a sheet can be evaluated and tested with a satisfactory correlation property with an actual hand tearing evaluation or a transplantation test and quantitatively.例文帳に追加

フィルムやシートの突刺し強度、引裂き強度及び引裂き性等を実際の手裂き評価や移植試験と相関性がよくかつ定量的に評価試験できるる評価装置および評価方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a function that allows a subscriber terminal station device for executing restriction on incoming calls received by an exchange from a point of time, when a test of a speech channel is started until a point of time when the test is completed as to a channel to be tested in a subscriber system network.例文帳に追加

加入者系ネットワークにおいて、被試験回線について通話路試験開始時点から完了時点までの間、加入者側端局装置から交換機の着信規制を実行させる機能を提供する。 - 特許庁

The apparatus includes an external noise determining means 32 which controls a transmitting coil 15 to be in a prescribed state while an object to be tested does not exist therein, and determines the state of external noises based on fluxes detected by receiving coils 16, 17.例文帳に追加

被検査物品が存在しない状態で、送信コイル１５を所定の状態に制御し、受信コイル１６，１７で検出される磁束に基づいて外部ノイズの状況を判定する外部ノイズ判定手段３２を備える。 - 特許庁

To provide a burn-in device capable of making testing conditions even, by restraining dispersion of temperatures in a plurality of tested objects generating heat by an operation, and capable of enhancing thereby reliability for a burn-in test and an aging test.例文帳に追加

動作することによって発熱する複数の被試験体の温度のばらつきを抑制することによって試験条件を揃え、バーンイン試験およびエージング試験の信頼性を向上させることができるバーンイン装置を提供する。 - 特許庁

When performing a test, the signals recorded in the data recording device 14 are reproduced by a plant data reproduction apparatus 23, and a reproduced operation amount signal and a reproduced state feedback signal are inputted to a control apparatus 21 to be tested.例文帳に追加

試験時には、プラントデータ記録装置１４により記録された信号をプラントデータ再生装置２３によって再生し、再生操作量信号及び再生状態フィードバック信号を被試験制御装置２１に入力する。 - 特許庁

To provide a function with which communication networks is automatically tested from a superordinate producer-independently managing network management center (NMC), for example at times when subordinate, producer-specific operation and maintenance centers (OMC) are not occupied.例文帳に追加

通信ネットワークにおいて、たとえばメーカ固有の下位のオペレーションおよびメンテナンスセンタ（ＯＭＣ）が占有されていない時点などに、メーカに依存しない管理する側の上位のネットワークマネージメントセンタ（ＮＭＣ）からの自動的なテスト機能を実現する。 - 特許庁

At the time of testing a circuit 40, test control information is inputted externally to a test interface circuit 14 and set in the scan register 41 of circuit modules 21-24 to be tested through a test signal chain 20.例文帳に追加

被テスト回路（４０）のテストを行なうとき、外部からテストインタフェース回路（１４）にテスト制御情報を入力し、テスト対象回路モジュール（２１〜２４）のスキャンレジスタ（４１）にテスト信号チェーン（２０）を介してテスト制御情報をセットする。 - 特許庁

To provide a method of filling control in high pressure hydrogen test equipment and high pressure hydrogen filling equipment capable of applying pressure at a constant pressure rising rate without an excessive rise in temperature of an object to be tested, with a simple structure.例文帳に追加

簡単な構成で、試験体の温度が過度に上昇することがなく、一定の昇圧率で圧力を印加することの出来る高圧水素試験設備や高圧水素充填設備での充填制御方法を提供する。 - 特許庁

The CPU 1 determines the priority of each partial interlocking data based on the information to determine whether the each partial interlocking data is the interlocking data to be tested, and performs the controls in order starting at the partial interlocking data with higher priorities.例文帳に追加

ＣＰＵ１は、各部分連動データが試験対象の連動データであるか否かの情報に基づいて当該各部分連動データの優先度を決定すると共に、優先度の高い部分連動データから順に制御を実行する。 - 特許庁

To solve the problem that in a conventional self test, AD and DA converting circuits to be tested are used for testing and calibrating them at a low cost, while whether the self test method has a desired linearity or not can not be decided correctly when the converting circuits have opposite error characteristics mutually.例文帳に追加

ＡＤ変換回路およびＤＡ変換回路のテストおよび較正を低コストに実施するため、被測定対象であるＡＤ変換回路とＤＡ変換回路を互いに利用したセルフテスト方式が提案されている。 - 特許庁

Thereby, the test pattern signal can be supplied at a high frequency from a test control device 100, and it is unnecessary for the test control device 100 to directly read out output signals from the test devices DUT to be tested.例文帳に追加

このため、テスト制御装置１００から、高い周波数でテストパターン信号を供給することができ、また、テスト制御装置１００が被試験デバイスＤＵＴからの出力信号を直接読み込む必要が無くなる。 - 特許庁

To provide a livestock body temperature measuring system for four-footed animals, reduced in external factors hindering the system construction and facilitating offering data for individual animals to be tested.例文帳に追加

本発明は、４足歩行を行う動物に対する体温測定システムを構築するうえで、障害を与える外的要因の削減を図り、個々の被測定動物に対するデータを容易に提供することを可能とすることを目的としている。 - 特許庁

The input buffers BI1 to BI6 and output buffers BO1 to BO6 are tested in the same test step, by outputting the test output signal TD to the output terminal via the output buffer.例文帳に追加

テスト出力信号ＴＤをセレクタＳ１〜Ｓ６と出力バッファとを経由して出力端子へ出力することにより、入力バッファＢＩ１〜ＢＩ６及び出力バッファＢＯ１〜ＢＯ６を同一のテストステップでテストを実施する。 - 特許庁