「Tested」に関連した英語例文の一覧と使い方(45ページ目) - Weblio英語例文検索

At the place where the wireless communication apparatus 1 is actually used, a recorder 2 receives radio waves of information which has to be processed by the wireless communication apparatus 1 being tested, and records the information of the received radio waves.例文帳に追加

無線通信機器１が実際に使用される場所で、記録装置２は、試験対象の無線通信機器１で処理されるべき情報の電波を受信し、当該受信した電波の情報を記録する。 - 特許庁

The combined power system simulator 3 comprises an analog power system simulator 1 and a digital power system simulator 2, is connected to an apparatus to be tested 7 and tests.例文帳に追加

複合型電力系統シミュレータ３はアナログ型電力系統シミュレータ１及びデジタル型電力系統シミュレータ２にて構成され、この複合型電力系統シミュレータ３を、被試験装置７に接続して試験を行う。 - 特許庁

To provide a semiconductor device testing apparatus changing no state of a signal imparted to a semiconductor device to be tested even if the test condition is changed when performing a test 2 immediately after a test 1.例文帳に追加

試験１の後に直ちに試験２を実行する場合に、試験条件の変更を行なっても、被試験半導体デバイスに与えている信号の状態が変化しない半導体デバイス試験装置を提供する。 - 特許庁

A semiconductor device to be tested is mounted on a socket installed on a board of a burn-in testing apparatus and a voltage is applied to the semiconductor device while increasing the voltage up to a maximum testing voltage Vm in a stepped manner.例文帳に追加

バーンイン試験装置のボードに設けられたソケットに、試験対象の半導体装置を装着し、その半導体装置に対し、電圧を最大試験電圧Ｖｍまでステップ状に上昇させて印加していく。 - 特許庁

To allow a user to be tested in kinetic vision while enjoying it, and also to vary the measurement of visual ability not only by moving and displaying Landolt rings or numerals but by performing another display control.例文帳に追加

動体視力の測定を、楽しみながら行うことができるようにするとともに、ランドルト環や数字等を移動表示させるのみではなく、他の表示制御を行って視覚能力の測定に変化をつけること。 - 特許庁

A determining means 140 inputs the output signal of the semiconductor device 500 to be tested, performs a determination by use of a part of the test pattern and a determining timing signal and outputs the determination result to the outside.例文帳に追加

判定手段１４０は、被試験対象の半導体デバイス５００の出力信号を入力し、テストパターンの一部と判定用タイミング信号を用いて判定を行ない、判定結果を外部に出力する。 - 特許庁

This simulation system includes: a test result database storing test result data set with an output result of a tested device (DUT) model to a prescribed test item; and a framework operating the test plan program.例文帳に追加

シミュレーションシステムは、所定のテスト項目に対する被試験デバイス（ＤＵＴ）モデルの出力結果を設定した試験結果データを格納する試験結果データベースと、テストプランプログラムを動作させるフレームワークとを備える。 - 特許庁

To provide a monitoring device for blood flow conditions capable of reducing the burden to a subject to be tested, detecting a blood pressure stably, and displaying a blood flow rate in an artery and the distribution.例文帳に追加

被験体への負担を軽減することができ、安定して血圧を検出することができるとともに、動脈内を流れる血流速度およびその分布を表示することができる血流状態モニタ装置を提供する。 - 特許庁

An IC chip 20 is made up of a PLL(phase-lock loop) circuit 3 for supplying a system clock, a logic circuit 4 to be tested at an actual operation speed, and a BIST circuit 5 for compression-storing a test result as test result data 17.例文帳に追加

ＩＣチップ２０は、システムクロックを供給するＰＬＬ回路３、実動作速度によるテストされる論理回路４、及び、テスト結果をテスト結果データ１７として圧縮格納するＢＩＳＴ回路５で構成される。 - 特許庁

The driving circuit is tested by controlling ON-OFF of the driver transistors by the controlling circuit and turning on the switching element by a controlling signal before the driven circuits are formed on the same substrate after the driven circuit is formed.例文帳に追加

駆動回路を形成した後、同一基板上に複数の被駆動素子を形成する前に、コントロール信号によりスイッチ素子をオンし、制御回路によりドライバトランジスタのオンオフを制御して駆動回路をテストする。 - 特許庁

A measured vibration characteristic and the measured value of the variable element are read into a computing part to constitute a linear matrix equation to identify a structure matrix including an unknown structure parameter of the tested object, excepting the variable element.例文帳に追加

計測された振動特性と、可変要素の値とを演算部に取り込み、可変要素を除く、被試験物の未知構造パラメータを含む構造マトリクスを同定するための線形行列方程式を構成する。 - 特許庁

The operation mode control unit 4 is used when the sensor LSI 50 is tested, and outputs to the operation timing generation unit 5 a mode control signal Sms designating either an operation test mode or an intermittent operation test mode.例文帳に追加

動作モード制御部４は、センサＬＳＩ５０のテスト工程のときに用いられ、間欠動作テストモードと動作テストモードいずれかを指定するモード制御信号Ｓｍｓを動作タイミング生成部５に出力する。 - 特許庁

To realize a probe card and a method of testing a semiconductor device, capable of obtaining satisfactory contact with chips and electrode pads of a CSP at all times, when the chips and the CSP are tested in the form of a wafer.例文帳に追加

チップやＣＳＰをウエハ状態で試験する際に、各チップやＣＳＰの電極パッドと常に良好なコンタクトの得られるプローブカード及び半導体装置の試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a built-in self-test device for memory circuit which can test the timing specification such as setup time, hold-time, or the like prescribed for a memory to be tested by using plural timing signals having a prescribed phase difference.例文帳に追加

所定の位相差を持つ複数のタイミング信号を用いて、被試験メモリに規定されるセットアップタイムやホールドタイム等のタイミングスペックの試験を可能にしたメモリ回路用の組込み自己試験装置を提供する。 - 特許庁

In the raw water adjusting tank 1, the water level is kept constant by an overflow means, so that the tested water 22 is sent with a fixed flow and the flow can be adjusted by a slider or an orifice.例文帳に追加

原水調整槽１では越流手段１０により水位が一定に保たれるので、被検水２２は一定流量で送水されると共に、スライダー３ａやオリフィス１ａにより流量調整が可能である。 - 特許庁

In this way, a braking action in one of two pairs of braking machines is maintained in operation of the operation apparatus 17, while a braking action of the other is released, and braking ability is tested by carrying out braking operation in each of the two pairs.例文帳に追加

これにより、操作具１７の操作時に上記両者の一方の制動作用を継続し、他方の制動作用を解除して、上記両者を一組ずつ制動動作して制動能力を検定する。 - 特許庁

A light source is turned on, a white reference image is inputted to an image sensor, an output signal of the image sensor is tested about the white reference image, and white reference data are set in each effective photodetector (step S305 and S310).例文帳に追加

光源を点灯してイメージセンサに白基準像を入力し、白基準像についてイメージセンサの出力信号を検査して有効受光素子ごとに白基準データを設定する（ステップＳ３０５及びＳ３１０）。 - 特許庁

The controller for testing 50 delivers operation commands to a device for driving load 60 acting as a tested device during an operating test, and receives predetermined data, indicating the status of the device for driving load 60 from the loads 60, as well.例文帳に追加

試験用コントローラ５０は、動作試験時、被試験装置である負荷駆動装置６０へ動作指令を出力するとともに、負荷駆動装置６０の状態を示す所定のデータを負荷駆動装置６０から受ける。 - 特許庁

A simulated structure 30 equipped with a frame 8, a shaker 7 and a reaction measuring unit 2 a is set on a foundation 6 where a vibration table 5 is set and only a structure 3 to be tested is mounted on the vibration table 5.例文帳に追加

フレーム８、加振機７および反力計測装置２とを備えた模擬構造物３０を、振動台５が設置された基礎６と同じ基礎６に設置し、振動台５には試験対象構造物３のみを載置する。 - 特許庁

In an atmospheric corrosion test method, salt is deposited on an object to be tested, by spraying salt water in a space held under one condition set within a range of temperature of 0 to 60°C and relative humidity of 10 to 98%.例文帳に追加

大気腐食試験方法において、被試験体への塩分の付着を、温度０〜６０℃、相対湿度１０〜９８％の範囲から設定した１つの条件に保持された空間での塩水噴霧により行う。 - 特許庁

To provide a disk drive device which is improved so as to fit enough to actual use, while the operation of each part can be tested efficiently by the self diagnostic function.例文帳に追加

この発明は、自己診断機能を備えて各部の動作テストを効率的に行なうことができるとともに、十分に実用に適するように細部に改良の施されたディスクドライブ装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

The nuclear magnetic resonance testing apparatus 10 is provided with an image display device 320 which receives an MRI signal released from the object to be tested by a receiver 100, and which displays an image based on the received MRI signal.例文帳に追加

核磁気共鳴検査装置１０は検査対象から放出されるＭＲＩ信号を受信器１００で受信し、受信したＭＲＩ信号に基づく画像を表示する画像表示装置３２０を備える。 - 特許庁

At manufacture, the MRAM device is tested to confirm that each set of storage cells is suitable for storing ECC encoded data, using either a parametric evaluation (step 602), or a logical evaluation (step 603) or preferably a combination of both.例文帳に追加

製造時にパラメータ評価(ステップ602)又は論理評価(ステップ603)又は好適にはその両者の組み合わせを使用してMRAMが検査されて、各組の記憶セルがECC符号化データを記憶するのに適していることが確認される。 - 特許庁

The determining part 16 has a comparing part 24 and a detecting part 26, and can determine whether there is a failure in the circuit 22 to be tested or not based on the power supply current measured in the power supply current measuring part 14.例文帳に追加

判定部１６は、比較部２４および検出部２６を有し、電源電流測定部１４において測定された電源電流に基づいて、被試験回路２２の故障の有無を判定することができる。 - 特許庁

The process is made so that the information of a defective memory cell under previous testing condition is transcribed or transferred to the buffer memory from the fail memory while being in parallel with a write-in to a memory to be tested of a back pattern under the next test condition.例文帳に追加

先の試験条件における不良メモリセル情報を次の試験条件における背面パターンの被試験メモリへの書き込みと並行してフェイルメモリからバッファメモリに転写あるいは転送する。 - 特許庁

The memory chip packaged in the package is tested with the internal test pattern (the first test mode) generated in the logic chip or the external test pattern (the second test mode) supplied from the outside according to the mode select signal.例文帳に追加

パッケージに実装されたメモリチップは、モード選択信号に応じて、ロジックチップ内で発生する内部試験パターン（第１試験モード）または外部から供給される外部試験パターン（第２試験モード）を使用して試験される。 - 特許庁

To provide a test method of cytotoxicity capable of directly and precisely measuring the cellular activity of a cultivated cell used for a test independently one by one and quantitatively determining the toxicity of a chemical substance to be tested for cytotoxicity with high precision.例文帳に追加

試験に用いる培養細胞の細胞活性を、直接、１個１個個別に、正確に計測でき、被毒性試験化学物質の毒性を高い精度で定量化できる細胞毒性試験方法の提供。 - 特許庁

When the determining that the changing amounts of the characteristics of an internal circuit to be tested reach a prescribed value, the evaluation block 11 outputs a signal, to instruct switching of the destination of connection to the switches SW2 and SW3.例文帳に追加

評価ブロック１１は、その内部の被試験回路の特性の変化量が所定値に到達したと判断したときに、スイッチＳＷ２及びＳＷ３に接続先の切り替えを指示する信号を出力する。 - 特許庁

To achieve a semiconductor tester for correcting a timing error due to a fluctuation in an input capacitance of each terminal of a DUT when the DUT is tested, and improving a yield of the DUT during a test.例文帳に追加

ＤＵＴ試験にあたってＤＵＴの端子ごとの入力容量のバラツキに起因するタイミング誤差を補正し、試験におけるＤＵＴの歩留まりを向上させることができる半導体試験装置を実現すること。 - 特許庁

Each test circuit chip 21 is connected to the probe terminal 12 via a wire provided for the inside of the card main body 11 and transmits and receives a signal to and from the LSI chip to be tested via the probe terminal 12.例文帳に追加

各テスト回路チップ２１は、カード本体１１の内部に設けられた配線を介してプローブ端子１２と接続されており、プローブ端子１２を介してテスト対象ＬＳＩチップと信号の授受を行う。 - 特許庁

To provide a method and a device for testing an electronic circuit device whereby the overall action of the electronic circuit device, the action of a single computing circuit chip, and the action of a single memory chip can be easily tested.例文帳に追加

電子回路装置の全体動作のテストと、演算回路チップの単体動作テストと、メモリチップの単体動作テストを容易に行うことができる電子回路装置のテスト方法、およびテスト装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing method and a device by which the contact area of a sample solution and the wall of a biochip is kept small and a reaction rate between a substance to be tested in a sample solution and a specific binding substance in the biochip is enhanced.例文帳に追加

サンプル液とバイオチップの壁面との接触面積を小さく保ち、且つ、サンプル液の被検物質とバイオチップの特異結合物質との反応速度を高める検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a new method for detecting proliferative activity of epidermal cell and dermis fibrocyte which is capable of easily and rapidly detecting proliferative activity of epidermal cell and dermis fibrocyte of a tested material.例文帳に追加

被験物質の表皮細胞及び真皮線維芽細胞増殖作用を簡便、かつ迅速に検出することができる、新規の表皮細胞及び真皮線維芽細胞増殖作用の検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide an address control circuit in which expansion of the circuit scale is prevented and the circuit delay time is less when an IC memory operated at a high speed is tested in a semiconductor test device.例文帳に追加

本発明の課題は、半導体試験装置において、高速に動作するメモリＩＣの検査を行う際に、回路規模の拡大を防ぎ、回路遅延時間の少ないアドレス制御回路を提供することである。 - 特許庁

A reference clock is inputted to an IC 1 to be tested from a reference clock oscillator 2, and an output signal having a minutely deviated frequency is converted into binary digital output data by a digitizer 3 and memorized in A region in a memory 4.例文帳に追加

基準クロック発振器２から基準クロックを被試験ＩＣ１に入力し、周波数が微少に偏移した出力信号をデジタイザ３で２値のデジタル出力データへ変換し、メモリ４のＡ領域へ記憶する。 - 特許庁

Each band-pass filter of the DUT tested device board 3 selects signals having different frequencies each from the multitone signal outputted from the AWG 11 of the tester 1 and supplies them to the input terminals of the LSI 2, respectively.例文帳に追加

ＤＵＴボード３の各帯域フィルタは、テスタ１のＡＷＧ１１から出力されるマルチトーン信号から各々異なる周波数の信号を選択し、前記ＬＳＩ２の入力端子にそれぞれ供給する。 - 特許庁

The optical pickup device is tested by evaluating a reproduction signal using at least two or more types of test disks of a first test disk with one recording layer and a second test disk with two recording layers.例文帳に追加

記録層が１層である第１のテストディスクと、記録層が２層である第２のテストディスクとの少なくとも２種類以上のテストディスクを用いた再生信号評価により光ピックアップ装置を検査するようにする。 - 特許庁

To obtain a test equipment for testing the characteristics of each chip by touching probes to the opposite sides of a semiconductor wafer in which various semiconductor wafers are tested with an easy operation.例文帳に追加

本発明は、試験装置に関し、特にウエハの両面よりプローブを接触させて各チップの特性を試験する試験装置に適用して、簡易な操作により、種々の半導体ウエハを試験することができるようにする。 - 特許庁

In the family house, her brother-in-law (her older sister's husband) Takeo KIYOHARA, a shakan (dormitory dean) and PE teacher, mesmerized her, saying: "You have the power of toshi [clairvoyance]," and tested her, which brought forth such good results that he continued her training. 例文帳に追加

実家では義兄（姉の夫）、中学校の舎監・体操教員であった清原猛雄に「お前は透視ができる人間だ」との催眠術をかけられたところ、優れた結果が出たため修練を続けることとなった。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

The gas contamination sensor includes an ion source which produces ion beam from the sample of gas to be tested, a first and a second ion detectors while respective first and second ion detectors receive ion from ion beams deflected in different ranges.例文帳に追加

ガス汚染センサは、試験されるガスのサンプルからイオンビームを生成するイオン源と、第１及び第２イオンディテクタとを含み、第１及び第２イオンディテクタの各々は異なる範囲で偏向されたイオンビームからのイオンを受ける。 - 特許庁

The job identification data includes an encoded identification of printer, a tested part (target) of calibration, current date, name of operator, and some extra information required for a given production environment.例文帳に追加

このジョブ識別データは、エンコードされたプリンタ識別、校正のどの部分が試験されているのか(ターゲット)、現在の日付、オペレータ名、及び所与の生産環境に必要と考えられる何等かの付加的な情報を含む。 - 特許庁

To provide a parallel test apparatus in which a signal for semiconductor memory apparatus can be varied at high speed when a plurality of semiconductor memory apparatuses are tested and a test time can be shortened.例文帳に追加

複数の半導体記憶装置をテストする際に、これら各半導体記憶装置に対する前記信号を高速に変化させることが可能で、テスト時間を短縮することが可能な並列試験装置を提供する。 - 特許庁

Furthermore, the organism signal and the reference signal can be obtained by passing a specimen 31 to be tested through the optical path for the organism signals, and a standard board 32 through the optical path for the reference signals, respectively.例文帳に追加

更に生体信号用光学経路については被検体３１を、リファレンス信号用光学経路については基準板３２を一旦経由させることで、それぞれの経路から生体信号及びリファレンス信号を得る。 - 特許庁

To provide a semiconductor device provided with a package wherein a good result can be obtained when the semiconductor device incorporating a Peltier element is tested for temperature by using a test handler, concerning the semiconductor device with temperature control function.例文帳に追加

温度制御機能を有する半導体装置に関し、ペルチェ素子が組み込まれた半導体装置をテストハンドラで温度試験した場合に好結果が得られるパッケージを備えた半導体装置を提供しようとする。 - 特許庁

A decoder 22 decodes a composite video signal from a system 16 to be tested to produce a component video signal and to generate a color frame signal at start of each color frame of the composite analog video signal.例文帳に追加

デコーダ２２は、被試験システム１６からのコンポジット・ビデオ信号をデコードして、コンポーネント・ビデオ信号を発生すると共に、上記コンポジット・アナログ・ビデオ信号の各カラー・フレームの開始においてカラー・フレーム信号を発生する。 - 特許庁