Testedを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 2937件
To provide a test handler which can easily cope with reduction in part replacement period and various types of testers, and to decrease production cost by markedly reducing the number of parts replaced in accordance with the conversion of a semiconductor element to be tested.例文帳に追加
被検査半導体素子の変換に従って交替される部品の数を著しく低減して生産コストの節減、部品交替時間の短縮及び多様なテスタータイプに容易に対応し得るテストハンドラーを提供することを目的とする。 - 特許庁
The semiconductor memory 703 is tested by a test circuit 702, each test result of plurality of digits is held by a data-holding means 706 in the test circuit 702, and the digit of the defective data, concerning the failures in the semiconductor memory 703, is designated.例文帳に追加
テスト回路702により半導体メモリ703のテストを行い、そのテスト回路702内のデータ保持手段706により、複数桁の各々のテストの結果を保持して、半導体メモリ703内の故障にかかる不良データの桁を指定する。 - 特許庁
Test pattern data is generated based on this read out program data, and memory BIST is performed by comparing data read out after the test pattern data is written in a memory to be tested with expected value pattern data corresponding to the test pattern data.例文帳に追加
この読み出されたプログラムデータに基づいてテストパタンデータを生成し、被テスト対象メモリがテストパタンデータを書き込んだ後で読み出されたデータと、当該テストパタンデータに相当する期待値パタンデータとを比較することによりメモリBISTを行う。 - 特許庁
To provide a test method by which an optimized test is performed for a plurality of semiconductor memories to be tested and considerable number of devices can be saved out of devices discriminated as defective devices which are rejected by a conventional test method.例文帳に追加
複数の被試験半導体記憶装置に対して最適化された試験を行ない、従来の試験方法では救済することができず不良品と判定されたものの中から、かなりのものを救済することが可能な試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide a clip tester for extremely improving reliability of verification by generating pseudo failure at timing corresponding to operation timing of a circuit to be tested, and to provide a clip testing device, a clip testing method and a clip testing program.例文帳に追加
被試験回路の動作タイミングに対応したタイミングで擬似故障を発生させることができ、もって、検証の信頼性を極めて向上させることができるクリップテスタ、クリップ試験装置、クリップ試験方法、およびクリップ試験プログラムを提供する。 - 特許庁
The proliferative activity of epidermal cell and dermis fibrocyte of a test material is detected by relating VR1 activity of the epidermal cell with the proliferative activity of the epidermal cell and the dermis fibrocyte of the tested material brought into contact with the epidermal cell.例文帳に追加
表皮細胞に接触させた被験物質の表皮細胞及び真皮線維芽細胞増殖作用と、表皮細胞のVR1活性とを関連付けて、被験物質の表皮細胞及び真皮線維芽細胞増殖作用を検出する。 - 特許庁
An effect as the therapeutic agent of a tested substance against type 2 diabetes is evaluated using as an index an action onto a specified amino-acid sequence, using a mouse having a recombination pancreatic β cell expressing stably a protein having the specified amino-acid sequence.例文帳に追加
特定のアミノ酸配列を有する蛋白質を安定的に発現する組み換え膵β細胞を有するマウスを用い、特定のアミノ酸配列に対する作用を指標として、被験物質の2型糖尿病治療薬としての効果を評価する。 - 特許庁
The electromagnetic waves emitted from the directional antenna 1 is a signal non-modulated or modulated and the directional antenna 1 mounted to the arm of the XYZ linear type arm robot 3 can be irradiated at an arbitrary position of the apparatus 2 to be tested with the electromagnetic waves.例文帳に追加
指向性アンテナ1から発せられる電磁波は、無変調または変調のかかった信号であり、XYZ直行型アームロボット3のアームに取り付けた指向性アンテナ1は、被試験機器2の任意の位置に電磁波を照射することができる。 - 特許庁
This sensor unit used for specifically detecting a tested substance by using photoelectric current generated through photoexcitation of a sensitizing dye, includes a working electrode and a positioning member used for mounting the working electrode at a prescribed position.例文帳に追加
本発明のセンサユニットは、増感色素の光励起により生じる光電流を用いた被検物質の特異的検出に用いられるものであり、作用電極と、作用電極が所定の位置に載置されるための位置決め部材を備えてなる。 - 特許庁
The present invention provides an improved voltage current generator provided with a plurality of cards having a DA converter with an output ranged determined by a reference voltage, and for imparting an output from the DA converter in each of the cards to the tested object.例文帳に追加
本発明は、リファレンス電圧により出力範囲が決まるDA変換器を有するカードを複数枚設け、各カードのDA変換器の出力を被試験対象に与える電圧電流発生装置に改良を加えたものである。 - 特許庁
The first selection circuit inputs an input signal inputted from an external circuit and a setting data signal outputted from a storage cell provided in an internal circuit and selects and outputs the setting data signal when the internal circuit is tested.例文帳に追加
第1選択回路は、外部回路から入力される入力信号と、内部回路に備えられる記憶素子から出力される設定データ信号とを入力し、内部回路を試験するとき設定データ信号を選択して出力する。 - 特許庁
To obtain the output buffer circuit which enables a stable test to be conducted without being affected by delay caused by additional capacitor a connected tester side by increasing the driving capability of an output buffer having low driving capacity when the output buffer circuit is tested.例文帳に追加
弱いドライブ能力の出力バッファ回路のテスト時に、出力バッファのドライブ能力を高くすることで、接続されたテスタ側の付加容量による遅延などの影響を受けることなく、安定なテストが行える出力バッファ回路を得る。 - 特許庁
Then, communication between the portable telephone 30 and the portable telephone 40 is tested while the mobile phone 30 is made to operate the mobile phone 40 by allowing a control circuit 34 of the mobile phone 30 to perform the communication test program.例文帳に追加
そして、この通信試験用プログラムを携帯電話30の制御回路34に実行させることで、携帯電話30に携帯電話40の操作を行わせながら、携帯電話30と携帯電話40相互間の通信試験を行う。 - 特許庁
To provide a circuit and method for controlling test on integrated circuit by which communication paths between objects in an integrated circuit and between the outside of the integrated circuit and the objects can be tested efficiently.例文帳に追加
集積回路におけるオブジェクト間の通信路や、集積回路の外部と上記オブジェクトとの間の通信路を、効率的にテストする集積回路におけるテスト制御回路およびテスト制御方法を提供することを目的とするものである。 - 特許庁
A preliminary sucking exhaust pump 44 preliminarily sucks prior to measurement via preliminary sucking valves V6-V9 to suck the atmospheric air at sites to be tested collected by the suction cups 21, 22, 23a, 23b into proximity with the gas-measuring device 49.例文帳に追加
予備吸引用の排気ポンプ44は、予備吸引用弁V6〜V9を介して、測定前に予備吸引を行って、サクションカップ21,22,23a,23bが収集した試験対象部位の雰囲気をガス測定装置49の近傍まで引き込む。 - 特許庁
A sheet wave is formed in the test target 100 by transmitting an ultrasonic wave to the test target 100 from a transmitter 20 and the test target in the propagation route of the sheet wave is tested by receiving the sheet wave propagated through the test target by a receiver 30.例文帳に追加
送信子20から超音波を試験体100に送信することにより試験体に板波を発生させ、試験体を伝搬する板波を受信子30で受信することにより板波の伝搬経路における試験体を試験する。 - 特許庁
At normal operation, the substrate potential of the target transistor is equalized to that of the non-target transistor for use, and at implementation of a scan test, the substrate potential of the target transistor is tested, by impressing a back bias to a side that is increasing in the threshold of the transistor.例文帳に追加
通常動作時には、対象トランジスタの基板電位を、非対象トランジスタの基板電位と同電位にして使用し、スキャンテスト実施時には、対象トランジスタの基板電位を、トランジスタの閾値が上昇する側にバックバイアスを印加してテストする。 - 特許庁
Then, module loading acceptability specified by the module load sequence is tested, an error signal in response to a test result, significance of an error is determined and whether or not to continue module loading is determined.例文帳に追加
次いで、モジュールのロードシーケンスによって指定されるモジュールのロードの受け入れ可能性をテストし、このテスト結果に応答してエラー信号を生成するとともに、エラーの重大性を判断して、モジュールのロードを更に継続するのか中止するのかを判断する。 - 特許庁
Only when the CT is tested or when the PCB is mounted on a product board etc., to be actually used, the CPD_EC (EC) is fixed at the VSS to prevent or reduce transmission of a surge to the CT through the CPD_VCC at other times.例文帳に追加
CTをテストする際や、PCBを製品ボード等に実装して実使用する際にのみCPD_EC(EC)をVSSに固定することで、それ以外の際にCPD_VCCを介したCTへのサージの伝達を防止又は低減可能になる。 - 特許庁
A support rotating body 43 which rotates along with a driving wheel of a vehicle 20 to be tested, while supporting the driving wheel at the lower side, is disposed on the test machine 1 side, and the support rotating body 43 is rotated by a rotational driving force of a test machine-side power source 42.例文帳に追加
試験機1側には、試験車両20の駆動輪を下側で支持しつつ該駆動輪と連れ回る支持回転体43が設けられ、この支持回転体43は試験機側動力源42の回転駆動力により回転する。 - 特許庁
A test program storage part 24 stores a program realizing a plurality of test items, and a condition setting part 10 sets allowance information allowing omission of at least one test item to a plurality of tested circuits included in a lot.例文帳に追加
試験プログラム記憶部24は複数の試験項目を実現するプログラムを記憶し、条件設定部10はロット内に含まれる複数の被試験回路に対して試験項目の少なくとも1つの省略を許可する許可情報を設定する。 - 特許庁
Thereby, the holding data of the FFs 24, 28 is shifted by a control signal TCK, and is read out as a control signal TDO from an output terminal 25 so that whether the signal wiring connected to the output terminal 27 is good or not is tested.例文帳に追加
従って、制御信号TCKによって、FF24,28の保持データをシフトして、出力端子25から制御信号TDOとして読み出すことにより、出力端子27に接続された信号配線の良否を試験することができる。 - 特許庁
At tests, a false signal setting device 3 is connected to the signal transmitting medium to set a false signal by a false signal setting means 3A and transmit a setting signal to the false signal generating device connected to the control device to be tested.例文帳に追加
そして、試験に際しては、信号伝送媒体に模擬信号設定装置3を接続し、模擬信号設定手段3Aによって模擬信号を設定し、試験対象とする制御装置に接続された模擬信号発生装置に設定信号を伝送する。 - 特許庁
This environmental test device 100 comprises a case body 12, having a gas-adjusting chamber 25 storing a temperature/humidity-regulating means, and a cover 15, constituting a laboratory 14 for storing a body to be tested 9 adjacent to the gas-adjusting chamber 25.例文帳に追加
環境試験装置100は、温湿度調整手段が収容された気体調節室25を有する筐体12と、気体調節室25に隣接した被試験体9を収容する試験室14を構成するカバー15とを含んでいる。 - 特許庁
To provide a road surface water film reproducing system which is capable of stably forming on a virtual road surface a water film of a prescribed thickness which has the same speed as a desired speed of a vehicle to be tested, and reproducing a traveling state of the vehicle on the virtual road surface.例文帳に追加
被試験車両の所望する速度と同じ速度を有する所定厚さの水膜を仮想路面上に安定的に形成し、該仮想路面上で被試験車両の走行状態を再現できる路面水膜再現装置を提供する。 - 特許庁
Fluorescent lamps 14 and 15, which are illuminating light sources able to outgo illuminating light for illuminating a testing surface of a product to be tested, are covered with stain-proofing covers 20 detachably so that the outgoing surface of illuminating light can be prevented from contamination anyway.例文帳に追加
被検査物の被検査面を照明するための照明光を出射し得る照明光源である蛍光灯14、15における少なくとも照明光の出射面を汚損防止し得るように防汚カバー20で交換可能に被覆する。 - 特許庁
In the visual inspection device 3 for visually inspecting a printed board 4 tested by an automatic tester 2, the image of a defective place photographed by the automatic tester 2 and the data showing the defective place are read to be displayed on a display 34.例文帳に追加
自動検査装置2によって検査されたプリント基板4を目視で検査する目視検査装置3において、自動検査装置2で撮影された不良箇所の画像とその不良箇所を示すデータを読み出してディスプレイ34に表示させる。 - 特許庁
The dynamometer 17 includes: a drive electric motor 1; a flywheel 3 connected to the drive electric motor 1 and storing kinetic energy equivalent to that during the driving; and a torque meter 6 detecting the braking force of the brake 4 to be tested which brakes the rotation of the flywheel 3.例文帳に追加
駆動電動機1と、駆動電動機1に連結され、走行時と等価の運動エネルギーを蓄えるフライホイール3と、フライホイール3の回転を制動する被試験ブレーキ4の制動力を検出するトルクメータ6とからなるダイナモメータ17である。 - 特許庁
The problem is overcome by measuring the conductivity of the suspension liquid of the fecal matter to be tested as an index, and converting a measurement value of the fecal occult blood marker by using a measurement value of the index for control so as to adjust to measurement of the fecal occult blood marker.例文帳に追加
すなわち便潜血マーカーの測定に合わせて、上記指標となる被検糞便懸濁液の伝導度を測定し、該指標の測定値をコントロールとして便潜血マーカーの測定値を換算することにより課題が達成される。 - 特許庁
The optoelectronic circuit board can be tested by whether a light receiving device 4 has received a part of the optical signal 2 as a second optical signal 21 for test from the branch optical waveguide 15 through an aperture 150 for taking-out or not.例文帳に追加
分岐光導波路15から取出用開口150を介してその光信号2の一部を、第2の検査用光信号21として、受光装置4が受信したか否かによって光電子回路基板1の検査を行うことができる。 - 特許庁
A debugger is provided with a variable reference management table 114 related with variables which are not present in a program to be tested such as global variables, and each time such variables are referred to, the table is referred to, and when a proper value is already set, this is used.例文帳に追加
デバッガの中にグローバル変数等の被テストプログラム内にない変数に関する変数参照管理テーブル114を設け、そのような変数の参照がある毎にテーブルを参照し、既に適切な値が設定されているならばそれを用いる。 - 特許庁
The burn-in counter 1 grasps the burn-in stress (the temperature applied and the voltage applied) applied to the circuit 3 to be tested, counts up (monitors) the burn-in stress, and outputs the burn-in stress information corresponding to the applied temperature, the applied voltage, and a burn-in stress time to the outside.例文帳に追加
バーインカウンタ1は、被テスト回路3に印加されるバーインストレス(印加温度及び印加電圧)を把握し、バーインストレスをカウントアップ(モニター)して、印加温度、印加電圧、及びバーインストレス時間に対応したバーインストレス情報を外部に出力する。 - 特許庁
To provide a semiconductor-testing device capable of successively storing, in a normal order, code data being continuously outputted from a DUT (a device to be tested) in an interleave type digital capture memory without depending on the conditions of a pattern program.例文帳に追加
DUTから連続的に出力されるコードデータを受けてインターリーブ方式のデジタル・キャプチャー・メモリへの格納をパターンプログラムの条件に依存することなく正常な順番で順次格納可能とする半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a liquid crystal display panel capable of preventing air from flowing into an image display part of the liquid crystal display panel, when external pressure is generated in or after assembling the liquid crystal display panel, or when the assembled panel is tested in a condition of high temperature and high humidity.例文帳に追加
液晶表示パネルの合着時または合着後、外部の圧力や高温及び高湿検査条件で空気が液晶表示パネルの画像表示部に流入されることを防止し得る液晶表示パネルを提供しようとする。 - 特許庁
If you are uncertain if the problem is a user-problem (some error you made despite having read the documentation carefully) or asoftware-problem (some error we made despite having tested theinstallation/documentation carefully) you are free to join #gentoo on irc.freenode.net.例文帳に追加
その問題が、ユーザーの問題(文書をよく読んだにもかかわらず起きたあなたのミス)なのか、ソフトウェアの問題(インストール/文書をよくテストしたにもかかわらず起きた私たちのミス)なのか、はっきりしないときには、irc.freenode.netの#gentooに気軽に参加してみてください。 - Gentoo Linux
To provide a method for detecting an immunotoxicity of a substance to be tested by taking a polypeptide and a nucleotide changing their expressed amounts by an endocrine-disturbing substance as indices in immune cells, and a device for the same.例文帳に追加
本発明は、免疫細胞において、内分泌撹乱物質によって発現量が変化するポリペプチドおよびヌクレオチドを指標とする、被験物質の免疫毒性を検出するための手法および検出装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
To provide a method comprising easily and efficiently obtaining a microorganism group having aimed function from a tested specimen obtained from the natural environment or the like and obtaining a gene having the aimed function from the microorganism group.例文帳に追加
自然環境などより得られた被検試料から、目的の機能を有する微生物群を簡便に効率よく取得し、取得した微生物から、目的機能を有する遺伝子を取得する方法を提供することを目的とするものである。 - 特許庁
The concentrations of methyl iodide on the upstream and downstream sides of a filter to be tested are measured using the gas chromatograph equipped with a photoionization electron capturing type detector (photoionization ECD) and/or a hydrogen flame ionizing type detector (FID).例文帳に追加
供試フィルタの上流側と下流側のヨウ化メチル濃度を光イオン化式電子捕獲型検出器(光イオン化式ECD)及び/又は水素炎イオン化型検出器(FID)を備えるガスクロマトグラフを使用して測定することを特徴とする。 - 特許庁
(1) Values of ≧2.3 - <4.0 for erythema/eschar or for edema in at least 2 of 3 tested animals from grading at 24, 48 and 72 hours after patch removal or, if reactions are delayed, from grading on 3 consecutive days after the onset of skin responses; or例文帳に追加
(1)試験動物3匹のうち少なくとも2匹で、パッチ除去後24、48および72時間における評価で、または反応が遅発性の場合には皮膚反応発生後3日間連続しての評価結果で、紅斑/痂皮または浮腫のスコア値が≧2.3-<4.0である、または - 経済産業省
Furthermore, in view of the usage of agricultural chemicals overseas, tested substances increased from 200 to 450 for agricultural chemicals, from 60 to 110 for veterinary drugs, and from 3 to 60 for agricultural chemicals in livestock and aquatic animal products.例文帳に追加
更に、海外での農薬の使用状況等を踏まえ、検査項目については、残留農薬を 200 項目から 450項目、残留動物用医薬品を 60 項目から 110 項目、畜水産食品の残留農薬を 3 項目から 60 項目として実施した。 - 厚生労働省
For the purpose of preventing harm to public health in terms of food sanitation, certain countries/regions, inspected foods and tested substances, etc. were specified for imported foods having a high probability of being in violation of the Law. Inspection orders were then implemented based on the provisions of Article 26 of the Law.例文帳に追加
食品衛生上の危害の発生防止のため、法違反の蓋然性の高い輸入食品等については、対象国・地域、対象食品等及び検査の項目等を定め、法第 26 条の規定に基づく検査命令を実施した。 - 厚生労働省
Setting values inputted to items 'REC#1' and 'REC#2' of a spreadsheet 1 for input are made into text data and preserved as test data and at the time of unit module test, the preserved test data are read out and supplied to a module to be tested by a driver 3 for test.例文帳に追加
入力用スプレッドシート1の項目「REC#1」,「REC#2」に入力された設定値をテキストデータ化して試験データとして保存し、単体モジュール試験時に、試験用ドライバ3が保存した試験データを読み出し、被試験モジュール3へ供給する。 - 特許庁
Consequently, it becomes possible to operate blocks B and C while the test block A is tested, generate voltage drops in the blocks B and C, and obtain voltage distribution nearly equal to the ordinary mode (real working condition) in the test mode.例文帳に追加
これにより、テストモード時において、ブロックAの試験中に非試験ブロックBおよびCを動作させ、ブロックBおよびCに電圧降下を発生させることが可能となり、通常モード(実使用状態)に近い電圧分布を得ることが可能となる。 - 特許庁
The test program comprises the program main body part PH, and the cycle definition part CP, and only rewriting for the cycle definition part CP for defining the information depending on the semiconductor memory is enough to conduct the test easily when the different kind of the semiconductor memory is tested.例文帳に追加
テストプログラムはプログラム本体部PHとサイクル定義部CPとからなり、異なる種類の半導体メモリをテストする際には、半導体メモリに依存した情報を定義するサイクル定義部CPを書き換えるだけで、テストを容易に行うことができる。 - 特許庁
When a setup and a hold time are tested, a control circuit 5 switches a multiplexer 31 to a pass side, the output side of the address register 13 and the output register 32 are connected, and the address data held in the address register 13 are transferred directly to an output register 32.例文帳に追加
セットアップ及びホールド時間のテスト時、制御回路によりマルチプレクサがパス側に切り換わり、アドレスレジスタの出力側と出力レジスタとが接続され、アドレスレジスタに保存されているアドレスデータが出力レジスタに直接転送される。 - 特許庁
The engine or transmission is tested while controlling the first and second dynamometers DM1 and DM2 so that the engine EG mounted on the engine bench BEG and the transmission TM mounted on the transmission bench BTM are synchronously operated.例文帳に追加
エンジンベンチBEGに搭載されたエンジンEGとトランスミッションベンチBTMに搭載されたトランスミッションTMとが互いに同期して運転されるように、第1及び第2のダイナモメータDM1,DM2を制御しながらエンジン又はトランスミッションの試験を行う。 - 特許庁
After an antenna and an IC chip built in a unit card body 31 are tested, transfer sheets 20 are stuck to both sides, and transfer layers (having a protective layer 23, a printed layer 24 and an adhesive layer 25) are transferred at a time to express visual information.例文帳に追加
単位カード本体31に内蔵されたアンテナ及びICチップを試験した後、両面に転写シート20を貼り付け、転写層(保護層23,印刷層24,接着層25を有する)を一回で転写して、目視情報を表示する。 - 特許庁
When a lead 304 of a tested IC 302 is pushed on an upper end part 306A of the first contact 306 from upward, the contact 306 is depressed underneath (locking action), and a lower end part 306B of the first contact 306 is pushed on an elastic axis 307.例文帳に追加
第1コンタクト306の上端部306Aに上方から被検査IC302のリード304を押し付けると、コンタクト306は下方に沈み込み(ロッキング動作)、第1コンタクト306の下端部306Bが弾性軸307に押し付けられる。 - 特許庁
In a test circuit, a counter circuit 22 generates a control signal based on the result of comparison made by means of a comparison circuit 21 which compares test results from a circuit 1 to be tested, and an already set expected value and the operations of tri-state buffers 23 are controlled by means of the control signal.例文帳に追加
テスト対象回路(1)からのテスト結果と既設定の期待値とを比較する比較回路(21)からの比較結果を基に、カウンタ回路(22)が制御信号を生成し、この制御信号によりトライステートバッファ(23)の動作を制御する。 - 特許庁
To provide electronic equipment, particularly equipment for railway technologies that controls power equipment, that enables dielectrical capabilities of the electronic equipment to be tested in a laboratory and on site, and facilitotes provision of electrical safety connections which conform to a standard.例文帳に追加
本発明は、試験室と現場で電子装置の誘電性能を試験することが可能で、基準に一致する電気的に安全な結線を作ることが簡単な、電子装置、特に電力機器を制御する鉄道技術用の電子装置に関する。 - 特許庁
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