「Tested」に関連した英語例文の一覧と使い方(52ページ目) - Weblio英語例文検索

After detaching the outer holding plate 108, the inner holding plate 110 and the outer form 104, a bolt is inserted in a bolt hole 116 for form detachment to push out the restrictive plate 106, and a ring-like test piece with the material to be tested placed on the outer side of the restrictive plate is taken out.例文帳に追加

外側押え板１０８、内側押え板１１０、外型枠１０４を外した後、脱枠用ボルト穴１１６からボルトを差し込んで拘束板１０６を押し出すようにして、拘束板の外側に被試験材料が打設されたリング状供試体を取り出す。 - 特許庁

When a plurality of memory parts MEM1 are tested, test input data (DIN_T, ADR_T, CS_T, RW_T) generated in an inspection circuit BT1 are shifted in order in each register (SF5 to SF8) of a first data shift circuit formed by using a scan flip-flop, and are transferred to each memory part.例文帳に追加

複数のメモリ部ＭＥＭ１のテストを行う際、検査回路ＢＴ１において発生するテスト入力データ（ＤＩＮ＿Ｔ，ＡＤＲ＿Ｔ，ＣＳ＿Ｔ，ＲＷ＿Ｔ）は、スキャンフリップフロップを用いて形成される第１のデータシフト回路の各レジスタ（ＳＦ５〜ＳＦ８）を順にシフトされて、各メモリ部に転送される。 - 特許庁

3) Definite positive effects are recognized in a single animal, but less than the criteria of corrosion (In the case of a pronounced variability of response among animals, with a definite lesion recognized at the end of the observation period in only 1 of 3 tested animals).例文帳に追加

3) 一匹の動物で明確な陽性反応が認められるが、程度が上記 1)、2)の基準を満たすほどの所見では無い場合（個体差が大きい場合で、3 匹中１匹のみではあるが、観察期間終了時においても明確に病変が認められるような場合）。 - 経済産業省

To realize a vibration tester which enables increase of measurement efficiency, in a vibration test which is performed applying an exciting force from outside to a substance to be tested supported by a supporter, and enables increase of measurement precision too by performing the test in an ideal supported condition.例文帳に追加

支持体に支持された試験体に対して外部から加振力を付与して振動試験を行なう際の測定効率を上げることが出来、理想的な支持状態で試験が出来ることから測定精度もアップすることができる振動試験装置を実現できる。 - 特許庁

Then, for the component members 2, 3, 4 and 9, when test bacteria of JISZ2801 are replaced with soil bacteria and they are tested by a test method based on the JISZ2801, the number of live bacteria of the inoculated soil bacteria becomes hundredth part or less after 24 hours.例文帳に追加

そして、それら構成部材２，３，４，９は、ＪＩＳＺ２８０１の試験細菌を土壌菌に置き換えてそのＪＩＳＺ２８０１に準拠した試験方法で試験した場合には、接種した土壌菌の生菌数が２４時間後に１００分の１以下となる。 - 特許庁

To obtain an apparatus and a method for measuring a semiconductor laser element capable of long-term monitoring an oscillation wavelength, in a state in which no wavelength change exists due to a change of a temperature to be tested even by using a low-cost constant-temperature oven sold in the market and accurately evaluating long-term reliability.例文帳に追加

市販の廉価な恒温槽を用いながらも、被試験温度の変化による波長変動が無い状態で発振波長を長期的に監視でき、長期的波長信頼性の高精度な評価が可能な半導体レーザ素子の測定装置及び測定方法を得る。 - 特許庁

Relative height adjustment between a lens 2 to be tested held on a suction holding stand 4, the disk-shaped rotator 51 and the V-shaped abutting body is performed by using the Z-axis moving stage 7A on the rotation holding part 5 side and the Z-axis moving stage 7B on the positioning holding part 6 side.例文帳に追加

吸引保持台４に保持された被検レンズ２と、円盤状回転体５１およびＶ字状当接体との相対的な高さ調整は、回転保持部５側のＺ軸移動ステージ７Ａと、位置決め保持部６側のＺ軸移動ステージ７Ｂとを用いて行われる。 - 特許庁

This IC socket has a socket body 300 where an IC to be tested is placed, the contacts 400 arranged in the socket body 300, elastic shafts 500 for locking the contacts 400 in the socket body 300, and coupling screws 600 for coupling each plate 310, 320, 330 of the socket body 300.例文帳に追加

被検査ＩＣを載置するソケット本体３００と、このソケット本体３００内に配置されるコンタクト４００と、ソケット本体３００内でコンタクト４００を係止する弾性軸５００と、ソケット本体３００の各プレート３１０、３２０、３３０を結合するための結合ネジ６００とを有する。 - 特許庁

Since the disconnection is detected without delay even when the earth lines 16 and 17 are disconnected while the auto-handler 1 is operating, the IC 40, which is to be tested, is prevented from being broken when the static-electricity is accumulated and discharged at components of the auto-handler 1.例文帳に追加

したがって、オートハンドラ１の稼働中に、アース線１６・１７が断線した場合にも、迅速に当該断線を検出できるため、オートハンドラ１の各構成部材に静電気が蓄積し放電することにより被試験体となるＩＣ４０が破損することを防止できる。 - 特許庁

This instrument has a confocal optical system 50 for irradiating the tested object 31 with illumination light from above and forming an image by reflected light therefrom, and an oblique image observation optical system 60 for obliquely irradiating the object 31 with illumination light and forming an image by reflected light therefrom.例文帳に追加

被検物３１に対して上方から照明光を照射し、その反射光を結像させるコンフォーカル光学系５０と、被検物３１に対して斜め方向から照明光を照射し、その反射光を結像させる斜方像観察光学系６０とを有する。 - 特許庁

A failure probability calculation section 220 acquires a failure rate related to a corresponding test item of each of a plurality of modules constituting the apparatus 110 to be tested, and calculates the failure probability of the plurality of modules based on the failure rate of each acquired module and the determination result information.例文帳に追加

故障確率算出部２２０は、被試験器１１０を構成する複数のモジュールそれぞれの対応する試験項目に関する故障率割合を取得し、取得した各モジュールの故障率割合と、判定結果情報とに基づいて、複数のモジュールの故障確率を算出する。 - 特許庁

The fine aggregate for concrete or mortar contains the fine aggregate, which is judged to be not harmless when tested in the alkali-aggregate reaction according to the alkali-silica reactivity test methods (JIS A 1145 and JIS A 1146), and 5-40 wt.% granular blast furnace slag having ≤0.3 mm particle size.例文帳に追加

アルカリシリカ反応性の試験法（ＪＩＳ Ａ １１４５及びＪＩＳ Ａ １１４６）に基づいてアルカリ骨材反応に関して無害でないと判定される細骨材と、粒径０．３ｍｍ以下の高炉スラグ粉粒体５〜４０重量％とを含むコンクリート或いはモルタル用細骨材とした。 - 特許庁

To provide a low-cost semiconductor test system which is application- specific where various types of test devices are made into modules which are coupled in a plurality of numbers while an algorithmic pattern generating(ALPG) module is mounted for generating an algorithmic pattern specific to the memory of a device which is to be tested.例文帳に追加

各種の異なるタイプの試験装置をモジュール化してそれらの複数個を組み合わせ、かつ被試験デバイスのメモリに固有のアルゴリズミックパターンを発生するためのアルゴリズミックパターン発生（ＡＬＰＧ）モジュールを搭載し、低コストでアプリケーションスペシフィックに構成した半導体テストシステムを提供する。 - 特許庁

A self-constitution type memory is provided in a chip, the self- constitution type memory or other memory and a logic circuit in the chip in which a test circuit is constituted in a normal memory are tested by a tester HDL, the memory used for constitution of the test circuit can be operated as a normal memory.例文帳に追加

自己構成型のメモリをチップ内に設けて、テスタＨＤＬによりその自己構成型のメモリまたは通常のメモリにテスト回路を構成してチップ内の他のメモリやロジック回路をテストし、テスト回路の構成に用いたメモリを通常のメモリとして動作できるように再構成するようにした。 - 特許庁

The reproduction object testing device 10 includes a measured motor 15 which is the motor corresponding to a motor 4 of the electric vehicle to be tested, and a synchronization control unit for controlling a rotation of the measured motor 15 according to rotational position information from a reference position of the motor 4.例文帳に追加

再現対象試験装置１０は試験対象電動車両のモータ４に対応するモータを被測定モータ１５とし、モータ４の基準位置からの回転位置情報に応じて被測定モータ１５を回転制御する同期制御部を有することを特徴とする。 - 特許庁

In the system and method, parallel stress is applied to all DUTs in an arbitrary chip to shorten stress time, and then while preventing the generation of relaxation by holding the other DUTs of the chip at a stressed state, each DUT of the chip can be individually tested.例文帳に追加

本システムおよび方法は、任意のチップのＤＵＴの全ての並列ストレスを実施してストレス時間を短くし、それから、そのチップの他のＤＵＴをストレスがかかった状態に保ってリラクゼーションが起こるのを防ぎながら、そのチップの各ＤＵＴを個々に試験することができるようにする。 - 特許庁

In the construction process of a reactor power plant, a reactor pressure vessel 1 inside of a ABWR employed for the reactor power plant is pressure-tested by adding pressure with a control rod drive system driving water pump and adding test pressure exceeding maximum working pressure to the pressure test region at once.例文帳に追加

原子力発電プラントの建設途上で、その原子炉発電プラントに採用されたABWRの原子炉圧力容器１内を制御棒駆動系駆動水ポンプで加圧し耐圧試験範囲に対して最高使用圧力を超える試験圧力を加えて一度に耐圧試験を実施する。 - 特許庁

Since the GPS satellite radio waves for test are generated on the basis of the GPS information, and the travel data is related to the GPS satellite radio waves for test and reproduced, it is possible to heighten accuracy in test results when overall communication performance and a navigation system are tested.例文帳に追加

ＧＰＳ情報に基づいて試験用のＧＰＳ衛星電波が発生させられ、該試験用のＧＰＳ衛星電波に対応させて走行データが再生されるので、通信性能及びナビゲーションシステムの全体の試験を行ったときの試験結果の精度を高くすることができる。 - 特許庁

The method for evaluating/selecting a substance which suppresses the bitterness of the catechins includes: selecting a substance which inhibits TR2 activity as a substance for inhibiting bitterness by contacting the catechins and a substance to be tested with an AR42J cell and measuring the change of calcium concentration in the cell.例文帳に追加

カテキン類及び被検物質をＡＲ４２Ｊ細胞に接触させ、細胞内カルシウム濃度の変化を測定ことによる、ＴＲ２活性を抑制する物質を苦味抑制物質として選択するすることを特徴とする、当該カテキン類の苦味を抑制する物質の評価又は選択方法。 - 特許庁

Furthermore, a process for selecting a microorganism to prepare the support is provided, comprising the stages of: (i) preparing a microorganism to be tested and bringing the microorganism into contact with at least one epithelial cell; and (ii) detecting the expression of opioid receptors and/or cannabinoid receptors in at least one epithelial cell.例文帳に追加

更に、そのための微生物を選択する、以下の段階を含む方法：ｉ）試験微生物を準備し、少なくとも一つの上皮細胞と接触させる段階、及び、ｉｉ）少なくとも一つの上皮細胞のオピオイド受容体及び／又はカンナビノイド受容体の発現を検出する段階。 - 特許庁

The user data write control section 6 writes user data stored in a user data storage section 4 conforming to a previously set user type in an address except the bad block of the memory 1 to be tested conforming to a write format stored in a format storage section 8 through the control section 3 successively from the head address.例文帳に追加

ユーザデータ書込制御部６は予め設定されたユーザータイプに従ってユーザデータ記憶部４に記憶したユーザーデータを、フォーマット記憶部８に記憶された書込みフォーマットに従い被検メモリ１のバッドブロック以外のアドレスに先頭アドレスから順次メモリ制御部３を介して書き込む。 - 特許庁

In this instrument having a reference chart 4, and an imaging element 2 for converting a light intensity distribution of an image of the reference chart 4 image-focused on an imaging surface by the tested lens 1 into electric signals, moving means 3, 10 that can move the reference chart 4 and the imaging element 2 independently are provided.例文帳に追加

基準チャート４と、被検レンズ１により撮像面に結像した基準チャート４の像の光強度分布を電気信号に変換する撮像素子２とを有するレンズ測定装置において、基準チャート４と撮像素子２とを互いに独立して移動可能な移動手段３、１０を備えた。 - 特許庁

While the device-test-conducting control device is conducting a predetermined test, the board handler section 30 carries, out of the chamber 40, a tester board 12 whose semiconductor devices 11 have been tested, and sets another tester board 12 in a vocant space in the chamber 40.例文帳に追加

ボードハンドラ部３０は、デバイステスト実施制御装置による所定のテストの実施中において、テストが終了した半導体デバイス１１を搭載したテスタボード１２をチャンバ４０から搬出するとともに、チャンバ４０における空き領域に新たなテスタボード１２をセットする。 - 特許庁

To achieve a practical free drop test which can be repeated while being managed by executing a drop test while controlling the attitude of an article to be tested with respect to a dropping face until immediate before first collision so that the article can collide like a free fall body.例文帳に追加

落下試験を、落下試験される物品の落下面に対する姿勢を最初の衝突の直前まで制御することによって実行し、それによって物品が自由落下体のように衝突出来るようにし、実際的な、管理可能で反復出来る自由落下試験を達成する。 - 特許庁

To provide a capillary type testing piece of a simple structure which detects accurately gas leakage and liquid leakage from a tested body, using a silica capillary tube of an existing product free from blinding or capable of detecting blinding, and also to provide a testing method using the same, and a blinding detecting method.例文帳に追加

目詰まりのない又は目詰まりを容易に検出できる既製品のシリカキャピラリーチューブを用いて被試験体からのガス漏れや液体漏れを正確に検出できる簡便構造のキャピラリー型試験片とこれを用いた試験方法及びこの目詰まり検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device for a power transmission device that can vary tension of a belt or a chain of the power transmission device to be tested for simulating a rotational variance of an internal combustion engine and that can change the period and the variance width of the tension variance easily.例文帳に追加

内燃機関の回転変動を模擬すべく、試験対象となる動力伝達機構のベルト又はチェーンの張力を変動させることができ、かつその張力変動の周期及び変動幅を容易に変更できる動力伝達機構の試験装置を提供する。 - 特許庁

Upon the completion of the test of the first electronic component W-1, the switching mechanism 7 related thereto is switched to off, while the switching mechanism 9 related to the second electronic component W-2 is turned on, and the second electronic component W-2 is tested.例文帳に追加

第一番目の電子部品Ｗ−１の試験が完了すると、これに関連するスイッチ機構７がオフに切り替えられ、その一方で第二番目の電子部品Ｗ−２に関連するスイッチ機構９がオンされて、第二番目の電子部品Ｗ−２の試験が行われる。 - 特許庁

When a semiconductor memory 50 is tested, the prescribed conversion regulation in converting logic address to a physical address is read out from a conversion program storage device 14, the conversion regulation is converted to HDL data forming a logic circuit in the scrambler 12 by a write data generating circuit 16.例文帳に追加

半導体メモリ５０を試験する際に、変換プログラム記憶装置１４から論理アドレスを物理アドレスに変換する際の所定の変換則が読み出されて、その変換則が書込みデータ生成回路１６にてスクランブラ１２での論理回路を形成するＨＤＬデータに変換される。 - 特許庁

A controller unit controls the super-magnetostrictive actuators respectively used for tensile / compressive and torsional operations, based on a tensile / compressive load and a torsional torque on the object to be tested, which are detected by a load / torque sensor, or based on a tensile / compressive displacement and a rotational displacement of the movable chuck, which are detected by a noncontact displacement gauge.例文帳に追加

制御装置は、荷重トルクセンサで検出された供試体の引張圧縮荷重および捻りトルク、または非接触変位計で検出された可動チャックの引張圧縮変位および回転変位に基づいて、超磁歪アクチュエータおよび捻り用超磁歪アクチュエータを制御する。 - 特許庁

The closed vessel is composed so that a gas enclosing body carried in from the outside of the vessel and capable of being broken is contained in the vessel, and the gas enclosing body in the closed body is broken to diffuse the gas in the closed vessel, and the presence or absence of gas leakage from the closed vessel is tested.例文帳に追加

容器内に、該容器の外部から破砕可能なガス封入体を収容して密閉容器を構成すると共に、この密閉容器内のガス封入体を破砕し、密閉容器内にガスを拡散させ、該密閉容器からのガスの漏出の有無を検査することを特徴とする。 - 特許庁

To provide a line test system using a packet, and a switching device in which a line can be tested regardless of an active/inactive status without having a MAC address unique to each device.例文帳に追加

本発明はパケットを用いた回線試験システムに関し、装置毎に固有のＭＡＣアドレスを持たせることなく、また、運用中／非運用中にかかわらず回線試験を行なうことができるパケットを用いた回線試験システム及びスイッチング値装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and a testing method thereof wherein complexity in configuration for testing can be reduced, in a circuit to be tested corresponding to a signal terminal in which inter-chip wiring is formed, and a test equivalent to the case of testing a single semiconductor chip can be performed.例文帳に追加

チップ間配線がなされた信号端子に対応するテスト対象回路について、テストを行うための構成が複雑化することを抑制しつつ、半導体チップ単体の場合と同等のテストを行うことができる半導体装置およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

By the residual electric charge measuring method, AC voltage electrification based upon a specific electrification pattern is repeated in steps and the degree of the water tree deterioration is diagnosed by using as an index the ratio of the maximum AC electrification electric field intensity when the residual electric charges are measured and the insulator thickness of the tested cable.例文帳に追加

残留電荷測定法において、所定の課電パターンからなる交流電圧課電をステップ状に複数回行い、残留電荷が測定される最高交流課電電界強度と供試ケーブルの絶縁体厚さとの比を指標として水トリー劣化の程度を診断する。 - 特許庁

This evaluating or selection method for a preventing or improving agent of the optical aging doses a substance to be tested to a selenodont, irradiates a cervical part of the selenodont with an ultraviolet ray having 0.7-1 MED of B wavelength over 6-20 weeks, and measures a ruga formed in a corresponding portion.例文帳に追加

げっ歯動物に被験物質を投与し、且つ当該動物の頸部に０．７〜１ＭＥＤのＢ波長紫外線を６〜２０週間照射し、次いで当該部位に形成されるしわを測定することを特徴とする、光老化の予防又は改善剤の評価又は選択方法。 - 特許庁

When the execution state of the software components to be tested is put in a state expressed by the pre-condition definition information, an execution virtual environment application server 100 shifts the execution state to the state expressed by the post-condition definition information corresponding to the pre-condition definition information.例文帳に追加

テスト対象のソフトウェアコンポーネントの実行状態が、事前条件定義情報で表される状態に至った場合に、実行仮想環境アプリケーションサーバ１００が、当該実行状態を、事前条件定義情報に対応する事後条件定義情報で表される状態に遷移させる。 - 特許庁

A testing data frame is transmitted to a target device to be tested, and frame state information of the transmitted data frame received via the target device is extracted, and the frame state information based on selected item information, out of the extracted frame state information, is selected as distribution information.例文帳に追加

試験用のデータフレームを被試験デバイスに対して送信し、送信したデータフレームを被試験デバイスを介して受信したデータフレームのフレーム状態情報を抽出し、この抽出したフレーム状態情報のうち選択項目情報に基づくフレーム状態情報を分布情報として選択する。 - 特許庁

To provide semiconductor device testing equipment capable of supporting even a thin wafer without flexural deformation thereof, and which eliminates the need for moving a probe needle in contact with a back surface electrode of the wafer even when a semiconductor element to be tested is shifted; a testing method using the same; and a coaxial probe needle unit used for the same.例文帳に追加

薄いウエハでも撓みなく支持でき、測定される半導体素子が切り替わった場合でも、ウエハの裏面電極と接触するプローブ針を移動させる必要のない半導体測定装置及び測定方法並びに同軸プローブ針ユニットを提供すること。 - 特許庁

In a state in which the shaft core part 14b is loosely fitted into the vacant hole 3a of the electronic board 1, the contact electrode section 15 is brought into contact with the solder-coated pads 6a, 6b, and continuity state between the probes 12 or between the probe 12 and a ground terminal is tested by a probing test tool 28.例文帳に追加

軸心部１４ｂを電子基板１の空孔３ａに遊嵌させた状態で、半田被覆パッド６ａ，６ｂに接触電極部１５を接触させ、触針検査ツール２８によって、プローブ１２相互間又はプローブ１２とグランド端子間の導通状態が検査される。 - 特許庁

To provide a security medium that does not require a standard pattern and is not affected by variations in degree of similarity between a standard pattern and a pattern to be tested due to instrumental errors of an authenticity determiner, and also, is difficult to duplicate and has high security even while reducing an FMR and an FNMR.例文帳に追加

標準パターンを必要とせず、真贋判定器の器差による標準パターンと被検パターンとの類似度がばらつくことによる影響を受けず、ＦＭＲ及びＦＮＭＲを小さくしながらも、複製が困難でセキュリティ性の高いセキュリティ媒体を提供する。 - 特許庁

This PCT conduction checker 1 includes a 4-pole plug part 9 inserted into a 4-pole plug insertion port, a 2-pole plug part 11 inserted into a 2-pole plug insertion port, a power supply section 12, and a contact electrode 13 for test to be brought into contact with a terminal to be tested.例文帳に追加

ＰＣＴ導通チェッカー１は、４極のプラグ挿入口に挿入される４極用プラグ部９と、２極のプラグ挿入口に挿入される２極用プラグ部１１と、電源部１２と、試験対象の端子に接触させる試験用接触電極１３とを備えている。 - 特許庁

To reduce an amount of correction from a predetermined default state when the initial open/closed states of an electrical switch, a switch, a relay, or the like comprising a power system are set before a monitor and control system is tested using a power system simulator.例文帳に追加

電力系統模擬装置を用いて監視制御システムの試験を行う際、電力系統を構成する開閉器、スイッチ、リレー等の開閉状態を設定するが、その初期設定状態を任意に設定する際に、あらかじめ決められたデフォルト状態からの修正を少なくする。 - 特許庁

(B) The material is tested by either of (a) acceleration test for promoting formation and consolidation of ettringite and (b) construction test for two years or more, then the ettringite content and compressive strength of the sample are measured, and the measured value satisfies [compressive strength (MPa)<-3.75×ettringite content (mass%)+15].例文帳に追加

（ロ）材料を、（a）エトリンガイト生成と固結を促進させる加速試験、（b）２年以上の施工試験、のいずれかの試験に供した後、その供試体のエトリンガイト含有率と圧縮強度を測定し、該測定値が［圧縮強度（MPa）＜−3.75×エトリンガイト含有率（mass％）＋15］を満足する。 - 特許庁

To provide a device mounted wafer for which an energization test of each device formed thereon can be reliably performed in an on-wafer state even if the wafer is a bonded wafer, to provide a device chip that can be reliably tested for energization in an on-wafer state, and to provide a method of manufacturing the same.例文帳に追加

張り合わせウェーハであっても、その上に形成された各デバイスをオンウェーハ状態で確実に通電検査を行うことができるデバイス搭載ウェーハの提供、オンウェーハ状態での通電検査を確実に行うことができるデバイスチップ及びデバイスチップの製造方法の提供を課題とする。 - 特許庁

To control temperature of a cooling liquid in an engine to desired temperature faster than conventionally, for an engine cooling liquid control unit which sends out a cooling liquid to an engine to be tested, by controlling the temperature of the cooling liquid and a testing system on an engine stand for testing engine on the stand.例文帳に追加

本発明は、冷却液の温度を制御して試験対象のエンジンに送り出すエンジン冷却液制御装置、およびエンジンの台上試験を行なうエンジン台上試験システムに関し、エンジンの冷却液温度を従来よりも高速に所望の温度に制御する。 - 特許庁

To provide a photometric device capable of calibrating in a short time without requiring repetition of sensitivity calibration in each wavelength of each optical sensor, even when a spectral sensitivity characteristic is changed with elapse of time, and measuring highly accurately characteristics such as chromaticity, illuminance or color rendering properties of light to be tested.例文帳に追加

分光感度特性が経時により変化したとしても、各光センサの波長毎の感度校正をし直す必要がなく、短時間にて校正することができ、高精度に被試験光の色度、照度、演色性などの特性を高精度にて測定することが可能な測光装置を提供する。 - 特許庁