「Tested」に関連した英語例文の一覧と使い方(55ページ目) - Weblio英語例文検索

An antenna for transmitting a radio wave for a test to an RFID tag and receiving a radio wave transmitted from the RFID tag is arranged on the origin position, data are written/read out from the antenna to the tested object and respective radius vectors, elevation angles and direction angles are successively updated and measured to evaluate the RFID tag.例文帳に追加

原点位置にＲＦＩＤタグに対して試験用の電波の発信とＲＦＩＤタグから送信された電波の受信を行うアンテナを設け，アンテナから被試験体に対して書き込みと読み出しを行って，各動径，仰角，方位角を順次更新して測定して評価するよう構成する。 - 特許庁

To provide an inexpensive and application-specifically constituted semiconductor test system for testing semiconductor device, by making various different types of testing devices modules, combining a plurality of them, and providing a measuring module corresponding to a function peculiar to a device to be tested in a test fixture.例文帳に追加

半導体デバイスを試験するための半導体テストシステムであり、特に各種の異なるタイプの試験装置をモジュール化してそれらの複数個を組み合わせ、かつ被試験デバイスに固有の機能に応じた測定モジュールをテスト・フィクスチャ内に設けることにより、低コストでアプリケーションスペシフィックに構成した半導体テストシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device which can greatly shorten test time required for tests by enabling measurement of three or more signals simultaneously and by greatly increasing the number of devices under test (DUT) which can be tested simultaneously, and can largely improve flexibility in the allocation of DUT pins.例文帳に追加

３信号以上の同時測定を可能にするとともに同時試験可能なＤＵＴの数を大幅に向上させることで試験に要する時間を大幅に短縮することができ、更にはＤＵＴのピンの割り付けの自由度を大幅に向上させることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

When the output of the voltage adjuster 7 is boosted gradually from a zero voltage to a test voltage, the output voltage is applied on a high-voltage step-up transformer 9 through a selection switch 8, and boosted there, and the boosted voltage is applied on a secondary winding 11S of the transformer to be tested 11.例文帳に追加

電圧調整器７の出力を零電圧から試験電圧まで徐々に上昇させると、その出力電圧は選択スイッチ８を介して高圧用昇圧変圧器９に印加され、ここで昇圧されて、その昇圧電圧が被試験変圧器１１の二次巻線１１Ｓに印加される。 - 特許庁

A spatial data providing supporting server 2 mediates between a data buyer client 1 and a spatial contents server 3, reflects a specification desired by the buyer, provides a preview matched to the tested machine performance of the client 1 to allow the buyer to evaluate the spatial data and decides the specification of the spatial data with the buyer.例文帳に追加

空間データ提供支援サーバ２が、データ購入者クライアント１と空間コンテンツサーバ３の間に仲介し、購入者の要求する仕様を反映し、テストしたクライアント１のマシン性能に合わせたプレビューを提供して購入者に品定めさせ、購入者との間で要求する空間データの仕様を決定する。 - 特許庁

To provide a selection method of a lubricant highly correlated to an actual reliability tested result by directly and quantitatively measuring force acting between a protective layer and the lubricant, a manufacturing method of a magnetic recording disk using the lubricant selected by the method, and the magnetic recording disk.例文帳に追加

保護層と潤滑剤との間に作用する力を直接、定量的に測定することにより、実際の信頼性試験結果との相関性の高い潤滑剤の選択方法、この方法により選択された潤滑剤を用いた磁気記録ディスクの製造方法、および磁気記録ディスクを提供すること。 - 特許庁

Since data inputted into the terminal 1 of the input/output circuit 10 is outputted from the terminal 2 via an output circuit 223 from an input buffer 13 and a gate control part 22 of an input/output circuit 20, the input/output circuits 10 and 20 can be tested through program processing without going through the internal bus B.例文帳に追加

そして、入出力回路１０の端子１に入力されたデータが入力バッファ１３および入出力回路２０のゲートコントロール部２２のセレクタ２２２から出力回路２２３を介して端子２から出力されるので、プログラム処理による内部バスＢを介することなく入出力回路１０，２０のテストが可能になる。 - 特許庁

To make air flow without generating deviation not to generate voltex in the upstream in the vicinity of a tested jet engine in an engine room, when the outside air of high flow velocity is taken in from an intake noise-suppressing chamber to conduct a test run.例文帳に追加

ジェットエンジンテストセルにおいて、流速の速い外部空気を吸気消音室より取り入れて試験運転を行うに際し、エンジン室内における供試ジェットエンジン近傍上流側において渦が発生しないように空気が偏りなく流れるようにした吸気消音室用遮風体を提供すること。 - 特許庁

In this IC testing system, the chip arrayals to be tested at one time in a wafer prober 200 are made to correspond to the positions on rectangular coordinates for transmitting respective coordinates as character string data to an IC testing device 300, where the location data comprising the character string data are converted into the chip map data to generate the chip map using these chip map data.例文帳に追加

ウェハプローバにおいて一度に試験するチップの配列を直交座標上の位置に対応させ、各座標を文字列データとしてＩＣ試験装置に伝送させ、ＩＣ試験装置ではチップマップ変換手段により文字列データから成るロケーション・データをチップマップデータに変換し、このチップマップデータを使ってチップマップを作成する。 - 特許庁

The tested lens 5 is held at two rotational positions separated by 90° from each other in relation to a measuring light axis C and measured respectively, the resulting first and second aberration functions are classified into respective aberration functions corresponding to Seidel aberrations, to find the first and second aberration functions corresponding to the astigmatism therefrom.例文帳に追加

被検レンズ５を測定光軸Ｃに対し、互いに９０度だけ離れた２つの回転位置に保持して各々の測定を行い、得られた第１および第２の収差関数をザイデル収差に対応した各収差関数に分類し、その中でアス収差に対応した第１および第２アス収差関数を求める。 - 特許庁

The coil 12 or the applied electric power generating part 2 is controlled, and then the resonance condition is automatically tracked to be satisfactorily maintained by a resonance controlling part 3, while making the testing conditions during the test period about the test electric power applied to the resonance circuit not to be fixed, when the capacitor 11 is tested.例文帳に追加

さらに、コンデンサ１１の試験時に共振回路に印加される試験電力などについての試験条件を試験時間中で一定とせず、共振制御部３によってコイル１２または印加電力生成部２を制御して自動的に共振状態を追尾し、その共振状態を良好に保持する。 - 特許庁

The light transmission module comprises the carrier 10 mounting the laser diode element being pressed against a block 20 having a plane of high planarity by means of a springy electrode 23b and secured in place and then tested using a test stem for connecting leads led out from the electrode with an external device electrically.例文帳に追加

平滑性の高い平面を有するブロック２０に、ばね性を有する電極２３ｂで、レーザダイオードを搭載したキャリア１０を押しつけて固定し、電極からリードを導き出して外部装置と電気的接続する試験用ステムを用いて試験をしたキャリアを用いて光伝送モジュールを構成する。 - 特許庁

The operation timing generation unit 5 is used when the sensor LSI 50 is tested, and receives the mode control signal Sms output from the operation mode control unit 4, and outputs to the sensor unit 1 and the control unit 2 an operation control signal Sds to cause the sensor unit 1 to operate or to enter a standby state based on the mode control signal Sms.例文帳に追加

動作タイミング生成部５は、センサＬＳＩ５０のテスト工程のときに用いられ、動作モード制御部４から出力されるモード制御信号Ｓｍｓが入力され、モード制御信号Ｓｍｓに基づいてセンサ部１の動作或いは待機させる動作制御信号Ｓｄｓをセンサ部１及び制御部２に出力する。 - 特許庁

To completely prevent suffering a scratch by unintended contact with an inspection element or decline of reliability of an inspection result by effective utilization of compressed air, when a linear object to be tested of a nuclear fuel element is inserted into an inspection insertion hole formed close to the inspection element and a flow on the surface thereof or the like is inspected.例文帳に追加

核燃料要素の直状被検査体を、検査素子に近接して形成された検査用挿通口に挿通して表面の疵等を検査する際、検査素子との不本意な接触で擦り傷を受けたり、検査結果の信頼性が低下することを圧縮エアの有効利用で絶滅可能とする。 - 特許庁

To provide a separation method for accurately separating chloride ion containing ^36Cl from chloride ion containing ^36S in a shorter time than that required for a conventional barium sulfate method; with high reproducibility not depending on the subjectivity, ability, or skill of an operator; even in a case that a chloride ion concentration of a sample to be tested is low.例文帳に追加

従来法である硫酸バリウム法よりも短時間で、作業者の主観や技量、熟練度に依存することなく高い再現性をもって、しかも被検試料の塩化物イオン濃度が希薄な場合であっても、^３６Ｃｌ含有塩化物イオンを^３６Ｓ含有硫酸イオンから確実且つ精度よく分離する。 - 特許庁

The method for increasing the BMP-2 level in a subject to be tested includes a process for providing an aqueous BMP-2 suspension containing a resolubilizable BMP-2 polypeptide and a process for introducing a sufficient amount of the aqueous suspension to the subject to increase the BMP-2 level in the subject.例文帳に追加

被験体において、ＢＭＰ−２レベルを増加する本発明の方法は、再可溶化されたＢＭＰ−２ポリペプチドを含む水性ＢＭＰ−２懸濁液を提供する工程；および該被験体に、該被験体においてＢＭＰ−２レベルを増加するために十分な量で、該水性懸濁液を導入する工程を包含する。 - 特許庁

This molecular beacon by utilizing the switching of the monomeric light emission and excimer light emission is provided by bonding a fluorescent organic group capable of forming an excimer with both 3' and 5' terminals of a single strand oligonucleotide to be hybridized with an oligonucleotide to be tested, and the method for detecting a complemental chain DNA sequence and the method for detecting an SNP by using the molecular beacon are also provided.例文帳に追加

被検オリゴヌクレオチドとハイブリダイズさせる一本鎖オリゴヌクレオチドの3'及び5'両末端にエキシマー形成可能な蛍光性有機基を結合させ、モノマー発光とエキシマー発光のスイッチングを利用した分子ビーコン、及び該分子ビーコンを用いる相補鎖DNA配列検出方法ならびにSNP検出方法。 - 特許庁

The burn-in board is provided with both a mounting substrate to which the device to be tested is mounted and a positioning substrate mounted to the mounting substrate for positioning the temperature adjusting board by fitting the rocket pins provided for the temperature adjusting board lowered from above at burn-in test.例文帳に追加

また、バーンインボードは、被試験デバイスが取り付けられる取り付け基板と、前記取り付け基板に取り付けられた位置決め基板であって、バーンイン試験の際に、上方から下降してくる前記温度調整ボードに設けられた前記ロケットピンが嵌入し、温度調整ボードの位置決めをするための位置決め基板と、を備えている。 - 特許庁

The eccentricity measuring means 5 measures the amount of eccentricity of the optical system to be tested 1, while carrying out corrections, based on the degree of the angle between the center axis 3a of a spindle 3 and the center axis of the body tube 1a calculated from the amount of fluctuation of the body tube 1a measured by the body tube fluctuation measuring means 6.例文帳に追加

偏心測定手段５は、鏡筒振れ測定手段６が測定した鏡筒１ａの振れ量から算出される鏡筒１ａの中心軸がスピンドル３の中心軸３ａに対してなす角度の度合いに基づいて補正を行って被検レンズ系１の偏心量を測定する。 - 特許庁

There is the method for avoiding the inhibition of the nucleic acid amplification reaction due to gall components in the method for amplifying nucleic acid from microbes by removing the gall components in the culture liquid containing the microbes obtained from culture method as the tested sample and removing the gall components by centrifugal concentration and alkaline treatment.例文帳に追加

菌体由来の核酸を増幅する方法において、培養法によって得られた菌体を含む増菌培養液を被検試料とし、遠心濃縮およびアルカリ処理により前記培養液中の胆汁成分を除去することによって、胆汁成分による核酸の増幅反応阻害を回避する方法。 - 特許庁

For a line number and a data format type selected during operation of the line interface apparatus, test data is communicated through a path for processing signals of the selected data format type and a non-selected line number and normality of the apparatus is tested for the selected line number and data format type during operation.例文帳に追加

回線インタフェース装置の運用中の選択された回線番号とデータフォーマット種類に対し、選択された運用中の回線番号とデータフォーマット種類に対し、選択データフォーマット種類と非選択回線番号の信号を処理する経路に試験データを疎通させ装置の正常性試験を行う。 - 特許庁

The TCP handler 2 testing TCPs 50 having test pads 54c formed in the middle of each lead 53, includes: an insulation treatment device 7 for performing insulation treatment of the test pads 54c of the TCPs 50 after being tested; and a surface treatment device 8 provided in the preceding stage to perform insulation surface treatment of the test pads 54c.例文帳に追加

リード５３の中間にテストパッド５４ｃが形成されたＴＣＰ５０を試験対象とするＴＣＰハンドラ２において、試験後のＴＣＰ５０のテストパッド５４ｃを絶縁処理する絶縁処理装置７と、その前段に、テストパッド５４ｃの絶縁下地処理を行う下地処理装置８とを設ける。 - 特許庁

To provide a method for avoiding inhibition in a nucleic acid amplification reaction, by which the inhibition of the nucleic acid amplification reaction due to gall components can be avoided, in concentrating a tested sample to increase the detection sensitivity of the amplification reaction in genetic screening of microbes obtained by a culture method, and to provide a nucleic acid amplification method using the method.例文帳に追加

培養法によって得られた菌体について遺伝子検査を実施する場合において、検出感度を上げるために被検試料を濃縮し、かつ培地中に含まれる成分、特に胆汁成分による核酸増幅反応の阻害を回避する方法と前記方法を用いた核酸増幅法を提供すること。 - 特許庁

A primer for detecting a Megasphaera bacterium containing a specific base sequence and a primer for detecting a Megasphaera bacterium containing another specific base sequence are subjected to a PCR reaction using a DNA to be tested as the template, a PCR amplification product after the reaction is electrophoresed so as to detect existence or absence of a Megasphaera bacterium by a DNA band pattern.例文帳に追加

特定の塩基配列を含むメガスファエラ（Megasphaera）属細菌の検出用プライマーと、別の特定の塩基配列を含むメガスファエラ（Megasphaera）属細菌の検出用プライマーとを、被検DNAを鋳型としてPCR反応を行い、反応後のPCR増幅産物を電気泳動し、DNAバンドのパターンによりメガスファエラ（Megasphaera）属細菌の有無を検出する。 - 特許庁

The testing device 101 includes a stage 120 on which the force sensor 113, the object to be tested, can be placed, a driving part 130 capable of moving the force sensor 113 via the stage 120 to 6 directions of each axis rotation of X, Y, Z axes, and a loading part 140 capable of loading the force sensor 113 placed on the stage 120.例文帳に追加

試験装置１０１は、被試験体である力センサ１１３を載置可能なステージ１２０と、ステージ１２０を介して力センサ１１３をＸ・Ｙ・Ｚ軸の各軸回転の６方向に移動可能な駆動部１３０と、ステージ１２０上に載置された力センサ１１３に加重可能な加重部１４０と、を備えている。 - 特許庁

To provide a sensitive immunological detection method capable of extracting actinidine, a kiwi allergen, from a sample to be tested such as food containing a kiwi allergen through the use of SDS and detecting the allergen in either state altered by SDS or not altered by SDS, and to provide a detection kit used for the same.例文帳に追加

キウイアレルゲンを含む食品等の被検試料から、ＳＤＳを用いて、キウイアレルゲンであるアクチニジンを抽出し、上記アレルゲンがＳＤＳ変性／ＳＤＳ未変性のいかなる状態にあっても検出できる高感度な免疫学的な検出方法及びそれに用いられる検出キット等を提供すること。 - 特許庁

The method for searching the anti-alkylating agent that inhibits alkylation levels comprises measuring the expression level of fused gene having an alkylation-repairing gene that recognizes O^6methylguanine and adding a substance to be tested to an alkylated DNA of a host cell induced by the addition of an alkylating agent.例文帳に追加

本発明の抗アルキル化物質の探索方法は、Ｏ^６メチルグアニンを認識するアルキル化修復遺伝子を有する融合遺伝子の発現量を測定し、アルキル化剤添加により引き起こされた宿主細胞のＤＮＡのアルキル化に被検物質を添加し、アルキル化量を抑制する抗アルキル化物質を探索することができる。 - 特許庁

The probe card includes wiring and probes exclusively for a DC test for performing a DC test of one semiconductor chip on a wafer to be tested on which a plurality of semiconductor chips are formed and wiring and probes exclusively for an AC test for performing an AC test of another semiconductor chip.例文帳に追加

本発明のプローブカードは、複数の半導体チップが形成された被試験ウエハの１つの半導体チップに対してＤＣ試験を行うためのＤＣ試験専用の配線及び探針と、他の１つの半導体チップに対してＡＣ試験を行うためのＡＣ試験専用の配線及び探針と、を有する。 - 特許庁

This electrode prober 19 is arranged between an tested IC package 4 having a plurality of electrodes 8 and an IC mounting face 3 in an IC test device testing an operation of the IC package for conduction between respective electrodes 2 on the IC mounting face in the IC test device with the respective electrodes 8 in the IC package 4.例文帳に追加

複数の電極８が形成された試験対象のＩＣパッケージ４と、このＩＣパッケージの動作試験を行うＩＣ試験装置のＩＣ取付面３との間に介挿され、ＩＣ試験装置のＩＣ取付面３の各電極２とＩＣパッケージ４の各電極８とを導通させる電極プローバー１９である。 - 特許庁

The coverage analysis part instructs the control part not to extract coverage information about once tested logic elements, and the control part controls the logic simulation execution part in response to the instruction to stop extracting coverage information from the logic elements excluded from the extraction.例文帳に追加

前記カバレッジ解析部は、一度テストされた論理素子に関するカバレッジ情報は抽出しない旨の指示を前記制御部に出し、前記制御部は、その指示に基づいて、前記論理シミュレーション実行部を制御して抽出しない対象の論理素子からのカバレッジ情報の抽出動作を中止させる。 - 特許庁

A tester 1 having an AWG(arbitrary waveform generator) 11 generating and outputting a multitone signal including two or more signals having different frequencies each is connected with an LSI 2 to be tested having a plurality of input terminals by a DUT board 3 provided with the same number of band-pass filters as the input terminals of the LSI 2.例文帳に追加

各々周波数が異なる２以上の信号を含むマルチトーン信号を生成して出力するＡＷＧ１１を有するテスタ１と、複数の入力端子を有する試験対象たるＬＳＩ２とを、該ＬＳＩ２の入力端子と同数の帯域フィルタを備えたＤＵＴボード３によって接続する。 - 特許庁

IDDQs at sampling points of t1 to tm are measured in a fully stabilized quiescent current state of the IDDQs for test vectors of TV-1 to TV-n, with applying the test vectors TV-1 to TV-n, which are set H level or L level of an inner mode at CMOS integrated circuit 108 to be tested.例文帳に追加

試験対象ＣＭＯＳ集積回路１０８にその内部ノードをＨレベルあるいはＬレベルに設定するテストベクタＴＶ−１〜ＴＶ−ｎを印加して、その状態で各テストベクタＴＶ−１〜ＴＶ−ｎのＩＤＤＱの充分安定したQuiescent Current状態において、各サンプリングポイントｔ１〜ｔｍにおけるＩＤＤＱを測定する。 - 特許庁

A sound input output power level measuring apparatus 10 included in an automatic test system 1 is configured of a digital oscilloscope 32, a simulated sound processor 41, control PCs 5 and a bus controller 6, and measures with the digital oscilloscope 32 the sound input output power level of a sound processor K10 connected to a BOX 2 for connecting an instrument to be tested.例文帳に追加

自動試験システム１が備える音声入出力レベル測定装置１０は、デジタルオシロスコープ３２，擬似音声処理器４１，制御ＰＣ群５，及びバスコントローラ６を含んで構成されており、供試器接続用ＢＯＸ２に接続された音声処理器Ｋ１０の音声入出力レベルを、デジタルオシロスコープ３２で測定する。 - 特許庁

The semiconductor inspection jig is provided with an inspection jig 103 having a socket for mounting an IC to be tested, and a tester head 101 having a plurality of signal pins brought into contact with a plurality of contactors of the inspection jig, and has the structure in which an insulation member 102 intervenes between the inspection jig 103 and the tester head 101.例文帳に追加

被試験ＩＣを載置するためのソケットを有する検査治具１０３と、検査治具の複数の接触子と接触する複数の信号ピンを有するテスタヘッド１０１とを備える半導体検査治具であって、検査治具１０３とテスタヘッド１０１との間に絶縁部材１０２を介在させた構造を有する。 - 特許庁

To obtain high-occuracy measurement of discrete static current consumption properties of semiconductor integrated circuit device each and the electrical characteristics of a plurality of function circuits, even if a plurality of semiconductor integrated circuit devices are tested simultaneously for the static current consumption test of them and the electrical characteristics of the plurality of function circuits.例文帳に追加

半導体集積回路装置の静的消費電流テストや複数の機能回路の電気的特性を複数の半導体集積回路装置で同時に行っても、半導体集積回路装置個々の静的消費電流特性や複数の機能回路の電気的特性を高い精度で測定可能とする。 - 特許庁

This system comprises a picture plane recording means for recording a test work picture plane from the start of the test for a designated test item to its end as an animation in a first storage means; and an execution monitoring means for recording file information and test item information used by the software to be tested in a second storage means.例文帳に追加

指定されたテスト項目についてのテスト開始から終了までのテスト作業画面を動画として第１の記憶手段に記録する画面記録手段と、テスト対象ソフトウェアが使用したファイル情報およびテスト項目情報を第２の記憶手段に記録する実行監視手段とを備える。 - 特許庁

To provide a method for avoiding inhibition of nucleic acid amplification reaction with a component contained in a medium, especially with a bile component by concentrating a sample to be tested so as to increase detection sensitivity in the case of carrying out genetic testing with regard to a cell body obtained by a culture process and a method for amplifying a nucleic acid using the method.例文帳に追加

培養法によって得られた菌体について遺伝子検査を実施する場合において、検出感度を上げるために被検試料を濃縮し、かつ培地中に含まれる成分、特に胆汁成分による核酸増幅反応の阻害を回避する方法と前記方法を用いた核酸増幅法を提供すること。 - 特許庁

In this method, the information is reproduced from an optical disk containing the DMA information or it is verified whether a recorder- reproducer which records the information on the optical disk generates or updates accurately the DMA information after the recorder-reproducer carried out its processing in a test mode where generation or updating of the DMA information is tested.例文帳に追加

この方法は、ＤＭＡ情報を持つ光ディスクから情報を再生したり、或いは光ディスクに情報を記録する記録及び再生装置がＤＭＡ情報の生成または更新をテストするためのテストモードにおいて処理を行った後にＤＭＡ情報を正確に生成または更新するかどうかを検証する。 - 特許庁

The method for screening a shrinkage inhibitor of a vascular endothelial cell or the capillary stabilizer comprises culturing a collagen gel seeded with the vascular endothelial cell, with a tested sample for a prescribed time, and measuring a gel area of the collagen gel to judge the gel shrinkage-inhibiting effects of the test sample.例文帳に追加

血管内皮細胞を播種したコラーゲンゲルを、被検試料と共に一定時間培養し、当該コラーゲンゲルのゲル面積を測定することにより被検試料のゲル収縮抑制効果を判定することを特徴とする血管内皮細胞収縮抑制剤又は血管強化剤のスクリーニング方法。 - 特許庁

The semiconductor tester (200) includes: the IC socket (205) having a seat (203) separated from a body; a placement means (1) for placing the to-be-tested IC (2) on the IC socket; and an elevation means (206) for separating the seat (203) from the IC socket (205), and elevating the IC socket (205).例文帳に追加

本体から分離可能な台座（２０３）を有するＩＣソケット（２０５）と、前記ＩＣソケットに被試験対象のＩＣ（２）を配置する配置手段（１）と、前記台座（２０３）を前記ＩＣソケット（２０５）から分離上昇させる昇降手段（２０６）とを有することを特徴とする半導体試験装置（２００）である。 - 特許庁

This apparatus has a connecting terminal 21, to which an electronic part 22 to be tested is detachably connected, a pressing tool 24 for pressing the electronic component 22 in a direction to the connecting terminal to connect the electronic component 22 to the connecting terminal 21, and a cooling device 27 set to the pressing tool 24 for cooling the electronic component 22.例文帳に追加

試験すべき電子部品２２が着脱自在に接続される接続端子２１と、接続端子２１に電子部品２２を接続するように、この電子部品２２を接続端子方向に押し付ける押圧具２４と、押圧具２４に装着してあり、電子部品２２を冷却する冷却装置２７とを有する。 - 特許庁

The logic comparator where the expected values are consistent with the output data in all the output cycles of test patterns is detected further by a comparison result determination circuit, and the tested semiconductor circuit is a nondefective at the timing of the expected value input into the logic comparator, when the corresponding logic comparator exists.例文帳に追加

さらに比較結果判定回路にて試験パターンの全出力サイクルにおいて出力データと期待値が一致している論理比較器を検出し、該当する論理比較器があればその論理比較器に入力された期待値のタイミングで被試験半導体回路が良品であることを判定する。 - 特許庁

When a macro MACRO1 is cut out and tested, a signal is inputted in an internal circuit INT0 of the macro MACRO1 from an external input terminal 10, an internal circuit INT1 of the macro MACRO1 receives the signal and operates, and an output of the INT1 is delivered to a macro MACRO2 through a signal line 19.例文帳に追加

マクロＭＡＣＲＯ１を切り出してテストする場合、外部入力端子１０からマクロＭＡＣＲＯ１の内部回路ＩＮＴ０に信号が入力され、それを受けてマクロＭＡＣＲＯ１の内部回路ＩＮＴ１が動作し、その出力を信号線１９を経由してマクロＭＡＣＲＯ２に受け渡す。 - 特許庁

The device and method for testing the integrated circuit comprised of at least two circuit parts operated by at least two different clock signals at normal operation are provided, and the circuit operated by the plurality of clock signals is tested for a minimum time by minimum test vectors.例文帳に追加

通常動作において、少なくとも２つの異なるクロック信号によって動作する少なくとも２つの回路部分からなる集積回路をテストするための装置および方法を提供し、さらに、複数のクロック信号によって動作する回路を、最小限の時間で、かつ、最小限のテストベクトルによってテストする。 - 特許庁

The tool 1 as a substitute for the torque box hole includes a fixing object 3 having a hole 2 into which a vehicle fixing adapter 208 of the torque box type vehicle fixing device 201 is inserted, and a fixing object assembling member 4 for removably assembling the fixing object 3 to the bottom surface 102 of the vehicle 201 to be tested.例文帳に追加

トルクボックス穴代用治具１は、トルクボックス式車両固定装置２０１の車両固定アダプタ２０８を挿入する穴２を設けた被固定体３と、該被固定体３を着脱可能に被試験車両２０１の底面１０２に組み付ける被固定体組付部材４と、で構成されている。 - 特許庁