「Tested」に関連した英語例文の一覧と使い方(41ページ目) - Weblio英語例文検索

When it is judged to agree with, the optometry unit is driven to up, down, right, and left directions against the tested eye so that the bright point T2' comes into the alignment tolerance range Ma' of the sensor light intercepting plane 44a.例文帳に追加

一致していると判定されたときには、輝点像Ｔ２’がセンサ受光面４４ａのアライメント許容範囲Ｍａ’内に入るように、被検眼に対して上下、左右方向に検眼ユニットを駆動する。 - 特許庁

The respective light beams are incident on the liquid detection face a at incident angles θ01, θ02 within a range providing reflection strength designed according to a refractive index range of the liquid 2 to be tested.例文帳に追加

各光束は液体検出面ａに対して、被検液体２の屈折率範囲に対応して設計される反射強度が得られる範囲の入射角度θ_01及びθ_02で入射される。 - 特許庁

In another embodiment, the overspeed protection system can automatically be tested by adjusting the speed of the shaft (137) while being operated at a no-load rated speed.例文帳に追加

本発明の別の実施形態では、無負荷定格速度で動作しながらシャフト（１３７）の速度を調整することによって、パワープラント機械の過速度保護システムを自動的に試験することができる。 - 特許庁

A driver's aid device 5 displays a travelling speed pattern 12, a driving pattern for evaluating the performance of a vehicle to be tested 6 on a chassis dynamometer, on a driver's aid display device 4.例文帳に追加

シャシーダイナモメータにおける被試験車両６の性能評価を行うための運転パターンである走行速度パターン１２をドライバーズエイド表示装置４上に表示させるドライバーズエイド装置５である。 - 特許庁

Also, the light from the optical system to be tested in the state of being measured from which the intentional wavefront deformation is removed is wavefront divided for forming several images and second information is found (steps 116-118).例文帳に追加

また、意図的な波面変形が除去された被測定状態における被検光学系からの光を、波面分割して複数の像を形成し、第２波面情報を求める（ステップ１１６〜１１８）。 - 特許庁

The voltage applying probe 54 and a voltage measuring probe 56 are connected to a voltage input pad 74 and a voltage measurement pad 76, respectively, which are disposed on the semiconductor device 70 to be tested.例文帳に追加

電圧印加用プローブ５４及び電圧測定用プローブ５６が、被試験用の半導体装置７０に設けられた電圧印加パッド７４及び電圧測定パッド７６にそれぞれ接続される。 - 特許庁

To test a semiconductor circuit, first, a basic format for test pattern including at least one argument and a test program for testing a semiconductor circuit to be tested is created and stored in a testing device.例文帳に追加

半導体回路のテスト方法は、まず、少なくとも１つの引数と、テスト対象の半導体回路のテストを行うためのテストプログラムとを含むテストパタンの基本フォーマットを生成し、テスト装置内に記憶する。 - 特許庁

When a test pattern is inputted to semiconductor memory devices 11, 12,..., 1n to be tested from an ALPG (algorithmic pattern generator) a pattern is inputted to a No-Go flag 20 from the semiconductor memory devices 11, 12,..., 1n.例文帳に追加

試験対象である半導体メモリデバイス１１，１２，…，１ｎにＡＬＰＧからテストパターンを入力すると、半導体メモリデバイス１１，１２，…，１ｎからＮｏ−Ｇｏフラッグ２０にパターンが入力される。 - 特許庁

To provide an emergency operation controller capable of easily testing the emergency operation of each elevator in its actual installation environment when the elevator is simply tested for emergency operation.例文帳に追加

管制運転の試験をエレベーター毎に簡単に実施するにあたり、エレベーター毎に簡単に実設備環境下で管制運転の試験を行うことが可能な管制運転制御装置を提供する。 - 特許庁

A control circuit 38, if the voltage of the apparatus 20 to be tested is larger than a predetermined voltage, generates a control signal for alternately conducting FET28, FET30 at fixed stopping intervals.例文帳に追加

制御回路３８が、被試験装置２０の電圧が予め定めた電圧よりも大きいとき、ＦＥＴ２８、３０を、一定の休止期間を挟んで交互に導通するように制御信号を発生する。 - 特許庁

Since the test pad of the bond pad extension is disconnected from the electric components when not tested, the test pad of the bond pad extension test does not give any additional parasitic effects to the corresponding electric circuit device.例文帳に追加

テストしないとき、電気的構成要素からボンド・パッド延長部のテスト・パッドを切断できるので、ボンド・パッド延長部のテスト・パッドは、対応する電気回路デバイスに付加的な寄生効果を与えない。 - 特許庁

In an EDS test, the test pads and the bonding pads are electrically coupled to each of corresponding probe pins of a test apparatus, so that the inner circuits and the test element group circuits are simultaneously tested.例文帳に追加

ＥＤＳテスト時に、前記テストパッドと前記ボンディングパッドにはテスト装置の対応するプローブピンが各々電気的に連結され、その結果、前記内部回路と前記テスト素子グループ回路が同時にテストされる。 - 特許庁

The dynamometer 11 and a computer 13 for controlling the dynamometer control the load applied on the vehicle 12 to be tested, while providing the electric inertial load thereto which is set for each of an acceleration step, a constant traveling step, and a deceleration step.例文帳に追加

ダイナモメータ１１とダイナモメータ制御用コンピュータ１３は加速ステップ、定常走行ステップ、減速ステップ毎に設定した電気慣性負荷を与えながら供試車両１２に与える負荷を制御する。 - 特許庁

The switching circuit 4 is electrically connected to the TBIB 1 on which the IC 1A to be tested is mounted, and a first test signal of the IC test circuit 2 and a second test signal of the burn-in board checker 3 are switched.例文帳に追加

切換回路４は、被試験ＩＣ１Ａが実装されたＴＢＩＢ１と電気接続し、ＩＣ試験回路２の第１の試験信号とバーンインボードチェッカ３の第２の試験信号を切り換える。 - 特許庁

When or after a stress current is applied, a resistance between the heat dissipating/resistance measuring pads 3, 4, 5, 8, 9, and 10 is measured, whereby a resistance change in the tested wiring layer can be partially investigated.例文帳に追加

ストレス電流印加中もしくは印加後に各放熱兼抵抗測定用パッド間の抵抗値を測定することにより、被試験配線層の抵抗変動を部分的に調査することが可能となる。 - 特許庁

In the refrigerator before its shipment, since water is hardly supplied to an icemaking tray, the step of rotating the tray without load is omitted, and the refrigerator is tested from next step.例文帳に追加

出荷前の冷蔵庫は製氷皿に水が供給されていることはほとんどないため、製氷皿を空にする空回転工程を省略し、次の工程からテストを行うように構成した。 - 特許庁

Also, a four-terminal coupler 8, by which at least the part of reflected light from a part to be tested is separated from the optical path of light from the light source of the optical unit 3 is arranged at the inside of the imaging device 4.例文帳に追加

また、被検部からの反射光の少なくとも一部を光学ユニット３の光源からの光の光路から分離する４端子カプラ８を、画像化装置４の内部に配置している。 - 特許庁

To quickly discover the failure of peripheral equipment, and to improve the workability of system maintenance by executing a test program so that each peripheral equipment is tested successively from a site where failure rate is higher.例文帳に追加

各周辺装置について故障率の高い部位から順に試験するように試験プログラムを実行することにより、周辺装置の故障を迅速に発見しシステム保守の作業性を向上させる。 - 特許庁

To provide an image quality evaluation device that applies a disturbance to a device to be tested to evaluate the image quality and develops an objective discrimination method where missing of evaluation confirmation among consecutive disturbing frequencies hardly takes place.例文帳に追加

妨害を供試機器に加えて画質評価を行う装置において、連続した妨害周波数間の評価確認漏れが発生しにくい客観的な判定手法の開発を目的とする。 - 特許庁

To provide an optical fiber fusion part-measuring system that can surely test the fusion part of an optical fiber to be tested and can surely report the test result to a fusion connection work site.例文帳に追加

被試験光ファイバの融着部の試験を確実に行うことができ、その試験結果を融着接続作業現場へ確実に通知することができる光ファイバ融着部測定システムを提供する。 - 特許庁

When the communicating operation is tested, a reflection body 30 is placed in front of the VICS light beacon and transmit light is reflected and made incident on the receiving means 15 and 14, so that the communicating operation can be confirmed.例文帳に追加

通信動作テスト時に、このＶＩＣＳ光ビーコンの前に反射体30を置いて、送信光を反射させて受信手段に入射することにより、通信動作を確認することができる。 - 特許庁

To provide a method of determining, using a reference sequence extracting filter, whether or not there is insertion or deletion of bases in a DNA sequence to be tested or determining the number of bases inserted or deleted.例文帳に追加

基準配列抽出フィルターを用いて、被験DNA配列における塩基の挿入もしくは欠失の有無、または挿入もしくは欠失された塩基数を判定する方法の提供を課題とする。 - 特許庁

The 1st state is set to the storage means 19 first to test the accuracy of analog/digital conversion and when the result of test is defective, the 2nd storage state is set to the storage means 19 and the accuracy of analog/digital conversion is tested again.例文帳に追加

最初に記憶手段１９を第１の記憶状態としてＡ／Ｄ変換精度をテストし、不良であった場合には記憶手段１９を第２の記憶状態として再テストする。 - 特許庁

To provide an image quality evaluation apparatus for applying disturbance to a device to be tested so as to evaluate the image quality that develops an objective discrimination method with reliability to detect all image faults visually recognizable.例文帳に追加

妨害を供試機器に加えて画質評価を行う装置において、目視で認識できる全ての画像障害を検出する信頼性ある客観的判定手法の開発を目的とする。 - 特許庁

To provide an operation test support device for efficient and stable debugging in an operation test of a device to be tested performed by a semiconductor integrated circuit tester on the basis of a test program.例文帳に追加

テストプログラムに基づいて半導体集積回路試験装置が行う被測定デバイスの動作試験において、効率良く、安定したデバッグを行うための動作試験支援装置を提供する。 - 特許庁

When the first testing device is connected to the system, this method includes the step of making the first testing device operatable with an interface(320) for the system, in which the first testing device can be connected to an object device to be tested.例文帳に追加

第１の試験装置がシステムに接続されていた場合、本方法は、第１の試験装置が試験対象デバイスに接続可能なシステムのインタフェース(320)と共に動作できるようにするステップを含む。 - 特許庁

A threshold voltage generator 10 receives the expected value data EXP and generates threshold voltage Vth having a voltage level according to the expected value data EXP in synchronization with the signal S1 to be tested.例文帳に追加

しきい値電圧発生器１０は、期待値データＥＸＰを受け、当該期待値データＥＸＰに応じた電圧レベルを有するしきい値電圧Ｖｔｈを、被試験信号Ｓ１と同期して生成する。 - 特許庁

To provide a test circuit and a test method of a semiconductor integrated circuit, by which macro and the like of a test object can be tested without adding an external connection pin for a test which is necessary for a test.例文帳に追加

テスト時に必要となるテスト用の外部接続ピンを追加することなく、テスト対象のマクロ等をテストすることができる半導体集積回路のテスト回路およびテスト方法を提供する。 - 特許庁

A transition determination program 102 is built in, plural screen processing programs 109 can be tested according to a transition and a support (online document or batch document) 105 of a document output function is enabled.例文帳に追加

遷移決定プログラム１０２を組み込んで、複数の画面処理プログラム１０９を遷移に沿ってテスト可能にし、かつ帳票出力機能のサポート（オンライン帳票、バッチ帳票）１０５を可能にする。 - 特許庁

To design a probe card by which an increase in needle setting cost can be suppressed as much as possible, and all semiconductor chips that are formed by least number of indices on a wafer can be tested.例文帳に追加

針立てコストの増加をできるだけ抑えつつ、できるだけ少ないインデックス数でウェハ上に形成されたすべての半導体チップに対するテストを行うことのできるプローブカードを設計する。 - 特許庁

To provide a method for detecting a mutagen capable of more accurately performing the detection of the mutagen regardless of the coloration of a tested substance or presence or absence of a precipitated material, and reducing labor and time.例文帳に追加

被験物質の着色、または析出物の有無に関わらず、変異原検出をより正確に行え、且つ労力と時間を軽減することができる変異原検出方法を提供すること。 - 特許庁

To efficiently and inexpensively carry out a precise aging test, even when the number of semiconductor devices to be tested is increased, and even when a plurality of the semiconductor devices different in their specification are stored in one thermostatic oven.例文帳に追加

試験すべき半導体素子の数が増えても、また、一つの恒温槽内に仕様の異なる複数の半導体素子を収容しても、精度のよいエージング試験を能率よく安価に行うことができる。 - 特許庁

To provide a method for efficiently determining input data of an application program interface (API) to be performed, when a scenario is tested, and presenting the candidate of the API to be performed.例文帳に追加

シナリオをテストする際に、実行するアプリケーション・プログラム・インターフェース（ＡＰＩ）の入力データを効率的に決定し、更には、実行されるべきＡＰＩの候補を提示する方法、装置、及びプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide an exhaust gas cleaning catalyst the catalytic activity of which can be kept high even after the catalyst is tested for endurance by suppressing the solid solution of a transition metal into a carrier and to provide a method for manufacturing the exhaust gas cleaning catalyst.例文帳に追加

担体中への遷移金属の固溶を抑制して、触媒耐久後も高い触媒活性を維持することができる排ガス浄化触媒及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To enable the hue of a color sample to be visually tested easily and accurately during printing and prevent the color sample after bookbinding from being seen through from the back and mixed with an outer color of a page.例文帳に追加

色見本帖の印刷製本において、印刷時に色見本の色相目視検査を容易かつ正確にし、製本後に色見本が裏から透けて外の頁の色と交じり合わないようにすること。 - 特許庁

Moreover, the movement tempo of the endless belt 11 and the action movement of the robot 2 are so harmonized that the former tempo may approach the latter tempo, and the moving performance of that robot 2 can be stably tested in that state.例文帳に追加

そして、エンドレスベルト１１の動きのテンポがロボット２の動きのテンポに歩み寄るように、両者の動きのテンポの調和が図られ、この状態で当該ロボット２の移動性能が安定に試験されうる。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display panel which can be tested for lighting prior to mounting an IC chip even though a wiring pattern surrounding the IC chip on a liquid crystal substrate is very short.例文帳に追加

液晶基板上のＩＣチップ回りの配線パターンが非常に短い場合でも、ＩＣチップ搭載前における液晶表示パネルの点灯試験を行うことができる液晶表示パネルを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of shortening time required for a gradation test of a device to be tested by shortening time for quality determination based on a differential value between positive output and negative output.例文帳に追加

正極出力と負極出力との差分値に基づく良否判定にかかる時間を短縮して、被試験デバイスの階調テストに要する時間を短縮する半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

This method for screening the multidrug-resistant protein MRP1 inhibitor comprises administering a specimen to be tested to human mrp1 gene-introduced unc-31;sdf-14 double mutant nematode, Caenorhabditis elegans, and detecting its resistant larva formation.例文帳に追加

ヒトmrp1遺伝子を導入したunc-31; sdf-14二重変異体の線虫Caenorhabditis elegansに被検体を投与し、その耐性幼虫形成を検出することを特徴とする、多剤耐性蛋白質MRP1阻害剤のスクリーニング方法。 - 特許庁

The tested minus ion water ordinarily has the pH of ≥12 and lies in a region where the propagation of bacteria is impossible (pH 10.5 by high alkaline bacteria), but is neutralized into weak acid when being contacted with skin.例文帳に追加

試験したマイナスイオン水は、通常ではｐＨ１２以上を有し、菌の繁殖が不可能な領域（高アルカリ性菌でｐＨ１０．５）にあるが、肌に触れると弱酸性に中和される性質を持っている。 - 特許庁

The applanation of the eye 15 to be examination is performed by blowing air from an air jetting device 14 and the image corresponding to the displacement of the part to be tested of the eye 15 to be examination accompanying it apperts on the optical axis 3.例文帳に追加

空気噴射装置１４から空気を吹き付けて被検眼１５の圧平を行い、これにともなう被検眼１５の被検査部分の変位に対応する画像が光軸３上に現れる。 - 特許庁

The model animal for testing pruritus caused by drying is provided, wherein the glabrous skin of a tested animal is dried and the pruritus is caused by physical stimulation on the glabrous skin.例文帳に追加

試験動物の無毛皮膚を乾燥皮膚とし、前記乾燥皮膚に物理的な刺激を与えることにより掻痒が惹起され、乾燥による掻痒を試験するモデル動物を作製できることを見出した。 - 特許庁

Cores in a many-core processor are periodically tested to obtain dynamic profiles including trend information on its maximum operating frequency, power consumption, power leakage, functional correctness, and other parameters.例文帳に追加

多コア・プロセッサ中のコアは、最大動作周波数、電力消費、電力リーク、機能的な正しさおよびその他のパラメータについての傾向情報を含む動的プロファイルを取得するために定期的に試験される。 - 特許庁

The control apparatus 40 acquires an ideal velocity characteristic of a control surface and the temperature of pressure oil of the actuators 11 and 12 to be tested and operating speed of the control surface when the actuators 11 and 12 are attached to the control surface.例文帳に追加

制御装置４０は、舵面の理想的速度特性と、舵面にアクチュエータが取り付けられたときの、試験対象となるアクチュエータの圧油の温度及び舵面の作動速度とを取得する。 - 特許庁

To provide a testing apparatus for film thickness unevenness by which thickness unevenness of a film formed on a member may be appropriately tested even when a phase characteristic of light may not be recognized.例文帳に追加

部材表面に形成された皮膜の膜厚むらを、光の位相特性を認識することができない場合においても適切に検査することが可能な膜厚むらの検査装置を提供する。 - 特許庁