「Tested」に関連した英語例文の一覧と使い方(38ページ目) - Weblio英語例文検索

This embodiment have a technical effect that an overspeed protection system of a power plant which has a shaft (137) and is integrated with a safety control system (190) is automatically tested.例文帳に追加

本発明の実施形態は、シャフト（１３７）を備え、安全制御システム（１９０）と一体化されたパワープラント機械の過速度保護システムを自動的に試験するという技術的な効果を有する。 - 特許庁

The surge output of a lightning surge generator 2 is connected to the equipment ground of the equipment 1 to be tested and the ground of the lightning surge generator 2 is connected to the other end of the impedance circuit 3.例文帳に追加

雷サージ発生器２のサージ出力は被試験機器１の機器アースに接続され、雷サージ発生器２のグランドはインピーダンス回路３の他方の端に接続されている。 - 特許庁

Reverse power flow to the incoming power supply system 1, while being discharged from the battery 41 to be tested, is prevented by using either of the two battery packs as a buffer tank for power.例文帳に追加

２台の電池パックのうちの１台を電力のバッファタンクとして使用することで、検査電池４１の放電時における受電電源系統１への逆潮流を防止する。 - 特許庁

An evaluation test apparatus comprises a plurality of first buffer amplifiers each applying a test load signal to each of a plurality of external terminals of a device (object to be tested) having the plurality of external terminals.例文帳に追加

評価試験装置は、複数の外付端子を有するデバイス（被試験体）の前記複数の外付端子それぞれに、試験負荷信号を印加する複数の第１のバッファアンプを備えている。 - 特許庁

To provide an IP simulator in which a load of a server is tested by creating a real environment wherein an error occurs in a packet without preparing a number of terminals.例文帳に追加

多大な数の端末を用意することなく、パケットがエラーを生じる実際の環境を作り出すことにより、サーバの負荷試験を行うことが可能となるＩＰシミュレータを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory in which high speed defect relieving can be performed with low current consumption and without generation of excessive current when necessity of relieving a defect is tested.例文帳に追加

低消費電流で高速な欠陥救済を可能とし、しかも欠陥救済の要否を検査する際に過大な電流が発生することがない半導体記憶装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a shape measuring device capable of improving measurement speed when measurement is performed by moving a detection part relative to a tested object and stopping the detection part at each measurement position.例文帳に追加

検出部を被検物に対して移動させて測定位置毎に停止させて測定する場合の測定速度を向上させることができる形状測定装置を提供する。 - 特許庁

At the conduction test, every time when the harness elementary wire is connected during a manufacturing process of the wire harness to be tested, an acceptance judgment of the wiring network is performed until final stage.例文帳に追加

上記導通検査では、検査対象となるワイヤーハーネスの製造過程で上記ハーネス要素電線が接続される度に当該回路網の良否判別を最終段階まで行う。 - 特許庁

A test program generation device 20 converts a test pattern TP in such a predetermined format as to test a circuit to be tested into specific test programs A-C used by testers 31A-31C.例文帳に追加

テストプログラム生成装置２０は、被テスト回路をテストするための所定の形式のテストパタンＴＰをテスタ３１Ａ〜３１Ｃで使用される固有のテストプログラムＡ〜Ｃに変換する。 - 特許庁

A loading part 10 and unloading part 20 of semiconductor element to be tested, a test tray T provided with a plurality of carriers for temporarily fixing the semiconductor element and a moving unit of the test tray are provided.例文帳に追加

被テスト半導体素子のローディング部１０、アンローディング部２０、半導体素子を一時的に固定する複数のキャリアを備えたテストトレイＴ、テストトレイの移動ユニットを備える。 - 特許庁

This testing system disturbs the sleep of an animal to be tested, placed in a rearing box by regulating an oxygen concentration and/or a carbon dioxide concentration in the rearing box.例文帳に追加

本発明の実験システムは、飼育器内の酸素濃度及び／又は二酸化炭素濃度を調節することによって、飼育器内におかれた実験動物の睡眠を障害するものである。 - 特許庁

A simultaneously measuring number control adapter 212 gives a monitor input signal indicating whether peripheral chips are being tested to each chip.例文帳に追加

同時測定数制御アダプタ２１２は、各チップにモニタ入力信号を与えるが、このモニタ入力信号は、周辺のチップがテスト実行中であるかどうかの状態を示す信号である。 - 特許庁

When a direct current voltage is applied to an electric power equipment 10 to be tested, a partial discharge signal generated from the electric power equipment is detected by having an alternating voltage overlapped.例文帳に追加

被試験電力機器１０に直流電圧を課電する際に交流電圧を重畳させて当該電力機器から発生する部分放電信号を検出するようにした。 - 特許庁

A circuit 300 which can be dealt with by a scanning test is tested by loading into a programmable device 200, both a scanning pattern and a self test circuit in which the total number of test patterns obtained automatically is the smallest.例文帳に追加

自動で得られる総テストパターン数がもっとも少ない自己テスト回路とスキャンパターンの両方をプログラマブルデバイス２００にロードしてスキャンテスト対応回路３００のテストを行なう。 - 特許庁

Hereby, in the test processes B-D, it is possible to reduce the test time by the time (tb, tc, td) required for the subsequent test items to be tested after the failure judgment.例文帳に追加

この結果、検査工程Ｂ−Ｄにおいて、不良と判定された以降の検査項目にかかる時間（ｔｂ，ｔｃ，ｔｄ）の分だけ検査時間を短縮することができる。 - 特許庁

The type of peripheral board to be tested is selected at a type-selecting section 32 of an operation input screen W2, and the combination of signal classifications of control signals is selected at a format-selecting section 34.例文帳に追加

操作入力画面Ｗ２の機種選択部３２でテスト対象の周辺基板の機種を選択し、フォーマット選択部３４で制御信号の信号分類の組み合わせを選択する。 - 特許庁

In shadow reading facilities A being the destination of request for diagnostic reading and a hospital D being the request source for diagnostic reading, diagnostic reading reports are classified depending on kind of test and category of tested part and name of disease and are evaluated.例文帳に追加

読影の依頼先である読影機関Ａ、読影の依頼元である病院Ｄにおいて、読影レポートを検査種別、検査部位、及び病名のカテゴリ別に分類して評価を行う。 - 特許庁

By storing indices of various subjects, it is expected to find a parameter set which can realize a good image quality for a new person to be tested in the storage part 12.例文帳に追加

様々な被検者について蓄積を行うことにより、新たな被検者に対しても良好な画質を実現するパラメータセットを記憶部１２内に見出しうることが期待されるようになる。 - 特許庁

A disaster area is estimated on the basis of an occurrence rate of shutoff of communication calculated from the detected communication state of the tested device in each the selected area.例文帳に追加

そして、選択された各領域における被試験装置の検出された通信状態から算出される通信の遮断の発生率に基づいて、災害領域を推定する。 - 特許庁

When electrical characteristics of the electronic component 12 are tested by using a tester 11, the tester 11 is electrically connected with the plane lead 13 of the electronic component 12 by the contact pin 14.例文帳に追加

テスタ１１を用いて電子部品１２の電気的特性試験を行う際に、テスタ１１と電子部品１２の平面リード１３とをコンタクトピン１４により電気的に接続する。 - 特許庁

To surely prevent an object to be tested from being double beaten by dropping a retinal cone again that is dropped from a predetermined position towards the object and strikes on the object to rebound.例文帳に追加

錘体を所定の位置から被試験材に向けて落下させ、被試験材に衝突して跳ね返った錘体が再び落下して被試験材を二度打ちすることを確実に防止する。 - 特許庁

The IC tester is improved, which IQ-modulates the I-signal and the Q-signal by an IQ-modulation module and which outputs the IQ-modulation signal to an object to be tested.例文帳に追加

本発明は、Ｉ信号、Ｑ信号をＩＱ変調モジュールによりＩＱ変調し、ＩＱ変調信号を被試験対象に出力するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

To provide a method capable of overcoming the condition that specimen cable cannot be placed in the vicinity of a D.C. high-voltage generating device and tested in various tests of extra high-voltage D.C. cables and efficiently implementing tests such as electric-current applying tests of D.C. cables.例文帳に追加

超高圧直流ケーブルの種々の試験において、供試ケーブルを直流高電圧発生装置の近くに置いて試験をすることができなくなってきている。 - 特許庁

A method for obtaining the marker for the neurodevelopment disorder and a method for determining the effects of the substance to be tested on the neurodevelopment disorder comprise using the cell.例文帳に追加

また、このような細胞を使用して、神経発達障害のマーカーを取得する方法、および被検物質が神経発達障害に及ぼす効果を判定する方法を提供する。 - 特許庁

When the testing of the one-chip microcomputer 1 is completed, the tested result which was written in the EEPROM 13 is erased, and a control program to be executed by the CPU 11 is written there.例文帳に追加

１チップ・マイクロコンピュータ１のテストがすべて終了すると、ＥＥＰＲＯＭ１３に書き込まれていたテスト結果が消去され、そこにＣＰＵ１１が実行する制御プログラムが書き込まれる。 - 特許庁

A lens 2 and a liquid crystal target 3 are arrayed on the optical axis of an eye to be tested E, a peripheral visual field 4 is provided on the surrounding of the target 3 and a light source 5 is provided in rear of the target 3.例文帳に追加

被検眼Ｅの光軸上にレンズ２、液晶視標３が配列され、液晶視標３の周囲には周辺視野４が設けられ、後方には光源５が設けられている。 - 特許庁

An input device 1 inputs an input 11 of a user as an error processing identifier 202 into a storage device 2 so that the part to be tested of a source program to be debugged can be designated.例文帳に追加

入力装置１は、ユーザの入力１１を記憶装置２内にエラー処理識別子２０２として入力し、これによりデバッグ対象ソースプログラムのテストすべき箇所を指定する。 - 特許庁

Thus, a time interval from reading of data from the memory cell to be tested to a bit line to the start of amplifying operation by a corresponding amplifier is made to be constant without depending on the position of the memory cell.例文帳に追加

これにより、試験するメモリセルからビット線にデータが読み出されてから、対応するセンスアンプが増幅動作を開始するまでの時間間隔をメモリセルの位置に依存せず一定になる。 - 特許庁

A photosensitive material provided with a specific accumulation property to a neo vascular is administered to a person to be tested, the fluorescent images of the eyeground are observed and a part including the neo vascular is specified.例文帳に追加

新生血管に対して特異的集積性を有する光感受性物質が被検者に投与され、眼底の蛍光像が観察され、新生血管を含む部位が特定される。 - 特許庁

The telephone number of a portable telephone 1 connected with base station radio 4 to be tested is dialed from a fixed telephone set 9, and a paging signal is transmitted from the base station radio 4 by radio.例文帳に追加

試験したい基地局無線装置４と接続する携帯電話１の電話番号を固定電話機９からダイヤルし、基地局無線装置４からページング信号を電波にて送信する。 - 特許庁

To provide a test circuit and method in which an A/D converter mounted on a small-sized integrated circuit, which has neither a D/A converter nor a bulk memory, can be tested with small numbers of pins.例文帳に追加

少ないピン数で、Ｄ／Ａ変換器及び大容量メモリを有しない小型集積回路上に実装されたＡ／Ｄ変換器のテストが可能なテスト回路及び方法を提供する。 - 特許庁

In one embodiment, the overspeed protection systems can automatically be tested during the power plant machines (105, 145) are decelerated in speed from a no-load rated speed (FSNL).例文帳に追加

本発明の一実施形態では、パワープラント機械（１０５、１４５）が無負荷定格速度（ＦＳＮＬ）から減速している間に過速度保護システムを自動的に試験することができる。 - 特許庁

This embodiment have a technical effect that overspeed protection systems of power plant machines (105, 145) which have at least one shaft (137) is automatically tested (200).例文帳に追加

本発明の実施形態は、少なくとも１つのシャフト（１３７）を備えるパワープラント機械（１０５、１４５）の過速度保護システムを自動的に試験する（２００）という技術的な効果を有する。 - 特許庁

To provide an anisotropic conductive sheet capable of obtaining superior conduction without damaging electrode terminals of a wafer, a conduction measuring instrument or the like due to applied load when the wafer of a semiconductor is tested.例文帳に追加

半導体のウエハを検査するときに、該ウエハや導通計測器などの電極端子に負荷加重による損傷を与えずに、良好な導通を得る異方性導電シートである。 - 特許庁

In this manufacturing method for the semiconductor device, a prototype chip is tested using the semiconductor device, and the semiconductor chips are mass-produced after analysis-evaluating a test result.例文帳に追加

本発明の半導体装置の製造方法では、前記半導体装置を用いて、試作チップの試験を行ない、前記試験結果を解析評価した後に、半導体チップの量産を行なう。 - 特許庁

In Fig. 1, an execution part 101 inputs the tested program 103 of a name which is set via a display and a keyboard 102, executes the program, and outputs the coverage result 104.例文帳に追加

図１において、実行部１０１がディスプレイおよびキーボード１０２から設定された名称の被テストプログラム１０３を入力し、実行する事でカバレージ結果１０４を出力する。 - 特許庁

Consequently, lead terminals of all devices 1 being mounted on the test tray 5 and having the need to be tested and the need for writing the programs and the data therein, are connected to the writer or the tester collectively.例文帳に追加

従い５のテストトレーに搭載されているテストやプログラムやデータの書き込みなどが必要な１の全デバイスのリード端子が一括でライタもまたはテスタに接続される事になる。 - 特許庁

To provide a temperature-testing device, capable of quickly performing an operation confirming test at the accurate temperature by directly setting a part of an object to be tested to the predetermined temperature.例文帳に追加

試験対象の部品を直接、所定の温度にすることができ、正確な温度での動作確認試験をしかも速く行うことが可能な温度試験装置を提供すること。 - 特許庁

A semiconductor wafer, which is to be tested comprises test wirings 4 and 5 so formed on dicing lines 3 as to correspond to the lines of chips 2, and testing terminals 6 and 7 connected to the test wirings 4 and 5, respectively.例文帳に追加

被試験半導体ウェハは、各チップ２の列に対応してダイシングライン３に形成されたテスト配線４，５と、それぞれテスト配線４，５に接続されたテスト端子６，７とを備える。 - 特許庁

To enhance the efficiency of a test by increasing the number of semiconductor devices that can be tested in a fixed time.例文帳に追加

一定時間内に試験できる半導体装置の個数を増やすことにより、試験の効率を向上させることができる半導体試験装置の実行手順制御方式を提供すること。 - 特許庁

To provide a testing apparatus testing the receiving performance of a communication terminal apparatus to be tested and judging whether the communication terminal apparatus is loaded with a selective combining function.例文帳に追加

試験対象の通信端末装置の受信性能を試験することができるとともに、当該通信端末装置に選択合成機能が実装されているか否かを判断すること。 - 特許庁

To enable light measurement suitable for improvement in space resolution to be performed by evaluating the physical quantity of a measurement object in an arbitrary point of a tested body.例文帳に追加

被検体の任意の点における計測対象物質の物理量の評価を可能にすることにより空間分解能の向上を図るのに適した光計測ができるようにしたこと。 - 特許庁

By this means, the optical pickup device can be tested using the reproduction signal, so that quality of the optical pickup device can be managed using a fixed evaluation method regardless of manufacturers.例文帳に追加

これにより、再生信号により光ピックアップ装置を検査するようにでき、メーカーによらず一定の評価方法で光ピックアップ装置の品質管理が行えるようにしている。 - 特許庁

This tester for an automobile comprises a torque detector 11 coupled to an automotive engine 10 of a material to be tested, an AC dynamometer 12, an inverter 13, and an AC power source 14.例文帳に追加

この自動車用試験装置は、被試験体である自動車エンジン１０に連結されるトルク検出器１１と、ＡＣダイナモメータ１２と、インバータ部１３と、交流電源１４とを備えている。 - 特許庁

A user can input the ID item of an automobile to be tested by system software and a fault library such as signs and service codes can be displayed by one operation mode.例文帳に追加

システム・ソフトウェアにより、ユーザは、テストされる自動車の識別事項を入力することができ、また、一つの操作モードで、徴候あるはサービスコードなどの故障ライブラリを表示することができる。 - 特許庁