「XRD」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To provide a method for producing lithium iron sulfide (Li_2FeS_2) of a single phase in an XRD analysis and to provide a method for producing lithium transition metal sulfide of a single phase in an XRD analysis.例文帳に追加

ＸＲＤ分析において単一相の硫化リチウム鉄（Ｌｉ_２ＦｅＳ_２）を製造する方法、及びＸＲＤ分析において単一相の硫化リチウム遷移金属を製造する方法を提供する。 - 特許庁

This thin film has an XRD pattern of diamond in XRD measurements, and has a ratio of 2.5 to 2.7 : 1 between an sp3-bonding component and an sp2-bonding component in the film, when it is subjected to Raman spectroscopy.例文帳に追加

この薄膜は、ＸＲＤ測定においてダイヤモンドのＸＲＤパターンを有し、かつラマン分光測定を行った際に、膜中のｓｐ３結合成分とｓｐ２結合成分の比が、２．５〜２．７：１であることを特徴としている。 - 特許庁

The instrument with function of both the X-ray diffraction (XRD) and the X-ray fluorescence (XRF) measurement deploys an X-ray source 10 generating the incident X-ray beam aiming at samples on a sample stand.例文帳に追加

X線回折XRDおよびX線蛍光測定XRFの両方の機能をもつ機器が、試料台上の試料に向けられる入射X線ビームを生成するX線源１０を配置している。 - 特許庁

In the XRD pattern from the composite material using CuKα-radiation, a peak height ratio of the strongest TiB_2 peak and the strongest cBN peak becomes smaller than 0.02.例文帳に追加

本発明により、CuKα-輻射を用いた複合材料からのXRDパターンにおいて、最も強いTiB_2ピークと最も強いcBNピークとのピーク高さ比が、0.02より小さくなる。 - 特許庁

This layer constitutes its characteristic feature of a strong diffraction peak in (006) measured and a weak diffraction peak in (012), (104), (113), (204), (116) by using XRD.例文帳に追加

この層は、ＸＲＤ使用して測定した（００６）の強い回折ピーク、及び（０１２）（１０４）（１１３）（２０４）（１１６）の弱い回折ピークによって特徴付けられる。 - 特許庁

An Al_YGa_1-YN epitaxial layer 15 has full width at half maximum of (0002) face XRD with 150 sec or below.例文帳に追加

Ａｌ_ＹＧａ_１−ＹＮエピタキシャル層１５は、１５０ｓｅｃ以下である（０００２）面ＸＲＤの半値全幅を有する。 - 特許庁

The HC adsorbent has high heat resistance and keeps high XRD (X-ray diffraction) intensity after tested for heat resistance and durability.例文帳に追加

当該ＨＣ吸着剤は、耐熱性が高く耐熱耐久処理後におけるＸＲＤ回折強度が高く維持される。 - 特許庁

An electrochemical cell 1 for XRD measurement comprises a container 10, an electrode 21, a counter electrode 22, and a nonaqueous electrolyte 25.例文帳に追加

ＸＲＤ測定用の電気化学セル１は、容器１０と、電極２１と、対極２２と、非水電解質２５とを備えている。 - 特許庁

To provide a system and a method for analysis, based on quick XRR and XRD of a sample.例文帳に追加

サンプルの迅速なＸＲＲ及びＸＲＤに基づいた分析用の装置及び方法を提供する。 - 特許庁

The sputtering target is characterized in that it contains indium, tin, zinc and oxygen and only a peak ascribed to a bixbyite structure compound is practically observed by X-ray diffraction (XRD).例文帳に追加

インジウム、錫及、亜鉛及び酸素を含有し、Ｘ線回折（ＸＲＤ）によってビックスバイト構造化合物のピークのみが実質的に観測されることを特徴とするスパッタリングターゲット。 - 特許庁

The obtained product shows XRD pattern characteristic of the hydrotalcite-like compound and has good ion-exchange performance, especially with nitrate ion.例文帳に追加

得られた生成物は、ハイドロタルサイト様化合物に特有のＸＲＤパターンを示すと共に、特に硝酸イオンとの間で優れたイオン交換性能を発揮する。 - 特許庁

When the half bandwidth of titanium oxide at a (111) peak measured by XRD is ≤0.59°, crystallinity of titanium oxide becomes high, bringing the level of the photocatalytic activity into out of problems in weatherability.例文帳に追加

また、、ＸＲＤにより測定した酸化チタンの（１１１）ピークの半値幅が０．５９°以下であると、酸化チタンの結晶度が高くなり、耐候性が問題にならない程度の光触媒能になるからである。 - 特許庁

A membrane evaluation apparatus 1 has a function for the constituent evaluation of a membrane sample S by glow discharge optical emission and crystal orientation evaluation using in-plane measurements by XRD.例文帳に追加

薄膜評価装置１は、グロー放電発光による薄膜試料Ｓの組成評価と、ＸＲＤによるＩｎ−Ｐｌａｎｅ測定を用いた結晶／配向性評価とを併せて行う機能を有している。 - 特許庁

This layer has a clear (012) growing aggregated structure measured using XRD, and almost total existence is characterized by diffraction peaks of (104), (110), (113), and (116).例文帳に追加

この層は、ＸＲＤを使用して測定された明瞭な（０１２）成長集合組織、及びほとんどの合計存在が（１０４）、（１１０）、（１１３）及び（１１６）の回折ピークによって特徴付けされる。 - 特許庁

The catalyst for purifying the exhaust gas is to use a Ce dissolved alumina in solid state in which an XRD peak satisfies Ce(200) plane peak integrated intensity/Ce(111) plane peak integrated intensity > 0.6 in the step A.例文帳に追加

工程Ａで、ＸＲＤピークがＣｅ（２００）面ピーク積分強度／Ｃｅ（１１１）面ピーク積分強度＞０．６を満たすＣｅ固溶アルミナを用いた排気ガス浄化触媒である。 - 特許庁

Furthermore, a full width at half maximum (FWHM) of a peak (0.0.24) measured by an XRD rocking curve of the superconductive crystal of the Bi2223 phase is 18° or less.例文帳に追加

また、Ｂｉ２２２３相よりなる超電導結晶のＸＲＤロッキングカーブで測定された（０．０．２４）ピークのＦＷＨＭが１８°以下である。 - 特許庁

In the thermoplastic resin, at least one diffraction peak by XRD measurement on the surface of the resin molded product is observed at 2θ=35-50° derived from the resin and having half width of 1° or less.例文帳に追加

樹脂成形体表面のＸＲＤ測定にて、２θ＝３５°〜５０°に樹脂由来で、かつ半値幅が１°以下の回折ピークが少なくとも一つ観測されることを特徴とする熱可塑性樹脂。 - 特許庁

Furthermore, an XRD half value width is made to be 0.12 degrees or more and less than 0.17 degrees, preferably to be 0.13 degrees or more and less than 0.16 degrees, thereby improving crystallinity of the active material.例文帳に追加

更に、ＸＲＤ半値幅を０．１２度以上０．１７度未満、好ましくは０．１３度以上０．１６度未満とし、活物質の結晶性を向上させるものである。 - 特許庁

The negative collector uses copper or copper alloy wherein the ratio (200)/(111) of the X-ray diffraction intensity on the (200) face of a XRD device having a CuKα line as a ray source to that on the (111) face is from 0.3 to 4.0.例文帳に追加

負極集電体として、ＣｕＫα線を線源とするＸＲＤ装置による（２００）と（１１１）面のＸ線回折強度比（２００）／（１１１）が０．３以上、４．０以下の銅または銅合金を用いる。 - 特許庁

The photocatalytic Nb_2O_5 film has such a crystalline structure that the XRD pattern shows peaks near 22°, 28° and 37° and the peak near 28° has a single-peaked pattern.例文帳に追加

この光触媒Ｎｂ_２Ｏ_５膜は、ＸＲＤパターンの２２°、２８°、３７°付近にピークが観測され、かつ、該２８°付近のピーク形状が単峰型を示す結晶構造を有する。 - 特許庁

The dense body 1 consists of the sintered body of aluminum oxide and has a crystal degree of orientation I_300/(I_300+I_104) calculated from a peak intensity of XRD of 0.1-0.2.例文帳に追加

緻密質体１が酸化アルミニウムの焼結体からなり、ＸＲＤのピーク強度により算出される結晶配向度Ｉ_３００／（Ｉ_３００＋Ｉ_１０４）が０．１〜０．２である。 - 特許庁

To provide an evaluating method capable of easily detecting, even in multiple phases, the microscopic area of a bismuth layered structural ferroelectric material which is difficult to detect by normal XRD(x-ray diffraction), and also capable of quantitatively determining its multiple phases.例文帳に追加

通常のＸＲＤでは困難なビスマス層状構造強誘電体材料の、簡便に、短時間に、微小領域を，多相でも検出することができ、しかもその多相の定量化も可能である評価方法を提供すること。 - 特許庁

In the copper nanoparticles produced by this method, the peak intensity ratio between (111) and (200) according to XRD measurement, (the former/the latter) is preferably 100:20 to 100:40, and the average particle diameter of the primary particles is preferably 1 to 100 nm.例文帳に追加

本発明の方法に製造された銅ナノ粒子は、好ましくはＸＲＤ測定による（１１１）と（２００）のピーク強度比（前者／後者）が１００：２０〜１００：４０であり、一次粒子の平均粒径が好ましくは１〜１００ｎｍである。 - 特許庁

In these flat particles, a ratio P_200/P_111 of a peak P_200 of a (200) plane to a peak P_111 of a (111) plane obtained by XRD measurement is ≤0.3.例文帳に追加

本発明の扁平銀粒子は、ＸＲＤ測定によって得られる（１１１）面のピークＰ_111に対する、（２００）面のピークＰ_200の比Ｐ_200／Ｐ_111が０．３以下であることを特徴とする。 - 特許庁

The visible light responsive type photocatalyst synthetic method comprises a step of sublimating or burning metal tungsten, and of synthesizing tungsten oxide particles having a crystal structure in which a peak intensity of (200) surface appears most strongly by an XRD analysis.例文帳に追加

金属タングステンを昇華または燃焼させ、ＸＲＤ分析によって（２００）面のピーク強度がもっとも強く出る結晶構造を有する酸化タングステン微粒子を合成することを特徴とする可視光応答型光触媒合成法。 - 特許庁

The degree is analyzed by simultaneous use of the rocking curve method by XRD and a fluorescent X-ray fundamental parameter method.例文帳に追加

ＸＲＤによるロッキングカーブと蛍光Ｘ線ファンダメンタル・パラメータ法の併用により、結晶性の基板または層上に製膜された、格子定数のミスマッチによる結晶歪みを有する組成比未知の結晶性固溶体薄膜の結晶歪み度合いを分析する。 - 特許庁

This solar cell substrate includes a transparent substrate 411, and a transparent conductive film 412 formed over the transparent substrate, and including a zinc oxide (ZnO) thin-film layer 412a doped with a dopant, where both a growth plane (0002) and a growth plane (α) are present based on X-Ray Diffraction (XRD) pattern data.例文帳に追加

太陽電池基板は、透明基板４１１と、透明基板に形成され、Ｘ線回折（ＸＲＤ）パターンのデータを基準に、（０００２）成長面と成長面がともに存在する、ドーパントがドーピングされた酸化亜鉛（ＺｎＯ）薄膜層４１２ａを含む透明導電膜４１２とを含む。 - 特許庁

In a crystal degree of orientation O: I_300/(I_300+I_104) computed by XRD peak intensity, a difference between a crystal degree of orientation O1 of a surface 41 perpendicular to an impression direction of a slip casting and a crystal degree of orientation O2 of a surface 42 parallel to an impression direction of a slip casting: O2-O1 is 0.12-0.18.例文帳に追加

ＸＲＤピーク強度により算出される結晶配向度Ｏ：Ｉ_３００／（Ｉ_３００＋Ｉ_１０４）のうち、鋳込み成形の着肉方向に垂直な面４１の結晶配向度Ｏ１と、鋳込み成形の着肉方向に平行な面４２の結晶配向度Ｏ２との差：Ｏ２−Ｏ１が、０．１２〜０．１８である。 - 特許庁

In the measurement by XRD (X-Ray Diffraction spectroscopy), the relationship between the peak intensity P1 at the Si peak point occurring in a vicinity of 2θ=28°C and the base intensity P2 at the peak point imagined from the average intensity gradient before and behind the peak point is given by the inequality P1/P2≤3.例文帳に追加

焼結プロセスでのＳｉの析出が抑制され、ＸＲＤによる測定において、２θ＝２８°付近に発生するＳｉピーク点におけるピーク強度Ｐ１と、ピーク点前後の平均強度勾配から想定したピーク点におけるベース強度Ｐ２との関係が、Ｐ１／Ｐ２≦３となる。 - 特許庁

The hard coating has residual stress in the range of about -0.4 to about -3 GPa when measured by an XRD Sin^2ψ method and a crystal orientation characterized by a ratio of (200) peak intensity to (111) peak intensity by X-ray diffraction being in the range of about 1 to about 14.例文帳に追加

ハードコーティングはまた、ＸＲＤ Ｓｉｎ^２ψ法によって測定される場合約−０．４〜約−３ＧＰａの範囲の残留応力と、Ｘ線回折による（１１１）ピーク強度に対する（２００）ピーク強度の比が約１〜約１４の範囲であることによって特徴付けられる結晶方位とを有する。 - 特許庁

A superconducting member for high frequency 10 includes an R-plane sapphire substrate 12; a buffer layer 14 that is formed on one side or both sides of the substrate 12 and comprises ceria with a half-value width of 0.7 or above and 1.1 or below, in the rocking curve measurement of a (002) peak using an XRD; and a superconducting layer 16 on the buffer layer 14.例文帳に追加

Ｒ面サファイア基板１２と、この基板１２の片面または両面に形成され、ＸＲＤを用いた（００２）ピークのロッキングカーブ測定において半値幅０．７以上１．１以下であるセリアのバッファ層１４と、このバッファ層１４上の超電導層１６とを有することを特徴とする高周波用超電導部材１０。 - 特許庁

As for the conductive particulates with a low-melting-point metal layer formed on the surface of base material particulates, in case an XRD measurement is carried out, the low-melting-point metal layer contains tin having 6 or more of crystal orientations in which an intensity ratio has a peak intensity of 30% or more against that of the first preferential orientation.例文帳に追加

基材微粒子の表面に、低融点金属層が形成されている導電性微粒子であって、上記低融点金属層は、ＸＲＤ測定を行った場合に、第一優先配向のピーク強度に対して強度比が３０％以上のピーク強度を有する結晶方位を６以上有する錫を含有する導電性微粒子。 - 特許庁

The carbon structure is characterized in that it has a peak in the XRD (X-ray diffraction) diffraction pattern within the range of 19°-26°, a density by the He method of ≥1.4 g/cm^3, and a volume resistivity of ≤1 Ωcm, and it is prepared from graphite oxide by removing a part of oxygen which is covalently bonded through calcination.例文帳に追加

本発明の炭素構造体は、酸化黒鉛の焼成により共有結合した酸素の一部を取り除き、ＸＲＤ（Ｘ線回析）の回折パターンのピークが１９°から２６°の範囲に有しているとともに、Ｈｅ法による密度が１．４ｇ／ｃｍ^３以上、体積固有抵抗値が１Ω・ｃｍ以下であることを特徴としている。 - 特許庁

When data transfer is performed between a codec 4 and a RAM 5, an input/output signal generation part 3 generates a reading signal CIOR or a writing signal CIOW, on the basis of a transfer permission signal XACK0, a chip select signal XCS, a memory writing signal XWR or a memory reading signal XRD which are outputted from a processor 1, and outputs it to the codec 4.例文帳に追加

コーデック４とＲＡＭ５との間のデータ転送を行う場合、入出力信号生成部３は、プロセッサ１から出力される転送許可信号ＸＡＣＫ０、チップセレクト信号ＸＣＳ、メモリ書込信号ＸＷＲまたはメモリ読出信号ＸＲＤをもとに読出信号ＣＩＯＲまたは書込信号ＣＩＯＷを生成し、コーデック４に出力する。 - 特許庁

In this negative electrode material, preferably the primary particles 2 is made of crystalline carbon, ^7Li-NMR spectrum of the fully charged negative electrode material has one signal at 10 to 20 ppm at the LiCl aqueous solution standard, 002 lattice constant measured by an XRD method of the primary particles 2 is 0.68 to 0.70 nm, and the carbon of the primary particles 2 is anisotropy optically.例文帳に追加

この負極材において、好ましくは、一次粒子２が結晶性炭素からなり、満充電した負極材の^7Ｌｉ−ＮＭＲスペクトルが、ＬｉＣｌ水溶液基準で１０〜２０ｐｐｍに一つのシグナルを有し、一次粒子２のＸＲＤ法による００２格子定数が０．６８〜０．７０ｎｍであり、一次粒子２の炭素が光学的に異方性である。 - 特許庁