| 例文 |
automatic testing deviceの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 85件
To provide a remote automatic test device capable of testing the functions of a facility to be tested by remote control.例文帳に追加
試験対象設備の機能試験を遠隔操作にて行うことが可能な遠隔自動試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a clutch torque transmission capacity analysis device of an automatic transmission for dispensing with prototyping an automatic transmission for testing and analyzing torque transmission capacity of a clutch.例文帳に追加
テスト用の自動変速機を試作することを不要としつつ、クラッチのトルク伝達容量を解析する自動変速機のクラッチトルク伝達容量解析装置を提供する。 - 特許庁
To provide an improved method and device for programming and operating automatic testing equipment that are improved more, as compared with those of prior art.例文帳に追加
従来技術に対して、より改善された自動テスト機器をプログラミングし操作する方法および装置が要求される。 - 特許庁
To solve such a problem that an automatic inspection device suitable for point of care testing does not support an inspection other than a general biochemistry item in general.例文帳に追加
ポイント・オブ・ケア・テスティングに適した自動検査装置は、一般に、一般生化学項目以外の検査に対応していない。 - 特許庁
To readily automate an automatic gas sample injection device, by simplifying the operation of drawing and inserting/moving of a syringe with a comparatively small device, regarding the automatic gas sample injection device for introducing the gas sample into the testing device, in combination with the syringe with an extension needle and the sample chamber integrated gas injection port.例文帳に追加
本発明は、延長針付注射器と試料室一体型ガス注入口とを組み合わせて用いて、気体試料を試験装置へ導入するための自動気体試料注入装置に関するものである。 - 特許庁
To provide a method and a device for an automatic test which make function testing operation efficient and improve reliability of the software of a portable telephone by automating the function testing operation for the software.例文帳に追加
携帯電話のソフトウエアに対する機能試験作業を自動化し、試験作業を効率化するとともに、ソフトウエアの信頼性を向上させる自動試験方法および装置を提供する。 - 特許庁
This method and device are used when testing an electronic device having source synchronizing signal output by use of an automatic test equipment(ATE).例文帳に追加
源同期信号出力を有する電子デバイスを自動試験装置(ATE)を用いて試験するための方法および関連の装置を記載している。 - 特許庁
To provide automatic inspection equipment for semiconductor devices capable of highly accurately and efficiently testing a semiconductor device with a cable connected thereto.例文帳に追加
ケーブルが接続された半導体デバイスを高精度で効率良く検査することができる半導体デバイス自動検査装置を提供する。 - 特許庁
In the automatic testing system 1, the automatic testing device 20 selects an appropriate measuring device from among a plurality of measuring devices 21a, 21b, 21c provided according to test items to a device 10 to be tested, measures the device 10 to be tested through the use of a selected measuring device, collects and processes measurement data on it, and creates test result data.例文帳に追加
この発明の自動試験システム1において、自動試験装置20は、被試験機10に対する試験項目に応じて、具備する複数の測定器21a,21b,21cから適切な測定器を選択し、選択した測定器を用いて被試験機10を測定し、その測定データを収集処理して試験結果データを生成する。 - 特許庁
To provide an automatic testing apparatus for a remote monitoring control device and a testing method in which a test is enabled with a little job-site handling personnel and test procedures or test data can be prepared.例文帳に追加
少ない現場対応要員で試験が可能であり、予め試験手順や試験データを準備できることのできる遠方監視制御装置の自動試験装置と試験方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a testing apparatus of a semiconductor device and a test board that can perform continuous automatic test inexpensively with a socket for the testing apparatus having a structure capable of responding to many forms and a plurality of manufacturers.例文帳に追加
多品種および複数メーカにも対応可能な構造の、試験装置用ソケットにより、安価で連続的自動試験が可能な、半導体デバイスの試験装置およびテストボードを提供する。 - 特許庁
To provide an automatic polishing method and its device capable of sanitarily carrying out work and automatically forming a bedrock testing surface without taking any labor for forming the bedrock testing surface in a site even when a surface to be polished is a soft rock.例文帳に追加
被研磨面が軟岩の場合でも現地での岩盤の試験面の形成に労力を要せず、衛生的に作業ができ、岩盤の試験面を自動的に形成できることを目的とする。 - 特許庁
To simplify the constitution of an environmental testing device for electronic parts so as to remarkably reduce the cost and size of the device, and to make the device compact even when an automatic entrance opening/ closing mechanism section is additionally provided in a limited space.例文帳に追加
限られたスペースに自動開閉式の出入口開閉機構部を付設する場合であっても、構成の簡易化を実現し、大幅なコストダウン及び小型コンパクト化を図る。 - 特許庁
This automatic testing system 10 for a receiver device 20 for receiving a positioning signal has a simulation signal generating means for generating a simulation signal transmitted to the receiver device 20, based on a signal generation scenario, and a control means 44 for controlling the simulation signal generating means and the receiver device 20, based on an automatic test scenario, and for securing time synchronization as the whole automatic testing system.例文帳に追加
測位用信号を受信する受信装置20の自動試験システム10であって、受信装置20に送信する模擬信号を信号生成シナリオに基づいて生成する模擬信号生成手段と、模擬信号生成手段及び受信装置20を自動テストシナリオに基づいて制御し、かつ、自動試験システム全体の時刻同期を確保する制御手段44と、を有する。 - 特許庁
By arranging the receiver at a required location or carrying it, it is thus possible to automatically know the test result data, even if one is away from the automatic testing device.例文帳に追加
したがって、受信機を必要な場所に配置、あるいは、携帯すれば自動試験装置から離れていても試験結果データを自動的に知ることができる。 - 特許庁
To provide an automatic nonstop charge reception system testing device capable of confirming the operation of a lane controller without performing actual vehicle traveling.例文帳に追加
実際の車両走行を行わずに車線制御装置の動作を確認することが可能なノンストップ自動料金収受システム試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide an automatic Web page test device for quickly testing a Web page by automatically executing redundant components in the Web page.例文帳に追加
Webページに重複部品が存在する場合でも、重複部品の自動実行を可能とし、迅速にWebページのテストが行えるWebページテスト自動化装置を提供する。 - 特許庁
To provide a testing device and a test method capable of testing whether a prepreg does not slide and can be easily removed or not, when the surface of the sheet-shaped prepreg has proper tackiness and is stuck onto a die with an automatic laminating device.例文帳に追加
シート状のプリプレグの表面が適度な粘着性を有していて、自動積層装置で金型上に貼り付けられた際に、滑らず、かつ、容易に剥がせるものであるかどうかを、簡便に試験できる試験装置および試験方法を提供する。 - 特許庁
An external testing device 17 as a logic tester outputs a test start command to the automatic rewriting circuit 16, and then starts the operation test of the logic circuit 14.例文帳に追加
そして、ロジックテスタとしての外部の試験装置17は、上記自動書換え回路16に試験開始指令を出力した後、ロジック回路14の動作試験を開始する。 - 特許庁
To enable the automatic discrimination of externally connected equipment in an IC testing device which tests semiconductor devices by controlling the externally connected equipment.例文帳に追加
外部接続された機器を制御して半導体デバイスの試験を行うIC試験装置において、外部接続された機器を自動的に判別できるようにすることを目的とする。 - 特許庁
The automatic testing device 1 converts an inputted document file into a list format (step ST2), extracts a table unit (step ST3) and performs structure analysis of the table (step ST4).例文帳に追加
自動テスト装置1は、入力された文書ファイルをリスト形式に変換し(ステップST2)、表の単位を抽出して(ステップST3)、表の構造解析を行う(ステップST4)。 - 特許庁
To provide a semiconductor testing device having a unit power supply automatic control function automatically measuring the ripple voltage of each unit power supply and checking whether the ripple voltage is within an allowable limit or not.例文帳に追加
自動的に各ユニット電源のリップル電圧を測定してリップル電圧が許容範囲にあるかをチェックするユニット電源自動管理機能を備えた半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide an automatic distillation testing device capable of automatically measuring distillation temperature and quantity of distillate by using a condenser of a simple configuration and implementing measurement independently of the quantity of a specimen.例文帳に追加
留出温度、留出量の測定を自動化し、凝縮器を簡易な構成とし、試料の採取量に係らず試験を実施することのできる自動蒸留試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a spindle stage for testing a magnetic head which can perform highly accurate servo following by an inexpensive VCM mechanism without using a piezoelectric element and a magnetic head which can perform automatic loading/unloading device.例文帳に追加
ピエゾ素子を使用せずに、安価なVCM機構により高精度なサーボフォローイングが可能な磁気ヘッド試験用スピンドルステージおよび磁気ヘッドを自動着脱できる磁気ヘッド自動着脱装置を提供する。 - 特許庁
To provide a valve abnormality automatic testing device of a liquid transferring device capable of informing an abnormality detection result of a previously set valve opening and closing program by opening and closing a related valve in forming a transferring route of liquid.例文帳に追加
液体の移送ルート作成時に関連するバルブを開閉し、予め設定されたバルブ開閉プログラムの異常検出結果を試験実施者に通知することができる液体移送装置のバルブ異常自動試験装置を提供する。 - 特許庁
To enable an automatic test of a semiconductor device by connecting a controller for performing conveyance control of a semiconductor device to be tested and sequence control according to a predetermined test procedure to a semiconductor testing apparatus through a simple interface.例文帳に追加
被試験対象の半導体デバイスの搬送制御と所定試験手順に従ったシーケンス制御とを行うコントローラを、半導体試験装置に簡易なインターフェイスで接続し、半導体デバイスの自動試験を行えるようにする。 - 特許庁
In this automatic testing device (ATE) 200 having a tester architecture classified by terminals provided with plural dispersed testing units 700 classified by the terminals, the each testing unit 700i issues a stimulation response signal to each DUT terminal di of a tested device (DUT) 600, and/or receives a stimulation signal from the each DUT terminal, to test the each DUT terminal.例文帳に追加
分散した複数の端子別試験ユニット(700)を設けた端子別テスタアーキテクチャを持つ自動試験装置(ATE)(200)であって、各端子別試験ユニット(700i)が、被験デバイス(DUT)(600)のそれぞれのDUT端子(di)へと刺激応答信号を発し、および/又は前記それぞれのDUT端子から刺激応答信号を受信することにより、前記それぞれのDUT端子を試験する。 - 特許庁
The device for testing the automatic ticket handling system that uses the contactless IC card includes a robot 7 that exposes the contactless IC card 9 to the wave-emission area of an automatic ticket gate 3, and a control means 1 for taking in data on the reaction result of the automatic ticket gate when the contactless IC card is exposed and for controlling the robot.例文帳に追加
非接触ICカードを用いる自動改札処理システムの試験装置において、自動改札機3の電波放射エリアに非接触ICカード9をかざすロボット7と、非接触ICカードをかざしたときの自動改札機の反応結果のデータを取り込むとともに、ロボットを制御する制御手段1とを備えるようにしたものである。 - 特許庁
To provide a terminal board for a nuclear power plant control panel test, a control panel automatic testing device, and a temporary control device, which reduces a time and cost by reducing a work amount during updating, and also reduces an operation risk caused by plant monitoring control function stop.例文帳に追加
更新時の作業量を減らすことで時間とコストを低減し、またプラント監視制御機能停止による運用上のリスクの低減を可能とする原子力発電所制御盤試験用端子台、制御盤自動試験装置、及び仮設制御装置を提供する。 - 特許庁
To provide an automatic inspection device for display panel which automatically inspects testing items such as point defect or line defect, while achieving an enhancement of precision in detection and judgment of display unevenness without requiring any difficult display unevenness detection/determination processing.例文帳に追加
自動的に点欠陥や線欠陥などの検査項目を検査するとともに、困難な表示ムラ検出・判定処理を必要とせずに表示ムラの検出・判定の精度を向上可能なディスプレイパネル自動検査装置を提供する。 - 特許庁
To provide a differential sensor operation testing method and device capable of accurately checking the operation of a differential sensor without demanding an operator to continuously monitor a display on the receiver side of an automatic fire alarm.例文帳に追加
自火報受信機側にて作業員が長い時間その表示を監視し続けることなく、正確に差動型感知器の作動確認を行うことのできる差動型感知器の動作試験方法及び動作試験装置を提供すること。 - 特許庁
To provide a control device for an automatic transmission, which prevents the incorrect determination of shifting to a neutral state, even when a line pressure is in minimum during testing whether a gear change stage is formed by outputting a formation command in a predetermined gear change stage.例文帳に追加
所定変速段の形成指令を出力して何れの変速段が形成されるかの試験中に、ライン圧が最低圧状態であっても、ニュートラル状態として誤判定することがない自動変速機の制御装置を提供する。 - 特許庁
Different processing speeds of the digital logical circuit 202 can be tested by this method, and can be tested without making a special automatic testing device such as supporting the whole different possible voltage levels in response to the supporting different data rates.例文帳に追加
この方法で、ディジタル論理回路の異なる処理速度をテストすることができ、サポートされる異なるデータ・レートに対応してすべての異なる可能な電圧レベルをサポートするような特殊な自動テスト装置を作ることなしにテストすることができる。 - 特許庁
When testing the motorcycle equipped with an operating pedal, an automatic two-wheel device is constituted by including: a frame 1; a center bar 2; a left leg part operating machine fixture 5 and a right leg part operating machine fixture 6 connected detachably to the center bar 2; and operating pedal operating machines 7, 8.例文帳に追加
操作ペダルを備えた自動二輪車の試験を行う場合には、フレーム1、センターバー2、センターバー2に脱着可能に連結した左足部操作機固定金具5と右足部操作機固定金具6、操作ペダル操作機7、8とを含めて自動二輪装置を構成する。 - 特許庁
To automatically correct the correspondence between XY coordinates on the side of an automatic jig, which is mounted on the test head of an IC testing device and corrects the operation state of a circuit connected to respective pins of an IC socket arranged on the test head by automatically bringing the probe into contact with the respective pins, and a XY position on the test head.例文帳に追加
IC試験装置のテストヘッドに装着され、テストヘッド上に配置されたICソケットの各ピンにプローブを自動的に接触させ、ICソケットの各ピンに接続された回路の動作状態を校正する自動治具において、自動治具側のXY座標と、テストヘッド上のXY位置との対応を自動的に校正する。 - 特許庁
| 例文 |
| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|