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block sampleの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 233件
To provide a micro sample block capable of shortening a thinning time for a micro sample while securing rigidity as a sample block.例文帳に追加
試料台としての剛性を確保しつつ微小試料の薄片化時間を短縮できる微小試料台を提供すること。 - 特許庁
To provide a sample holder supporting mechanism suitable at the time of automatically mounting a sample block to a sample holder in a slicer to slice a surface layer part of the sample block.例文帳に追加
試料ブロックの表層部をスライスするスライサにおいて、試料ブロックを試料ホルダに自動装着する際に適した試料ホルダの支持機構を提供する。 - 特許庁
Particularly, a device for thermally cycling a biological sample includes: a heater block assembly to receive a biological sample; a thermoelectric module coupled with the heater block assembly; and a heat sink.例文帳に追加
具体的には、生物学的サンプルを熱的に循環させるための装置は、以下を備える。 - 特許庁
A sample block 1 is fixed to a sample feeding table 9 by a clamper 8.例文帳に追加
標本ブロック1はクランパ8によって標本送り台9に固定される。 - 特許庁
The sample block (36) is of thermal mass and is constructed of silver.例文帳に追加
サンプルブロック(36)は、低熱質量であり、銀からなる。 - 特許庁
The sample block (36) is of low thermal mass and is constructed of silver.例文帳に追加
サンプルブロック(36)は、低熱質量であり、銀からなる。 - 特許庁
For a sample block 10, an inspection sample 11 of an observation target is embedded in a embedding medium 12, and this block is held on a first sample holder 15.例文帳に追加
試料ブロック10は、観察対象の検体11を包埋材12の中に埋め込んだものであり、第一試料ホルダ15の上に保持される。 - 特許庁
A preliminary processing method for a sample used on atom probe apparatus includes the steps of: cutting the desired observing part of the sample into a block using an FIB equipment; transferring the sample block onto a sample substrate and fixing the sample block in place; and processing the sample block fixed onto the sample substrate into a needle-point shape by FIB etching.例文帳に追加
本発明のアトムプローブ装置用試料の予備加工は、FIB装置を用いて試料所望観察部位をブロック状に切り出すステップと、該ブロック状の切り出し試料を試料基板上に移送して固定するステップと、該試料基板上に固定されたブロック状の試料をFIBエッチング加工によって針先形状に加工するステップとからなる。 - 特許庁
After the carrier tape 2 is stuck to the surface of the sample block 10, the surface part of the sample block 10 is thinly cut by a cutter 1.例文帳に追加
キャリアテープ2を、試料ブロック10の表面に貼り付けた後、カッタ1で試料ブロック10の表層部を薄切りする。 - 特許庁
After the height of the sample block 1 is controlled, the surface part of the sample block 10 is sliced by running a cutter 20.例文帳に追加
試料ブロック1の高さを調整した後、カッタ20を走行させて試料ブロック10の表層部の薄切りを行う。 - 特許庁
A sample frame is set (S5), and a motion vector is detected in each block unit of the sample frame (S6).例文帳に追加
サンプルフレームを設定し(S5)、サンプルフレームの各ブロック単位で動きベクトルを検出する(S6)。 - 特許庁
To prevent the curl of a sample at a time of the cutting of the sample from a sample block by improving the structure of a sample segmenting tool equipped with a microtome knife.例文帳に追加
ミクロトーム刃を備えた試料切出し用器具の構造を改良することにより、試料ブロックからの試料切出し時における試料のカールを防止する。 - 特許庁
In addition, the sample stage 15 is driven in the horizontal direction (the X-axis direction) with reference to the surface of the sample block 11 in order to feed the sample block 11 toward the cutter 21.例文帳に追加
更に、試料ステージ15は、試料ブロック11をカッタ21に向けて送り出すため、試料ブロック11の表面に対して平行方向(X軸方向)に駆動される。 - 特許庁
To adjust the attitude of a sample block with high precision relative to the traveling level of a cutter when a sample block is sliced with a microtome for preparation of a thin sample.例文帳に追加
ミクロトームを用いて試料ブロックをスライスして薄片状の試料を作成する際、カッタ走行面に対する試料ブロックの姿勢を高い精度で調整する。 - 特許庁
A flow cell 2 is accommodated in a temperature control block 6 for a sample.例文帳に追加
フローセル2は試料用温調ブロック6に収容されている。 - 特許庁
Sample colour-coded pre block: Code Listing2.7: My first ebuild 例文帳に追加
コードサンプルのなかで使われている言語でのキーワードを表示します - Gentoo Linux
The sample block has pillar-like holes 51A, 51B along an edge part of a sample block 50 with partially cut parts in the direction parallel to an axis O.例文帳に追加
試料台50上のエッジ部には、軸Oに平行な方向に一部切断した円柱状の穴51A,51Bが開けられている。 - 特許庁
Then, a block constituted of a plurality of adjacent sample points including the movement sample point of a predetermined ratio or more is detected as a movement block, and the existence sample point away from the movement block is detected as a congestion sample point, and a block constituted of the plurality of adjacent sample points including the congestion sample points of the predetermined ratio or more is detected as a congestion block.例文帳に追加
次いで、所定の割合以上の移動サンプル点を含む互いに隣接する複数のサンプル点から構成されるブロックを移動ブロックとして検出し、移動ブロックから外れた存在サンプル点を渋滞サンプル点として検出し、所定の割合以上の渋滞サンプル点を含む互いに隣接する複数のサンプル点から構成されるブロックを渋滞ブロックとして検出する。 - 特許庁
The simultaneous temperature control block 10 is integrated with the temperature control block 6 for the sample and the temperature control block 14 for the photodetector.例文帳に追加
同時温調ブロック10は試料温調用ブロック6及び光検出器用温調ブロック14と一体化している。 - 特許庁
To provide a micro sample block capable of fixing surely a micro sample piece on a side face.例文帳に追加
側面に微小試料片を確実に固定することができる微小試料台を提供すること。 - 特許庁
The sample block 1 is moved toward the edge of a cutter 4 at a cutting feed speed (V1) to thinly cut the surface layer part of the sample block 1.例文帳に追加
試料ブロック1をカッタ4の刃先に向けて切断送り速度(V1)で移動させて、試料ブロック1の表層部を薄く切断する。 - 特許庁
When the surface layer part of the sample block 1 is thinly cut, the sample block 1 is sent out toward the cutter blade 3 and the carrier tape 5 is allowed to run in connection with the movement of the sample block 1 to suck and hold the cut thin sample 1 on its undersurface.例文帳に追加
試料ブロック1の表層部分を薄切りする際、試料ブロック1をカッタブレード3に向けて送り出すとともに、キャリアテープ5を試料ブロック1の動きに連動させて走行させ、切り取られた薄片試料をその下面に吸着して保持する。 - 特許庁
A sample mounting block feedback system electromechanically displaces the sample mounting block in a manner of responding to the electronic cantilever force error signal.例文帳に追加
試料載台フィードバック・システムは、前記電子カンチレバー力誤差信号に応答する方式で前記試料載台を電気機械的に変位するように構成されている。 - 特許庁
The pre-processing of the sample for this atom probe device is composed of a step for cutting a sample desired observation region into a block shape using an FIB device, a step for transferring the block-shaped cut sample to a sample substrate to fix the same and a step for processing the block-shaped sample fixed on the sample substrate into a needle tip shape by FIB etching processing.例文帳に追加
本発明のアトムプローブ装置用試料の予備加工は、FIB装置を用いて試料所望観察部位をブロック状に切り出すステップと、該ブロック状の切り出し試料を試料基板上に移送して固定するステップと、該試料基板上に固定されたブロック状の試料をFIBエッチング加工によって針先形状に加工するステップとからなる。 - 特許庁
CASSETTE FOR PATHOLOGICAL TISSUE SAMPLE AND METHOD FOR FORMING EMBEDDED BLOCK USING THE SAME例文帳に追加
病理組織試料用カセットとそれを用いた包埋ブロックの成形方法 - 特許庁
A second sample/hold means 11b samples/holds the noise block with second hold length, and generates a second sample/hold signal SH2.例文帳に追加
第2のサンプルホールド手段11bは、第2のホールド長でサンプルホールドして第2のサンプルホールド信号SH2を生成する。 - 特許庁
A 1st processing block 32 processes the received sample and generates a new sample by using the frequency fw.例文帳に追加
第1処理ブロック32は、受信したサンプルを処理するとともに新たなサンプルを周波数fwで発生させる。 - 特許庁
A sample block 11 which is formed by burying a specimen 10 into a burying material is held on a sample stage 15.例文帳に追加
試料ブロック11は、包埋材の中に検体10が埋め込まれたもので、試料ステージ15の上に保持される。 - 特許庁
When the surface layer part of the sample block 11 is cut, the sample block 11 is fed in the X-direction, and the cutter 21 is moved to the direction W in synchronism with it.例文帳に追加
試料ブロック11の表層部を切断する際には、試料ブロック11をX方向へ送り出すとともに、これに同期させてカッタ21をW方向へ移動させる。 - 特許庁
The sample block 1 is prepared by embedding living body tissue or the like in an embedding material.例文帳に追加
試料ブロック1は、生体組織等を包埋材の中に埋め込んだものである。 - 特許庁
A projection part 27a on an upper part of a sample block 27 is grasped by tips of nano-tweezers 40.例文帳に追加
ナノピンセット40の先端で、試料ブロック27上部の凸部27aを掴む。 - 特許庁
To make a travel speed of a carrier tape identical relative to the feed speed for a sample block in a thin piece sample preparing device where a thin piece sample obtained by slicing off the sample block is collected by being adhered on the tape.例文帳に追加
標本ブロックをスライスして得られた薄片状の試料を搬送テープに貼り付けて回収する方式の薄片試料作製装置において、標本ブロックの送り速度に対して搬送テープの走行速度を高い精度で同一にする。 - 特許庁
To provide a surface developing method for sample blocks that will not cause damages to a sample block and which does not have problems on hygienic grounds.例文帳に追加
試料ブロックの欠損などをおこすことなく、また、衛生上問題のない試料ブロックの面出し方法を提供する。 - 特許庁
The signal is processed for consecutive sample input blocks BE1, BE2 and the calculation applied to an input block to be processed takes only the signal sample which to the processed input block or the calculated block into account.例文帳に追加
信号は、連続するサンプル入力ブロック(BE1、BE2)毎に処理し、処理する入力ブロックに対して行う計算は、処理する入力ブロックに属する原サンプルまたは算出されたサンプルのみを考慮に入れる。 - 特許庁
The sample block is sent out to the cutter blade 11 by driving the moving stage 31.例文帳に追加
移動ステージ31を駆動して標本ブロック10をカッタブレード11に向けて送り出す。 - 特許庁
An unsharp-mask image creation block 320 applies unsharp masking on the down sample image line.例文帳に追加
アンシャープ・マスク画像生成ブロック320は、ダウン・サンプル画像ラインにアンシャープ・マスクをかける。 - 特許庁
The sample block 10 formed with a flat surface in advance is set on the stage 15.例文帳に追加
予め平坦な表面が形成された試料ブロック10を、ステージ15にセットする。 - 特許庁
The sample stage 15 is driven in the vertical direction (the Z-axis direction) with reference to the surface of the sample block 11 in order to set the thickness of a thin sample which is cut off.例文帳に追加
試料ステージ15は、切り取られる薄片試料の厚さを設定するため、試料ブロック11の表面に対して垂直方向(Z軸方向)に駆動される。 - 特許庁
To enhance uniformity in the thickness of a produced sample in a thin sample producing device by slicing a sample block with a cutter blade.例文帳に追加
カッタブレードを用いて標本ブロックをスライスして薄片状の試料を作製する薄片試料作製装置において、作製される薄片試料の厚さの均一性を高める。 - 特許庁
A table 10 supporting a lower sample fixing block 60 to which the lower part of the sample S is fixed is provided on a base 1, and a block support 20 supporting an upper sample fixing block 70 to which the upper part of the sample is fixed is provided on the base while opposing the table and being free to move horizontally.例文帳に追加
供試体Sの下部を固定した下部供試体固定ブロック60を支持するテーブル10を基台1上に設けると共に、供試体の上部を固定した上部供試体固定ブロック70を支持するブロック支持体20をテーブルに対峙させて水平方向に移動自在に前記基台に設ける。 - 特許庁
A carrier tape 2 is bonded to the surface of the sample block 10 and an aligning reference mark 12 is applied to the carrier tape 2 in the peripheral part of the sample block 10 using a punch 7.例文帳に追加
試料ブロック10の表面にキャリアテープ2を貼り付けた後、ポンチ7を用いて、試料ブロック10の周辺部でキャリアテープ2に位置合わせ用の基準マーク12を付ける。 - 特許庁
A sample supporting film 38 is picked up with a pair of tweezers and is placed horizontally on a supporting film holder 51A formed on the sample block 50.例文帳に追加
試料支持膜体38をピンセットで摘み、試料台50に形成された支持膜体ホルダー51Aの底面上に水平に置かれる。 - 特許庁
The sample feeding table 9 raises the sample block 1 at a feed rate of several μm-several 10 μm per one time.例文帳に追加
標本送り台9は、1回当たりの送り量が数μm〜数10μm程度で、標本ブロック1を上方向に移動させる。 - 特許庁
To reduce the damaging possibility of the already cut surface of a sample block, and to arrange the already cut surface of the sample block so as to easily make the same parallel to the virtual cutting surface of a knife in a non-contact state, even when the sample block is to be set on an apparatus different from a previously set apparatus.例文帳に追加
試料ブロックの既切削面を傷つけるおそれが少なく、従前にセットした装置と異なる装置に試料ブロックをセットする場合であっても、試料ブロックの既切削面をナイフの仮想切削面に非接触状態でかつ容易に平行となるよう配置できる。 - 特許庁
To reduce the damaging possibility of the already cut surface of a sample block and to arrange the already cut surface of the sample block so as to easily make the same parallel to the virtual cutting surface of a knife in a non-contact state, even when the sample block is set to an apparatus different from a previously set apparatus.例文帳に追加
試料ブロックの既切削面を傷つけるおそれが少なく、従前にセットした装置と異なる装置に試料ブロックをセットする場合であっても、試料ブロックの既切削面をナイフの仮想切削面に非接触状態でかつ容易に平行となるよう配置できる。 - 特許庁
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