「defect cause」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

We are going to analyze what the cause is of the defect. 例文帳に追加

私たちはその不具合の要因が何かを分析する。 - Weblio Email例文集

To make an analysis of a defect easy and to prevent cause investigation of the defect from becoming difficult.例文帳に追加

欠陥の解析を容易にし、欠陥の原因究明が困難になるのを防止する。 - 特許庁

To analyze the cause of defect when the defect occurs in a packet within a transmission apparatus.例文帳に追加

伝送装置内でパケットに異常が生じた場合に、異常の原因を解析する。 - 特許庁

To obtain a defect analyzing system which can investigate automatically cause of fatal defect.例文帳に追加

自動的に致命不良の原因究明が可能な不良解析システムを提供する。 - 特許庁

CAUSE ESTIMATION DEVICE AND CAUSE ESTIMATION PROGRAM AND CAUSE ESTIMATION METHOD OF SURFACE DEFECT OF METAL PLATE例文帳に追加

金属板材の表面欠陥の原因推定装置および原因推定プログラムならびに原因推定方法 - 特許庁

The device is also characterized by determining the defect generation cause by performing defect discrimination from frequency component information of the defect signals.例文帳に追加

この欠陥信号の周波数成分情報から、欠陥弁別をおこない欠陥の発生原因を判定する。 - 特許庁

We have to analyze the cause of the defect. 例文帳に追加

私たちはその不具合の要因を分析しなければならない。 - Weblio Email例文集

To provide a defect detection system for accurately detecting a cause of defect of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の不良原因を高精度に検出可能な不良検出システムを提供する。 - 特許庁

There is a chance that the cause of this defect is a faulty part. 例文帳に追加

この不具合の主要因は、不良部品の可能性があります。 - Weblio Email例文集

To promptly start identification of a cause of occurrence of defect of a substrate.例文帳に追加

基板の異常が発生する原因の特定を、迅速に開始させる。 - 特許庁

A color determination part determines that a cause of the defect is a monochromic color when the color component specified by the defect cause color specifying part is the K color, and determines that the cause of the defect is a color mixture when the color component is the CMYK color.例文帳に追加

そして、色判別部が、欠陥原因色特定部で特定された色成分が、Ｋ色の場合は欠陥の原因は単色であり、ＣＭＹＫ色の場合は、欠陥の原因は混色であると判別する。 - 特許庁

To provide a defect analysis method and a defect analyzer capable of effectively analyzing the cause of a defect of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイスに発生した欠陥の要因を効果的に解析できる欠陥解析方法及び欠陥解析装置を提供する。 - 特許庁

To enable even an unskilled person to easily recognize the cause of a defect.例文帳に追加

熟練者でなくとも、不良の原因を容易に認識できるようにする。 - 特許庁

Then, a generation cause of the common defect is specified from a common defect distribution corresponding to the discrimination number.例文帳に追加

そして、識別番号に対応する共通欠陥分布から、当該共通欠陥の発生原因を特定する。 - 特許庁

To quickly detect a potential secondary defect of a catalyst when a primary defect of the catalyst which may cause the secondary defect occurs.例文帳に追加

触媒の二次異常の要因となるような一次異常が発生した場合に、その後速やかに、触媒の潜在的な二次異常を検出する。 - 特許庁

To dissolve defect by easily and quickly specifying the cause of the defect when defect occurs in a medical image.例文帳に追加

本発明の課題は、医用画像に異常が発生した場合に、容易かつ速やかに異常の発生原因を特定して、異常の解消を図ることである。 - 特許庁

To provide a defect inspecting apparatus which quickly analyzes the cause of the occurrence of a defect by specifying a film in which the defect has occurred, to thereby prevent a decrease in productivity.例文帳に追加

欠陥検査装置において、欠陥の生じた膜を特定することにより、欠陥発生の原因分析を迅速化し、生産性の低下を防止する。 - 特許庁

If the defect is not remedied within the said time-limit, the Patent Office itself may cause the defect to be remedied. 例文帳に追加

瑕疵が当該期限内に補正されない場合には，特許庁自ら当該瑕疵を他の者に補正させることができる。 - 特許庁

To provide an apparatus for inspecting a mounting substrate which can accurately identify a defect cause.例文帳に追加

不良原因を正確に特定できる実装基板の検査装置を提供する。 - 特許庁

Since the defect cause is made clear owing to the defect rate distribution display screen to which the defect rate distribution of the second full-shot molded article is displayed and the known second molding causative value, unskilled workers can estimate the defect cause same as skilled workers.例文帳に追加

第２フルショット成形品の不良度分布を表示する不良度分布表示画面と既知の第２成形原因値とにより、その不良原因が明白になり、未熟練者は熟練者並みにその不良原因を推定することができる。 - 特許庁

To provide a method of correcting defect in color filter which does not cause failure after correction.例文帳に追加

修正後に、不具合が生じることがないカラーフィルタ欠陥修正方法を提供する。 - 特許庁

To provide a toner supply roller which does not cause an image defect such as a horizontal white stripe.例文帳に追加

横白スジ画像不良を発生させることのないトナー供給ローラを提供する。 - 特許庁

To provide a toner supply roller which does not cause an image defect such as a horizontal white stripe.例文帳に追加

、横白スジ画像不良を発生させることのないトナー供給ローラを提供する。 - 特許庁

You found the cause of the defect and were you able to take preventative measures against its recurrence?例文帳に追加

あなたはその不良の原因を見つけて、再発防止対策を取ることができましたか？ - Weblio Email例文集

To provide an inspection method of a display panel by which not only the existence of a display defect but also the cause of the display defect can be specified.例文帳に追加

表示不良の有無だけでなく、その表示不良の原因を特定することができる表示パネルの検査方法を提供する。 - 特許庁

At this time, the MWCNT is thermally damaged to cause a defect, and its combustion temperature lowers.例文帳に追加

このときＭＷＣＮＴは熱的ダメージを受け欠陥が生じ燃焼温度が低下する。 - 特許庁

To facilitate investigation into the cause of defect and improvement of yield by improving measuring accuracy of QST.例文帳に追加

ＱＳＴの測定精度をより高め、不良の原因究明や歩留まり改善を容易とする。 - 特許庁

Therefore, it becomes easier to analyze the cause of a systematic defect caused by position relation with other layers.例文帳に追加

従って、他のレイヤとの位置関係で発生するシステマティック欠陥の要因解析が容易になる。 - 特許庁

You found the cause of the defect and were you able to take measures to prevent its recurrence?例文帳に追加

あなたはその不良の原因を見つけて、再発防止のための対策を取ることができましたか？ - Weblio Email例文集

To provide a honeycomb filter which enables detection of a defect point and defect cause without installing a device for detecting a defect of the honeycomb filter on the downstream of the honeycomb filter.例文帳に追加

ハニカムフィルタの下流側にハニカムフィルタの欠陥を検出するための装置を配置することなく、欠陥箇所及び欠陥原因を検出することが可能なハニカムフィルタを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor defect inspection device which automatically detects a defect on a semiconductor wafer using circuit design data to estimate the cause of the defect generation, and a method thereof.例文帳に追加

回路設計データを用いた半導体ウェーハ上の欠陥を自動的に検出し、欠陥発生原因の推定を行う半導体欠陥検査装置ならびにその方法を提供する。 - 特許庁

To enhance productivity by detecting a defect generated in the preceding process by inline test and reducing time loss incident to investigation of the cause of defect.例文帳に追加

インライン検査で前行程での不良を検出し、不良原因究明に伴う時間ロスを低減することにより生産性を高める。 - 特許庁

To provide a leakage flux flaw detection method and a leakage flux flaw detection device having a defect discrimination function for determining a defect generation cause.例文帳に追加

欠陥の発生原因を判定する欠陥弁別機能を有する漏洩磁束探傷法および漏洩磁束探傷装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

If the cause for the valve closure defect is the bite of foreign matter, the foreign matter is removed by the opening and closing action of the hot water feed valve 14 and the valve closure defect is repaired.例文帳に追加

閉弁不良の原因が異物の噛み込みであった場合は、給湯弁１４の開閉動作により異物が除去され、閉弁不良が修復される。 - 特許庁

To provide a motor control apparatus that is efficient in analyzing cause of errors after a defect and in securing safety of internal circuit components when detecting the defect of externally supplied voltage.例文帳に追加

外部供給電圧の異常検出時に、内部回路部品の安全確保と異常後のエラー要因の解析に有効なモータ制御装置を提供する。 - 特許庁

To provide a traceability sensor for packaging which can easily detect the junction defect and know whether a cause of the junction defect is a trouble in a reflow furnace or not.例文帳に追加

接合不良を容易に発見でき、かつその原因がリフロー炉の不具合であるか否かを知ることができる実装用トレーサビリティーセンサーを提供する。 - 特許庁

To provide a defect distribution analyzing system capable of identifying cause of the occurrence of defect in a short time, and further reducing burden of workers.例文帳に追加

欠陥の発生原因を短時間で特定することができ、かつ、作業者の負担を軽減することができる欠陥分布解析システムを提供する。 - 特許庁

the cause of msi may be a defect in the ability to repair mistakes made when dna is copied in the cell. 例文帳に追加

msiの原因は、細胞内でdnaが複製される際のエラー修復機構の欠陥である可能性がある。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

To provide a technique which evades a remarkable solidification delay as one cause of breakout directly below a mold and powder entrainment as the cause of a product sliver defect.例文帳に追加

鋳型直下型ブレークアウトの一因である著しい凝固遅れや、製品スリバー欠陥の原因であるパウダー巻き込みを回避する技術を提供する。 - 特許庁

When the valve closure defect is similarly detected even with the drain valve 20, the drain valve is driven to be forcibly opened and closed several times and if the cause for the valve closure defect is the bite of the foreign matter, the foreign matter is removed and the valve closure defect is automatically repaired.例文帳に追加

排水弁２０についても、同様に閉弁不良が検知されたら強制的に開閉駆動され、異物の噛み込みによる閉弁不良であれば、異物が除去されて自動修復される。 - 特許庁

To provide a fingerprint input device, with which a cause is specified and the contents of that cause and/or measures to that cause are announced to a user when a fingerprint reading defect occurs.例文帳に追加

本発明は、指紋読み取り不良が発生した場合、その原因を特定し、利用者にその原因の内容及び／又はその原因に対する対策を告知する指紋入力装置を提供する。 - 特許庁

To provide a check valve which does not cause a seal defect when a seal member of the check valve is swollen with fuel.例文帳に追加

逆止弁のシール部材が燃料により膨潤しても、シール不良が起きない逆止弁を提供すること。 - 特許庁

To solve a problem that spotted stains are formed on a gold plating layer adhered to a wiring layer to cause an appearance defect.例文帳に追加

配線層に被着させた金めっき層上に斑点状のしみが形成されて外観不良を生じる。 - 特許庁

To provide an adhesive tape manufacturing system which quickly in-line detects the cause of a surface defect when the surface defect due to fine irregularities occurs while manufacturing the adhesive tape and can change manufacturing conditions so as to remove the cause of the surface defect.例文帳に追加

粘着テープの製造中に微細な凹凸に起因する表面欠陥が発生した場合に、その表面欠陥の原因をインラインで迅速に検出するとともに、表面欠陥の原因を除去するように製造条件を変更可能な粘着テープ製造システムを提供する。 - 特許庁

Furthermore, since the inspection device includes a function of collating the inspection results for both samples, the relation between a defect and the cause of the defect can be analyzed easily.例文帳に追加

更に、双方の試料に対する検査結果を照合する機能を備えることにより、欠陥と欠陥が生じる原因との関係を容易に解析できるようにする。 - 特許庁