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defect causeの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 298件
To cause no image deletion and transfer defect even when being used over a long period of time by keeping high sensitivity and mechanical strength unchanged even in use over a long period.例文帳に追加
長期の使用においても高感度と機械的強度を保持し、かつ、長期間使用しても画像流れや転写不良を起こさない電子写真感光体と、それを用いた画像形成方法と画像形成装置及びプロセスカートリッジを提供する。 - 特許庁
When an inspection result of a previous step is included in the chip ID, level identification on a defective or acceptable chip can be carried out by only reading the chip ID and thus this can quickly cope with the defect-cause analysis, shipping by characteristics, or the like.例文帳に追加
チップIDに前工程の検査結果を含ませる事で、不良品や良品のレベル識別がチップIDの読み取りをおこなうだけで可能となり、不具合の原因解析や特性別の出荷などに迅速に対応できる。 - 特許庁
To provide soldering equipment which can easily obtain an excellent soldering condition, avoiding the cause of the occurrence of the defect of a work to be soldered in which a metal substrate having a high heat dissipation property is superposed with a printed-wiring substrate on which an electronic component is mounted.例文帳に追加
放熱性が高い金属基板と、電子部品が実装されたプリント配線基板とを重ね合わせた被はんだ付けワークの不良発生の原因を回避しながら良好なはんだ付け条件を容易に得ることができる。 - 特許庁
To provide a method of fabricating a high-k gate insulating film and a silicon oxide film on the high-k gate insulating film whereby a defect and trapping are avoided that cause a short circuit between doped silicon gates on the high-k gate insulating film.例文帳に追加
高kゲート絶縁膜上のドープされたシリコンゲート間に短絡をもたらす欠陥、トラッピングを回避する、前記高kゲート絶縁膜および前記高kゲート絶縁膜上のシリコンオキサイド膜の製造法を提供する。 - 特許庁
To reduce a charge trouble and to sample only an object without mixing a peripheral base material as the analyzing pretreatment of a minute insulating material sample or the like with a size of about 1 μm becoming the defect cause of a device or the like.例文帳に追加
デバイス等の不良原因となる1μmほどの微小絶縁物試料等の分析前処理として、帯電の支障を少なくし、周辺の基材を混合することなく目的物のみをサンプリングすることを目的とする。 - 特許庁
By such constitution, an effect to make a probability that the minute foreign matter intruding inside the housing moves low, and a probability that the minute foreign matter adheres to the light transmission surface of the optical system to cause staining defect low is obtained.例文帳に追加
この構成によって、筐体内部に侵入した微細な異物が移動する確率を小さくし、光学系の光透過面へ微細な異物が付着し、シミ不良が発生する確率を小さくすることができるという効果がある。 - 特許庁
To provide a developing device which will not cause an image defect, while preventing the occurrence of filming by setting a center line average roughness Ra(μm) of the surface of a developer carrier to be Ra<0.3 μm, and to provide an image forming apparatus equipped with the device.例文帳に追加
現像剤担持体の表面の中心線平均粗さRa(μm)をRa<0.3μmとしてフィルミングの発生を防止しつつ、画像不良を引き起こさない現像装置、及びこれを備える画像形成装置を提供する。 - 特許庁
To provide a method and an apparatus for visualizing the appearance of the deformation in the inner part of a formed article to clarify the checking of working processing and the cause of defect in the formed article, in the working of a complicated form parts applying the three-dimensional plastic-deformation.例文帳に追加
3次元的に塑性変形する複雑形状部品の加工において、加工性の検討や成形品の欠陥の原因を解明するため成形品内部変形の様子を可視化する方法及び装置を提供する。 - 特許庁
To actualize a method and a device for electrostatic photographic image formation which cause no defect in fixation even at low temperature and have the same effect even when toner particles are made small in size for higher resolution and to save energy.例文帳に追加
低温でも定着不良が発生せず、高解像度化を図るためトナー粒子を小粒径にした場合にも同様の効果を奏する静電写真画像形成方法及び装置を実現し、省エネルギー化を達成すること。 - 特許庁
To provide an electrode-wiring material which does not cause a heat defect such as a hillock and a void even when heated to a high temperature of 350°C or higher, has low electric resistance, is inexpensive, has high reliability, and is suitable for densifying an electron device, and to provide a sputtering target.例文帳に追加
350℃以上の高温でもヒロックやボイドなどの熱欠陥が発生せず、電気抵抗が低く、安価で信頼性が高く、電子デバイスの高密度化に適した電極配線材料、及び、スパッタリングターゲットを提供する - 特許庁
To provide a cold-rolling method for a metallic foil by which rolling is executed efficiently by reducing the number of rolling passes, edge crack which is a cause of break of the metallic foil during rolling is prevented and, besides, defect in shape after rolling is prevented.例文帳に追加
圧延パス数を少なくして効率よく圧延でき、圧延中の金属箔の破断の原因となる耳割れを防止でき、しかも圧延後の形状不良を防止できる金属箔の冷間圧延方法を提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor test system not making an unnecessary evaluation of a device by immediately identifying a defect cause in a semiconductor test system having an overcurrent protective device in a control signal output circuit of a test head.例文帳に追加
テストヘッドの制御信号出力回路に過電流保護装置を備えた半導体試験システムにおいて、不良原因が即座に特定され、無駄なデバイス判定を行うことのない半導体試験システムを提供することを目的とする。 - 特許庁
To solve a defect that chickens compete with each other with respect to a feed to lower their commercial values or cause large individual differences therebetween, because conventional feeding machines can not simultaneously feed in a wide range.例文帳に追加
解決しようとする問題点は、従来の給餌機によると広い範囲で一斉に給餌できないので、鶏間で飼料をめぐって競争となり、鶏の商品価値を落としたり、著しい個体差を生じさせてしまう点である。 - 特許庁
Consequently, even when the standby time is long, the front end part of the photosensitive material 15 can be prevented from being curled to jam when moving on the conveyance path 18 having many bent parts and cause a defect in conveyance.例文帳に追加
これにより、待機時間が長くなっても感光材料15の先端部がカールし、このカールした先端部が多数の屈曲部を持つ搬送路18上を進行する際にジャミングを生じ、搬送不良を生じることを防止できる。 - 特許庁
To eliminate the defect that bubbles concentrate to the outside surface of an arc plate-shaped concrete liner to cause the deterioration in appearance and dimensional precision of the outside surface in a method for producing the liner in which a non-concrete layer is formed on the side of an inside surface.例文帳に追加
内周面側に非コンクリート層を設けた円弧板状のコンクリートライナの製造方法に当り、気泡がライナ外周面に集中し、外観も不良で外面寸法精度が低いという欠点を解消する。 - 特許庁
To enable an upper box and a lower box to be assembled by fitting so as not to cause the reduction of productivity and the defect of formation, and further to secure the sealing properties at the fitting part of the upper and the lower boxes and to simplify the fitting and assembly.例文帳に追加
生産性の低下や成形欠陥が生じないようにアッパボックスとロアボックスとを嵌合させて組み付けるようにし、その際、アッパボックスとロアボックスとの嵌合部のシール性を確保するとともに、嵌合組付け性を簡単にする。 - 特許庁
To provide a wet honing method capable of suppressing the generation of the aggregate of an abrasive material due to the scale in a polishing liquid and sufficiently suppressing the occurrence of depression defects and honing flaws to be the cause for a coating film defect.例文帳に追加
研磨液中の水垢に起因する研磨材凝集物の発生を抑制し、塗膜欠陥の原因となる凹み欠陥、ホーニング傷の発生を十分に抑制することが可能な湿式ホーニング方法を提供すること。 - 特許庁
By calling up the information relating to contamination of the reticle during storage and transfer included in the information relating to the reticle 1, the reticle 1 in a contaminated state that may cause a pattern defect can be prevented from being used in an exposure process by cleaning the reticle.例文帳に追加
このレチクル1に係る情報に含めた保管,移動時のレチクル汚染に関する情報を呼び出すことで、レチクル洗浄を行って、パターン欠陥に結びつく汚染状態のレチクル1を露光処理に使用することを防止できる。 - 特許庁
The non-adhesion area 5 includes areas other than the external shape of the flexible printed boards 10, so when cream solder is printed on the flexible printed boards 10 using a metal mask, the metal mask is not stuck on the non-adhesion area 5 to cause no printing defect.例文帳に追加
非粘着領域5がフレキシブルプリント基板10の外形以外の領域を包含するので、フレキシブルプリント基板10にメタルマスクを用いてクリームハンダが印刷される際、非粘着領域5にメタルマスクが粘着して印刷不良を招くことがない。 - 特許庁
To provide a manufacturing method of an organic EL display of high definition and high manufacturing throughput to form a color conversion layer with a high yield which does not become a supply source of moisture to cause the generation of a dark area and a dark spot being a pixel defect.例文帳に追加
画素欠陥となるダークエリアやダークスポット発生の原因となる水分の供給源とならない色変換層を高い歩留まりで形成する、高精細で製造スループットの高い有機ELディスプレイの製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a display apparatus having a superior characteristic such as high precision in durability by using an insulating base of a tape-carrier semiconductor package which has high elasticity and mechanical strength, and which does not cause distortion and connection defect due to thermal history.例文帳に追加
高い弾性率と機械的強度を有し、熱履歴による歪や接続不良を起こさないテープキャリア型半導体パッケージの絶縁基材を使用することで、耐久性で高精度などの優れた特性を有する表示機器を提供する。 - 特許庁
To provide a debugging system which can mitigate work required for investigation of a bug cause regarding a wrong branch by specifying a defect module automatically, creating a bug slip automatically, and transmitting it automatically to a responsible personel of the module.例文帳に追加
モジュールの不正分岐に関し、不具合モジュールを自動的に特定化し、バグ票を自動作成し、該当するモジュールの担当者に対して自動送信することで、バグ原因の調査にかかる作業を軽減できるデバッグシステムを提供する。 - 特許庁
To provide a cutting tool long in tool life span even under a cutting condition easy to cause welding and boundary damage by improving abrasion resistance by restraining the oxidization of a film on a rake face while restraining an abrupt defect on a flank.例文帳に追加
逃げ面における突発欠損を抑制しつつ、すくい面での被膜の酸化を抑制して耐摩耗性を向上させて溶着や境界損傷が発生しやすい切削条件においても工具寿命が長い切削工具を提供する。 - 特許庁
To provide a member for business equipment used as a paper feeding member that suppresses reduction of friction coefficient due to adhesion of paper powder, allows stable paper feeding, and does not cause defect of a toner image, in a device including various paper feeding mechanism.例文帳に追加
各種給紙機構を有する装置において、紙粉の付着などによる摩擦係数の低下を抑制し、安定した紙送りが可能で、かつトナー画像の欠けを招くことのない給紙部材として用いられる事務機器用部材を提供すること。 - 特許庁
To provide a thrust hollow shaft which does not cause such a defect that the thrust hollow shaft is broken by receiving a shock in a forward direction intermittently by a force generated in rolling an original pipe through a mandrel rod, a claw grasping a mandrel, and a horseshoe ring held by a thrust chuck.例文帳に追加
素管を圧延する際に発生する力がマンドレルロッド、マンドレルを掴む爪およびスラストチャック止め馬蹄リングを介して、断続的に前方方向へ衝撃を受けて折損を起す欠点の無いスラスト中空軸を提供する。 - 特許庁
When an inspection result indicating that a chip has a defect in electrical characteristics is repeated ten times continuously, whether the cause is due to adhesion or attachment of an insulating substance on the probe head or not is judged by conducting a needle-point test using the test pattern T.例文帳に追加
チップの電気的特性が不良であるという検査結果が、10回連続して得られた時には、その原因がプローブ先端への絶縁物の固着や付着にあるかどうかを、テストパターンTを使用した針先テストを行って判断する。 - 特許庁
To provide an image processor which is constituted to shorten image fetching time and to reducer the labor and time required for correlating a picture with inspected results at the time of clearing up the cause of a defect.例文帳に追加
画像取り込み時の時間短縮を図ることが可能であると共に、欠陥の発生原因を究明する際における画像と検査結果との対応付けに要する手間を削減することができる構成とされた画像処理装置を提供する。 - 特許庁
A bit which may cause a retention defect of a data retention capability resulting from random changes with time is screened by repeating a pause refresh test for checking a data retention function in the whole chip surface and the whole bits by an optimized frequency.例文帳に追加
データ保持機能を調べるポーズ・リフレッシュ試験を、チップ全面全ビットにおいて、最適化された回数分繰り返すことで、データ保持能力のランダムな経時変化に起因したリテンション不良を生じる可能性のあるビットをスクリーニングする。 - 特許庁
To provide a weighing system for diagnosing quickly an abnormality of a weighing head in a weighing head abnormality diagnosis mode for generating a state wherein a specific weighing head supposed to be a cause of weighing defect is used without fail.例文帳に追加
計量不良の要因と想定される特定の計量ヘッドを必ず使用する状況を作り出すという計量ヘッド異常診断モードによって、その計量ヘッドにおける異常の存否を迅速に診断する計量システムを提供する。 - 特許庁
After performing crystal defect repair processing or crystal defect removal processing of the single crystal silicon layer, using stock gas at least containing silicon based gas, the stock gas is activated by plasma under the atmospheric pressure or near the atmospheric pressure to cause single crystal silicon layer epitaxial growth and a second impurity silicon layer is formed on the epitaxial grown surface side.例文帳に追加
単結晶シリコン層の結晶欠陥修復処理又は結晶欠陥除去処理を行った後、シラン系ガスを少なくとも含む原料ガスを用い、大気圧或いは大気圧近傍下で生成したプラズマにより原料ガスを活性化させ、単結晶シリコン層をエピタキシャル成長させ、該エピタキシャル成長させた表面側に第2不純物シリコン層を形成する。 - 特許庁
To provide a manufacturing method of an organic EL element in which an organic light-emitting layer is formed by a printing method and an organic EL element, which cause less occurrence of film defect such as a difference in film thickness between pixels and awkward film shape, and no emission unevenness.例文帳に追加
印刷法を用いて有機発光層が形成された有機EL素子の製造方法について、画素間での膜厚差や膜形状の偏りといった膜不良の発生が少ない、発光ムラの無い有機EL素子の製造法及び有機EL素子を提供する。 - 特許庁
To solve the problem that the instantaneous abrupt drop of high frequency power due to some causes, e.g. an inappropriate preset value of the variable capacitor or the like in a matching unit, cannot be dealt with, and a pattern defect of a body being treatment is generated to cause a large quantity of failure lots.例文帳に追加
整合器の可変コンデンサ等のプリセット値が適当でないなど、高周波電力が何等かの原因で瞬間的且つ急激に落ち込んだ場合には対応することができず、被処理体のパターン欠陥が発生し、大量のロット不良を生じさせる。 - 特許庁
To provide a method and system for efficiently determining the cause of an error such as 'telephone is cut off in the middle of conversation', specifically whether the error is due to a defect specific to a mobile terminal or due to a base station in that area.例文帳に追加
本発明は、例えば「通話が途中で切れる」というエラーについて、そのエラーがその移動端末固有の故障によるものか、その地域の基地局の原因によるものか効率よく判断することのできる方法及びシステムを提供することを課題とする。 - 特許庁
To provide a method of delivering a semiconductor manufacturing composite solution, a manufacturing method, a pipe line and a manufacturing apparatus, thoroughly restraining the mixing-in of a foreign matter that can cause a defect in a manufacturing process, and remarkably reducing a content of the foreign matter.例文帳に追加
製造過程においてディフェクト要因となり得る異物の混入を十分に抑制することができ、異物含有量が極力低減された半導体製造用組成物溶液の送液方法、製造方法、配管、及び製造装置を提供する。 - 特許庁
To greatly reduce the occurrence of defective substrates by allowing a plating check process of detecting a part that may cause a plating defect to be automatically executed by checking whether a plating process is normally applied, in a stage of manufacturing design of an electronic substrate.例文帳に追加
電子基板の製造設計の段階において、正常にメッキ処理が施されるか否かをチェックし、メッキ不良となる可能性がある箇所を検出するメッキチェックの処理を自動的に行うことができるようにして、不良基板の発生を大幅に削減する。 - 特許庁
To provide an information recording system in which a component information of each component can be visualized directly from an outer surface of a unit and a maintenance management and a cause investigation or the like at a time of the occurrence of a defect can be conducted easily, to provide a manufacturing method of a battery pack, and to provide the battery pack.例文帳に追加
各部品の部品情報を機器の外面から直接、視認することができ、機器の保守管理、及び不具合発生時の原因究明等を容易に行うことができる情報記録システム、電池パックの製造方法、及び電池パックを提供する。 - 特許庁
To provide a cartridge, the developer feeding unit and an electrophotographic image forming device, capable of instantly analyzing the cause of the image defect when the same occurs, by storing the same in a memory, when there is possibility of contamination by the developer having different property.例文帳に追加
異なった特性の現像剤の混入する虞のある場合には、それをメモリに記憶し、画像不良発生時にその画像不良の原因をすばやく解析できる、カートリッジ、現像剤供給ユニット及び電子写真画像形成装置を提供する。 - 特許庁
To provide a coated sheet having a coated layer containing hollow particles uniformly and not having a coating defect, and further to provide a high-resolution recording sheet that does not cause a print failure but exhibits such qualities that a print concentration are stable when the coated sheet is used as a recording sheet.例文帳に追加
中空粒子を均一に含有し塗工欠陥のない塗工層を有する塗工シートを提供し、更に塗工シートを記録シートとして用いた場合、印画不良の無い、印画濃度等の品質が安定した高画質の記録シートを提供する。 - 特許庁
To provide a developing device which is not apt to generate an image defect, cause a torque increase, and so on by preventing toner from staying locally in a developing tank even when image information having a high printing rate only in a portion of an image formation area is continuously printed in large amount.例文帳に追加
画像形成領域のうちの一部分のみが高印字率である画像情報を連続して大量に印字しても、現像槽内で部分的にトナーが滞留するのが防止され、画像不良、トルク上昇などが発生し難い現像装置を提供する。 - 特許庁
To provide a conductive ball which can form an external electrode which does not generate cracks, which cause conduction defect and deterioration of mounting reliability, when an electronic component is mounted on a circuit substrate, and an external electrode forming method of the electronic component using the conductive ball.例文帳に追加
電子部品を回路基板に実装した際に、導通不良や実装信頼性の低下を引き起こすクラックを生じさせない外部電極を形成できる導電性ボールおよびその導電性ボールを用いた電子部品の外部電極形成方法を提供する。 - 特許庁
To provide laminated ceramic electronic components having no internal structural defect by forming its internal electrodes and ceramic layers, by using ordinary materials which contains no excessive component, so that the step sections that are formed due to the thicknesses of the internal electrodes and cause internal structure defects are dissolved.例文帳に追加
余分な組成分を含まない通常通りの材料から内部電極並びにセラミック層を形成し、内部構造欠陥を生ずるような内部電極の厚みによる段差部を容易に解消でき、内部構造欠陥のない積層セラミック電子部品を得る。 - 特許庁
Therefore, base material-supporting force by the backup roll 16 is increased, and the slippage between the aluminum web and the backup roll 16 is prevented to cause no qualitative defect due to scratches on the surface of the aluminum web, and a photosensitive printing plate is excellently coated.例文帳に追加
このため、バックアップロール16による支持体の保持力を増大させることができ、アルミウェブとバックアップロール16との間のスリップを防止することができ、アルミウェブの表面のキズによる品質故障がなく、感光性印刷版を良好に塗布することができる。 - 特許庁
To provide a method for manufacturing electronic device and a quality control system for electronic device by which the quality of an electronic device, such as the semiconductor, etc., can be controlled by studying the cause of yield degradation caused by a real parametric defect at the time of manufacturing the device.例文帳に追加
半導体などの電子デバイスの製造において、真のパラメトリック不良による歩留り劣化の原因を究明して電子デバイスの品質管理をできるようにした電子デバイスの製造方法および電子デバイスの品質管理システムを提供することにある。 - 特許庁
To provide a method of speedily and easily detecting, thereby properly classifying defects on a semiconductor substrate to be inspected, more specifically, to provide an inspection apparatus and method for eliminating a trouble for reporting one defect frequently generated by the same cause for a plurality of times, for solving a task of reporting one defect once, and for reducing the operation time for output.例文帳に追加
被検査対象である半導体基板上の欠陥を高速かつ容易に検出し、適切に分類する手法を提供すること、すなわち、同一原因に起因することが多い1つの欠陥を複数報告する煩雑さを無くし、一欠陥に対して一報告するべきという課題を解決し、かつその演算時間をより短くして出力することが可能な検査装置および検査方法を提供すること。 - 特許庁
To provide an information display panel hardly causing disconnection by providing a route wiring part avoiding electric corrosion therein, and capable preventing the generation of a defect in a pixel comprising an electrode present ahead of a wiring line which causes disconnection or is liable to cause disconnection.例文帳に追加
引き回し配線部で電蝕が発生しないように引き回し配線部を設けて、断線が起こりにくくし、断線を生じたか、もしくは、断線しやすくなった配線の先にある電極が構成する画素に欠陥が発生するのを防止することのできる情報表示用パネルを提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor memory device which enables a system user to select only a specific memory device, such as a defective memory device and to directly analyze and fix the cause of defect of the defective memory device in a system mounted with many memory devices, and a generating method for a chip selection signal.例文帳に追加
多くのメモリ装置を装着しているシステムでシステム使用者が不良メモリ装置のような特定のメモリ装置だけを選択して直接不良メモリ装置の不良原因を分析したり、改善できるようにする半導体メモリ装置及びチップ選択信号発生方法を提供する。 - 特許庁
To provide a high-durability electrophotographic photoreceptor which is easy to manufacture and has high wear resistance and good electrophotographic characteristics, does not cause cleaning defect and performs image formation stable for a long period of time, an image forming method, and an image forming apparatus.例文帳に追加
電子写真有機感光体において、製造が容易で、かつ高い耐摩耗性と良好な電子写真特性を有し、さらにクリーニング不良を起こさず、長期的に安定した画像形成を行うことができる高耐久な電子写真感光体、画像形成方法、画像形成装置を提供する。 - 特許庁
To provide a ceramic discharge envelop having an aluminum oxide member bonded by expansion reaction without a defect wherein high heat loss occurs by radiation from a hat surface caused by high heat mass of a PCA hat, and serious heat stress which may cause a high incidence rate of a crack is induced.例文帳に追加
PCAハットの高い熱質量によりハット表面からの放射により高い熱損失が生じ、亀裂の高い発生率をまねきうる深刻な熱応力を誘発するという欠点を有しない、膨張反応により結合された酸化アルミニウム部材を有するセラミック放電容器。 - 特許庁
To provide a composition to be injection-molded which does not cause a defect or deformation in a sintered compact obtained through a short period of degreasing time, and has more excellent injection-moldability and dimension stability than a conventional well-known composition to be injection-molded.例文帳に追加
短時間での脱脂によっても得られる焼結体に欠陥や変形が生じないことを特徴とする射出成形用組成物であって、従来公知の射出成形用組成物よりも射出成形性、寸法安定性に優れる射出成形用組成物を提供する。 - 特許庁
To sense a malfunction of a drainage means within a short period of time from the starting of a drainage step to check the cause of the abnormality according to the contents of a report, thereby rapidly repairing a defect, in a control device of a washing machine wherein a series of a washing, rinsing, and dehydrating steps are automatically performed.例文帳に追加
一連の洗い、すすぎ、脱水行程を自動運転させる洗濯機の制御装置において、排水手段の動作不良故障を排水行程の開始から短時間で検知し、異常原因とその報知内容を一致させて、迅速に修理ができるようにする。 - 特許庁
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