「defect cause」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

It is known that a level considered to be the cause of a compound defect exists in the n-type semiconductor layer of high concentration.例文帳に追加

高濃度のｎ型半導体層中には複合欠陥起因と思われる準位が存在することが知られている。 - 特許庁

To provide a method for detecting a metal defect and a defect detection device, which allow clear detection of a defect portion by improving the uniformity, and increasing the brightness, of a non-defect portion of an imaged image of an inspecting surface when etching the inspecting surface of a metal sample to cause the defect to appear and imaging an image of the inspecting surface using an imaging device to detect the defect.例文帳に追加

金属試料の検査面をエッチング処理して欠陥を現出させ、撮像装置によって検査面を撮像することにより欠陥を検出するに際し、検査面撮像画像における非欠陥部の明度を均一かつ明るくすることにより、欠陥部を明瞭に検出することのできる金属の欠陥検出方法及び欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

Inclusion of oxygen gas in the sealed atmosphere allows aging to cause whiskers causing such a defect to oxidize and lose conductivity, to thereby allow recovery from the short circuit defect.例文帳に追加

この時、密閉雰囲気中に酸素ガスが含まれていれば、エージングを行うことで欠陥の原因となったウイスカーが酸化され、導電性を失うことで、短絡欠陥が修復可能となる。 - 特許庁

To provide an imaging device and an image defect correcting method, which can adequately correct an image defect in a radiological image so as not to cause a mistaken diagnosis or the like.例文帳に追加

誤診等を引き起こすことがないように、放射線画像の画像欠陥を、適切に補正することができる画像撮影装置及び画像欠陥補正方法を提供することにある。 - 特許庁

Thereafter, ions 30 are irradiated to the substrate 20 to cause a lattice defect layer 20a on the surface of the substrate 20, and further the lattice defect layer 20a is removed by grinding.例文帳に追加

その後、基板２０に対してイオン３０を照射することにより基板２０の表面に格子欠陥層２０ａを生じさせ、さらに研磨により格子欠陥層２０ａを除去する。 - 特許庁

To provide an optical film and a polarizing plate which do not cause light leakage thereby cause no luminescent spot or no defect even if they are arranged between a polarizer and a liquid crystal cell, and black display is performed.例文帳に追加

本発明は、偏光子と液晶セルの間に配置して黒表示を行っても光漏れが発生せず、輝点欠点とならない光学フィルム及び偏光板を提供する。 - 特許庁

To prevent a situation that toner is excessively supplied and flocculated to cause the defect of image quality, and a situation that the load of a rotating component is increased by excessive toner to cause the damage of the component.例文帳に追加

トナー供給が過多になってトナー凝集を生じて画質不良を生じさせたり、過剰トナーによって回転する部品の負荷が増大して部品破損するのを防止する。 - 特許庁

To provide an equipment and method for a base support which do not cause an error in defect detection or loss of inspection sensitivity.例文帳に追加

誤った欠陥検知または、検査感度の損失を引き起こすことのない基材支持の装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a cooling method for a float bath for producing float glass to get rid of the cause of surface defect of a float glass product.例文帳に追加

フロートガラス製品の表面欠陥の原因を取り除く為の、フロートガラス製造用フロート槽の冷却方法の提供。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of narrowing down a defect cause and a defective part while maintaining tamper resistance.例文帳に追加

耐タンパー性を維持したまま不良原因および不良箇所の絞り込みが可能となる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

To provide a photosensitive material processing apparatus that does not cause a coating defect and is used while the developability is stable for a long time.例文帳に追加

塗布欠陥が無く、長期間現像性が安定して使用可能な感光材料処理装置を提供することにある。 - 特許庁

At the time, since the number of constituting mirrors of each mirror group is small, the mirror which is the cause of accuracy defect is easily searched.例文帳に追加

この際、各ミラー群の構成ミラー数は少ないため、精度不良の原因となっているミラーの探索は容易である。 - 特許庁

To confirm defects of a liquid crystal panel in real time, to clear up the cause of the defect of the liquid crystal panel.例文帳に追加

液晶パネルの欠陥をリアルタイムに確認することができ、液晶パネルの欠陥原因を究明することが容易に行える。 - 特許庁

To provide the display device which prevent its display panel from deteriorating owing to the heat from a light source part to cause a defect in display.例文帳に追加

光源部からの熱によって表示パネルが劣化して表示不良を起こすことを防止した表示装置を提供する。 - 特許庁

To rapidly grasp a defect generating cause in a manufacturing step of color liquid crystal display panels manufactured by m×n piece-production.例文帳に追加

ｍ×ｎ個取りで作製するカラー液晶表示パネルの製造工程での欠陥の発生原因を迅速に把握すること。 - 特許庁

the cause of microsatellite instability may be a defect in the ability to repair mistakes made when dna is copied in the cell. 例文帳に追加

マイクロサテライト不安定性の原因は、細胞内においてdnaが複製される際のエラー修復機構の欠陥である可能性がある。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

To provide a manufacturing method of a liquid crystal device which does not cause a line defect, a liquid crystal device, and an electronic apparatus thereof.例文帳に追加

線欠陥を生じさせることのない液晶装置の製造方法、液晶装置及び電子機器を提供すること。 - 特許庁

In other words, the defect data is not shown by simply being overlapped with the shape of the cast product, but the attention is payed to the relation between the defect and the machining portion to be especially considered to cause a problem if the defect exists near the machining portion.例文帳に追加

つまり、欠陥データと鋳造品の形状とを単純に重ね合わせて表示するのではなく、欠陥が近接していると特に問題が生じるであろう部位であると考えられる加工部と欠陥との間の関係に着目している。 - 特許庁

To provide a chamfering device of plate glass hard to cause a defect on a surface of the plate glass and favorable in working precision and a chamfering method.例文帳に追加

ガラス板の表面に欠陥が発生し難く、加工精度の良いガラス板の面取り装置及び面取り方法を提供する。 - 特許庁

Thereby, a state in which the specific address is included in a refresh object is kept, and defect occurrence cause is analyzed in the state.例文帳に追加

それにより、特定のアドレスがリフレッシュ対象に含まれる状態を維持して、当該状態にて不良発生原因を解析する。 - 特許庁

To internally analyze a cause of a reception defect of a digital broadcast reception device, and to present a specific solution method to a user.例文帳に追加

デジタル放送受信装置の受信不良の原因を内部で解析して具体的な解決方法をユーザに提示できるようにする。 - 特許庁

Through this comparison, a member contacting the cathode ray tube is searched and a cause of the defect is specified from the searched member.例文帳に追加

比較によりこの陰極線管に当接した部材を探索して、この探索された部材から欠陥Ｐの発生原因を特定する。 - 特許庁

To provide a processor of a paper sheet or the like, which sufficiently analyzes the cause of defect occurrence and immediately disposes paper determined as defective.例文帳に追加

不良発生原因の解析が十分可能であり、かつ不良判定紙を即時に処分し得る紙葉類処理装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect detection method and a defect detecting device, capable of accurately detecting display defects, such as voltage cause defects which can be generated in image, when a voltage is applied to an image display device.例文帳に追加

画像表示デバイスに電圧を印加した際に画像内に生成し得る電圧要因欠陥等の表示欠陥を精度よく検出できる欠陥検出方法、および欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

To provide an antireflection film detector capable of easily detecting a common defect of low contrast occurring in an antireflection film at a certain cycle, and furthermore, identifying a cause of the common defect.例文帳に追加

反射防止フィルムに一定周期で発生する低コントラストの共通欠陥を容易に検出し、更に共通欠陥の発生原因を同定可能な反射防止フィルム検出装置を提供する。 - 特許庁

To settle problems that, in defect correction of a colored pattern of a color filter and the like, the corrected defect parts become uneven to cause unmodified parts, and projection height of the corrected parts becomes higher.例文帳に追加

カラーフィルター等における着色パターンの欠陥修正時に、修正された欠陥部分が不均一となり未修正部分が出来たり、修正部分の突起高さが高くなったりする問題を解決する - 特許庁

To provide a manufacturing method of electrophotographic photoreceptor which has high productivity and does not cause an image defect such as interference fringe and black dot.例文帳に追加

高い生産性をもち、かつ干渉縞や黒ポチのような画像欠陥を生じない電子写真感光体の製造方法を提供する。 - 特許庁

To record high-speed history information by an interleave system using a low-speed memory, and to analyze a cause of a defect in a measured semiconductor.例文帳に追加

低速のメモリでインターリーブ方式により高速の履歴情報を記録し、被測定半導体の不良原因を解析できるようにする。 - 特許庁

To provide an RFID protocol analyzer in which the cause of an accidentally generated defect can be investigated from a selective and intermittent trace in real time.例文帳に追加

リアルタイムで選択的・間歇的トレースから偶発的発生不良原因究明が可能となるＲＦＩＤプロトコルアナライザを提供する。 - 特許庁

To accurately eliminate a defect in a Levenson type phase shifting mask having an undercut structure in such a way as not to cause lowering of light intensity.例文帳に追加

アンダーカット構造を持つレベンソン型位相シフトマスクの欠陥に対して、光量の低下が起こらないような高精度な欠陥修正を行う。 - 特許庁

The second DC voltage is set to such a value that does not cause any oxygen defect in the vicinity of the outer electrode 20 of the detecting plate 15.例文帳に追加

この第２の直流電圧は、検出板１５の外側電極２０近傍に酸素欠陥を生じさせない大きさに設定される。 - 特許庁

A micro-prober is bonded to a sample 2, and the sample 2 containing foreign matter supposed as a cause of defect is separated from the element forming part.例文帳に追加

さらに、マイクロプローバを試料２に接着させて、不良の原因と考えられる異物を含む試料２を素子形成部から切り離す。 - 特許庁

A joining defect of a flip-chip bump and a shape defect of fine wiring, which do not cause a disconnection, can be detected, so stress during secondary mounting and a disconnection resulting from long-period use can be detected in advance.例文帳に追加

断線には至らないが、フリップチップバンプの接合不良や微細配線の形成不良を検出することができるので、２次実装時のストレスや長期使用で発生する断線を事前に検出することができる。 - 特許庁

To provide a method for preventing a seed from causing a defect in germination and rosette formation which can easily be performed and allows simply seeding after treating without requiring a large-scale equipment in relation to the seed easy to cause the defect in germination and the rosette formation.例文帳に追加

発育不良、ロゼット化を生じやすい種子に関して、すなわち、大がかりな設備が不要で容易に実施でき、処理後の播種が容易な種子の発芽不良・ロゼット化防止方法を提供する。 - 特許庁

To provide a printed wiring board, in which when the printed wiring board has an insulating defect or a slight insulation failure which may cause an insulating defect in future, the place of the insulation defect or insulation failure is easily specified and to provide a method of inspecting the same.例文帳に追加

絶縁不良が発生したプリント配線板、又は将来絶縁不良を引き起こすであろう僅かな絶縁欠陥を有するプリント配線板において、その絶縁不良個所や絶縁欠陥箇所を容易に特定できるプリント配線板及びその検査方法を提供する。 - 特許庁

When a voltage is applied among the external connection terminals 9a, 9b, 9c, a voltage is applied to all the comb-like electrodes 3a, 3b to cause a short-circuit defect for an electrode on which a metallic foreign material is placed and then the frequency characteristic is measured to detect the short-circuit defect and to eliminate the defect.例文帳に追加

その後、外部接続端子９ａ，９ｃ間に電圧を印加すると全ての櫛形電極３ａ，３ｂに電圧が印加され、金属異物が載っているものについてショート不良を発生させ、その後で周波数特性を測定することにより、ショート不良を検知し除去する。 - 特許庁

To provide a system and display method for recording information display which can investigate the cause of an accident occurring to a plant and lighten the burden on an operator who investigates the cause of a quality defect of a product.例文帳に追加

プラントに発生した事故原因の究明や、生産品の品質不良原因の究明等に要する操作者の負担を減らすことができる記録情報表示システム及び記録情報表示方法を提供する。 - 特許庁

Further, a semiconductor device 1A which does not have passed the continuity inspection is disassemble in the disassembling step (d) and the cause of a defect is found through subsequent inspection.例文帳に追加

また、導通検査が不合格の半導体装置１Ａは分解工程ｄにおいて分解され、その後の検査で不良原因が明らかになる。 - 特許庁

To provide an image formation device, an image forming system, and an image forming program which can efficiently register information for easily specifying the cause of a defect.例文帳に追加

不具合の原因を容易に特定するための情報を効率的に登録できる画像形成装置、画像形成システム、及び画像形成プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide an imaging device which enables a user to confirm the cause of an unsatisfactory image quality or a latent defect in a photoreceptive layer.例文帳に追加

本発明は、感光層における不充分な画質または潜在的な欠陥の原因を確かめることが可能なイメージング装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a joining structure and a joining method for a steel pipe column and an H-steel beam which will not cause breakage due to a welding defect and is simple in structure.例文帳に追加

溶接欠陥による破断が生ぜず、しかも構造が簡単な鋼管柱とＨ形鋼製梁の接合構造及び接合方法を提供する。 - 特許庁

To analyze the cause of an error if the execution of a test instruction sequence is stopped due to a processor logic defect or if an infinite loop is entered and no execution result is obtained.例文帳に追加

処理装置論理不良により試験命令列が実行停止、もしくは無限ループに陥り実行結果が得られない場合、エラー原因を解析する。 - 特許庁

To provide a screen for a projection television which does not cause the defect of the outside appearance in the case of assembling a Fresnel lens sheet and a lenticular lens sheet as a set in television.例文帳に追加

フレネルレンズシートとレンチキュラーレンズシートとセットでテレビに組み込む場合に外観不良を起こさないプロジェクションテレビ用スクリーンを提供することである。 - 特許庁

To provide a slab hot-rolling method by which the surface defect of the slab which is a cause of the generation of surface flaws in a plating stage is removed.例文帳に追加

めっき段階における表面疵発生の原因となるスラブ表面欠陥を除去することができるスラブの熱間圧延方法を提供する。 - 特許庁

To provide an efficient method of manufacturing an antireflection film which does not cause a defect in an antireflection layer having a fine rugged structure and to provide a manufacturing apparatus.例文帳に追加

微細な凹凸構造を持つ反射防止層に欠陥を生じさせない効率的な反射防止フィルムの製造方法及び製造装置を提供する。 - 特許庁