「defect cause」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an image forming apparatus which does not cause a transfer defect such as transfer deficiency or transfer unevenness by discharge whatever state a recording medium is in.例文帳に追加

本発明の課題は、記録媒体がどのような状態であっても、転写不足や放電によるムラといった転写不良を起こさない画像形成装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a graphite mold for resin molding which is so excellent in moldability as to hardly cause a defect such as a weld, a short or a burn in a molded article and which has a short cycle time and is lightweight and inexpensive in the cost.例文帳に追加

成形品にウェルド、ショート、焼け等の欠陥の生じにくい成形性に優れ、サイクル時間が短く、軽量でコストの安い樹脂成形用黒鉛型を提供する。 - 特許庁

When there is an abnormality, according to the conditions of abnormality, a cause such as soldering defect in the related input or output terminal is estimated and abnormality is removed by correction.例文帳に追加

異常があるときには、異常の症状に応じて、関連する入力端子または出力端子のはんだ付け不良などの原因が推定され、修整して異常を取除く。 - 特許庁

As a result, when a failure or a defect occurs for instance, by tracing back the history, the cause is easily determined and thus, the game machine is easily managed.例文帳に追加

その結果、例えば、不具合や不良が生じた場合に、かかる履歴を遡及することにより、その原因を容易に判定することができるので、遊技機の管理を容易に行い得る。 - 特許庁

The inspection method of the cause of a case that the IC chip 11 produces some defect is a method for inspecting and analyzing the cause of the defect by a photo-emission analyzing method by mounting the IC chip 11 on a test board to be energized and actuated after the package board 12 of an area surrounded by the display 16 is removed from the rear face to open an opening.例文帳に追加

このようなＩＣチップ１１が何らかの不良が生じた場合のその原因の検査方法は、表示１６で囲われた領域のパッケージ基板１２を裏面から除去して開口を開けた後、そのＩＣチップ１１をテスト基板に装着し、通電して作動させ、フォトエミッション解析方法により不良の原因を検査ｍ解析する方法を採っている。 - 特許庁

To provide an internal defect testing method for detecting an internal defect existing in a wire rod which can be a cause of welding failure when oxygen-free copper magnetic are connected by welding; and to provide a manufacturing method for preventing the occurrence of the welding failure.例文帳に追加

本発明は、溶接を伴う無酸素銅マグネットワイヤの接続を溶接で行った場合の溶接不良の原因となる線材に存在する内部欠陥を検出するための内部欠陥試験方法と、溶接不良の発生を防止した製造方法とを提供する。 - 特許庁

Firstly, strain energy in the P-type region as the base is fixed in a minimum state and secondly, a linear defect region is provided nearby an element which may cause a problem to adsorb interstitial silicon produced in an important junction part of the element by the defect IG capability.例文帳に追加

１つ目は下地となるＰ型領域内の歪エネルギーを最小の状態で固定化することで、２つ目は問題となる素子の近傍に線状欠陥領域を設け、素子の重要な接合部中に発生している格子間シリコンを欠陥のＩＧ能力で吸着せしめる。 - 特許庁

To provide an aluminum alloy-coated plate for a can lid which does not cause the defective appearances such as a blister defect and a dent defect, and has a coating film excellent in coating performances such as film adhesion and corrosion resistance, and to provide a method for manufacturing the aluminum alloy-coated plate for the can lid.例文帳に追加

膨れ状欠陥や凹み状欠陥などの外観不良が発生せず、しかも、塗膜密着性および耐食性等の塗膜性能にも優れる塗膜を有する缶蓋用アルミニウム合金塗装板、及び、缶蓋用アルミニウム合金塗装板の製造方法を提供する。 - 特許庁

Thereby, the visual inspection of a multiple layers phase defect becomes possible by an easy and practical through-put in a hole pattern which cannot be inspected easily by a mask inspection, and the yield is improved by supplying a defect free mask which is performed with a defective relief according to classification of the cause of failure.例文帳に追加

これにより、マスク検査では容易に検査できないホールパターンにおける、多層膜位相欠陥を容易かつ実用的なスループットで外観検査が可能となり、欠陥の原因の分類に応じた欠陥救済を行った無欠陥マスクを供給することで歩留まりが向上する。 - 特許庁

According to this constitution, since not only the information regarding the operation of the image formation device, but also the information regarding the operation are registered with the information memorizing unit 4 in relation to times, respectively when the defect is detected, the information for easily specifying the cause of the defect can be efficiently registered.例文帳に追加

この構成によれば、不具合を検出した場合に、画像形成装置の動作に関する情報のみならず操作に関する情報をも時刻に関連付けて情報記憶部に登録するので、不具合の原因を容易に特定するための情報を効率的に登録できる。 - 特許庁

To provide a board for a display device that comprises wiring for repair to restore disconnection defect occurring in a data bus line, actualizes a repaired data bus line when the wiring for repair is short-circuited, and easily performs discrimination with line defect occurring due to another cause, and to provide a liquid crystal display panel and device as well as a defect inspection method of wiring for repair.例文帳に追加

本発明は、データバスラインに生じた断線欠陥を修復するリペア用配線を備え、リペア用配線が短絡した場合にはリペア処理を施したデータバスラインを顕在化させ、他の原因で生じる線欠陥との識別を容易に行える表示装置用基板、液晶表示パネル及び液晶表示装置並びにリペア用配線の欠陥検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

When a defect is generated at the cell pack, the cause of deterioration of the secondary cells 1a-1d is specified by analyzing the data recorded in the memory 6, and utilized for the improvement and design of the battery pack.例文帳に追加

電池パックに不良が発生した場合に、メモリ６に記録されたデータを解析することにより、二次電池１ａ〜１ｄの劣化原因を特定し、電池パックの改良、設計に生かすことができる。 - 特許庁

To provide an adhesive which excels in moisture resistance and heat resistance, reduces formation of bubbles in curing, does not cause a defect such as cloudiness due to bubbles, and can be applied to assembly and bonding of optical parts.例文帳に追加

耐湿度性および耐熱性にすぐれ、硬化における泡の発生を減じ、泡などによる白濁などの欠点を生じない、光部品の組立、接合に適用できる接着剤を提供する。 - 特許庁

To provide a variable speed transmission unit which does not cause an engagement defect of a transmission mechanism and faults such as interference of another component even when an output shaft is inclined by excessive external input.例文帳に追加

過大な外部入力で出力軸が傾倒した時も変速機構の噛み合い不良や他部品の干渉等の不具合を生ずることのないようにした変速伝動ユニットを提供する。 - 特許庁

To solve a problem that a semiconductor device in which the minimum wiring width is 0.1 μm or less is particularly required to control generation of voids because the generated voids will cause a serious defect in some cases.例文帳に追加

最小配線幅が０．１μｍ以下の半導体装置においては、ボイドの発生が重大な欠陥を引き起こす場合もあるため、それを抑制することが特に強く求められている。 - 特許庁

To provide an electroformed part which does not cause damage, deformation or the like in electroforming dies, and has high dimension accuracy, little defect of shape, and a reliable fine shape.例文帳に追加

本発明は、電鋳元型の損傷、変形などを無くし、寸法精度が高く、形状不良の少ない、信頼性の高い微細な形状を有する電鋳部品を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus whose average productivity is not spoiled and which does not cause an image defect even when toner left for a long time since its manufacture is used without knowing the effect.例文帳に追加

画像形成装置の平均的な生産性を損なうことなく、製造してから長年月を経たトナーを知らずに使用した場合でも、画像不良を発生しないで済む画像形成装置を提供する。 - 特許庁

To provide a profile sensor roll for a rolled material, which can easily install pressure sensors therein, and which is excellent in workability for assembly, maintenance, and inspection, and which does not cause the defect of detecting accuracy due to residual stress.例文帳に追加

圧力センサを容易に設置することが可能で組立や保守点検の作業性が良く、残留応力に起因する検出精度不良のない圧延材の形状センサーロールを提供する。 - 特許庁

To provide a fixing device which prevents an image defect and prevents the potential of a fixing roller from being made excessively high to cause leakage discharge by constructing a fixing bias with an inexpensive constitution by a self-bias.例文帳に追加

セルフバイアスにより安価な構成で定着バイアスを築き、画像不良の防止と、定着ローラ電位が過度に高くなってリーク放電が発生するのを防止する定着装置を提供する。 - 特許庁

To obtain a battery having good discharge performance and charge/discharge cycle characteristics by using a binder exhibiting good binding force and less susceptible to cause coating defect of an electrode in the field mainly of secondary battery.例文帳に追加

主に二次電池の分野で、結着力が良好、かつ電極に塗工欠陥を作りにくいバインダーを用いることで、放電性能、充放電サイクル特性などの良好な電池を得ること。 - 特許庁

To provide a semiconductor package and a semiconductor device for suppressing the defect of a package resin forming the body of the semiconductor package and preventing the generation of a cause being a malfunction in the semiconductor device.例文帳に追加

半導体パッケージの躯体をなすパッケージ樹脂の欠損を抑制し、半導体装置において不具合となる要因の発生を未然に防止する半導体パッケージおよび半導体装置を提供する。 - 特許庁

To solve a technological problem for the easy diagnosing a physical defect to cause the frigidity by detecting the subtle body change when a patient is sexually stimulated.例文帳に追加

患者に性的刺激を与えたときの微妙な体の変化を検出して、不感症の原因となる身体的欠陥がないことを容易に判断できるようにすることを技術的課題としている。 - 特許庁

(viii) To check hoses and their connecting tools before commencing the use of the day, and to exchange them when it is liable to cause scattering or leakage of corrosive liquids due to defect such as damage and corrosion. 例文帳に追加

八　ホース及びその接続用具は、その日の使用を開始する前に点検し、損傷、腐食等の欠陥により、圧送する腐食性液体が飛散し、又は漏えいするおそれのあるときは、取り換えること。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To provide a method for manufacturing a nitrided component, which can increase the depth of a nitrided region, simultaneously enhance the hardness of the nitrided region, and is less prone to cause a defect such as a crack even in a stress-concentrated zone such as the bottom of a recessed part.例文帳に追加

窒化深さを増加させつつ硬さも高めることができ、かつ、凹部底等の応力集中部においてもクラック等の欠陥が生じにくい窒化部品の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an adhesive which excels in moisture resistance and heat resistance, reduces formation of bubbles in curing, does not cause a defect such as cloudiness due to bubbles, and can be applied in assembly and bonding of optical parts.例文帳に追加

耐湿度性および耐熱性にすぐれ、硬化における泡の発生を減じ、泡などによる白濁などの欠点を生じない、光部品の組立、接合に適用できる接着剤を提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of seamless steel tube for a boiler and its piping, which does not cause a rolling defect on a product, even when a Mannesmann type skew rolling process is adopted.例文帳に追加

本発明は、マンネスマン方式の傾斜圧延法を採用しても、製品に圧延疵が出現しないボイラー及びその配管用継目無鋼管の製造方法を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display element which enables product management using a panel ID and specification of the cause of a defect using a waveform monitor, and can be made small in size.例文帳に追加

パネルＩＤを用いた製品管理や、波形モニタによる不良原因の特定を行なうことができ、しかも液晶表示素子自体の小型化を図ることのできる液晶表示素子を提供すること。 - 特許庁

To easily specify whether a true cause for a defect is based on a yarn or setting of devices on a loom when defective weaving resulting from the yarn is caused during operation of the loom.例文帳に追加

織機運転中に糸原因による製織不良が発生した場合に、真の不良原因が糸によるものか、織機上の装置の設定によるものかの特定を容易に行えるようにする。 - 特許庁

To provide inkjet recording paper which does not cause a defect such as cracking in manufacturing, is excellent in handleability for breaking etc., and has high ink absorbency and color developability.例文帳に追加

発明の目的は、製造時にひび割れ等の欠陥がなく、折れ割れ等の取り扱い性に優れ、高いインク吸収性及び発色性を有するインクジェット記録用紙を提供することにある。 - 特許庁

In dry etching employing a resist pattern 13 for patterning a silicon nitride film 12 and a silicon oxide film 11, a defect introduced into a silicon substrate 10 at the time of growth to cause a conical pattern defect is removed by digging down the surface of an isolation trench forming region on a silicon substrate at the time of overetching.例文帳に追加

シリコン窒化膜１２及びシリコン酸化膜１１をパターン化するためのレジストパターン１３を用いたドライエッチングにおいて、オーバーエッチング時にシリコン基板１０における分離用溝形成領域の表面部を掘り下げることにより、円錐状パターン欠陥の原因となるシリコン基板１０中の成長時導入欠陥を除去する。 - 特許庁

To provide an image automatic sorting method and its device capable of outputting information required for a countermeasure to the cause of the generation of a fault and information required for predicting the yield of an examination wafer by using the image of a defective site concerning the defect generated in the manufacturing process of a semiconductor wafer detected by a defect examination device.例文帳に追加

欠陥検査装置で検出された半導体ウェハの製造工程で発生した欠陥について、その欠陥部位の画像を用いて、その欠陥の発生原因対策に必要な情報および、該検査ウェハの歩留まりの予測に必要な情報を出力できる画像自動分類方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

To provide an image forming method and an image forming apparatus which prevent occurrence of image defects due to surface flawing of a photoreceptor, improve the transferability of a toner by an image forming system using an intermediate transfer member and cause neither streaky image defect nor image defect such as a void.例文帳に追加

本発明の目的は感光体の表面傷の発生に原因する画像欠陥の発生を防止し、中間転写体を用いた画像形成方式のトナーの転写性を改善し、筋状の画像欠陥や中抜け等の画像欠陥を発生させない画像形成方法、画像形成装置を提供。 - 特許庁

To provide an assembly method for a pair of aperture grill and glass panel, that can minimize loss by detecting a defective one before an added value is imparted and by ejecting it, can significantly reduced the defect occurrence rate, can efficiently implement the identification of a defect cause and the repair and adjustment of process, abnormality and can automate the work thereof.例文帳に追加

付加価値が付く前に不良品を検出し直ちに排出して損失を最小とするとともに不良発生率を大幅に低減しかつ不良要因の特定と工程異常の修復、調整を効率よく実施でき、またその作業を自動化するアパーチャグリル及びアパーチャグリルとガラスパネルのペア組立に関する。 - 特許庁

Since abnormal yield can be found in the early stage and the factor of defect can be separated between a preceding step and a following step by conducting leak current test or function test of a semiconductor device, time loss incident to investigation of the cause of defect can be reduced and productivity can be enhanced.例文帳に追加

この構成によれば、インライン検査において、半導体装置のリーク電流検査または、機能検査をすることで、歩留異常を早期に発見でき、前工程と後工程との不良要因を分離することができ、これらにより不良原因究明に伴う時間ロスを低減できるため生産性を向上することができる。 - 特許庁

To use an existing reproduction system for detecting an error by using the reflected light of a recorded light reflected on a recording surface when optical information is recorded in the recording surface of an optical disk, and to determine whether the defect on the surface of the optical disk is a defect or not to cause the recording mistake of the optical information in one RUB.例文帳に追加

光ディスクの記録面に光情報を記録する時に記録面で反射された記録光の反射光を用いることでエラー検出に既存の再生系を利用可能にし、光ディスクの表面に付けられた欠陥が１ＲＵＢ内で光情報の記録ミスを生じさせる欠陥か否かを判定する。 - 特許庁

To output a high-quality printed matter without wasting by preventing smeared paper, an image defect and wasting paper or printing materials due to jamming after recovery processing of the printer which is relatively highly likely to cause a print failure.例文帳に追加

比較的印刷不良の可能性が高い、印刷装置のリカバリ動作後における、用紙の汚れや画像不良、ジャム等による用紙や印刷剤の無駄を抑制し、高品質な印刷物を無駄なく出力すること。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus enabled to prevent a defect such as a moisture proof member not placed when a sheet that is easy to absorb moisture and likely to cause sticking is used for image formation.例文帳に追加

吸湿吸着を起こし易いシートを画像形成に使用したい場合に、防湿部材が未載置のままとなってしまう等の不都合を防止することが可能な構成を備える画像形成装置を提供する。 - 特許庁

When a new secondary transfer roller is left in a state where it is made to abut on an intermediate transfer belt for a long time, the additive oozed out from the secondary transfer roller is stuck to the secondary transfer roller to cause the image defect.例文帳に追加

新規の二次転写ローラを中間転写ベルトに長時間当接させた状態で放置すると、二次転写ローラから染み出した添加剤が二次転写ローラに付着して画像不良の原因となる。 - 特許庁

(a) the omission of an entry from the Register; or (b) an entry made in the Register without sufficient cause; or (c) an entry wrongly existing in the Register; or (d) an error or defect in an entry in the Register; may apply to a prescribed court for an order to rectify the Register. 例文帳に追加

(a) 登録簿への記入の遺漏，又は (b) 十分な理由なしにされた登録簿への記入，又は (c) 登録簿に誤って存在している記入，又は (d) 登録簿上の記入における過誤又は欠陥 - 特許庁

To provide a method and a device for visualizing a situation of a molding internal deformation to investigate workability and to elucidate a cause of a defect in a molding, in the working of a complicated shape of component plastically deformed three-dimensionally.例文帳に追加

３次元的に塑性変形する複雑形状部品の加工において、加工性の検討や成形品の欠陥の原因を解明するため成形品内部変形の様子を可視化する方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a one component magnetic toner for electrostatic charge development which does not cause an image defect due to the aggregation and fusion of the toner and permits easy recycling of a toner cartridge in spite of miniaturization and speed up of the device.例文帳に追加

装置が小型化、高速化してもトナーの凝集や融着による画像欠陥が生じず、また、トナーカートリッジのリサイクルを容易に行うことができる静電荷現像用一成分磁性トナーを提供する。 - 特許庁

To provide a dirt determination device, an image reader, and a dirt determination program for identifying a member to which dirt likely to cause defect occurs with respect to an image indicating a read original.例文帳に追加

読み取った原稿を示す画像に対して、不良を発生させるおそれがある汚れが生じている部材を特定することができる汚れ判定装置、画像読取装置、及び汚れ判定プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide an oblateness detection system that can precisely detect an oblate defect occurring in cut faces of a hollow fiber bundle set with a resin material at both end faces of a hollow fiber module to cause a degradation in dialysis performance.例文帳に追加

中空糸モジュールの両端面の樹脂材で固めた中空糸束の切断面に発生し、透析性能の低下の原因となる扁平欠陥を精度よく検出することが可能な扁平検出装置を提供する。 - 特許庁

The reception state analyzer 4 sequentially dials a predetermined channel which becomes a reception object and acquires reception state information, and estimates the cause of the reception defect of the digital broadcast signal based on the reception state information per channel.例文帳に追加

受信状態解析部４は、受信対象となる所定のチャンネルを順次選局して受信状態情報を取得し、チャンネルごとの受信状態情報に基づいてデジタル放送信号の受信不良の原因を推定する。 - 特許庁

To provide a traceability system for bag manufacturing, which determines a cause of a defect from a record in a bag manufacturing process, and can reduce time, labor and a cost of recovering or inspecting a defective product by specifying the range of the defective product.例文帳に追加

袋の製造工程での履歴に基づき、不具合原因を判定する袋製造トレーサビリティシステム、不具合品の範囲を特定でき、回収又は検品の手間やコストを削減できる袋製造トレーサビリティシステムを提供する。 - 特許庁