「defect map」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

The data structures include space bit map and defect management structures.例文帳に追加

データ構造は、空間ビットマップ及び欠陥管理構造を含む。 - 特許庁

METHOD FOR INSPECTING MASK DEFECT, METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE, MASK DEFECT INSPECTION APPARATUS, AND METHOD AND PROGRAM FOR FORMING MAP OF INFLUENTIAL DEGREE OF DEFECT例文帳に追加

マスク欠陥検査方法、半導体装置の製造方法、マスク欠陥検査装置、欠陥影響度マップ作成方法およびプログラム - 特許庁

This inspection data processor is displayed with a defect map 19 indicating a position of a defect on a film, and a defect histogram 21 indicating a distribution of the defects on the film.例文帳に追加

フィルム上の欠陥の位置を示す欠陥マップ１９やフィルム上の欠陥の分布を示す欠陥ヒストグラム２１が表示されている。 - 特許庁

Then, in a failure probability calculation processing 13 for each defect, the failure probability of each defect in the defect map data is calculated and the defect map data with the failure probability are prepared.例文帳に追加

次に、欠陥別不良確率算出処理１３で、欠陥マップデータ中の各欠陥の不良確率を算出し、不良確率付き欠陥マップデータを作成する。 - 特許庁

In the case of a plurality of defect data, the defect map is displayed by searching for a similar defect on an image, performing trend display of the searched result, and specifying one searched result on the trend, and the defect on the defect map is specified, thus displaying the defect image in inspection.例文帳に追加

複数枚の欠陥データの場合には、画像上で類似の欠陥を検索、検索結果をトレンド表示すること、トレンド上の１枚を指定することでその欠陥マップを表示し、欠陥マップ上の欠陥を指定することで検査時の欠陥画像の表示を可能とする。 - 特許庁

Respective display sections operate in conjunction with each other, whereby the defective image, the defect information list and the defect graph are changed in response to selected map information.例文帳に追加

それぞれの表示部は連動して動作し、選択されたマップ情報に対応して欠陥画像、欠陥情報リスト、欠陥グラフが変化する。 - 特許庁

In this defect feature, regions where the same pattern is repeatedly formed are overlapped, whereby a dot map of the defect is formed.例文帳に追加

この欠陥特徴において同じパターンが繰り返し形成される領域は重ね合わせ、欠陥のドットマップを作製する。 - 特許庁

The measured value display section 5 displays the two-dimensional map image and displays a defect area of the panel on the two-dimensional map image.例文帳に追加

測定値表示部５は二次元マップ画像を表示すると共にその二次元マップ画像上にパネルの欠陥部位を表示する。 - 特許庁

To provide a disk drive device capable of effectively reducing the data amount of a defect map, a method for registering the defect map, etc.例文帳に追加

ディフェクトマップのデータ量を有効に削減することのできるディスクドライブ装置、ディフェクトマップの登録方法等を提供することを目的とする。 - 特許庁

After a defect map data read step 11 and a failure rate distribution data read step 12 are executed, non-fatal defects are removed in a defect map data filtering step 13 by using these data.例文帳に追加

欠陥マップデータ読込みステップ１１，不良発生率分布データ読込みステップ１２を行い，これらデータを用いて欠陥マップデータのフィルタリングステップ１３で，非致命欠陥を除外する。 - 特許庁

Logical sum of the defect map and mask data is then operated (ST15) and compared and then a decision is made whether a thin film having defects along the defect map can be utilized or not for a pattern along the mask data (ST16).例文帳に追加

次に、欠陥マップとマスクデータとろ論理和を演算処理して（ＳＴ１５）比較し、欠陥マップに沿った欠陥を有する薄膜がマスクデータに沿ったパターンに対して利用可能か判定する（ＳＴ１６）。 - 特許庁

The inspection system for the circuit pattern is provided with an electron beam visual inspection device, provided with a monitor for displaying the defect on a map; and an external visual inspection device for storing an image of the defect, and is constituted to display concurrently the map and the image of the defect on the monitor.例文帳に追加

また、回路パターンの検査システムは、マップに欠陥を表示するモニタを備えた電子線外観検査装置とこの欠陥の画像を記憶した外部外観検査装置とを備え、モニタにマップと欠陥の画像とを同時に表示する構成とする。 - 特許庁

A defect checking screen includes; a map display section 61 for displaying a wafer map; an image display section 62 for displaying a defective image in a listed fashion; a list display section 63 for displaying and setting detailed information of the defect; and a graph display section 64 for carrying out a graphic display about a selected defect item.例文帳に追加

欠陥確認画面は、ウェハマップを表示する「マップ表示部」６１、欠陥画像を一覧表示する「画像表示部」６２、欠陥の詳細情報を表示及び設定する「リスト表示部」６３、選択された欠陥項目についてグラフ表示する「グラフ表示部」６４を有する。 - 特許庁

A macro-image having a plurality of macro-defect parts G_1-G_8 and point display are displayed at the portion on a display screen corresponding to the coordinates (X, Y) of micro-defect parts S_1-S_n in micro-defect map data.例文帳に追加

複数のマクロ欠陥部分Ｇ_１〜Ｇ_８を有するマクロ画像と、ミクロ欠陥マップデータにおけるミクロ欠陥部分Ｓ_１〜Ｓｎの座標（Ｘ，Ｙ）に対応するディスプレイ画面上の部分にポイント表示とを重ね合わせて表示する。 - 特許庁

COMPUTER DEVICE, DISK DRIVE DEVICE, METHOD FOR CONTROLLING DATA READ/WRITE AND METHOD FOR REGISTERING DEFECT MAP例文帳に追加

コンピュータ装置、ディスクドライブ装置、データのリード／ライト制御方法、ディフェクトマップの登録方法 - 特許庁

A defect compensation circuit 19 compensates for defective pixels according to the position information about defective pixels described on the selected defective pixel map.例文帳に追加

欠陥補正回路１９は、選択した欠陥画素マップに記載の欠陥画素の位置情報に基づいて欠陥画素を補正する。 - 特許庁

To disclose defect information such as fail bit map for many and unspecified persons by simple operation.例文帳に追加

簡単な操作によりより不特定多数者に対してフェイルビットマップ等の不良情報の開示を可能とする。 - 特許庁

An inspection map is prepared by performing a defect detection process 32 to the surface of the substrate, and a data base 34a is provided.例文帳に追加

基板表面に対して欠陥検出プロセス３２を行って検査マップを製作し、またデータベース３４ａを提供する。 - 特許庁

Further, a MAP (mapping) part 1 of a corresponding channel adds P-RDI (Path-Remote Defect Indication) presentation to a container transmitted to the transmission apparatus 10.例文帳に追加

また対応するチャネルのＭＡＰ部１により、伝送装置１０に伝送されるコンテナにＰ−ＲＤＩ表示を付加する。 - 特許庁

One and the same wafer is inspected for defect in a plurality of steps in the manufacturing process of the wafer and a cumulative defect map 72 is drawn by superposing the detected results upon another.例文帳に追加

同じウェハを工程進行に伴い、複数工程で欠陥検査を行い、それらの検出結果を重ね合わせて累積欠陥マップ７２を作成する。 - 特許庁

To provide a bit map data generating apparatus and a method for an IC tester, capable of generating bit map data at high speed without reading out data itself recorded in a defect analysis memory.例文帳に追加

不良解析メモリに記録されたデータ自体を外部に読み出すことなく、高速にビットマップデータを作成することのできるＩＣ試験装置のビットマップデータ作成装置および方法を提供すること。 - 特許庁

A memory LSI is tested, the number of defect bits are counted for bit map data for each address coordinate, a histogram of the number of defect is made, and wavelet analysis making harl function a base function is performed by assuming the made histogram of the number of defect as a discrete signal.例文帳に追加

メモリＬＳＩを試験し、ビットマップデータに対してアドレス座標毎に不良ビット数をカウントし、不良数ヒストグラムを作成し、作成した不良数ヒストグラムを離散信号とみなして、ハール関数を基底関数としたウェーブレット解析を行う。 - 特許庁

A bit map data generating section 2B provided in a control device 2 of the IC tester sequentially generates bit map data in accordance with progress of a predetermined address sequence, and further generates a bit map data file by inverting a logic value of the bit map data in accordance with the address obtained by the defect analysis memory retrieval section 3B.例文帳に追加

ＩＣ試験装置の制御装置２に設けられたビットマップデータ作成部２Ｂは、所定のアドレスシーケンスの進行に従ってビットマップデータを順次生成すると共に、不良解析メモリ検索部３Ｂにより取得されたアドレスに基づきビットマップデータの論理値を反転させてビットマップデータファイルを作成する。 - 特許庁

In the disk reading device reading information from a disk having a plurality of clusters for recording dividedly information and having also substitute clusters in which the information is recorded instead of the cluster in which defect exists, the disk reading device has such constitution that first processing in which bit map data where existence of defect for each cluster on the disk is displayed with a bit map form is generated is performed.例文帳に追加

情報が分割記録されるための複数のクラスタを有する一方、ディフェクトのあるクラスタに代わって前記情報が記録される代替クラスタをも有するディスクから、前記情報を読み取るディスク読取装置において、前記ディスク上の各クラスタについてのディフェクトの有無をビットマップ形式で表す、ビットマップデータを生成する、第１処理を実行する構成のディスク読取装置とする。 - 特許庁

A high sensitivity inspection is made possible by performing a pattern inspection which comprises steps of preliminarily obtaining a GP image, designating an inspection location and a threshold value map to the GP image on a GUI, setting an identification reference for a defect, obtaining an inspection image, and applying the identification reference to the inspection image to identify the defect.例文帳に追加

予めＧＰ画像を取得し、ＧＰ画像に対して検査箇所及び閾値マップをＧＵＩ上で指定し、欠陥の識別基準を設定し、次に検査画像を取得し、検査画像に識別基準を適用し欠陥を識別することでパターン検査を行い高感度検査を可能にした。 - 特許庁

The inspection device allows defective image during inspection to be displayed, by searching similar defects on images in case of a plurality of sheets of defective data, performing trend display of a search result, displaying a defective map by designating a sheet on the trend, and designating a defect on the defective map.例文帳に追加

複数枚の欠陥データの場合には、画像上で類似の欠陥を検索、検索結果をトレンド表示すること、トレンド上の１枚を指定することでその欠陥マップを表示し、欠陥マップ上の欠陥を指定することで検査時の欠陥画像の表示を可能とする。 - 特許庁

In the method for applying the defect correction and the calibration to image data (100) in the image system using a plane spatial optical modulator (146), a tone correction LUT (148') is applied to the image data (100) and the calibration correction is applied before the defect correction of using a defect map (122) and an associated gain table (124).例文帳に追加

面空間光変調器（１４６）を使う画像システムにおいて画像データ（１００）に欠陥修正及び較正を適用する方法であって、画像データ（１００）にトーン修正ＬＵＴ（１４８’）を適用し、欠陥マップ（１２２）及び関連する利得テーブル（１２４）を使う欠陥修正を適用する前に、較正修正を適用する。 - 特許庁

In a defect analyzing computer 10, the number of defective bits are counted for each coordinate based on defective data (bit map data) BD obtained by an electrical test by a tester 2 and a defect numbers histogram is made (means 12), wavelet analysis is performed for the defect numbers histogram and a wavelet coefficient is calculated (means 13).例文帳に追加

不良解析計算機１０は、テスタ２による電気的試験により得られた不良データ（ビットマップデータ）ＢＤに基づいて座標ごとに不良ビット数をカウントして不良数ヒストグラムを作成し（手段１２）、不良数ヒストグラムについてウェーブレット解析を行ないウェーブレット係数を算出する（手段１３）。 - 特許庁

Methods and devices are described using different defect detection standards to detect and map defects of different sizes and in specific regions that can affect a drive operation.例文帳に追加

サイズが異なり、特定の領域においてドライブ動作に影響し得る欠陥を検出してマップするために、異なる欠陥検出基準を用いる方法及び装置が説明される。 - 特許庁

Further, in a review object selection processing 14, the defects are aligned and narrowed from the defect map data with the failure probability and a review object is selected.例文帳に追加

さらに、レビュー対象選出処理１４で、不良確率付き欠陥マップデータから欠陥の整列や絞込みを行い、レビュー対象を選出する。 - 特許庁

To provide a semiconductor defect analysis support device which supports improvement of fail bit map preparation efficiency in the test device of a semiconductor device, and a support method.例文帳に追加

半導体デバイスのテスト装置におけるフェイルビットマップ作成効率の向上を支援する半導体不良解析支援装置および支援方法を提供する。 - 特許庁

The inspection results corresponding to one substrate corresponds to a combination of inspection results of each substrate displayed on the right-side of the screen to display coordinates of the position of foreign matter/a defect in the substrate as a map.例文帳に追加

基板１枚分に相当する検査結果は、画面右側に表示された１枚１枚の基板検査結果の結合に相当し、基板における異物／欠陥の位置における座標をマップとして表示される。 - 特許庁

In substrate inspection prior to pattern forming that uses design data 303, a defective fraction 506 is calculated, taking into consideration the position of a detected defect 504 on an inspection map indicating the place on a wafer.例文帳に追加

パターン形成前の基板検査において、設計データ３０３を利用して、検出された欠陥５０４がウェハ上の場所を示した検査マップ上のどの位置にあるを考慮して不良率５０６を計算する。 - 特許庁

The recording medium has a temporary defect management region including a bit map indicating a region in which data is recorded and a space region in which data is not recorded out of the user data regions of the recording medium using different bit values each other.例文帳に追加

記録媒体は、当該記録媒体のユーザーデータ領域のうちデータが記録された領域と記録されていない空き領域とを相異なるビット値を利用して示したビットマップを含む臨時欠陥管理領域を有する。 - 特許庁

To eliminate the defect of eligibility of the nom of a target caused by the overlapped display of the names of targets in an area with concentrated targets in a conventional display method for a digital map, without decreasing the quantity of information.例文帳に追加

従来のディジタル地図の表示方法では、目標物が密集したエリアにおいて目標物の名称が重なって表示され判読できないという課題があり、情報量の減少無しにこの欠点の解消を図る。 - 特許庁

A mask blank is prepared (ST11), distribution of the position or size of defects existing in the thin film of the mask blank is inspected (ST12), and a defect map is made (ST13).例文帳に追加

マスクブランクスを準備し（ＳＴ１１）、マスクブランクスの薄膜に存在する欠陥の位置や大きさなどの分布を検査し（ＳＴ１２）、欠陥マップを作成する（ＳＴ１３）。 - 特許庁

Here, the symbols are plotted on the wafer maps in a place associated with the data points so as to provide graphic drawing of at least one defect type existing on the wafer corresponding to each wafer map.例文帳に追加

ここで、プロットされるシンボルは、各ウェーハマップに対応するウェーハ上に存在する少なくとも１つの欠陥タイプのグラフィック描写を与えることができるように、データ点が関連付けられる場所のウェーハマップ上にプロットされる。 - 特許庁

The method mounted on one computer includes the determination of the three-dimensional map of a signal-to-noise ratio value to a test piece and data to be acquired for the potential defect of the test piece by the light-scattering inspection system over the entire scattering hemisphere of the inspection system.例文帳に追加

一つのコンピュータに実装された方法は、検査システムの散乱半球全体に亘って、光散乱検査システムによって試験体および試験体の電位欠陥に対して取得されるであろうデータに対して、信号対雑音比値の三次元マップを決定することを含んでいる。 - 特許庁

A judging unit 16 judges that a universal design is achieved in the presence of at least one appeal point in a region defined by the emphasis level and the comparison value in the UD achievement level map and in the absence of any serious defect that would bring down the evaluation of the product to be evaluated equal to or less than a prescribed value.例文帳に追加

判定部１６は、ＵＤ達成度マップにおいて重視度と比較値とにより規定される領域内に少なくとも１個の訴求ポイントが存在し、かつ評価対象の商品における評価値が規定値以下になる重欠点が存在しない場合にユニバーサルデザインが達成されていると判定する。 - 特許庁

Consequently, a conventional defect is eliminated that the road map data cannot be succeeded if the road map is updated.例文帳に追加

移動体旅行時間を算出して提供をおこなう移動体旅行時間提供装置であって、リアルタイムリンク旅行時間収集部と位置情報収集部と、前記移動体の実績情報を収集する移動実績収集部と、マップを構成する複数のメッシュについて前記旅行時間収集部と位置情報収集部と移動実績収集部により収集されたデータ基づいてマトリックス状に配列され始点座標を含む始点メッシュと終点座標を含む終点メッシュとの交点の情報を記憶する旅行時間ＤＢと、前記始点および終点座標から算出された地点間の直線距離と前記旅行時間ＤＢに記憶されている距離係数およびメッシュ間速度から前記移動体の旅行時間を算出する。 - 特許庁