「diffracted ray」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

The difference serves as an intensity profile of an X-ray image diffracted by the specimen.例文帳に追加

この差分が被検体を回折したＸ線画像の強度プロファイルとなる。 - 特許庁

As for lights from the three light sources 11, 12, 13 having different wavelengths, a first-order diffracted ray is used as the diffracted ray to reduce loss in light quantity.例文帳に追加

また、３つの波長の光源１１、１２、１３からの光について回折光として１次回折光を用いることにより、光量の損失を少なくすることができる。 - 特許庁

A diffracted X-ray generated in the sample S is converged by a solar slit 9 to be received by an X-ray detector 10.例文帳に追加

そして、試料Ｓで発生した回折Ｘ線をソーラースリット９で収束しＸ線検出器１０で受光する。 - 特許庁

The opening of the first slit is extended in parallel to a diffraction plane (plane including an incident X-ray and a diffracted X-ray).例文帳に追加

第１スリットの開口は，回折平面（入射Ｘ線と回折Ｘ線とを含む平面）に平行に延びている。 - 特許庁

An X-ray image detector 30 detects the X-rays diffracted by the grating 20.例文帳に追加

Ｘ線画像検出器３０は、格子２０により回折されたＸ線を検出する。 - 特許庁

This method is a micro X-ray diffraction measuring method for irradiating a micro part of a sample S with an X-ray to detect the diffracted X-ray generated in the micro part.例文帳に追加

試料Ｓの微小部にＸ線を照射してその微小部に発生する回折Ｘ線を検出する微小部Ｘ線回折測定方法である。 - 特許庁

To provide an X-ray spectroscopic system capable of easily selecting and taking out a diffracted X ray of a prescribed wavelength from an X ray having continuous wavelength.例文帳に追加

連続した波長を有するＸ線から、所定の波長の回折Ｘ線を容易に選択して取り出すことができるＸ線分光システムを提供する。 - 特許庁

An operation part 16 specifies a diffraction position on the sample from a detection result by the transmitted X-ray detection part 14, and determines a diffraction angle of the diffracted X-ray based on a detection result by the diffracted X-ray detection part 15.例文帳に追加

演算部１６は、透過Ｘ線検出部１４の検出結果から、試料１２における回折位置を特定すると共に、回折Ｘ線検出部１５の検出結果に基づいて、回折Ｘ線の回折角を判定する。 - 特許庁

To accurately measure diffracted rays generated from a sample with a wide angle when executing X-ray analysis using a characteristic X-ray of Cr.例文帳に追加

Ｃｒの特性Ｘ線を用いてＸ線分析を行う際に試料から広角度に発生する回折線を正確に測定する。 - 特許庁

This X-ray analyzer has an X-ray source for generating an X-ray with which the sample S placed on a measuring position is irradiated, an X-ray detector for detecting the X-ray diffracted by the sample S, and the vacuum path 17 provided between the X-ray source and the X-ray detector.例文帳に追加

測定位置に置かれた試料Ｓに照射するＸ線を発生するＸ線源と、試料Ｓで回折したＸ線を検出するＸ線検出器と、Ｘ線源とＸ線検出器との間に設けられた真空路１７とを有するＸ線分析装置である。 - 特許庁

This X-ray analyzer 16 emits an X-ray emitted from an X-ray source 18 toward a sample S and detects the X-ray diffracted by the sample S by a two-dimensional CCD sensor 27.例文帳に追加

Ｘ線源１８から放射されたＸ線を試料Ｓに照射すると共にその試料Ｓで回折したＸ線を２次元ＣＣＤセンサ２７によって検出するＸ線分析装置１６である。 - 特許庁

This X-ray analyzer 16 is a device for irradiating a sample S with an X-ray radiated from an X-ray source 17, and detecting the X-ray diffracted by the sample S by a two-dimensional CCD sensor 22.例文帳に追加

Ｘ線源１７から放射されたＸ線を試料Ｓに照射すると共に試料Ｓで回折したＸ線を２次元ＣＣＤセンサ２２によって検出するＸ線分析装置１６である。 - 特許庁

An exposure system is equipped with a stage 11 set in a rotatable manner, an X-ray source 13 which irradiates a wafer 12 mounted on the stage 11 with an X-ray, and an X-ray detector 14 which detects the intensity of the diffracted ray of the X-ray beam.例文帳に追加

回転可能とされたステージ１１と、そのステージ１１に搭載されたウエハ１２にＸ線を照射するＸ線源１３と、そのＸ線の回折光強度を検出するＸ線検出器１４とを具備するものとする。 - 特許庁

From among X-ray spectral information obtained, the peak intensity caused by diffracted X-ray is used to determine copper concentration in a tin alloy plating layer.例文帳に追加

取得したＸ線スペクトル情報のうち、回折Ｘ線に起因するピークの強度を使用して、スズ合金メッキ層の銅濃度を決定する。 - 特許庁

Since the diffracted X-rays from the single crystal sample plate 21 are not included in the operation of X-ray intensity, X-ray intensity distribution can be accurately calculated in relation to only the diffracted X-rays from the sample S.例文帳に追加

単結晶試料板２１からの回折Ｘ線がＸ線強度の演算に算入されないので、試料Ｓからの回折Ｘ線だけに関して正確にＸ線強度分布を求めることができる。 - 特許庁

The coordinate position where the diffracted X-rays issued from the single crystal sample plate 21 are detected by the two-dimensional X-ray detector is recognized as a blank region not allowed to contribute to the operation of the diffracted X-ray intensity distribution.例文帳に追加

単結晶試料板２１から出る回折Ｘ線が２次元Ｘ線検出器２によって検出される座標位置を、回折Ｘ線強度分布の演算に寄与させないブランク領域として認識する。 - 特許庁

To provide an inexpensive X-ray analyzer for having fluorescence and diffraction for common use having functions of both of fluorescent X-ray analysis and diffracted X-ray analysis and capable of constituting an optimum X-ray detection system.例文帳に追加

蛍光Ｘ線分析と回折Ｘ線分析の両方の機能を有するとともに、それぞれ最適なＸ線検出系を構成できる、安価な蛍光・回折共用Ｘ線分析装置を提供する。 - 特許庁

A sample S is irradiated with an X-ray from an x-ray source F being regulated by incident side slits 22a, 22b so that the X-ray diffracted by the sample S is detected by an X-ray film 7a or a CCD sensor 7b.例文帳に追加

Ｘ線源ＦからのＸ線を入射側スリット２２ａ，２２ｂで規制して試料Ｓへ照射し、試料Ｓで回折したＸ線をＸ線フィルム７ａ又はＣＣＤセンサ７ｂによって検出する。 - 特許庁

A diffraction X-ray pattern is accurately read since an incident X-ray 2 serving as a reference is recorded in the position sensitive X-ray detector, by thinning a film thickness of the measured sample to measure the diffracted X-ray by the transmission X-ray.例文帳に追加

測定試料の膜厚を薄くして透過Ｘ線で回折Ｘ線を測定することにより、基準となる入射Ｘ線２も位置感応型Ｘ線検出器に記録されるため、回折Ｘ線パターンを正確に読み取ることができる。 - 特許庁

Diffracted X-ray data are successively integrated on the stimulable phosphor 2 when the X-ray irradiation field is present at the individual positions in the measuring region B.例文帳に追加

Ｘ線照射野Ａが測定領域Ｂ内の個々の位置にあるときの回折Ｘ線データが輝尽性蛍光体２に順次に積算される。 - 特許庁

The X-ray detector 1 detects the diffracted X rays 9 through the mold and can acquire a rocking curve.例文帳に追加

Ｘ線検出器１は、モールド越しに回折Ｘ線９を検出し、ロッキング曲線を取得することができる。 - 特許庁

After setting the sample, a diffracted X-ray obtained by diffracting an X-ray from an X-ray tube 1 by the sample 6 is detected to execute X-ray diffraction analysis, by moving synchronously and rotatavely the X-ray tube 1 and a detector 3 around the rotation center 5.例文帳に追加

試料のセッティング後、Ｘ線管１と検出器３を回転中心５の回りに同期して回転駆動することによって、Ｘ線管１からのＸ線が試料６によって回折された回折Ｘ線を検出してＸ線回折分析が行われる。 - 特許庁

The positional change of the diffracted X-ray intensity found based on a X-ray topograph provided by the X-ray image magnifying crystal 10 is converted into a shift of a Bragg angle in the sample crystal 6.例文帳に追加

そして、このＸ線像拡大用結晶１０より得られるＸ線トポグラフから求められる回折Ｘ線強度の場所的変化を試料結晶６におけるブラッグ角のずれに変換する。 - 特許庁

The x-ray topography apparatus obtains a planar diffraction image by detecting x-rays diffracted by a sample 11 when scanning the sample 11 with a linear x-ray by an x-ray detector 28.例文帳に追加

試料１１を線状のＸ線で走査したときに試料１１で回折したＸ線をＸ線検出器２８によって検出して平面的な回折像を得るＸ線トポグラフィ装置である。 - 特許庁

Intensity of the diffracted X rays 30 from a sample 20 is detected by an X-ray detector 10 while altering the angle formed by incident X rays 28 and the diffracted X rays 30.例文帳に追加

入射Ｘ線２８と回折Ｘ線３０とのなす角度を変更しながら試料２０からの回折Ｘ線３０の強度をＸ線検出器１０で検出する。 - 特許庁

To improve qualitative analysis precision, quantitative analysis precision and qualitative repeatability, by removing a diffracted X-ray by a software method.例文帳に追加

ソフトウエア的に回折Ｘ線を取り除き、定性分析精度、定量分析精度、定量再現性を向上させる。 - 特許庁

The foci of the hologram plate are formed to a plane form in the position apart from the hologram plate by the diffracted ray fluxes.例文帳に追加

また、回折光線束により当該ホログラム板から離れた位置に当該ホログラム板の焦点を面状に形成する。 - 特許庁

The slit plate 40 is disposed on the light path of the X-ray between the sample 30 and the two-dimensional detector 50 and partially blocks the X-ray diffracted by the sample 30.例文帳に追加

スリット板４０は、試料３０と２次元検出器５０との間のＸ線の光路上に配置され、試料３０により回折されたＸ線を部分的に遮蔽する。 - 特許庁

The two-dimensional detector 50 two-dimensionally receives the X-ray diffracted by the sample 30 and detects the X-ray at each point in the light receiving area thereof.例文帳に追加

２次元検出器５０は、試料３０により回折されたＸ線を２次元的に受光し、その受光領域内の各点においてＸ線を検出する。 - 特許庁

This X-ray imaging element 11 is arranged on a position separated from a diffraction grating for a talbot approximately as long as a talbot distance L, and images an X-ray diffracted by the diffraction grating for the talbot.例文帳に追加

Ｘ線撮像素子１１は、タルボ用回折格子から略タルボ距離Ｌ離れた位置に配置され、タルボ用回折格子によって回折されたＸ線を撮像する。 - 特許庁

The integrated intensity of the diffracted X-ray on the X-ray recording region is determined in a region inside the intensity calculation frame 26, and the result is used as the intensity of the diffraction spot 34.例文帳に追加

強度算出枠２６の内側の領域で，Ｘ線記録領域上の回折Ｘ線の積分強度を求めて，これを回折斑点３４の強度とする。 - 特許庁

After the measurement, the X-ray 3 is entered like the above after a wire in the crimp part 2 is pulled out, and an interatomic distance d_2 is measured by the use of the diffracted X-ray 8.例文帳に追加

測定後、圧着部２内の電線を抜いてから前記と同様にＸ線３を入射して回折したＸ線８から原子間距離ｄ_2を測定する。 - 特許庁

The stress is measured quickly and precisely because a position of the incident X-ray serving as the reference for measuring the diffracted X-ray is grasped accurately as shown in this manner.例文帳に追加

このように回折Ｘ線の測定の基準となる入射Ｘ線の位置を正確に把握できるため、迅速かつ高精度な応力測定が可能となる。 - 特許庁

A crimp part 2 of the crimp terminal 1 is cut, an X-ray 3 is entered into the cut crimp part 2, and an interatomic distance d_1 is measured by the use of a diffracted X-ray 8.例文帳に追加

圧着端子１の圧着部２を切断し、この切断した圧着部２にＸ線３を入射し、回折したＸ線８から原子間距離ｄ_1を測定する。 - 特許庁

A surface 24A of a test specimen 24 is irradiated with X-ray and a strain of the test specimen 24 is measured from a diffraction angle 2θ of the diffracted X-ray transmitting through the test specimen 24.例文帳に追加

試験片２４の表面２４ＡにＸ線を照射し、試験片２４を透過した回折Ｘ線の回折角２θから試験片２４のひずみを測定する。 - 特許庁

Diffracted X-rays 5 by the membrane 1 pass through an emission angle restriction means 8 to be guided to an X-ray detector 6.例文帳に追加

薄膜１による回折Ｘ線５は、出射角制限手段８を通過してＸ線検出器６に導かれている。 - 特許庁

Diffracted X-rays from each position on the sample 28 are detected respectively on different positions on the X-ray detector 30.例文帳に追加

試料２８上の各位置からの回折Ｘ線は、Ｘ線検出器３０上において別個の位置でそれぞれ検出される。 - 特許庁

Consequently, the image data Sn representing the X-ray images including diffracted images can securely be obtained at all of the photography positions.例文帳に追加

これにより、全ての撮影位置において回折像を含むＸ線画像を表す画像データＳｎを確実に得ることができる。 - 特許庁

The X-ray diffractometer 1 is equipped with a measuring instrument 2 for irradiating a sample with the X rays emitted from an X-ray source and detecting the X rays, which are diffracted by the sample, by an X-ray detector.例文帳に追加

Ｘ線源から発生したＸ線を試料に照射すると共にその試料で回折したＸ線をＸ線検出器によって検出する測定装置２を備えたＸ線回折装置１である。 - 特許庁

The intensity of diffracted X rays, which are diffracted by an object specimen when applying X rays to the object specimen, is detected on a wide opening angle condition and on a narrow opening angle condition, with a relative ratio between the two taken as "a diffracted X-ray intensity ratio of the object specimen".例文帳に追加

対象試料にＸ線を照射したときに対象試料にて回折した回折Ｘ線の強度を、広い開口角条件と狭い開口角条件にて検出して、両者の相対比を「対象試料の回折Ｘ線強度比」とする。 - 特許庁

An electron beam irradiated to the sample 5, an X-ray generated from the sample 5 by an irradiation of the electron beam and directed to the spectral crystal 6 and a diffracted X-ray diffracted at the spectral crystal and directed to the X-ray detector 7 can be graphically displayed or not displayed on tee second display means 29.例文帳に追加

又、第２表示手段２９に、試料５に照射される電子線，電子線の照射により試料５から発生し分光結晶６に向かうＸ線及び分光結晶６で回折しＸ線検出器７に向かう回折Ｘ線をグラフィルカルに表示，非表示出来るように成してある。 - 特許庁

Meanwhile, when the optical disk device is played back, a part of the digital information is decoded from the reflected or diffracted ray in the forward direction with respect to the progressive direction of the track, and another part of the digital information is decoded from the reflected or diffracted ray in the backward direction.例文帳に追加

また、光ディスク媒体の再生時には、トラックの進行方向に対して前向きに反射または回折された光線からディジタル情報の一部を復号し、後ろ向きに反射または回折された光線からディジタル情報の別の部分を復号する。 - 特許庁

An X-ray emitted from an incident optical system 22 enters a sample 60 supported by a sample support mechanism 24, and the diffracted X-ray therefrom is detected by a light-receiving optical system 26.例文帳に追加

入射光学系２２から出射したＸ線は，試料支持機構２４に支持された試料６０に入射して，そこからの回折Ｘ線が受光光学系２６で検出される。 - 特許庁

Preferably, an average layer spacing calculated from a 002 diffracted ray measured by an X-ray diffraction of the graphite crystal is in a range of 0.3354-0.35 nm.例文帳に追加

前記グラファイト結晶のＸ線回折によって測定された００２回折線より算出された平均層面間隔が０．３３５４〜０．３５ｎｍの範囲にあることが好ましい。 - 特許庁

X-ray intensity I obtained from an X-ray beam diffracted by a specimen and passed through a portion not shielded by the movable blade 54 is computed on a computer side, and a difference of the X-ray intensity I per the sample point interval is computed therein.例文帳に追加

コンピュータ側では、被検体で回折されて可動ブレード５４に遮蔽されていない部分を通過したＸ線ビームから得たＸ線強度Ｉを演算し、標本点間隔あたりのＸ線強度Ｉの差分を演算する。 - 特許庁