「diffraction ray」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

Desirable properties are obtained by causing the position 2θ of the most intense diffraction peak to be at least 30.65° and at most 30.9° in the X-ray diffraction of the phosphor.例文帳に追加

また、この蛍光体についてのX線回折で、最も強く現れる回折ピークの位置を2θ=30.65°以上30.9°以下とすることで、望ましい特性を得られる。 - 特許庁

The powder X-ray diffraction diagram is measured by using an X'Celerator detector and a PANalytical X' Pert Pro diffracting device and the diagram is represented by items of ray position, ray height, ray range, ray width in half height and face-to-face dimension.例文帳に追加

Ｘ’Ｃｅｌｅｒａｔｏｒ検出器とともにＰＡＮａｌｙｔｉｃａｌ Ｘ’Ｐｅｒｔ Ｐｒｏ回折装置を用いて測定され、光線位置、光線高、光線範囲、半分の高さにおける光線幅および面間距離の項目で表される。 - 特許庁

A diffraction X-ray pattern is accurately read since an incident X-ray 2 serving as a reference is recorded in the position sensitive X-ray detector, by thinning a film thickness of the measured sample to measure the diffracted X-ray by the transmission X-ray.例文帳に追加

測定試料の膜厚を薄くして透過Ｘ線で回折Ｘ線を測定することにより、基準となる入射Ｘ線２も位置感応型Ｘ線検出器に記録されるため、回折Ｘ線パターンを正確に読み取ることができる。 - 特許庁

To provide a manufacturing method which makes it possible to stably supply X-ray diffraction gratings with a high aspect ratio to be used for an X-ray Talbot interferometer.例文帳に追加

Ｘ線タルボ干渉計に用いる高アスペクト比のＸ線回折格子を安定的に供給可能な製造方法を提供する。 - 特許庁

HIGH-ORDER HARMONIC X-RAY GENERATING APPARATUS AND ITS GENERATING METHOD, AS WELL AS POINT-DIFFRACTION INTERFEROMETER USING HIGH-ORDER HARMONIC X-RAY例文帳に追加

高次高調波エックス線発生装置及びその発生方法、並びに高次高調波エックス線を利用したエックス線干渉計測装置 - 特許庁

Thus, titanyl phthalocyanine crystals having a peak at 27.2±0.2° in an X-ray diffraction diagram with Cu-Kα ray can be produced without using sulfuric acid or the like.例文帳に追加

硫酸等を使用せずにＣｕ−Ｋα線によるＸ線回折図で２７．２±０．２°にピークをもつチタニルフタロシアニン結晶を製造できる。 - 特許庁

To provide an inexpensive X-ray analyzer for having fluorescence and diffraction for common use having functions of both of fluorescent X-ray analysis and diffracted X-ray analysis and capable of constituting an optimum X-ray detection system.例文帳に追加

蛍光Ｘ線分析と回折Ｘ線分析の両方の機能を有するとともに、それぞれ最適なＸ線検出系を構成できる、安価な蛍光・回折共用Ｘ線分析装置を提供する。 - 特許庁

An X-ray generator 1 emits an X-ray to a sample 3 of oxide heated in a high temperature chamber 4, and a two-dimensional X-ray detector 5 measures X-ray diffraction intensity in the sample 3.例文帳に追加

高温チャンバー４内で加熱されている酸化物の試料３に対してＸ線発生装置１からＸ線を照射し、試料３におけるＸ線回折強度を、二次元Ｘ線検出器５により測定する。 - 特許庁

There is provided the crystal of a hydrate of 3-(2-cyanophenyl)-5-(2-pyridyl)-1-phenyl-1,2-dihydropyridin-2-one, which shows a diffraction peak at a diffraction angle (2θ±0.2°) of 8.7° in a powder X-ray diffraction.例文帳に追加

粉末Ｘ線回折において、回折角度（２θ±０．２°）８．７°に回折ピークを有する、３−（２−シアノフェニル）−５−（２−ピリジル）−１−フェニル−１，２−ジヒドロピリジン−２−オンの水和物の結晶。 - 特許庁

To irradiate a sample with an incident X-ray of optional wave-length to easily conduct various kinds of X-ray diffraction measurement, by using continuous X-rays generated from an X-ray tube.例文帳に追加

Ｘ線管から発生する連続Ｘ線を利用することにより、任意波長の入射Ｘ線を試料に照射して各種のＸ線回折測定を容易に実施可能とする。 - 特許庁

To provide an X-ray analysis device, such as a fluorescent X-ray analysis device of a wavelength dispersion type, an X-ray diffraction device or the like, capable of making a prompt and accurate analysis by continuous scan.例文帳に追加

波長分散型の蛍光Ｘ線分析装置やＸ線回折装置等のＸ線分析装置において、連続スキャンで迅速かつ正確な分析を行える装置を提供する。 - 特許庁

To provide an X-ray spectrometer capable of acquiring spectral diffraction of an X-ray in a wide wavelength range with excellent reproducibility, relative to the X-ray spectrometer.例文帳に追加

本発明はＸ線分光装置に関し、広い波長範囲でＸ線の分光を再現性よく得ることができるＸ線分光装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

A calculator 19 detects a diffraction angle θ from an intensity distribution of the diffraction X-ray 5 measured by the detector 6, the diffraction angle when no influence of refraction of X-ray exists from the data of the angles α, θ is obtained, and an internal stress of the sample 3 is calculated base on the diffraction angle.例文帳に追加

算出部１９は、Ｘ線検出器６で測定された回折Ｘ線５の強度分布から回折角度θを検出し、入射角度αと回折角度θのデータから、Ｘ線の屈折による影響がないときの回折角度を求め、それに基づいて試料３の内部応力を算出する。 - 特許庁

This coloring composition comprises a benzimidazolone mixed pigment composed of a pigment (I) represented by formula (I) and a pigment (II) represented by formula (II) and having a strong diffraction intensity at a diffraction angle (2θ±0.2°) of 27.0°and weak diffraction intensities at 18.1° and 22.0°in the X-ray diffraction by Cu-K α ray.例文帳に追加

式（Ｉ）で示される顔料（Ｉ）と、式（ＩＩ）で示される顔料（ＩＩ）とからなり、Ｃｕ−Ｋα線によるＸ線回折において、回折角（２θ±０．２°）２７．０°に強い回折強度を有し、１８．１°、および２２．０°に弱い回折強度を有するベンツイミダゾロン系混晶顔料を含有する着色組成物。 - 特許庁

To provide an apparatus where an x-ray diffraction and a computed tomography are combined, and to provide a method.例文帳に追加

Ｘ線回折（ＸＲＤ）及びコンピュータトモグラフィ（ＣＴ）を組み合わせた装置及び方法に関する。 - 特許庁

This magnesium omeprazole has a degree of crystallinity higher than 70% determined by X-ray powder diffraction.例文帳に追加

Ｘ線粉末回折によって測定して７０％より高い結晶化度を有するオメプラゾールマグネシウム。 - 特許庁

To perform X-ray diffraction measuring and thermal analytical measuring at the same time with respect to a plurality of samples.例文帳に追加

複数の試料について，同時にＸ線回折測定と熱分析測定を実施できるようにする。 - 特許庁

An X-ray diffraction pattern of the composite metal cyanide complex catalyst involved in this invention is represented by the figure.例文帳に追加

本発明に係る複合金属シアン化物錯体触媒の例のＸ線回折パターンを図に示す。 - 特許庁

A plurality of diffraction spots 34 of the monocrystal sample are recorded on a two-dimensional X-ray recording region.例文帳に追加

２次元のＸ線記録領域上に単結晶試料の回折斑点３４を複数個記録する。 - 特許庁

The X-ray detector 20 is a unidimensional position response type within the plane parallel to the diffraction plane.例文帳に追加

Ｘ線検出器２０は、回折平面に平行な平面内において１次元の位置感応型である。 - 特許庁

The X-ray diffraction measurement method for a water-containing crystal includes a process of encapsulating a crystal in a water-soluble polymer.例文帳に追加

結晶を水溶性ポリマーで包み込む工程を含む含水結晶のＸ線回折測定方法。 - 特許庁

(2) When a half-value width of a diffraction peak b in which a diffraction angle 2θ in powder X-ray diffraction measurement using CuKα_1 rays exists around 43.5° is FWHMb, an X-ray half-width value ratio XFab value stipulated in a formula (1) below is to be 1 or less.例文帳に追加

（ロ）ＣｕＫα_１線を使用した粉末Ｘ線回折測定における回折角２θが４３．５°付近に存在する回折ピークｂの半価幅をＦＷＨＭｂとした時に、下記式（１）で規定されるＸ線半価幅比ＸＦａｂ値が１以下である。 - 特許庁

To provide an oblique entrance type multilayer diffraction grating spectroscope which has high diffraction efficiency and high heat resistance in an X-ray range having the energy of 1-3 keV (the wavelength: 0.4-1.2 nm) and in which a multilayer film is applied to a diffraction grating and the total reflection of an obliquely-entranced X-ray is utilized.例文帳に追加

1-3keV（波長：0.4-1.2nm）のエネルギーをもつX線領域において、高い回折効率および高い耐熱性をもつ、回折格子に多層膜を適用した斜入射による全反射を利用した斜入射型の多層膜回折格子分光器を提供する。 - 特許庁

A series of processes ranging over crystallization in a capillary, cryoprotectant processing and diffraction data collection by X-ray diffraction measurement is carried out using the capillary having a contraction area for preventing a crystal of a size suitable for the X-ray diffraction measurement from flowing out.例文帳に追加

Ｘ線回折測定に適した大きさの結晶の流出を防止する絞り領域を有するキャピラリーを用いて、その内部で結晶化、クライオプロテクタント処理およびＸ線回折測定による回折データ収集までの一連の工程を行う。 - 特許庁

The fiber-like porous silica particles has an X-ray diffraction peak at a diffraction angle of 0.5 to 5°(CuKα), the X-ray diffraction peak showing a regular arrangement structure of the pores, and has the maximum value of pore diameter distribution in the pore diameter range of ≥8 nm.例文帳に追加

繊維状多孔質シリカ粒子であって、回折角０．５乃至５度（ＣｕＫα）に細孔の規則配列構造を示すＸ線回折ピークを有し且つ細孔径８ｎｍ以上に細孔径分布の極大を有する繊維状多孔質シリカ粒子とする。 - 特許庁

This perylene hybrid pigment is characterized in that an X-ray diffraction pattern of the pigment obtained by including one or more metal atoms has the diffraction peaks at 6.2, 10.1 and 12.2 expressed in terms of 2θ (2θ±0.2) angles in the Cu-Kα characteristic X-ray diffraction.例文帳に追加

１つ以上の金属原子を含有させて得られる顔料のＸ線回折パターンがＣｕ−Ｋα特性Ｘ線回折の２θ（２θ±０．２）角度で少なくとも６．２、１０．１、１２．２、に回折ピークを有することを特徴とするペリレン混成顔料。 - 特許庁

When the surface layer is subjected to X-ray diffraction, a primary diffraction peak corresponding to a (111) crystal plane is observed as the diffraction peaks corresponding to polycrystalline silicon carbide whose crystal polymorph is 3C, and no other primary diffraction peaks having diffraction intensity of 10% or more that of the primary diffraction peak corresponding to the (111) crystal plane is observed.例文帳に追加

表層のＸ線回折により、結晶多形が３Ｃである多結晶炭化ケイ素に対応した回折ピークとして、（１１１）結晶面に対応した１次回折ピークが観察され、（１１１）結晶面に対応した１次回折ピークの回折強度の１０％以上の回折強度を有する他の１次回折ピークが観察されない。 - 特許庁

To provide an X-ray photographing apparatus and X-ray photographing method capable of photographing an image with high accuracy regardless of misalignment of diffraction grating.例文帳に追加

回折格子のずれに拘わらず、高精度の撮影画像を得ることが可能なＸ線撮影装置およびＸ線撮影方法を提供する。 - 特許庁

Intensity (I) of a (200) plane obtained by X-ray diffraction of a rolled surface, after it is recrystallized through annealing satisfies I/I0<20, where (I0) is the intensity of the (200) plane obtained by X-ray diffraction of fine powder copper.例文帳に追加

焼鈍を行って再結晶組織にした後の圧延面のＸ線回折で求めた（２００）面の強度（Ｉ）が、微粉末銅のＸ線回折で求めた（２００）面の強度（Ｉ_０）に対し、 Ｉ／Ｉ_０＜２０である。 - 特許庁

To surely obtain an X-ray diffraction profile derived from a thin film formed on the surface of a base material having a periodic structure in which a crystal structure or a molecular structure is oriented in a specific direction, by the X-ray diffraction measurement.例文帳に追加

Ｘ線回折測定により、結晶構造または分子構造が特定方向に配向した周期構造を有した基材表面に形成された薄膜由来のＸ線回折プロファイルを確実に得る。 - 特許庁

An electron density distribution is found by applying the MEM structural analysis to an X-ray diffraction data obtained experimentally, and an X-ray diffraction data not observed is predicted based thereon to find the electrostatic potential.例文帳に追加

実験的に得られるX線回折データにMEM構造解析を適用することで詳細な電子密度分布を求め，これをもとに観測されていないX線回折データを予測することで静電ポテンシャルを求める。 - 特許庁

The X-ray intensity data are improved by measuring diffraction X rays from the metallic phase contained in the plated layer at a plurality of positions to the same Debey ring and integrating the obtained diffraction X-ray intensity data.例文帳に追加

めっき層に含まれる金属相からの回折Ｘ線を、同一のデバイ環に対して複数の位置で測定し、得られる回折Ｘ線強度データを積算することにより、Ｘ線強度データを高める。 - 特許庁

A convenient technique capable of observing simultaneously the magnetostriction and the magnetization in the same area of the sample is provided, by combining newly a technique for measuring magnetostriction by an X-ray diffraction method and an X-ray magnetic diffraction method.例文帳に追加

Ｘ線回折法による磁歪計測の手法とＸ線磁気回折法とを新たに組み合わせることで、磁歪と磁化とを試料の同領域について同時に観測できる便利な手法を開発した。 - 特許庁

This recording liquid contains, as the colorant, a pseudo- unidimensional organic phthalocyanine pigment of which a diffraction ray exhibiting the maximum strength is the main peak in the X-ray diffraction spectrum.例文帳に追加

Ｘ線回折スペクトルにおいて、最大強度を示す回折線を主要ピークとして有する擬１次元結晶性フタロシアニン系有機顔料からなることを特徴とする色剤により、上記の課題を解決する。 - 特許庁

After setting the sample, a diffracted X-ray obtained by diffracting an X-ray from an X-ray tube 1 by the sample 6 is detected to execute X-ray diffraction analysis, by moving synchronously and rotatavely the X-ray tube 1 and a detector 3 around the rotation center 5.例文帳に追加

試料のセッティング後、Ｘ線管１と検出器３を回転中心５の回りに同期して回転駆動することによって、Ｘ線管１からのＸ線が試料６によって回折された回折Ｘ線を検出してＸ線回折分析が行われる。 - 特許庁

An X-ray diffraction device is equipped with: an X-ray source; a movable holding table which holds samples; a two-dimensional detector which detects X-rays to be emitted by diffraction from samples; and a control processing part which controls the X-ray source and the two-dimensional detector.例文帳に追加

Ｘ線回折装置は、Ｘ線源と、試料を保持し、移動可能な保持台と、試料から回折により出射されるＸ線を検出する２次元検出器と、Ｘ線源と保持台と２次元検出器とを制御する制御処理部とを備える。 - 特許庁

The copper conductor for the audio/video signal is formed so that an X-ray diffraction intensity I (111) of a (111) face and the X-ray diffraction intensity I (200) of a (200) face at irradiating the X-ray to the cross-section satisfies I (111)≥15×I (200).例文帳に追加

オーディオ・ビデオ信号用銅導体は、横断面にＸ線を照射したときの（１１１）面のＸ線回折強度Ｉ（１１１）と（２００）面のＸ線回折強度Ｉ（２００）とがＩ（１１１）≧１５×Ｉ（２００）の関係を満たすように形成されている。 - 特許庁

(1) When a half-value width of a diffraction peak 'a' in which a diffraction angle 2θ in powder X-ray diffraction measurement using CuKα_1 rays exists around 22 to 27° is FWHMa, an FWHMa value is to be 0.6 or more.例文帳に追加

（イ）ＣｕＫα_１線を使用した粉末Ｘ線回折測定における回折角２θが２２〜２７°付近に存在する回折ピークａの半価幅をＦＷＨＭａとした時に、ＦＷＨＭａ値が０．６以上である。 - 特許庁

This method yields the porcelain composition containing merwinite as a crystal phase, wherein a main diffraction intensity of X ray diffraction of a co-existing akermanite corresponds to ≤6% of a main diffraction intensity of the merwinite crystal.例文帳に追加

この方法によれば、メルウィナイトを結晶相として含有し、共存するアケマナイト結晶のＸ線回折における主回折強度がメルウィナイト結晶の主回折強度の６％以下である磁器組成物が得られる。 - 特許庁

The hydrobromide salt of the donepezil or a crystal of a solvate thereof has diffraction peaks at 6.6° and 26.9° diffraction angles (2θ±0.2°), etc., in powder X-ray diffraction.例文帳に追加

粉末Ｘ線回折において、回折角度（２θ±０．２°）６．６°及び２６．９°などに回折ピークを有する、１−ベンジル−４−［（５，６−ジメトキシ−１−インダノン）−２−イル］メチルピペリジンの臭化水素塩又はその溶媒和物の結晶。 - 特許庁

The carbon material is insoluble in an organic solvent and has the highest peak at diffraction angles of 10 to 18° in a range of diffraction angle of 3 to 30° in X-ray diffraction measurement results using the CuKα-line.例文帳に追加

有機溶媒に不溶であり、かつ、ＣｕＫα線を使用したＸ線回折測定結果における回折角３〜３０°の範囲内で、最も強いピークが回折角１０〜１８°の範囲に存在する炭素材料。 - 特許庁

The cellulose I type crystallinity (%)=[(I_22.6-I_18.5)/I_22.6]×100 wherein, I_22.6 is a diffracted intensity of a lattice plane (angle of diffraction 2θ= 22.6°) in X-ray diffraction; and I_18.5 is a diffracted intensity of an amorphous portion (angle of diffraction 2θ= 18.5°).例文帳に追加

セルロースＩ型結晶化度（％）＝〔（Ｉ_22.6−Ｉ_18.5）／Ｉ_22.6〕×１００〔Ｉ_22.6は、Ｘ線回折における格子面（回折角２θ＝２２．６°）の回折強度、及びＩ_18.5は、アモルファス部（回折角２θ＝１８．５°）の回折強度を示す〕 - 特許庁

For the ferrite with cadmium chloride structure (LiFeO_2 with CdCl_2 structure), the integrated intensity ratio of the diffraction peak of (003) against the diffraction peak of (104), obtained by the powder method of X ray diffraction, is 2.5 or more, or the half value width of the diffraction peak of (003) is 0.45 of less.例文帳に追加

この塩化カドミウム型フェライト（ＣｄＣｌ_2 型ＬｉＦｅＯ_2 ）は、粉末Ｘ線回折法により得られる、（１０４）の回折ピークに対する（００３）の回折ピークの積分強度比が２．５以上、または（００３）の回折ピークの半値幅が０．４５以下となっている。 - 特許庁

It is preferable that the molding has a sheet shape and the intensity ratio, I_(002)/I_(110) of intensity I_(110) of a diffraction peak at a (110) plane of carbon to intensity I_(002) of a diffraction peak at a (002) plane in an X-ray diffraction chart obtained by irradiating X-ray in the thickness direction of the sheet, is ≤10.例文帳に追加

成形体がシート状をなし、その厚み方向にＸ線を照射して得られる黒鉛粉末のＸ線回折図における炭素の（１１０）面の回折ピークの強度Ｉ_(110)に対する（００２）面の回折ピークの強度Ｉ_(002)の比Ｉ_(002)／Ｉ_(110)が１０以下であることが望ましい。 - 特許庁

A fiber formed product has a crystallization peak in the vicinity of an angle (2θ) of diffraction of 6-10° as a result of analysis by X-ray diffraction method and the formed product is composed of a crystallized single-wall carbon nanotube.例文帳に追加

Ｘ線回折法による解析結果、回折角２θ＝６〜１０°付近に結晶化ピークを有する、結晶化した単層カーボンナノチューブからなる繊維成型体。 - 特許庁