「diffraction ray」に関連した英語例文の一覧と使い方(10ページ目) - Weblio英語例文検索

The negative collector uses copper or copper alloy wherein the ratio (200)/(111) of the X-ray diffraction intensity on the (200) face of a XRD device having a CuKα line as a ray source to that on the (111) face is from 0.3 to 4.0.例文帳に追加

負極集電体として、ＣｕＫα線を線源とするＸＲＤ装置による（２００）と（１１１）面のＸ線回折強度比（２００）／（１１１）が０．３以上、４．０以下の銅または銅合金を用いる。 - 特許庁

The crystal forms are four kinds of new crystal forms except known crystal forms, and are defined by the main peaks of powder X-ray diffraction patterns, respectively, obtained with copper K-alpha 1X ray (wavelength: 1.54056 angstrom).例文帳に追加

既知の結晶形態以外の４種の新規結晶形態であり、銅Ｋ−アルファ１Ｘ線（波長１．５４０５６オングストローム）を用いて得られる粉末Ｘ線回折パターンの主要ピークによって各々定義される。 - 特許庁

An angle ω0 where the intensity of light from the light source 4 entering the photodetector 5 is maximized, and an angle ω1 where the intensity of diffraction X-rays which are detected by an X-ray diffraction system that is set at a specific angle is maximized, are measured.例文帳に追加

次いで、測定対象試料を装着して同様に光強度が最大になる角度ω_２と回折Ｘ線強度が最大になる角度ω_３を測定し、次式に基づき測定対象試料の偏差角δを求める。 - 特許庁

The raw material originated from shell or pearl is mechanochemically ground such that the factor of decrease based on diffraction intensity before grinding at a predetermined Miller index of aragonite crystal obtained by the X-ray diffraction method becomes a prescribed value.例文帳に追加

貝殻または真珠由来の原料をＸ線回折法において得られるアラゴナイト結晶の所定のミラー指数における回折強度の粉砕前を基準とした減少率を所定値とするようにメカノケミカル粉砕する。 - 特許庁

To provide a new method for producing such an alkaline earth thioaluminate-based fluorescent compound that only the diffraction pattern of a perfect alkaline earth thioaluminate compound is detected and no other substances' diffraction patterns are recognized in the X-ray diffractometry.例文帳に追加

Ｘ線回折分析において完全なアルカリ土類チオアルミネート化合物の回折パターンのみ検出され、他の物質の回折パターンが認められないアルカリ土類チオアルミネート系蛍光体化合物の新規な製造法を提供する。 - 特許庁

A diffraction condition of an X-ray relates not only to a y-directional component r_ijy of a bond vector r_ij connecting an A_i atom and an A_j within a test piece generating diffraction but also to an x-directional component r_ijx.例文帳に追加

即ち、Ｘ線の回折条件は、回折を起こす、試験片内の、Ａ_ｉ原子及びＡ_ｊ原子を結ぶボンドベクトルｒ_ｉｊのｙ方向成分ｒ_ｉｊｙみならず、ｘ方向の成分ｒ_ｉｊｘとも関係する。 - 特許庁

A carbon material for the electric double-layer capacitor electrode uses oil raw coke as a raw material, such that a graphite-like crystal structure parameter (Ip/Io) at a diffraction peak of a (002) surface of an X-ray diffraction intensity curve is >0.3 and ≤0.8.例文帳に追加

Ｘ線回折強度曲線の（００２）面の回折ピークにおける黒鉛的結晶構造パラメーター（Ｉｐ／Ｉｏ）が０．３＜Ｉｐ／Ｉｏ≦０．８である石油生コークスを原料とする電気二重層キャパシタ電極用炭素材。 - 特許庁

The copper-base alloy excellent in press workability, in which, as to the X-ray diffraction intensity of the cross section of the material, the sum of the diffraction intensity of {111} and that of {222} becomes two or more times that of {200}, and its manufacturing method are provided.例文帳に追加

材料の断面のＸ線回折強度で｛１１１｝と｛２２２｝の回折強度の合計が｛２００｝回折強度の２倍以上であることを特徴とするプレス加工性に優れた銅基合金とその製造方法。 - 特許庁

The FeF_3 powder is impalpable powder of half-width of 0.2 rad or more of diffraction peak in (012) plane by X-ray diffraction.例文帳に追加

本発明の正極活物質は、アルカリ金属イオンを挿入・脱離可能なＦｅＦ_３粉末からなる正極活物質であって、ＦｅＦ_３粉末は、Ｘ線回折による（０１２）面の回折ピークの半値幅が０．２ｒａｄ以上である微粉末である。 - 特許庁

The Al electrode layer 4 is an oriented film grown by epitaxial growth and is also a polycrystalline thin film having a twin structure in which a diffraction pattern observed in an X-ray diffraction pole figure has a plurality of symmetry centers.例文帳に追加

Ａｌ電極層４は、エピタキシャル成長した配向膜であり、かつＸ線回折極点図において観察される回折パターンが複数の対称中心を有する双晶構造を持つ多結晶薄膜となるようにされる。 - 特許庁

Lithium manganate of which the variation of a half-value width of an essential diffraction line by the X-ray diffraction under a charging condition of 0%-100%, is 25% or less, is used in a positive electrode active material, and amorphous carbon is used in a negative electrode active material.例文帳に追加

正極活物質に充電状態０％乃至１００％間のＸ線回折による主要回折線の半値幅変化を２５％以下としたマンガン酸リチウムを用い、負極活物質に非晶質炭素を用いた。 - 特許庁

By comparing a reference data base in which two-dimensional X-ray diffraction line data of an equatorial direction (2θ direction) and a Debye ring direction (β direction) on a plurality of substances is stored with two-dimensional X-ray diffraction line data of the equatorial direction and the Debye ring direction on substance to be measured, the substance to be measured is identified.例文帳に追加

複数の物質に関する赤道方向（２θ方向）およびデバイリング方向（β方向）の２次元Ｘ線回折線データを記憶した標準データベースと、被測定物質の赤道方向およびデバイリング方向の２次元Ｘ線回折線データとを比較することにより、被測定物質の同定を行う。 - 特許庁

The ceramic substrate for the wafer prober with a chuck top conductor layer formed on the surface thereof is provided, wherein an X-ray diffraction chart of the ceramic substrate, in addition to a peak of the ceramic constituting a main crystal phase thereof, a peak of carbon is detected to an angle of X-ray diffraction of 2θ=44 to 45°.例文帳に追加

その表面にチャックトップ導体層が形成されてなるセラミック基板において、前記セラミック基板のＸ線回折チャートにおいて、主結晶相を構成するセラミックのピークの他に、Ｘ線回折角度２θ＝４４〜４５°にカーボンのピークが検出されることを特徴とするウエハプローバに使用されるセラミック基板。 - 特許庁

This aqueous ink composition contains, as the main ingredients, a crystalline colored organic pigment of which the half value width of a diffraction ray with the maximum strength in the X-ray diffraction spectrum is 0.4° or lower and an organic compound having a hydrophilic site and a hydrophobic site in the molecule.例文帳に追加

Ｘ線回折スペクトルにおける最大強度を示す回折線が０．４°以下の半値幅を有する結晶性カラー有機顔料と、分子内に親水性部位と疎水性部位を有する有機化合物とを主成分として含むことを特徴とするインク組成物により、上記の課題を解決する。 - 特許庁

The imaging device comprises an X-ray source 110, a diffraction grating 130 for diffracting X-rays emitted from the X-ray source 110, a shielding grating 150 for shielding a part of the X-rays diffracted by the diffraction grating 130 and a detector 170 for detecting intensity distribution of the X-rays having passed through the shielding grating 150.例文帳に追加

撮像装置はＸ線源１１０とＸ線源１１０から出射したＸ線を回折する回折格子１３０と回折格子１３０によって回折されたＸ線の一部を遮る遮蔽格子１５０と遮蔽格子１５０を経たＸ線の強度分布を検出する検出器１７０とを有する。 - 特許庁

This sample holding device is equipped with a transmission type sample holder support member 42 capable of mounting detachably a transmission type sample holder 40 adaptable to the X-ray diffraction measurement by the transmission method, and a reflection type sample holder support member capable of mounting detachably a reflection type sample holder adaptable to the X-ray diffraction measurement by the reflection method.例文帳に追加

透過法によるＸ線回折測定に適合する透過型試料ホルダ４０を、着脱自在に装着可能な透過型試料ホルダ支持部材４２と、反射法によるＸ線回折測定に適合する反射型試料ホルダを、着脱自在に装着可能な反射型試料ホルダ支持部材とを備える。 - 特許庁

By applying heat treatment to a metal magnetic powder containing Fe, Si, and Al produced by an atomize method, when the diffraction intensity by X-ray diffraction method from (111) is made to be I(111) and the diffraction intensity from (220) is made to be I(220), the metal magnetic powder is adjusted so as to be I(111)/I(220)≥0.025.例文帳に追加

アトマイズ法により作製したＦｅ、ＳｉおよびＡｌを含む金属磁性粉末に、熱処理を施して、Ｘ線回折法による（１１１）からの回折強度をＩ（１１１）、（２２０）からの回折強度をＩ（２２０）としたとき、Ｉ（１１１）／Ｉ（２２０）≧０．０２５からなる金属磁性粉末となるように調整する。 - 特許庁

It is more preferable that the center line average roughness Ra75 in the surface of the plating layer is ≤0.8 μm, and the ratio of the diffraction intensity Iζof a ζ phase to the diffraction intensity Iδ_1 of a δ1 phase in the plating layer measured using an X-ray diffraction method is ≤0.1.例文帳に追加

めっき層表面の中心線平均粗さＲａ７５が０．８μｍ以下であり、Ｘ線回折法を用いて測定されためっき層中のζ相の回折強度Ｉζとδ１相の回折強度Ｉδ_1との比であるＩζ／Ｉδ_1が０．１以下であることはより好ましい実施態様である。 - 特許庁

When analyzed by X-ray diffraction measurement, this molybdenum exhibits, in at least part of the region corresponding to a sheet-thicknesswise depth of one fifth of the whole thickness from the surface, areas which each contain such a domain where the peak intensities of the (110) and (220) diffraction planes are each lower than the peak intensity of the (211) diffraction plane.例文帳に追加

本発明のモリブデン材は、表面から板厚方向に向かって全厚の５分の１の深さに該当する領域において、Ｘ線回折測定した場合、結晶回折面（１１０）および（２２０）のそれぞれのピーク強度が、（２１１）のピーク強度未満となる領域が存在する部分を少なくとも一部に有する。 - 特許庁

This method for producing the dielectric ceramic composition comprising barium titanate, a glass component and an additive component is characterized by using a barium titanate raw material in which a (111) plane diffraction peak is observed in an X-ray diffraction using Cu-Kα beam as the X-ray source, and the half-value width of the diffraction peak is controlled to be 0.2° or less.例文帳に追加

チタン酸バリウムと、ガラス成分と、添加物成分とを有する誘電体磁器組成物を製造する方法であって、Ｘ線源にＣｕ−Ｋα線を用いたＸ線回折において、（１１１）面の回折ピークが観察され、該回折ピークの半値幅が０．２°以下に制御されたチタン酸バリウム原料を用いて、前記誘電体磁器組成物を製造することを特徴とする誘電体磁器組成物の製造方法。 - 特許庁

To provide a sample holding device capable of coping with both X-ray diffraction measurements of a transmission method or a reflection method, holding a plurality of samples, and arranging an optional portion of each held sample on an X-ray irradiation position.例文帳に追加

透過法と反射法、いずれのＸ線回折測定にも対応可能で、複数の試料を保持でき、しかも保持した各試料の任意の部位をＸ線照射位置へ配置することができる試料保持装置を提供する。 - 特許庁

A measurement control device 11 reads the wavelength data of the first-order ray from a storage device 14, according to the characteristic X-ray type of a specified element to obtain the actual spectroscopic wavelength position and the measurement wavelength range, based on the diffraction order.例文帳に追加

測定制御装置１１は指定された元素の特性Ｘ線種に従って記憶装置１４から１次線の波長データを読出し、回折次数に基づいて実際の分光波長位置と測定波長範囲を求める。 - 特許庁

Beams around a part irradiated with laser beams 1 on a work 100 incident inside a machining head 10 are split by a diffraction grating 16 into reflected laser beams 1a, infrared ray 3 and the ultraviolet ray 4.例文帳に追加

加工ヘッド１０の内部に入射した被加工物１００へのレーザ光１の照射部分周辺の光を回折格子１６ｂによって反射レーザ光１ａ，赤外光３，紫外光４にそれぞれ分光するようにした。 - 特許庁

To provide an X-ray diffraction equipment fit for large samples, in which large samples can be moved in a small space and a stress in a direction normal to the direction of X-ray beams can be measured for large samples.例文帳に追加

小さなスペースで大型試料を移動することができ、また、大型の試料についてもＸ線ビーム方向と垂直な方向の応力測定を行うことができる、大型試料に適したＸ線回折装置を提供する。 - 特許庁

In X-ray diffraction of CuKα ray, an oxotitanium phthalocyanine compound is obtained by hydrolizing a dihalogenotitanium phthalocyanine compound having a main peak at 7.4° of 2θ (±0.2°) in a mixture of water and a water soluble organic solvent.例文帳に追加

ＣｕＫα線のＸ線回折において、２θ（±０．２゜）の７．４゜にメインピークを有するジハロゲノチタニウムフタロシアニン化合物を水と水可溶性有機溶剤との混合物中で加水分解することによってオキソチタニウムフタロシアニン化合物を得る。 - 特許庁

As a positive electrode active material for a secondary battery, β-FeOOH is used with aspect ratio of particles of not more than 5, and with half-value width Y of 0.30 <Y(2θ) showing a (110) face diffraction peak with an X-ray diffraction method using a CuKα beam.例文帳に追加

二次電池用正極活物質として、粒子のアスペクト比が５以下のβ—ＦｅＯＯＨであって、さらにＣｕＫα線を用いたＸ線回折法で、半値幅Ｙが０．３°＜Ｙ（２θ）の（１１０）面回折ピークを示すβ—ＦｅＯＯＨを用いる。 - 特許庁

The above problem can be solved by using a coloring agent composed of a pseudo-unidimensional crystalline organic color pigment exhibiting X-ray diffraction spectrum having the refraction line showing the maximum intensity and its n-th order ((n) is an integer of ≥2) diffraction lines as main peaks.例文帳に追加

Ｘ線回折スペクトルにおいて、最大強度を示す回折線とそのｎ次（ｎ：２以上の整数）の回折線を主要ピークとして有する擬１次元結晶性カラー有機顔料からなる着色剤により、上記の課題を解決する。 - 特許庁

In the lithium manganese multiple oxide, the peak intensity ratio (A/B) of the deffraction peak intensity (A) observed at 15.3±1.0° to the diffraction peak intensity (B) observed at 18.2±1.0° in a powder X-ray diffraction under the following measurement condition is expressed by 0.001<A/B.例文帳に追加

下記測定条件での粉末Ｘ線回折で１５．３±１．０°に観測される回折ピーク強度（Ａ）と１８．２±１．０°に観測される回折ピーク強度（Ｂ）とのピーク強度比（Ａ／Ｂ）が ０．００１ ＜ Ａ／Ｂ であるリチウムマンガン複合酸化物。 - 特許庁

The carbon electrode includes carbon powder having a wood tar as a raw material and a diffraction line near 2θ=26° and 2θ=44° in a powder X-ray diffraction pattern using CuK_α for a line source as a claim 1.例文帳に追加

本発明の炭素電極は、請求項１として、木タールを原料とし、線源にＣｕＫαを用いた粉末Ｘ線回折パターンにおいて、２θ＝２６°付近と２θ＝４４°付近に回折線を有する炭素粉末を含有することを特徴とする。 - 特許庁

Each of the feed material 11 and the seed material 12 has a surface layer containing polycrystalline silicon carbide whose crystal polymorph is 3C, and when the surface layer is subjected to X-ray diffraction, a diffraction peak corresponding to a (111) crystal plane is observed.例文帳に追加

フィード材１１及びシード材１２のそれぞれは、結晶多形が３Ｃである多結晶炭化ケイ素を含む表層を有し、かつ、表層のＸ線回折により（１１１）結晶面に対応した回折ピークが観察されるものである。 - 特許庁

Diffraction lines attributed to metallic Si and Si compound cannot be detected in the texture structure by the pattern analysis by X-ray diffraction method and granular texture is unrecognizable by the observation with a transmission electron microscope(TEM).例文帳に追加

また、その組織構造は、Ｘ線回折法によるパターン解析により金属Ｓｉ及びＳｉ化合物に帰属する回折線が検出されず、透過型電子顕微鏡(TEM)の観察によって粒状組織が識別できない組織性状を備えている。 - 特許庁

This EUV ray spectrum measuring instrument concerned in the present invention for measuring the spectrum of the EUV ray emitted from the divergent center of the EUV ray source has a driving mechanism for making a spectrum measuring means having a spectral diffraction element and a detector having spatial resolution along a spectral dispersion direction by the spectral diffraction element movable with respect to the divergent center.例文帳に追加

上記課題を解決するために、本発明に係るＥＵＶ光スペクトル測定装置は、ＥＵＶ光源の発散中心点から発散するＥＵＶ光のスペクトルを測定する装置であって、分光素子と該分光素子による分光方向に空間分解能を有する検出器を有するスペクトル測定手段を前記発散中心点に対して移動可能とする駆動機構を有することを特徴とする。 - 特許庁

Only a signal light of BD (Blu-ray Disc (R)) light passing through the diffraction regions 118a to 118d is incident on sensor portions B1 to B8 which are disposed on a light receiving surface of a photodetector 120.例文帳に追加

光検出器１２０の受光面上に配されたセンサ部Ｂ１〜Ｂ８には、回折領域１１８ａ〜１１８ｄを通るＢＤ光の信号光のみが照射される。 - 特許庁

A white light from a light source 1 is made incident on a concave diffraction grating 8 via a heat ray cutting filter 3, a sensitivity correction filter 4, a lens 5, a flow cell 6, and a slit 7, and is spectrally dispersed.例文帳に追加

光源１からの白色光は熱線カットフィルタ３、感度補正フィルタ４、レンズ５、フローセル６、スリット７を介して凹面回折格子８に入射し、分光される。 - 特許庁

The W sputtering target is characterized in that a half band width of a peak corresponding to a crystal plane (110) of the target is 0.35 or less when a surface of the target to be sputtered is analyzed by X-ray diffraction.例文帳に追加

Ｗスパッタリングターゲットは、スパッタリングされる面のＸ線回折により得られた結晶面（１１０）のピークの半値幅が０．３５以下であることを特徴とする。 - 特許庁

To provide an X-ray diffraction apparatus capable of showing the explanation related to a measuring condition to an operator on the screen of a display device and not making it hard to see the screen.例文帳に追加

測定条件に関する説明を表示装置の画面上でオペレータに提示することができ、しかも、画面が見難くなることのないＸ線回折装置を提供する。 - 特許庁

As compared with a method for measuring the diffraction line intensity of asbestos by scanning the light detection slit 5 and the X-ray detector 8, a measuring time can be shortened largely.例文帳に追加

受光スリット５及びＸ線検出器８のスキャンによってアスベストの回折線強度を測定することに比べて、測定時間を大幅に短縮できる。 - 特許庁

A half width of an x-ray diffraction peak corresponding to a (100) plane of the zirconium crystal is between 0.7° and 1.5°, and an average value of a crystallite size is 3-20 nm.例文帳に追加

ジルコニウム結晶の（１００）面に対応するＸ線回折ピークの半値幅は０．７°から１．５°であり、結晶子サイズの平均値は３ｎｍ以上２０ｎｍ以下である。 - 特許庁

The hemihydrate of the compound shown by an X-ray powder diffraction diagram includes a melting point of Tm.p.=120±5°C (measured by differential scanning calorimetry; evaluation by the peak maximum; and heating rate: 10°C/min).例文帳に追加

Ｔm.p.＝１２０±５℃の融点（示差走査熱量測定法により測定；ピーク最大により評価；加熱速度：１０℃／分）でＸ線粉末回折図で示される半水化物。 - 特許庁

(1) A crystallite size of (110) planes in the vicinity of 2θ=66° determined in an X-ray diffraction image using CuK_α radiation line is 1000Å or more.例文帳に追加

（１）ＣｕＫαを線源とするＸ線回折像において測定される２θ＝６６゜付近の（１１０）面結晶子サイズが、１０００オングストローム以上であること。 - 特許庁

To perform simultaneously X-ray diffraction measurement by a plurality of kinds of characteristic X-rays by irradiating a sample simultaneously with the plurality of kinds of characteristic X-rays.例文帳に追加

複数種類の特性Ｘ線を同時に試料に照射して，複数種類の特性Ｘ線によるＸ線回折測定を同時に実施できるようにする。 - 特許庁

An X-ray diffraction device 1 is constituted by installing a signal processing unit 21 comprised of a DSP (digital signal processor) on the outside of a computer comprised of a CPU 17, a memory 20 and the like.例文帳に追加

ＣＰＵ１７、メモリ２０等から成るコンピュータの外部にＤＳＰ（デジタルシグナルプロセッサ）から成る信号処理部２１を設置して成るＸ線回折装置１である。 - 特許庁

Moreover, the distribution of the first peak intensity showing the maximum intensity in an X-ray diffraction pattern inside a stimulable phosphor layer face is isotropic from the center of the support 11.例文帳に追加

そして、輝尽性蛍光体層面内のＸ線回折パターンにおいて最大強度を示す第１ピーク強度の分布が支持体中心から等方的である。 - 特許庁

The nucleating agent consists of a compound expressed by formula (1), having ≤10 μm mean particle diameter and essentially exhibits no crystalline peak in an X-ray diffraction analysis.例文帳に追加

下記一般式（１）で表される化合物からなり、平均粒径１０μｍ以下で且つＸ線回折分析で結晶性ピークを実質的に有しない造核剤。 - 特許庁

The primary particle diameter may be 5-10 μm, and the X-ray diffraction peak intensity ratio of I(111)/I(311) may be 1.5-3.0.例文帳に追加

前記一次粒子直径が５ないし１０μｍであり、前記Ｘ線回折ピーク強度のＩ（１１１）／Ｉ（３１１）が、１．５ないし３．０であることを特徴とする。 - 特許庁