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「diffraction ray」に関連した英語例文の一覧と使い方(13ページ目) - Weblio英語例文検索


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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > diffraction rayの意味・解説 > diffraction rayに関連した英語例文

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diffraction rayの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 1018



例文

This catalyst for decomposing a volatile organic matter containing a titanium oxide supporting at least, a cobalt oxide, (1) shows at least, a diffraction pattern of Co_3O_4 in X-ray diffraction measurement, and (2) is characterized in that the titanium oxide alone shows photocatalytic activity under exposure to a visible light.例文帳に追加

少なくともコバルト酸化物を担持した酸化チタンを含む触媒体であって、(1)X線回折測定で少なくともCo_3O_4の回折パターンを示し、かつ(2)前記酸化チタンは酸化チタンのみで可視光線の照射下で光触媒活性を示す揮発性有機物分解用触媒体である。 - 特許庁

The size of a crystallite measured by a Hall method from the integration width of each diffraction peak acquired from an X-ray diffraction pattern is larger than 600 Å and less than 800in the cathode active substance for the lithium secondary battery.例文帳に追加

前記正極活物質において、X線回折パタ−ンから得られる各回折ピ−クの積分幅からHall法によって測定した結晶子の大きさが600Åより大きく、800Å未満であることを特徴とするリチウム二次電池用正極活物質である。 - 特許庁

The perovskite complex oxide is generated by adding a hydroxide of an alkaline earth element to titanium oxide slurry and reacting it therewith, which is obtained by dispersing a titanium oxide powder, for which an integration width of a diffraction peak on a (101) plane to be measured by X-ray diffraction is less than or equal to 2.0°, in water.例文帳に追加

X線回折によって測定される(101)面の回折ピークの積分幅が2.0°以下である酸化チタン粉末を水に分散させた酸化チタンスラリーに、アルカリ土類元素の水酸化物を添加して反応させることによりペロブスカイト型複合酸化物を生成させる。 - 特許庁

The carbon catalyst has a crystallinity degree of 41.0% or less as determined by an X-ray diffraction method, a (nitrogen atom)/(carbon atom) ratio of 0.7 or more as determined by an X-ray photoelectron spectroscopy, and oxygen reduction onset potential of 0.774 V (vs. NHE) or more.例文帳に追加

また、本発明に係る炭素触媒は、X線回折法により得られる結晶化度が41.0%以下であり、X線光電子分光により得られる窒素原子/炭素原子比が0.7以上であり、酸素還元開始電位が0.774V(vs.NHE)以上である。 - 特許庁

例文

The displacement of a crystal atom is determined by analyzing an intensity profile of X-ray CTR scattering appearing on both sides in the vertical direction on the surface of an X-ray diffraction peak, and the stress generated in the hetero interface between the crystal and the different kind of material is evaluated from the result.例文帳に追加

X線回折ピークの表面垂直方向両側に出現するX線CTR散乱の強度プロファイルを解析して結晶原子の変位量を求め、その結果から結晶と異種物質とのヘテロ界面の生じる応力を評価する。 - 特許庁


例文

To provide an apparatus which can fully, promptly and precisely analyze using an inexpensive and simple structure by preventing diffraction rays, which become interfering rays, from being generated on the side of the X-ray source in an apparatus for X-ray fluorescence analysis analyzing samples having crystal structures.例文帳に追加

結晶構造を有する試料を分析する蛍光X線分析装置において、妨害線となる回折線をX線源側で発生しないようにすることにより、十分迅速で正確な分析ができ、安価で簡単な構造の装置を提供する。 - 特許庁

The TMPB substance of the present invention is a crystal of 2-methyl-2-triazolylmethylpenam-3-carboxylic acid 1,1dioxidodiphenylmethyl ester having peaks in lattice face intervals in X-ray diffraction pattern of powder obtained with copper radioactive ray of λ=1.5418 angstrom passed through a monochromater.例文帳に追加

本発明のTAZB結晶は、モノクロメーターを通したλ=1.5418Åの銅放射線で得られるX線粉末回折パターンで格子面間隔にピークを有する2−メチル−2−トリアゾリルメチルペナム−3−カルボン酸1,1−ジオキシドジフェニルメチルエステルの結晶である。 - 特許庁

The TMPB substance of the present invention is a crystal of 2-methyl-2-triazolylmethylpenam-3-carboxylic acid diphenylmethyl ester having peaks in lattice face intervals in X-ray diffraction pattern of powder obtained with copper radioactive ray of λ=1.5418 angstrom passed through a monochromater.例文帳に追加

本発明のTMPB結晶は、モノクロメーターを通したλ=1.5418Åの銅放射線で得られるX線粉末回折パターンで格子面間隔にピークを有する2−メチル−2−トリアゾリルメチルペナム−3−カルボン酸ジフェニルメチルエステルの結晶である。 - 特許庁

The drawn wire material is irradiated with an X-ray from a target through an incident collimator, using a 2θ-θ method, and the X-ray diffracted from the drawn wire material is made to get incident into a counter through a photoreception side collimator, to measure diffraction peaks in a plurality of crystal faces in the drawn wire material.例文帳に追加

2θ−θ法を用いて、ターゲットからのX線を入射コリメータを通して伸線材に当て、伸線材からの回折したX線を受光側コリメータを通して計数器に入射して、伸線材の複数の結晶面による回折ピークを測定する。 - 特許庁

例文

In the sample fixing method of X-ray diffraction measurement, a sample is pasted to one surface of a base having a hollow exceeding an X-ray irradiation area for irradiating the sample with X rays from a target and capturing and counting diffracted X rays from the sample.例文帳に追加

X線回折測定における試料固定方法は、ターゲットからX線を試料に照射し、試料からの回折されたX線を捕捉して計数するために、X線照射面積を越える中空を有する土台の片面に試料を貼るものである。 - 特許庁

例文

The powder X-ray diffraction pattern of the biimidazole compound shows a diffraction peak at least in each region from 9.0° to 9.2°, from 11.0° to 11.2° and from 21.2° to 21.4° ofangle by Cu-Kα characteristic X-ray diffraction.例文帳に追加

(A)バインダー樹脂、(B)光重合性モノマー、(C)光重合開始剤、(D)着色材料および(E)溶剤を含有し、光重合開始剤として少なくともビイミダゾール化合物を含む着色感光性樹脂組成物において、ビイミダゾール化合物の(1)粉末X線回折パターンがCu−Kα特性X線回折の2θ角度で少なくとも9.0°〜9.2°の範囲、11.0°〜11.2°の範囲および21.2°〜21.4°の範囲にそれぞれ回折ピークを有することを特徴とする着色感光性樹脂組成物。 - 特許庁

The negative electrode active material composed of a high-capacity layered silicate mineral is provided in which mineral a position of the highest peak in an X-ray diffraction spectrum thereof is shifted to a lower angle side with respect to a postion of the highest peak of an X-ray diffraction spectrum of an unprocessed layered silicate mineral.例文帳に追加

本発明は、未処理の層状珪酸塩鉱物について測定されるX線回折のスペクトルにおける最も高いピークの位置に対し、最も高いピークの位置が低角度側にシフトしたX線回折のスペクトルが測定される高容量層状珪酸塩鉱物からなることを特徴とする負極活物質を提供することにより、上記課題を解決する。 - 特許庁

The oxytitanium phthalocyanine composition shows the maximum diffraction peak at a Bragg angle (2θ±0.2°) of 27.3° on a powder X-ray diffraction spectrum by CuKα-X-ray, and a ratio of chlorinated oxytitanium phthalocyanine in the composition is 0.015-0.070 mass spectrum strength relative to a non-substituted oxytitanium phthalocyanine.例文帳に追加

CuKα特性X線による粉末X線回折スペクトルにおいて、ブラッグ角(2θ±0.2°)27.3°に最大回折ピークを示すことを特徴とするオキシチタニウムフタロシアニン組成物であって、該組成物中の塩素化オキシチタニウムフタロシアニンの割合が、無置換オキシチタニウムフタロシアニンに対してマススペクトル強度比で0.015〜0.070であることを特徴とするオキシチタニウムフタロシアニン組成物。 - 特許庁

A positive electrode active material is a nickel oxyhydroxide compound including zinc and cobalt, alone or in combination, as eutectic, the surface of particles of which compound is coated with a cobalt high-order oxide, and has a half band width of 0.4 to 0.48 at the diffraction peak near a diffraction angle of 18° in the X-ray diffraction pattern, thereby achieving a battery superior in characteristics.例文帳に追加

この発明は、正極材料として、亜鉛及びコバルト単独もしくはこれらを共晶させたオキシ水酸化ニッケル系化合物であって、この粒子の表面がコバルト高次酸化物で被覆され、x線回折パターンにおいて、回折角18°付近の回折ピークの半値幅が0.4〜0.48である正極活物質を用いることによって特性の優れた電池を実現する。 - 特許庁

The electrolyzing electrode 21 is provided with a base body 22 and a surface layer 25 formed on the surface of the base material 22 and on the surface layer 25, the diffraction peak of monoclinic zirconium oxide (-111) plane is detected in X-ray diffraction and the diffraction peak of orthorhombic zirconium oxide (111) plane is not detected.例文帳に追加

基体22と、前記基体22の表面に構成された表面層25を備えて成るものであって、表面層25は、X線回折において単斜晶の酸化ジルコニウム(−111)面の回折ピークが検出されるとともに、斜方晶の酸化ジルコニウム(111)面の回折ピークが検出されないことを特徴とする電解用電極21により課題を解決できる。 - 特許庁

This X-ray diffraction device has in X-ray measuring instrument for acquiring data for a pole diagram, a memory for storing the measuring data acquired by the X-ray measuring instrument, a display device for displaying an image and an image data forming circuit for forming the image data displayed on the display device based on the data stored in the memory.例文帳に追加

極点図のためのデータを得るX線測定装置と、そのX線測定装置によって得られた測定データを記憶するメモリと、画像を表示する表示装置と、メモリに記憶されたデータに基づいて表示装置に表示するための画像データを生成する画像データ生成回路とを有するX線回折装置である。 - 特許庁

An emitted red light from a semiconductor laser device 1 is transmitted along an optical axis 9 of the red light, and an emitted infrared ray is passed along an optical axis 10 of the ray which is substantially parallel to the axis 9 passing through a diffraction grating 2, and then converted into parallel luminous flux by a collimator lens 3.例文帳に追加

半導体レーザ装置1からの赤色出射光は赤色光光軸9に沿い、赤外出射光は赤色光光軸9とほぼ平行な赤外光光軸10に沿って回折格子2を透過したのち、コリメータレンズ3により平行光束に変換される。 - 特許庁

To provide a polychrometer discriminating light of a plurality of desired wavelengths contained in a soft X ray incident to a device and forming an image on a detection device or a photosensitive substance surface, in a soft X ray range of a few kilo-electron volts wherein a conventional diffraction grating spectroscopic device is not practicable.例文帳に追加

本発明は、従来回折格子分光器が実用とならなかった数keVの軟X線領域において装置に入射する軟X線光に含まれる複数の所望の波長の光を分別し検出器または感光物質面に結像させうる多色計(ポリクロメータ)を提供するものである。 - 特許庁

An area other than the crystal grain of a measuring object is coated thinly with an amorphous liquid material, an amorphous powder of high X-ray absorptivity is further applied thereto to be fixed, and only the crystal information about a specified crystal is thereby acquired by X-ray diffraction.例文帳に追加

測定対象である結晶粒以外の領域を非晶質の液状材料で薄く塗布して覆い、さらにX線吸収率が高い非晶質粉末を塗布して固着させて特定の結晶についての結晶情報のみをX線回折によって得る。 - 特許庁

According to such a configuration, this method which is different from X-ray diffraction method or X-ray transmission method that accompanies hazards and thermal analysis method that requires cutting of a material, and the presence of the crystallization or internal flaw of the metal glass can be evaluated safely, accurately and simply by a single method.例文帳に追加

かかる構成により、従来の危険を伴うX線回折法及びX線透過法や、材料の切り出しが必要な熱分析法と異なり、金属ガラス中の結晶化や内部欠陥の有無を、単一の方法で、安全に、且つ精度よく簡単に評価することができる。 - 特許庁

Especially, the BaSi2O5:Pb fluorescent substance (treated in this mode) exhibits an improved maintenance factor in a fluorescent lamp, and a characteristic X-ray diffraction figure which proves the presence of the phosphate-containing protection surface layer.例文帳に追加

特に、この態様で処理されたBaSi_2O_5:Pb蛍光体は、蛍光ランプにおける向上した保守率、及びホスフェート含有保護表面層の存在を立証する特有のX−線回折図を示す。 - 特許庁

On the surface of steel, a rust layer in which the size of crystallites of β-FeOOH components is50 nm by an X-ray diffraction method is formed, and also, the specific surface area of the rust layer is controlled to10 m2/g by a molecular adsorption method.例文帳に追加

鋼材の表面に、β−FeOOH成分の結晶子サイズがX線回折法で50nm以下の錆層を形成させ、且つ該錆層の比表面積を分子吸着法で10m^2/g以上とする。 - 特許庁

The BiTe-based thin film is patterned and a c-axis orientation degree which is a ratio of the peak value of a (001) plane to the peak value of a (015) plane in X-ray diffraction is at least 1.0.例文帳に追加

そのBiTe系薄膜は、パターニングされており、かつ、X線回折における(001)面のピーク値と(015)面のピーク値との比であるc軸配向度が、1.0以上であることを特徴とする。 - 特許庁

The amorphous carbon preferably has an average space of (002) planes (d_002) as determined by an X-ray diffraction of 0.350-0.390 nm, and a crystallite size (L_c) in the direction of a c-axis of 70 nm or less.例文帳に追加

前記非晶質炭素は、X線回折法による(002)面の平均面間隔d_002が0.350〜0.390nmであるのが好ましく、c軸方向の結晶子の大きさL_c(002)が70nm以下であるのが好ましい。 - 特許庁

When determined that it is a periodic structure, the electron beam diffraction image and a limited visual field image are preserved as one data group together with an observation condition including the position of the sample stage, an X-ray spectrum or the like.例文帳に追加

周期構造であると判定したら、電子線回折像、及び、制限視野像を、試料ステージの位置を含む観察条件、X線スペクトル等と共に1つのデータ群として保存する。 - 特許庁

As to this steel wire rod, the total content of ferrite and pearlite in the structure is controlled to80% by area ratio, and the half value width of the α(211) peak measured by X-ray diffraction is controlled to ≤0.200 degrees.例文帳に追加

本発明の鋼線材は、組織中のフェライトおよびパーライトの合計量を面積率で80%以上とし、X線回折で測定するα(211)ピークの半価幅を0.200度以下とする。 - 特許庁

The intensity ratio I1/I2 of an intensity of peak I1 resulting from (220) crystal face of silicon and the intensity of peak I2 resulting from (111) crystal face obtained by X-ray diffraction is 0.05 or more.例文帳に追加

X線回折によって得られるケイ素の(220)結晶面に起因するピークの強度I1と(111)結晶面に起因するピークの強度I2との強度比I1/I2は、0.05以上である。 - 特許庁

The photoreceptor uses crystalline oxo-titanyl phthalocyanine having a specified X-ray diffraction spectrum as an electric charge generating material and a benzofuran-hydrazone compound as an electric charge carrying material.例文帳に追加

電荷発生物質として特定のX線回折スペクトルを有する結晶型オキソチタニルフタロシアニンを用い、かつ電荷輸送物質としてベンゾフラン−ヒドラゾン化合物を用いることにより、上記課題を解決する。 - 特許庁

To provide a method of analyzing a structure of crystal for easily analyzing and identifying peak spreading factors by dependency of a reflection index hkl when evaluating a crystal structure by X-ray diffraction measurement.例文帳に追加

X線回折測定により結晶構造を評価する際、反射指数hkl依存性を用いて、ピーク拡がり要因を簡便に解析、同定する結晶の構造解析方法を提供する。 - 特許庁

The disclosure relates to a polymorphic form D of bazedoxifene acetate having a specific powder X-ray diffraction pattern, a pharmaceutical composition and treating method to use the polymorphic form D, and a method for producing the polymorphic form D of bazedoxifene acetate.例文帳に追加

本開示は、特定の粉末X線回折パターンを有する酢酸バゼドキシフェンの多形フォームD、それを用いた医薬組成物及び治療方法、並びにその製造方法に関する。 - 特許庁

To provide a structure analysis method for accurately analyzing the structure and composition of a carbon material to be measured based on the X-ray diffraction data of the carbon material to be measured by utilizing a statistical method.例文帳に追加

統計的手法を利用し、被測定炭素材のX線回折データに基づいて、高い精度で被測定炭素材の構造および組成分析が可能な構造解析法を提供する。 - 特許庁

This electrophotographic photosensitive member uses a Piransron compound, having a crystal structure showing peaks at the Bragg angles of 12.3°, 20.5°, 25.3°, and 28.3° in an X-ray diffraction spectrum that has CuKα as radiation source.例文帳に追加

CuKαを線源とするX線回折スペクトルにおけるブラッグ角12.3°、20.5°、25.3°、及び、28.3°にピークを示す結晶構造を有するピランスロン化合物を用いる電子写真感光体。 - 特許庁

The crystalline oxytitanium phthalocyanine shows peaks at 7.6, 14.5 and 26.7° Bragg angle 2θ(±0.3°) in the X ray diffraction spectrum for Cu-Kα line, and the compound is used for the electrophotographic photoreceptor.例文帳に追加

Cu−Kα線に対するX線回折スペクトルにおいて、ブラッグ角2θ(±0.3゜)7.6、14.5及び26.7゜にピークを示す結晶型オキシチタニウムフタロシアニン及びそれを用いた電子写真感光体。 - 特許庁

To provide an X-ray imaging apparatus having a simpler configuration compared to a conventional apparatus and obtaining differential phase contrast images in two directions crossing each other without rotating a diffraction grating and a masking grating.例文帳に追加

従来よりも装置の構成が簡単で、回折格子と遮蔽格子の回転操作なしでも交差する2方向の微分位相像を得ることができるX線撮像装置を提供する。 - 特許庁

In addition, the D enzyme can be used in combination with its L-enzyme counterpart in co-crystallation admixtures to form racemic crystals for determining crystallographic structures using X-ray diffraction data.例文帳に追加

加えて、D−酵素は、L−酵素の片割れと共に、X−線解析データを用いる結晶学的構造を決定するためのラセミ結晶を生成するのに共結晶化混合物で使用すりことができる。 - 特許庁

The electrolytic manganese dioxide is employed that has an alkali potential of 310 mV or more, an FWHM of 2.2° to 2.9°, and a (110)/(021) peak intensity ratio in the X-ray diffraction peaks of 0.50 to 0.80.例文帳に追加

アルカリ電位が310mV以上、FWHMが2.2°以上2.9°以下、X線回折ピークにおける(110)/(021)のピーク強度比が0.50以上0.80以下の電解二酸化マンガンを用いる。 - 特許庁

To enhance measurement accuracy of an X-ray diffractometer for measuring an atomic radial distribution function and anomalous diffraction scattering X-rays, by setting the size of a slit within the range specified by this invention.例文帳に追加

スリットサイズを、本発明で指定した範囲内に設定することにより、原子動径分布関数測定用、及び、異常散乱X線回折用の、X線回折装置の測定精度を高めること。 - 特許庁

A composite particle having a 40-300 μm average particle size comprises melamine borate, and scale-like boron nitride powder having a ≤2.0 graphitization index (GI) by a powder X-ray diffraction method and a 5-40 μm average particle size.例文帳に追加

ホウ酸メラミンと、粉末X線回折法による黒鉛化指数(GI)2.0以下、平均粒子径5〜40μmの鱗片状窒化ホウ素粉末からなり、平均粒子径が40〜300μmである複合粒子。 - 特許庁

In the titanium sputtering target, the half-width of the peak of crystal plane (101) determined by the X-ray diffraction of at least a part of the noneroded area of a surface to be sputtered is regulated to 0.25-0.5.例文帳に追加

スパッタされる面の非エロージョン領域の少なくとも一部のX線回折により求められる結晶面(101)のピークの半値幅が0.25〜0.5であることを特徴とする、チタンスパッタリングターゲット。 - 特許庁

The zinc oxide-based sintered compact 1 containing, as a main component, zinc oxide and having a degree of orientation f1, expressed by I(110)/{I(110)+I(002)+I(101)}, of ≥0.24 in X-ray diffraction peaks on a specific face is produced.例文帳に追加

酸化亜鉛を主成分とし、特定面でのX線回折ピークにおいてI_(110_)/(I_(110)+I_(002)+I_(101))で表される配向度f_1が0.24以上である酸化亜鉛質焼結体1を作製する。 - 特許庁

A graphite material having an intensity ratio of the I(110) plane/I(004) plane in the range of 0.01-0.7 determined by measurement of X-ray diffraction is used as a negative electrode active material contained in the negative electrode.例文帳に追加

負極中に含まれる負極活物質に、X線回折の測定によって得られるI(110)面/I(004)面の強度比が0.01以上0.7以下の黒鉛材料を用いる。 - 特許庁

There is provided the crystalline polymorphic form I of (-)-[[4-(1,4,5,6-tetrahydro-4-methyl-6-oxo-3-pyridazinyl)phenyl]hydrazono]propanedinitrile, characterized by the X-ray diffraction pattern having specific peak positions.例文帳に追加

特定のピーク位置を有するX線回折図によって特徴づけられる(−)−[[4−(1,4,5,6−テトラヒドロ−4−メチル−6−オキソ−3−ピリダジニル)フェニル]ヒドラゾノ]プロパンジニトリルの結晶状多形体I。 - 特許庁

The powder of the magnetic substance which is magnetically and particularly high and stable in the coercive force is prepared by regulating the content of the rare earth metal-iron-nitrogen-based magnetic powder to ≤3% by an X-ray diffraction intensity ratio.例文帳に追加

希土類金属−鉄−窒素系磁性粉末中の金属鉄の含有量がX線回折強度比で3%以下として、磁気的に特に保磁力の高い安定な磁性体粉末とする。 - 特許庁

A spray deposit of aluminum or aluminum alloy in which the ratio of the peak intensity of (200) face to that of (111) face by X-ray diffraction becomes <0.4 is formed on the surface of a member for a film deposition apparatus.例文帳に追加

成膜装置用部材の表面に、X線回折による(200)面のピーク強度の(111)面のピーク強度に対する比が0.4未満となるアルミニウム若しくはアルミニウム合金溶射膜を形成する。 - 特許庁

In a spectral diffraction position where X-ray intensity is high, if the dispersion is greater than a certain degree Er (indicated allowable error), the counting is performed for "tm" time interval longer than "to", to increase the total value to a count Nm.例文帳に追加

X線強度の高い分光位置で、このばらつきが一定の大きさEr(表示許容誤差)より大きい場合、toよりも長いtm時間計数して総計数値をNmカウントに増やす。 - 特許庁

The crystalline polymorphic form I of substantially optically pure (-)-{[4-(1,4,5,6-tetrahydro-4-methyl-6-oxo-3-pyridazinyl)phenyl]hydrazono}propanedinitrile is characterized by the X-ray diffraction pattern having specific peak positions.例文帳に追加

特定のピーク位置を有するX線回折図によって特徴づけられる(−)−[[4−(1,4,5,6−テトラヒドロ−4−メチル−6−オキソ−3−ピリダジニル)フェニル]ヒドラゾノ]プロパンジニトリルの結晶状多形体I。 - 特許庁

The laminate is obtained by laminating moldings (moldings (A)) made of a polypropylene resin including a propylene resin, and smectic crystal structure decided by wide-angle X-ray diffraction and heating them.例文帳に追加

ポリプロピレン樹脂を含み、広角X線回折により決定される結晶構造がスメクチック晶であるポリプロピレン樹脂製成形体(成形体(A))を積み重ね、加熱して得られる積層構造体。 - 特許庁

To provide a stress evaluation method and a stress evaluation device by X-ray diffraction capable of evaluating accurately and quantitatively a stress generated in a hetero interface between a crystal and a different kind of material.例文帳に追加

結晶と異種物質とのヘテロ界面に発生する応力を定量的に精度よく評価できるX線回折による応力評価方法及び応力評価装置を提供する。 - 特許庁

The powder X-ray diffraction spectrum of the hydraulic alumina at a wavelength of 1.5405 Å has a broad peak at 2θ=22°±5° and a half width based on the baseline of the broad peak of 6-20°.例文帳に追加

この水硬性アルミナは、波長1.5405Åにおける粉末X線回折スペクトルが、2θ=22°±5°にブロードなピークの頂点を有し、ブロードなピークのベースラインを基準とした半値幅が6〜20°である。 - 特許庁

例文

To enable measurement without destroying hard tissue when evaluating hard tissue is evaluating based on an X-ray diffraction method and then the evaluation of hard tissue with easiness within a short time.例文帳に追加

X線回折法に基づいて硬組織を評価する際に、硬組織を破壊することなく測定を行うことができるようにし、もって、硬組織の評価を簡単且つ短時間で行えるようにする。 - 特許庁




  
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