「electronic scanning method」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an electronic scanning radar apparatus, and a method and program for estimating the direction of a received wave, which set an appropriate order of model, based on parameters in the AR spectral estimation method without using computation with heavy operation load.例文帳に追加

演算負荷の重い計算処理を用いることなく、ＡＲスペクトル推定法におけるパラメータに基づいて、適当なモデル次数を設定する電子走査型レーダ装置、受信波方向推定方法及び受信波方向推定プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide an electronic scanning type radar system and a method and a program for estimating the direction of a received wave, which perform detection of the incoming direction of the received wave with high accuracy, without reducing detection accuracy.例文帳に追加

検出精度を低減させることなく、高い精度で受信波の到来方向の検出を行う電子走査型レーダ装置、受信波方向推定方法及び受信波方向推定プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide an organic EL device capable of performing successful image display by suppressing flicker due to periodicity of scanning line selection, a method for driving the same and an electronic device having the organic EL device.例文帳に追加

走査線選択の周期性に基づくちらつきを抑制して、良好な画像表示を行うことができる有機ＥＬ装置及びその駆動方法、並びに当該有機ＥＬ装置を備える電子機器を提供する。 - 特許庁

To provide an electronic scanning millimeter wave radar device and a received wave direction estimation program capable of reducing variable steps, and reducing an operation amount for angle detection, when detecting a received wave direction by using inherent development such as MUSIC method or a minimum norm method.例文帳に追加

MUSIC法や最小ノルム法などの固有展開を用いて到来波方向検出を行う際、可変ステップを小さくし、かつ角度検出の演算量を低減することが可能な電子走査型ミリ波レーダ装置及び受信波方向推定プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a method of analyzing a waveform with which parameters specific to a matrix type electronic device are extracted from the measured waveform of a scanning line or a signal line of the device, and a method of measuring parameters specific to a matrix type display panel and a matrix type display device.例文帳に追加

マトリクス型電子デバイス装置の走査線あるいは信号線の測定波形から装置固有のパラメータを抽出する波形解析方法、マトリクス型表示パネルおよびマトリクス型表示装置固有のパラメータを測定する測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide an electrooptical device capable of suppressing generation of parasitic capacitance at an intersection part of a scanning electrode and a signal electrode and enhancing display characteristics, to provide a manufacturing method of the electrooptical device and to provide an electronic device.例文帳に追加

走査電極と信号電極との交差部で寄生容量が発生するのを抑制でき、表示特性を向上することができる電気光学装置、電気光学装置の製造方法および電子機器を提供すること。 - 特許庁

To provide an electronic scanning type radar apparatus for detecting an arrival direction of a reception wave by a proper degree setting of an AR model and an accurate direction estimation, a reception wave direction estimating method, and a reception wave direction estimation program.例文帳に追加

ＡＲモデルの適切な次数設定と精度の良い方位推定により受信波の到来方向の検出を行う電子走査型レーダ装置、受信波方向推定方法及び受信波方向推定プログラムを提供する。 - 特許庁

This device and method is related to reading out the image points of a two-dimensional electronic image sensor, with the image being subdivided into at least two different regions; and the region of greater interest (2) which are read at a scanning rate higher than that used for the other region (3).例文帳に追加

本発明は、２次元電子画像センサの画像点を読出しする方法に係り、画像は少なくとも２つの異なる領域に細分され、関心の領域（２）は、他の領域（３）より高い走査速度で読出しされる。 - 特許庁

To provide: a method for highly precisely estimating a detection value of emitted electrons obtained by actual observation; a method for highly precisely simulating an SEM image obtained by actual observation; and a scanning electron microscope having an electronic optical system or the like set therein, so that a dummy SEM image is actually obtained.例文帳に追加

走査電子顕微鏡において、実観察で得られる放出電子の検出値を高精度に推定する方法、実観察で得られるＳＥＭ像を高精度にシミュレーションする方法と模擬ＳＥＭ像が実際に得られるように電子光学系等が設定される装置を提供する。 - 特許庁

To provide a focus adjustment method and a focus adjustment device for an imaging apparatus for an electronic component mounting device, which can reduce a scanning range in an optical axis direction as far as possible, and can efficiently set the focusing position of the imaging apparatus.例文帳に追加

光軸方向での走査範囲を可及的に少なくし得て、撮像装置の合焦位置を効率良く設定することができる電子部品実装装置用撮像装置の焦点調整方法および焦点調整装置を提供する。 - 特許庁

To provide an electronic board capable of easily distributing data obtained by scanning characters and graphics or the like drawn on a whiteboard in a conference or the like to participants of the conference or the like and other distribution destinations while ensuring the security and to provide a control method therefor.例文帳に追加

会議等でホワイトボード上に描画された文字や図形等をスキャンしたデータをその会議等の参加者やその他の配付先に対してセキュリティを確保しつつ容易に配信することができる電子ボード及びその制御方法を提供する。 - 特許庁

To provide a droplet discharging method where droplets by an amount to be required can be dropped into a part to be discharged on by scanning of small number of times, and the improvement of the discharging efficiency can be attained, to provide a droplet discharging device, to provide an electro-optic device, and to provide electronic equipment.例文帳に追加

少ない回数の走査で必要な量の液滴を被吐出部に滴下することができ、吐出効率の向上を図ることができる液滴吐出方法、液滴吐出装置、電気光学装置及び電子機器を提供すること。 - 特許庁

The method for producing exterior parts of electronic equipment includes injection molding a polylactic acid (component A) having a ratio of melting peak of ≥195°C of ≥80% in melting peaks in a temperature rising process in (A) differential scanning calorimeter (DSC) measurement at a mold temperature of 80-130°C.例文帳に追加

（Ａ）示差走査熱量計（ＤＳＣ）測定において、昇温過程における融解ピークのうち、１９５℃以上の融解ピークの割合が８０％以上であるポリ乳酸（Ａ成分）を、金型温度８０〜１３０℃の範囲で射出成形して得られる電子機器外装部品の製造方法。 - 特許庁

The method includes the steps of: inputting colorization rules (S100); scanning a previously printed monochrome document to locate rasterized data; performing optical character recognition on the rasterized data (S106) to generate a text; automatically colorizing portions of rasterized data according to the colorization rules to generate a colorized electronic document; and then outputting the colorized electronic document.例文帳に追加

カラー化ルールを入力し、以前に印刷されたモノクロマチックの文書を走査して、ラスタ化されたデータを特定(locate)し、ラスタ化されたデータについて光学的文字認識を実行して、テキストを生成し、カラー化ルールに従って、ラスタ化されたデータの部分を自動的にカラー化して、カラー化された電子文書を生成し、そして、カラー化された電子文書を出力する、ステップを含む方法。 - 特許庁

To provide an inspection method for inspecting a semiconductor by which the continuity of circuit elements in a semiconductor device can be inspected by observation by a scanning charged particle microscope such as an electronic microscope without performing such troublesome work as the random access operation of a probe, and to provide a system for obtaining the same.例文帳に追加

本発明が解決しようとする課題は、プローブのランダムアクセス操作のような厄介な作業をすることなく、電子顕微鏡等の走査型荷電粒子顕微鏡の観察から半導体デバイスにおける回路要素の導通等の検査を可能とする検査手法を提示し、それを実現するシステムを提供することにある。 - 特許庁

In this shape measurement method of the chip type electronic component, among shape profiles 10 which is obtained by scanning a laser displacement meter 4 to a corner part 1b of an object 1, a circular fitting operation is performed by extracting the part within an absolute value of extracted threshold value which a differential value f'(x) of differential profile 20 is predetermined.例文帳に追加

このチップ型電子部品の形状測定方法では、素体１の角部１ｂにレーザ変位計４を走査して得られる形状プロファイル１０のうち、微分プロファイル２０の微分値ｆ’（ｘ）が予め設定された抽出閾値の絶対値の範囲内となる部分を抽出して円フィッティングを行っている。 - 特許庁

To provide a method and a system for inspecting a semiconductor by which the continuity etc., of circuit elements in a semiconductor device can be inspected by observation by a scanning charged particle microscope such as the electronic microscope etc., without performing such troublesome work as the random access operation of a probe.例文帳に追加

本発明が解決しようとする課題は、プローブのランダムアクセス操作のような厄介な作業をすることなく、電子顕微鏡等の走査型荷電粒子顕微鏡の観察から半導体デバイスにおける回路要素の導通等の検査を可能とする検査手法を提示し、それを実現するシステムを提供することにある。 - 特許庁

A tracking processor 100 and three or more of electronic scanning type sensors 200 are provided to find a position of the target by a method of distance intersection and resection, using combination of distance informations, with respect to the same target, of the two sensors out of distances and azimuth informations with respect to the same target measured by the sensors 200, so as to remove the positioning error in the azimuth direction.例文帳に追加

追尾処理装置１００と３つ以上の電子走査式センサー２００を設け、各電子走査式センサー２００により測定された同一目標の距離と方位情報の内、２つのセンサーの同一目標に対する距離情報の組合せを利用して、目標の位置を距離交会法で求め、方位方向の測位誤差を除去する。 - 特許庁