1153万例文収録!

「high-resolution analysis」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索


小窓モード

プレミアム

ログイン
設定

設定

Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > high-resolution analysisの意味・解説 > high-resolution analysisに関連した英語例文

セーフサーチ:オン

不適切な検索結果を除外する

不適切な検索結果を除外しない

セーフサーチについて

high-resolution analysisの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 73



例文

DIFFERENTIAL TAGGING OF POLYMER FOR HIGH-RESOLUTION LINEAR ANALYSIS例文帳に追加

高分解能線形解析用のポリマーの差示的タグ付け - 特許庁

AUTOMATIC DILUTION SYSTEM FOR HIGH-RESOLUTION PARTICLE SIZE ANALYSIS例文帳に追加

高分解能粒度分析を行うための自動希釈システム - 特許庁

HIGH-RESOLUTION X-RAY MICROSCOPIC APPARATUS WITH FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS FUNCTION例文帳に追加

蛍光X線分析機能付き高分解能X線顕微装置 - 特許庁

Reverse face analysis of high resolution is conducted using the semiconductor hemisphere 1c as a solid immersion lens.例文帳に追加

この半導体半球1cを固体浸レンズとして高分解能の裏面解析を行う。 - 特許庁

例文

To reduce cost by detecting the signals from both a monitoring analysis and a high-resolution analysis, through the only detector.例文帳に追加

唯一の検出器によりモニタリング分析及び高分解能分析の両方の信号検出を行うことでコストを低減する。 - 特許庁


例文

To provide an X-ray analysis device can obtain high energy resolution without monitoring a known X-ray.例文帳に追加

X線分析装置において、既知なX線をモニターする必要が無く、高エネルギー分解能を得ること。 - 特許庁

Observation of high resolution and analysis for the sample material are allowed thereby using a TEM.例文帳に追加

これによって、TEMを用いた高解像度の観察および試料材料の分析が可能となる。 - 特許庁

To provide a frequency analysis device capable of analyzing frequency at high speed by enhancing the resolution of frequency analysis of a received signal and extending the dynamic range.例文帳に追加

受信した信号の周波数分析の分解能を高くし、ダイナミックレンジを広くして周波数を高速に分析できる周波数分析装置を提供する。 - 特許庁

To provide a light spectrum analysis means of a heterodyne base that reduces the amount of data to be processed and at the same time is capable of analysis with high resolution.例文帳に追加

処理するデータ量を減少させると共に、高い分解能による分析が可能なヘテロダイン・ベースの光スペクトル分析手段を提供する。 - 特許庁

例文

To provide a fluid analysis device, fluid analysis method, and fluid analysis program that have high versatility, can uniformly handle wettability model, and can accurately perform analysis even if space resolution is low.例文帳に追加

汎用性が高く、濡れ性モデルを統一的に取り扱うことができ、空間解像度が粗くても精度よく解析を行なうことができる流体解析装置、流体解析方法及び流体解析プログラムを提供する。 - 特許庁

例文

To provide a semiconductor crystal defect testing method, etc. which uses cathode luminescence (CL) that enables checking of the measurement position at a high spacial resolution, and a sample analysis at a high spacial resolution.例文帳に追加

高空間分解能で測定位置の確認ができ、且つ高空間分解能で試料分析ができるカソードルミネッセンス(CL)を用いた半導体結晶欠陥検出方法等を提供する。 - 特許庁

To provide an X-ray analysis method and an X-ray analysis apparatus which can obtain a sample image having a high resolution in a state in which a reference hole is kept in such a size that the reference hole can be processed.例文帳に追加

X線分析方法及びX線分析装置に関し、参照孔を加工可能なサイズに保った状態において、高い分解能の試料イメージを得る。 - 特許庁

To provide a fluorescent X-ray analyzer that can easily make high- linearity and high-resolution analysis by broadly coping with samples having different compositions.例文帳に追加

組成の異なる試料に幅広く対応して、リニアリティと分解能がともに高い分析を容易に行える蛍光X線分析装置を提供する。 - 特許庁

To enable a high-resolution high-sensitivity analysis by maintaining the A/D converter input voltage constantly at an appropriate level across the whole wavelength range.例文帳に追加

本発明は、全波長域にわたりA/D変換器への入力電圧を常に適切なレベルに保ち高分解能を維持して高感度分析を実現する。 - 特許庁

To provide a method of obtaining a dark field image having high spatial resolution, a dark field image photographing device, and an angle analysis plate.例文帳に追加

高い空間解像度が得られる暗視野画像を得る方法、暗視野画像撮影装置及び、角度分析板を提供する。 - 特許庁

The digital imaging apparatus automatically adjusts the focus and exposure on the basis of a high resolution frame when a scene change is detected on the basis of analysis of a low resolution frame.例文帳に追加

デジタル撮像装置は、低解像度フレームの解析に基づいてシーン変化が検出されたときに、高解像度フレームに基づいて自動的な焦点および露出調整を行う。 - 特許庁

To record or display photographed image data of high resolution when abnormality has occurred by detecting abnormality by image analysis without using a processor structure which can bear a high load.例文帳に追加

高負荷に耐え得る装置構成を用いることなく、画像解析により異常を検出し、異常時における高解像度の撮影画像データを記録、又は表示する。 - 特許庁

To carry out structural analysis of molecules by selecting target ions with a high mass resolution and analyzing ion fragments generated by cleaving the target ions.例文帳に追加

高い質量分解能で目的イオンを選別し、その目的イオンを開裂させたイオン断片を分析して分子の構造解析を行う。 - 特許庁

To provide a two-dimensional spectroscopic element for X-ray having high spatial resolution for a fluorescent X-ray two-dimensional analysis and a two-dimensional distribution measuring instrument.例文帳に追加

蛍光X線二次元分析のための、空間分解能の高いX線用二次元分光素子及び二次元分布測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a fluorescence X-ray three-dimensional analyzer capable of highly-accurate fluorescence X-ray three-dimensional analysis with high three-dimensional position resolution.例文帳に追加

高い三次元位置分解能で高精度の蛍光X線三次元分析を可能とする蛍光X線三次元分析装置を提供する。 - 特許庁

To enable changeover between a primary mass spectrometry mode which allows for the short-term repeated analysis and a secondary mass spectrometry mode which allows for the high mass resolution and high-precision analysis, using a single mass spectrometer according to the analytical purpose.例文帳に追加

分析目的に応じて、1台の装置で、短時間の繰り返し分析が可能である第1質量分析モードと高質量分解能、高精度の分析が可能な第2質量分析モードとの切り替えを可能とする。 - 特許庁

To obtain a photoemission electron microscope of which position alignment of an analysis portion and a photoelectron observation portion by an Auger electron spectral analysis on the test piece for obtaining a photoelectron observation image with high resolution is easy.例文帳に追加

分解能の高い光電子観察画像を得るために、試料上で、オージェ電子分光分析による分析部位と光電子観測部位との位置合わせが容易な光電子顕微鏡装置を得る。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of performing a chirality distribution in a polymer structure of protein and an analysis of a magnetic domain structure at high resolution.例文帳に追加

タンパク質等の高分子構造におけるカイラリティ分布や、磁区構造の解析を高分解能で行うことが可能な走査電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

We intend to exploit an aberration-corrected probe containing a larger current in both EELS and EDS analysis at ultra-high spatial resolution. 例文帳に追加

より大きな電流を含んでいる(積載している)収差補正されたプローブを超高空間分解能でのEELS、およびEDS分析の両方に役立てるつもりである。 - 科学技術論文動詞集

To realize a desired horizontal direction space resolution, while keeping a vertical direction space resolution as high as possible, and to reduce properly an influence of a noise, in density analysis by X-ray CT data.例文帳に追加

X線CTデータによる密度分析について、垂直方向空間分解能をできるだけ高く保ちつつ所望の水平方向空間分解能を実現し、なおかつノイズの影響を適切に低減できるようにする。 - 特許庁

Thus, the light pulse transmitted at time interval of high resolution is received, and is digitized by an A/D converter 36, and histogram analysis is performed by a histogram unit 42.例文帳に追加

このように高分解能にした時間区分で送られた光パルスが受光され、A/D変換部36でデジタル化され、ヒストグラムユニット42でヒストグラム解析が行われる。 - 特許庁

To make it possible to obtain in real-time a clear microscopic observation image which has a high spatial resolution without imparting any influence on mass spectrometry even while performing the analysis.例文帳に追加

質量分析に影響を与えることなく高い空間分解能で明瞭な顕微観察画像を、分析実行中にもリアルタイムで取得できようにする。 - 特許庁

To provide a high resolution structure of an adenosine monophosphate(AMP) deaminase protein by X-ray analysis and elucidate the actuality of enzymic actions from the analytical image thereof.例文帳に追加

アデノシン1リン酸デアミナーゼタンパク質をX線解析することにより高解像度構造を得る事と、その解析画像から酵素作用の実際を解明する事を課題とする。 - 特許庁

To provide a frequency analysis system capable of measuring a short-term fluctuation component with high resolution while automatically tracking the long-term fluctuation of the frequency of a measured signal.例文帳に追加

被計測信号の周波数の長期的変動に自動的に追従しつつ、短期的な変動成分を高分解能にて計測する周波数解析システムを提供する。 - 特許庁

To provide a spectral analysis system with high resolution and sensitivity that sweeps wavelength in a wide wavelength area by a single system and easily calibrates the wavelength.例文帳に追加

単一のシステムで、広い波長領域での波長掃引が可能であって、波長の校正も容易であり、しかも高分解かつ高感度な分光分析システムを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor radiation detector that has high energy resolution and detection sensitivity and is suited for the energy spectrum analysis of radiation and an image detector such as a gamma camera.例文帳に追加

高いエネルギー分解能と検出感度を有し、放射線のエネルギースペクトル解析やガンマカメラなどの画像検出器に好適な半導体放射線検出器を提供する。 - 特許庁

An analysis is commenced, such that a sample gas that passes through the first column 8 is made to flow into the resistive tube channel 14, and a channel is switched at a predetermined time point, when a high-resolution analysis is carried out, such that the sample gas is made to flow into a second column 13.例文帳に追加

まず第1カラム8を経た試料ガスを抵抗管路14に流すようにして分析を開始し、高分解能分析を行う所定の時点で試料ガスを第2カラム13に流すように流路を切り替える。 - 特許庁

To provide an ionization device, an ionizing method, a mass spectrograph and a micro-area analyzer for conducting analysis in a micro area with high resolution, using the mass spectrograph.例文帳に追加

質量分析装置を用いて微小領域における分析を高い分解能で行うためのイオン化装置、イオン化方法、質量分析装置および微小領域分析装置を提供する。 - 特許庁

In this manner, ions having different masses mixed while circling the circular orbit P can be surely detected, and thereby, analysis with high mass resolution can be performed.例文帳に追加

このようにして、周回軌道Pを周回する間に混在した異なる質量のイオンも確実に分離して検出できるから、高い質量分解能での分析を行うことができる。 - 特許庁

To provide a radiation detector which is capable of measuring heavy ions and ultra-high molecules with satisfactory energy resolution, high detection efficiency, and satisfactory temporal accuracy, at a high speed and hardly affected by heat radiated from a particle source, and to provide an analysis apparatus using the radiation detector.例文帳に追加

重イオンや超高分子をエネルギー分解能良くかつ検出効率も高く、高速で時間精度良く測定でき、粒子源からの輻射熱の影響も受け難い放射線検出器およびその放射線検出器を用いた分析装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a method and device for encoding an acoustic signal, which can improve time resolution in an analysis while maintaining the same level of frequency analysis accuracy as conventional one, and can extract a frequency variation in a speech signal with high accuracy mainly.例文帳に追加

従来と同等な周波数解析精度を維持しながら、解析における時間分解能を向上させ、主として音声信号における周波数変動を高精度に抽出することが可能な音響信号の符号化方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide a specimen table and a specimen fixing method, capable of surely fixing a minute specimen hard to be fixed by conventional methods, with a simple operation, and capable of performing high resolution FDX analysis hard to be performed by the conventional methods.例文帳に追加

本発明の目的は、従来法では困難であった微小試料片の固定が簡単な操作で、確実に固定可能な試料台および試料固定方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a storage phosphor sheet which has high resolution, and is capable of developing data for biochemical analysis with excellent quantitative properties and capable of preventing a stimulable phosphor from being degraded.例文帳に追加

高い分解能で、定量性に優れた生化学解析用データを生成することを可能とするとともに、輝尽性蛍光体を劣化させるおそれがない蓄積性蛍光体シートを提供する。 - 特許庁

Consequently, fundamentally excellent automatic measurement of resolution can be executed appropriately with high reproducibility even in an oblique direction of 45° through analysis based on the continuity of the chart.例文帳に追加

これにより、斜め45度方向に対しても、チャート線の連続性に着目した解析による、再現性が高く、かつ原理的に優れた解像度の自動測定を適切に実行させることを可能とする。 - 特許庁

To provide a minute sample processing/observing device and a minute sample processing/observing method, which execute cress section observation and analysis of a wafer cross section from a horizontal direction to a vertical direction without dividing the wafer used as a sample, with high resolution, high precision and high throughput.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能,高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

To provide a minute sample working observation apparatus and a minute sample working observation method where cross-sectional observation and analysis of wafer cross section from horizontal direction up to vertical direction can be performed with high resolution, high precision and high throughput, without breaking the wafer which is to become samples.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能,高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

To provide a trace sample working observation apparatus and a minute sample working observation method where cross-sectional observation and analysis of wafer cross section from horizontal direction up to vertical direction can be performed with high resolution, high precision and high throughput, without having to breaking the wafer which is to become samples.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方角からの断面観察や分析を高分解能,高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

To realize a minute sample processing observation device and a minute sample processing observation method where cross-sectional observation and analysis of a wafer cross section from a horizontal direction up to a vertical direction can be performed with high resolution, high precision and a high throughput, without breaking the wafer to be a sample.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能,高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

To realize a micro testpiece processing and an observation device wherein cross-sectional observation and analysis of the wafer cross-section from horizontal to vertical direction can be made in high resolution and high precision with a high throughput, without splitting in pieces the wafer being a testpiece, and a micro testpiece processing and observation method.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能,高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for observing the processing of a minute sample where the cross-sectional observation and analysis of a wafer cross section from a horizontal direction to a vertical direction can be performed with a high resolution, high precision and high throughput, without breaking a wafer being the sample.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能,高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

To provide a device for processing and observing a microscopic sample and a method for processing and observing the same, whereby the cross-sectional observation and analysis of a wafer cross-section can be performed with high resolution, high precision and high throughput from various directions from horizontality to verticality without breaking a wafer used as a sample.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能,高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

To provide a device of processing/observing a minute sample and a method of processing/observing a minute sample, which can execute cross section observation and analysis of a wafer cross section from a horizontal direction to a vertical direction without dividing the wafer used as a sample, with high resolution, high precision and high throughput.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能,高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

To achieve a minute sample processing observation device and a minute sample processing observation method where cross-sectional observation and analysis of a wafer cross section from a horizontal direction up to a vertical direction can be performed with high resolution, high precision and a high throughput, without breaking the wafer which is to become a sample.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能,高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

To realize a micro testpiece processing and observation device in which cross-sectional observation and analysis of the wafer cross-section from horizontal to vertical direction can be made in high resolution and high precision with a high throughput, without splitting in pieces the wafer being a testpiece, and a micro testpiece processing and observation method.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能,高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

例文

To provide a minute sample processing observation device and a minute sample processing observation method capable of executing cross-section observation and analysis of a wafer cross section from directions from a horizontal direction to a vertical direction without dividing a wafer used as a sample, with high resolution, high precision and high throughput.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能,高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁




  
科学技術論文動詞集
Copyright(C)1996-2026 JEOL Ltd., All Rights Reserved.
  
Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
こんにちは ゲスト さん

ログイン

Weblio会員(無料)になると

会員登録のメリット検索履歴を保存できる!

会員登録のメリット語彙力診断の実施回数増加!

無料会員に登録する
英→日 日→英
こんにちは ゲスト さん

ログイン

Weblio会員(無料)になると

会員登録のメリット検索履歴を保存できる!

会員登録のメリット語彙力診断の実施回数増加!

無料会員に登録する

©2026 GRAS Group, Inc.RSS