「input test」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

At testing, the tristate buffers 7A and 7B are in an off-state, the input and output terminals 1A and 1B are connected to the scan passes 3_1-3_m and 3_m+1-3_n respectively to input test data.例文帳に追加

テスト時、３ステートバッファ７Ａ，７Ｂをオフ状態にし、入出力端子１Ａ，１Ｂをそれぞれスキャンパス３_1 〜３_m ，３_m+1 〜３_n に接続してテストデータを入力する。 - 特許庁

To efficiently execute the operation test of an input/output circuit of a semiconductor memory device operating at a data input/output frequency higher than an internal operation frequency.例文帳に追加

内部動作周波数よりも高いデータ入出力周波数で動作する半導体記憶装置において、データ入出力回路の動作テストを効率的に実行する。 - 特許庁

The tester 100 has input ports 105, 115 having an input terminal for receiving test signals from a probe 300 and a power output terminal for feeding power, respectively.例文帳に追加

試験機器１００の入力ポート１０５、１１５の各々は、プローブ３００からの試験信号を受ける入力端子と、電力を供給する電源出力端子を有する。 - 特許庁

An output signal from a delay circuit 21 delaying the input signal and a signal applied to a test signal input terminal test2 are given to the OR circuit 23.例文帳に追加

オア回路２３には、入力信号を遅延した遅延回路２１の出力信号とテスト信号入力端子ｔｅｓｔ2 に印加された信号とが入力される。 - 特許庁

After setting a layout region 103 of the boundary scan test circuit in an input/output cell 100, the layout of the input/output cell 100 and an inner logic circuit (not shown) is performed.例文帳に追加

入出力セル１００に、バウンダリスキャンテスト回路の配置領域１０３を設定した後、同入出力セル１００や内部論理回路（図示略）のレイアウトを行う。 - 特許庁

To provide a sorting machine of an acoustic input product for testing a lot of acoustic input products at high speed and performing sorting work based on the test results.例文帳に追加

高速に多量の音響入力製品をテストして、検査結果による分類作業を行うことができる音響入力製品の選別装置に提供すること。 - 特許庁

And the pick and place device is installed in the input/output area between the transfer device and the input/output tray so as to take in and out for the waiting component for test or the tested component.例文帳に追加

また、テスト待ち部品またはテスト済み部品を出し入れするように、移載装置とインプット／アウトプット・トレイの間にインプット・アウトプットエリアに取放装置を設ける。 - 特許庁

By controlling input to equipment according to the 3D position information of the test object detected by this position detection device, an input device can be configured.例文帳に追加

この位置検出装置による被検物体の３次元の位置情報に応じて機器への入力を制御することにより、入力装置を構成することが出来る。 - 特許庁

This surge tester 100 is for performing a surge test on a testing object correspondingly to an input signal input from an impressed waveform generator 11 generating an impressed waveform.例文帳に追加

サージ試験装置１００は、印加波形を発生する印加波形発生器１１から入力される入力信号に応じて被試験対象のサージ試験を行う。 - 特許庁

A similarity calculation section 50 uses the transformation matrix in DB40 to transform a feature representation of an input test cluster.例文帳に追加

類似度計算部５０は、入力されたテストクラスタの特徴表現をＤＢ４０の変換行列にて変換する。 - 特許庁

Then, the test tube with the stuck label is input into a holding hole of a rack body, and erected and held uprightly.例文帳に追加

そして、貼着後の試験管をラック本体の保持孔へ投入してこれを直立状に起立保持するようにしている。 - 特許庁

A user does not generate signal data 32 itself through an input device 1, but specifies environmental conditions of a test.例文帳に追加

利用者は、入力装置１から、信号データ３２そのものを作成するのではなく、試験の環境条件を指定する。 - 特許庁

An input buffer 12 outputs an output of the phase comparing circuit to a data output terminal in a test mode.例文帳に追加

入出力バッファ１２はテストモードにおいて位相比較回路１８の出力をデータ出力端子に出力する。 - 特許庁

To supply a program code input from a single terminal to a plurality of BIST (Built-In Self Test) circuits in parallel.例文帳に追加

単一の端子から入力したプログラムコードを複数のＢＩＳＴ（組み込み自己テスト）回路へ並列に供給する。 - 特許庁

To count up a counter, without having to input clocks as many as the expected count number, and greatly reduce the test pattern length.例文帳に追加

期待したカウント数分のクロックを入力すること無くカウンタをカウントアップでき、テストパターン長を大幅に削減する。 - 特許庁

The determination unit 300 compares the input voltage V1 with the test voltage VT, and outputs a result signal.例文帳に追加

前記判定部３００は前記入力電圧Ｖ１及び前記テスト電圧ＶＴを比較して結果信号を出力する。 - 特許庁

Each test mode circuit includes plural decoding circuits AD#1,... decoding an input signal and plural latch circuits AL#1,....例文帳に追加

各テストモード回路は、入力信号をデコードする複数のデコード回路ＡＤ♯１、…と複数のラッチ回路ＡＬ♯１、…とを含む。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device, of which the adjustment of input/output timing on various test patterns is possible.例文帳に追加

様々なテストパターンでの入出力タイミング調整が可能な半導体集積回路装置を提供することにある。 - 特許庁

By inputting the test signal temporarily, the fluctuation of the detection value of a gas concentration before and after such temporal input is suppressed.例文帳に追加

一時的に試験信号を入力することで、その前後におけるガス濃度の検出値の変動を抑制する。 - 特許庁

To a flip-flop FF2, the internal clock signal 2CLK is input by a clock selector CS for a loop-back test.例文帳に追加

またフリップフロップＦＦ２には、ループバック試験には、クロックセレクタＣＳによって内部クロック信号２ＣＬＫが入力される。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory having a data compression test function provided with an input circuit superior in load balance.例文帳に追加

負荷バランスの優れた入力回路を備えたデータ圧縮テスト機能を有する半導体記憶装置を提供すること。 - 特許庁

A conditional parameter group examines the user input from previous parameter groups and only displays its parameter prompts if a single parameter fits a test. 例文帳に追加

これは、前のパラメータグループでのユーザの入力を検証し、それが条件を満たす場合にのみプロンプトを表示します。 - PEAR

The test function uses this drawable as input to a flo which does ConvertFromIndex - ConvertToIndex and sends the resulting image to the right window.例文帳に追加

テスト関数は、このドロウアブルをConvertFromIndex -> ConvertToIndex を行う flo への入力として用い、結果として得られたイメージを右のウィンドウに送る。 - XFree86

To enable a highly accurate trouble analysis for a DUT not operated stably even if a same test pattern is input.例文帳に追加

同一テストパターンを入力しても動作が安定しないＤＵＴに対して精度の高い故障解析を可能とする。 - 特許庁

The names of data items given as the attributes of the data format information 12 of input data are used as the instance values of the test data.例文帳に追加

入力データのデータフォーマット情報１２の属性として与えられるデータ項目名を、テストデータのインスタンス値とする。 - 特許庁

The method and apparatus for identifying the semantic structure from the input test forms at least two candidate semantic structures.例文帳に追加

入力テキストから意味構造を識別する方法及び装置は、少なくとも２つの意味構造候補を形成する。 - 特許庁

To provide a controller for integrated circuit test that allows a highly precise operation test for an integrated circuit to be performed without increasing the number of pins for the output terminal and an input terminal of a tester or the like.例文帳に追加

テスター等の出力端子や入力端子のピン数を増やさなくとも集積回路の高精度な動作試験を可能とする集積回路テスト制御装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device which can perform a test of many device en bloc even in a test device testing a semiconductor integrated device in a state in which input/output pins are short-circuited.例文帳に追加

入出力ピンを短絡した状態で半導体集積回路装置をテストするテスト装置においても、多数個の一括テストが可能な半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

When a test is made, a test signal from an external LSI tester is directly inputted into the memory element 31 by a control signal for the input changeover circuit 21 from the outside.例文帳に追加

テスト時には、外部からの入力切り替え回路制御信号によって、外部のＬＳＩテスタからのテスト信号が直にメモリ素子３１に入力される構成とされている。 - 特許庁

At the first step, the mode selection signal of every other component module is set to an output test mode, and the mode selection signal of the component module therebetween is set to an input test mode.例文帳に追加

第１ステップでは、１つおきの成分モジュールのモード選択信号を出力テストモードへセットし、それらの間の成分モジュールのモード選択信号を、入力テストモードへセットする。 - 特許庁

The test results inputted from an input section 1 under the control of a control section 4 are registered in a test result DB 6 and the number of correct answers by fields is registered into the number-of-correct-answer-by-field DB 10.例文帳に追加

制御部４の制御下、入力部１より入力された試験結果は試験結果ＤＢ６に登録され、分野別正解数が分野別正解数ＤＢ１０に登録される。 - 特許庁

The selector is controlled to select, for execution of the scan test, the input signal 4 of the non-scan block and select, for non-execution of the scan test, the output signal of the non-scan block.例文帳に追加

セレクタは、スキャンテストを行なう場合は非スキャンブロックの入力信号４を選択し、スキャンテストを行なわない場合は非スキャンブロックの出力信号を選択するように制御される。 - 特許庁

A single loop is formed allowing the test signal generated by the control CPU 1 to be input to the SDO terminal of the control CPU 1 through the board under test 2 and the jig 3.例文帳に追加

制御ＣＰＵ１で発生した試験信号が被検査基板２、治具３を経由して制御ＣＰＵ１のＳＤＯ端子に入力されて一巡する単一ループが形成される。 - 特許庁

When the functional operation of the semiconductor circuit 30 itself is to be tested, the test data is fed to an input terminal TDI, and a test control signal is fed to control terminals TCK and TMS, and TRST.例文帳に追加

半導体テスト回路３０自体の機能動作をテストする場合、テストデータを入力端子ＴＤＩに入力すると共に、テスト制御信号を制御端子ＴＣＫ，ＴＭＳ，ＴＲＳＴに入力する。 - 特許庁

To provide a test system for efficiently executing the test of a broadcasting type data transmitter for which input and output data are changed timewise from moment to moment regardless of real time.例文帳に追加

入力データと出力データが時間的に刻々と変化する放送型データ送出装置のテストを実時間に関係なく効率良く実施するためのテストシステムの実現を目的とする。 - 特許庁

A test table generation device includes: an equipment set input part 1: an upstream book analysis part 3; an equipment characteristic acquisition part 4: an equipment characteristic matching part 5; and a test table generation part 14.例文帳に追加

試験テーブル生成装置は、機器集合入力部１と、上流図書解析部３と、機器特性取得部４と、機器特性マッチング部５と、試験テーブル生成部１４とを備える。 - 特許庁

This multivariable test function generation system 1 is configured to generate multivariable test functions for classifying input data having the element data of a plurality of elements into a plurality of clusters.例文帳に追加

本発明に係る多変数テスト関数生成システム１は、複数要素の要素データを有する入力データを複数のクラスに分類するための多変数テスト関数を生成するシステムである。 - 特許庁

To provide an electrostatic capacitance-type input device, a method of testing the electrostatic capacitance-type input device capable of reliably detecting whether or not a short circuit is formed in the electrodes used for detecting an input position without using a large-scale test device, and a driving device for an electrostatic-type input device capable of implementing such a test method.例文帳に追加

大掛かりな検査装置を用いなくても、入力位置検出用の電極が断線しているか否かを確実に検出することのできる静電容量型入力装置、該静電容量型入力装置の検査方法、およびかかる検査方法を実現可能な静電容量型入力装置用駆動装置を提供すること。 - 特許庁

The present method is used to monitor a network, a path selector that can select between a first input and a second input is prepared, the first input is coupled to a CPE interface (I/F) that is operable to receive signals from client premises equipment (CPE), and the second input is connected to a test signal generator that is operable to generate test signals.例文帳に追加

本方法はネットワークを監視するために使用され、第1入力及び第２入力の間で選択できる経路選択器を用意し、第1入力は、顧客宅内機器（ＣＰＥ）からの信号を受信するＣＰＥインターフェース（Ｉ／Ｆ）に結合され、第２入力は、テスト信号を生成するテスト信号生成器に接続される。 - 特許庁

To provide a terminal for determining a urine examination result by a strip of urine examination test paper capable shortening a time required for an input by preventing an input leak or an input mistake, and capable of performing a digital output while suppressing cost low.例文帳に追加

入力漏れや入力ミスを防止し、入力に要する時間を短縮でき、コストを低く抑えながらもデジタル出力できる、尿検査試験紙による尿検査結果の判定用端末を提供すること。 - 特許庁

Design data D101 including circuit data of a test point and information relevant to the test method attached to this test point is input, and design data having undergone code analysis by a design data code analysis section K102 in a data input section K101 is stored in a storage device 700 with a database storage section K103.例文帳に追加

テストポイントの回路データと、このテストポイントに付属するテスト手法に関連した情報を含む設計データＤ１０１を入力し、データ入力部Ｋ１０１における設計データコード解析部Ｋ１０２によるコード解析を経た設計データがデータベース格納部Ｋ１０３により記憶装置７００に格納される。 - 特許庁

The testing device include: input terminals CN1-CN12 which enable the input of one or more types of test data obtained as a result of a test covering a game machine; and a memory 321 on which inputtable data are stored which represents the types of the test data to be outputted from the game machine involved corresponding to machine type data for identifying the game machine.例文帳に追加

遊技機による試験の結果であり１以上の種類がある試験データを入力可能な入力端子ＣＮ１〜ＣＮ１２を有するとともに、遊技機を識別するための機種データに対応して、当該遊技機から出力される試験データの種類を表す入力可能データが記録されたメモリ３２１を備える。 - 特許庁

In a test pattern generating apparatus 1 for generating a test pattern to be used for evaluating the image quality of a display 5, based on the resolution of the display 5 or the standard of an input signal to the display 5, a display condition input section 2 sets the output conditions for outputting the test pattern onto the display 5.例文帳に追加

ディスプレイ５の画質評価に使用するテストパターンを生成するための、テストパターン生成装置１において、表示条件入力部２が、ディスプレイ５の解像度あるいはディスプレイ５への入力信号の規格等に基づいて、ディスプレイ５にテストパターンを出力するための出力条件を設定する。 - 特許庁

A closed loop is formed to supply an output data of the digital filter 1 to an input side by multiplexers 2, 3 of the test device, a controller 8 sets the test data in the input side of the digital filter 1 under the condition where the closed loop is formed, and arithmetic processing is executed to carry out a functional test automatically.例文帳に追加

テスト装置１９のマルチプレクサ２及び３によって、デジタルフィルタ１の出力データを入力側に与えるように閉ループを形成し、コントローラ８は、閉ループを形成した状態でデジタルフィルタ１の入力側にテストデータを設定し、演算処理を実行させて機能テストを自動的に行なう。 - 特許庁

The number of input/output pads can be constricted in a performance test by connecting input/output pads 1a to 1d to common testing wirings 14a, 14b via switching circuits 13a to 13d which are made conductive based on a test mode signal TM.例文帳に追加

入出力パッド１ａ〜１ｄは、テストモード信号ＴＭに基づいて導通するスイッチ回路１３ａ〜１３ｄを介して共通の試験用配線１４ａ，１４ｂに接続して、動作試験時に入出力パッド数を圧縮可能とする。 - 特許庁