「input test」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

Using the analogue signal input terminal 1 and the A/D converter 5, the test mode is set, so that only a single test mode setting terminal 3 is required.例文帳に追加

アナログ信号入力端子１及びＡ／Ｄコンバータ５を利用して、テストモードの設定を行うので、テストモード設定用端子３は１個で済む。 - 特許庁

The input test pattern is inputted into the logic circuit prior to the replacement of the sequence circuit by the combination circuit, thereby generating an expectation value test pattern (step S3).例文帳に追加

そして、順序回路を組み合わせ回路で置換する前の論理回路に上記入力テストパターンを入力して期待値テストパターンを生成する（ステップＳ３）。 - 特許庁

To provide a test pattern for verification generating system that is capable of facilitating a pattern input and generating an easily understood test pattern having excellent visibility.例文帳に追加

容易にパタン入力ができ、視認性の良くて分かり易い検証用テストパタンを生成することができる検証用テストパタン生成システムを提供する。 - 特許庁

The gateway device 5 transfers communication data input into the train operation control system 1 during working as test data to the test system 6.例文帳に追加

そして、ゲートウェイ装置５は、稼動中の列車運行管理システム１に入力される通信データを試験データとして試験系システム６へ転送する。 - 特許庁

The test circuit 8 tests the functions of a main circuit part 2, on the basis of test data given to it, from the input terminal 3 via the output selection circuits 4, 5.例文帳に追加

そして、テスト回路８は、入力端子３より出力選択回路４，５を経由して与えられるテストデータに基づいて主回路部２の機能をテストする。 - 特許庁

To execute a test of an input/output buffer circuit of a semiconductor integrated circuit without preparing exclusive test data nor inserting a special circuit.例文帳に追加

半導体集積回路の入・出力バッファ回路のテストを、専用のテストデータを用意したり特殊な回路を挿入したりすることなく、行い得るようにする。 - 特許庁

Provided that, the output fixing circuit is a circuit for outputting the same signals as input during a multi-cycle test, and outputting an arbitrary fixed value during a single cycle test.例文帳に追加

但し、出力固定回路は、マルチサイクルテスト時には、入力と同じ信号を出力し、シングルサイクルテスト時には、任意の固定値を出力する回路である。 - 特許庁

The arrangement of the test input area pad enables the test implementation of the recovery memory without inserting any isolation circuit to reduce wiring congestion.例文帳に追加

テスト入出力用エリアパッドの配置により、アイソレーション回路を挿入することなく救済メモリのテスト実施が可能となり、配線混雑が緩和される。 - 特許庁

To generate a possible small-size set, at a high speed, that includes many test cases matching with a set of existing test cases given as an input.例文帳に追加

入力として与えられた既存のテスト・ケースの集合と一致するものを多く含み、なるべく小さいサイズの集合を、高速に生成する。 - 特許庁

A simulation is executed (step 1), an input/output switch timing of an integrated circuit is calculated to create a test program and a test pattern (step 2, step 3).例文帳に追加

シミュレーションを実行して（ステップ１）集積回路の入出力の切替えタイミングを算出し、テストプログラムとテストパタンとを作成する（ステップ２，ステップ３）。 - 特許庁

To attain a register test circuit to test a register in an integrated circuit automatically and at high speed with a few input/output from/to outside.例文帳に追加

外部に対してのデータの入出力が少なく、自動的にかつ高速に集積回路内のレジスタのテストを行うレジスタテスト回路の実現を課題とする。 - 特許庁

At the IO degeneration mode test, input/output characteristics of all DQ buffers 9a-9d can be performed, and defective receiving of a final test can be prevented.例文帳に追加

ＩＯ縮退モードテスト時にすべてのＤＱバッファ９ａ〜９ｄの入出力特性を行なうことができ、ファイナルテストの受入不良をなくすことができる。 - 特許庁

And the simulation test bench to be inputted in the corresponding input signal line is generated by reading the test pattern file and performing bit distribution (a step 12).例文帳に追加

そして、そのテストパターンファイルを読み込み、ビット分配して対応する入力信号線へ入力するシミュレーションテストベンチを生成する（ステップ１２）。 - 特許庁

A test signal generator 66 generates a test signal which can be inputted into the integrated circuit 6 in accordance with an input of the signal outputted from the control unit 11.例文帳に追加

テスト信号発生部６６は、制御部１１から出力された信号の入力に応じて、集積回路６に入力可能なテスト信号を発生する。 - 特許庁

It is so input and set from the operation display panel part 1 that useless data is deleted in accordance with the test conditions among the data of the test result.例文帳に追加

試験結果のデータのうち試験条件に応じて不用なデータがあればデリートするものとして操作表示パネル部１から入力設定する。 - 特許庁

The operation verification device combines the program and the input data to form execution sets and a test scenario as well, and subsequently continuously executes the respective execution sets to thereby automatically execute an operation test by a test program.例文帳に追加

プログラムと入力データを組み合わせて実行セット、更には、テスト・シナリオを構成した上で、各実行セットを連続実行させることにより、テスト・プログラムによる動作テストが自動実行される。 - 特許庁

The test board is provided with a socket for mounting a non-test device, and first and second signal lines connected between an output terminal, an input terminal of the non-test device and a switch, respectively.例文帳に追加

テスト基板には、非テストデバイスを搭載させるソケットと、上記非テストデバイスの出力端子と入力端子とスイッチとの間をそれぞれ接続する第１及び第２信号線が設けられる。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory equipped with a test circuit whose I/O constitution is small and which is useful for shorting the test time of a DRAM and simplifying the test process, and to suppress the variation and dispersion of input capacity.例文帳に追加

Ｉ／Ｏ構成の小さいＤＲＡＭのテスト時間の短縮とテスト工程の簡略化に役立つテスト回路を備えた半導体記憶装置を提供し、入力容量の変化やばらつきを抑制する。 - 特許庁

To reduce the number of terminals for a burn-in test signal by dispensing with input of the burn-in test signal from each external terminal in each scan chain in a burn-in test of a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路のバーンイン試験において、スキャンチェーン毎にそれぞれの外部端子からバーンイン試験用信号を入力することを不要にしてバーンイン試験用信号のための端子数を減らす。 - 特許庁

In a personal computer (PC), when instructions to output a test image is input by a test image forming section (Yes in #1), a command part instructs the output of the test image to an image forming apparatus (#2).例文帳に追加

パーソナルコンピュータ（ＰＣ）は試験画像生成部により試験画像を出力する指示が入力されると（♯１でＹＥＳ）、指令部は試験画像の出力を画像形成装置に指示する（♯２）。 - 特許庁

The test management device 600 records a function corresponding to data input operation to a test target device 402 into an operation content file, and transmits the operation content file to the test execution device 500.例文帳に追加

試験管理装置６００は、試験対象装置４０２に対するデータ入力操作に対応する関数を操作内容ファイルに記録し、その操作内容ファイルを試験実行装置５００へ送信する。 - 特許庁

To ensure an external terminal required for a test input for inputting a test signal to a functional block so as to test the functional block even if the number of the functional blocks is large.例文帳に追加

機能ブロックの数が多くても、各機能ブロックに対してテストできるように、機能ブロックにテスト信号を入力するために必要なテスト入力用の外部端子を確保することを目的とする。 - 特許庁

By this constitution, data writing and reading are continuously conducted with a plurality of test patterns by only dynamically changing input data for testing and conducting test mode entry for test performing.例文帳に追加

このような構成によって、試験のための入力データを動的に変更させ、試験を行うためのテストモードエントリを行うだけで、複数のテストパターンでのデータの書き込みと読み出しが連続して行われる。 - 特許庁

The data input circuit inputs, in parallel, a plurality of test writing data written in the memory based on the plurality of test output data and the strobe signal for test writing.例文帳に追加

前記データ入力回路は、前記複数のテスト出力データと前記テスト書き込み用ストローブ信号とに基づいて前記メモリに書き込まれた複数のテスト書き込みデータを並列に入力する。 - 特許庁

When a test resuming order 63 is input, the internal target signal producing circuit 5b is controlled, and the switch 55 is closed so as to resume the test from the target value upon interruption of the test.例文帳に追加

試験再開指令６３が入力されると、試験中断時の目標値から試験が再開されるように、内部目標信号発生回路５ｂを制御するとともに、スイッチ５５を閉じる。 - 特許庁

The semiconductor device comprises an input terminal into which test pattern data is input in series at a first speed, and an output terminal that corresponds to the input terminal one to one and outputs test pattern data to the outside in series at a second speed different from the first speed.例文帳に追加

第１の速度でテストパターンデータが直列に入力される入力端子と、入力端子と一対一に対応し、第１の速度と異なる第２の速度でテストパターンデータを直列に外部に出力する出力端子と、を含む。 - 特許庁

To obtain an input control system for imaging apparatus in which a series of key input operation can be executed by repeating a simple operation during test operation for an imaging apparatus, for example.例文帳に追加

例えば画像機器のテストオペレーションにおいて、一連のキー入力動作を簡単な操作により繰り返し実行できるようにする。 - 特許庁

After the reset release, the test mode setting signal TESTMODE[7:0] is fixed, and the normal external input terminal 1 can be used as a normal input terminal.例文帳に追加

リセット解除後は、テストモード設定信号TESTMODE[7:0]は固定され、通常外部入力端子１は通常入力端子として使用できる。 - 特許庁

In an action test, when two input buttons 7a and 7c alternately receive the operation input, the control section 9 sequentially detects, as a judgment time, the time from the preceding operation input to the operation input of this time.例文帳に追加

動作テストでは、制御部９は、２つの入力ボタン７ａ，７ｃが交互に操作入力を受けたとき、前回の操作入力から今回の操作入力までの時間を判断時間として順次検出する。 - 特許庁

In a second test mode to test the MB2, the SEL1 outputs the test input signals TIN1 and TIN2 for the MB2 to the MB2, and the SEL2 outputs the signal M2OUT from the MB2 as the test output signal TOUT for the MB2.例文帳に追加

ＭＢ２をテストする第２のテストモードでは、ＳＥＬ１がＭＢ２用のテスト入力信号ＴＩＮ１、ＴＩＮ２をＭＢ２に出力し、ＳＥＬ２がＭＢ２からの信号Ｍ２ＯＵＴをＭＢ２用テスト出力信号ＴＯＵＴとして出力する。 - 特許庁

In a status transition table design support portion 230, a test path generation portion 232 generates a test path including a series of test cases to be executed as a status transition test, based on information accepted by an operation specification information input acceptance portion 231.例文帳に追加

状態遷移表設計支援部２３０では、動作特定情報入力受付部２３１が受け付けた情報に基づいて、状態遷移テストとして実行されるべき一連のテストケースからなるテストパスがテストパス生成部２３２によって生成される。 - 特許庁

Setting values inputted to items 'REC#1' and 'REC#2' of a spreadsheet 1 for input are made into text data and preserved as test data and at the time of unit module test, the preserved test data are read out and supplied to a module to be tested by a driver 3 for test.例文帳に追加

入力用スプレッドシート１の項目「REC#1」，「REC#2」に入力された設定値をテキストデータ化して試験データとして保存し、単体モジュール試験時に、試験用ドライバ３が保存した試験データを読み出し、被試験モジュール３へ供給する。 - 特許庁

This test mode entry circuit is provided with test mode entry controllers 191-193 generating an enable-control signal bMSETENB enabling continuous input of a second command only at the time of test mode entry when the signal bMSET is received with a continuous cycle synchronizing with a clock in this test mode entry circuit.例文帳に追加

このテストモードエントリ回路において信号bMSET をクロックに同期した連続したサイクルで受ける際、第２のコマンドの連続した入力をテストモードエントリ時のみ可能にするイネーブル制御信号bMSETENBを生成するテストモードエントリコントローラ191 〜193 を設けた。 - 特許庁

When ACK of the test signal is received or when a test signal transmitted from an opposite-side node 10B is received, a port number of an input/output port transmitting the test signal and a port number of an input/output port receiving the test signal are then associated with each other and registered to an interface DB 131.例文帳に追加

そして、この試験信号のＡＣＫを受信したとき、または、相手方のノード１０Ｂから送信された試験信号を受信したとき、その試験信号を送信した入出力ポートのポート番号と、その試験信号を受信した入出力ポートのポート番号とを対応付けてインタフェースＤＢ１３１に登録する。 - 特許庁

To provide a test system for an address multiplexer memory with a serial access function in which an input cycle is simplified.例文帳に追加

入力サイクルが簡素化されるシリアルアクセス機能付きアドレスマルチプレクサメモリのテスト方式を提供する。 - 特許庁

Since the input address is checked directly, test can be conducted in a short time with high reliability.例文帳に追加

直接入力アドレスをチェックするため、上記テストを短時間且つ高信頼性で行うことができる。 - 特許庁

A selector 13 is switched correspondingly to a test mode selection signal inputted to an input terminal 11e.例文帳に追加

セレクタ１３は、入力端子１１ｅに入力されるテストモード選択信号に対応して切り替わる。 - 特許庁

A second test switch SWt2 is provided between the second input terminal 17 and the second inspection pad PAD2.例文帳に追加

第２テストスイッチＳＷｔ２は、第２入力端子１７と第２検査パッドＰＡＤ２間に設けられる。 - 特許庁

To achieve a highly accurate test by suppressing influence of delay and dullness of an input pulse waveform.例文帳に追加

入力されたパルス波形の遅延及び鈍りの影響を抑制し、より高精度なテストを実現すること。 - 特許庁

To provide a simulation support tool which can automatically generate a ladder program for test input.例文帳に追加

テスト入力用のラダープログラムを自動的に生成することができるシミュレーション支援ツールを提供すること - 特許庁

To provide an input and output circuit and a semiconductor integrated circuit capable of executing a self-test in a short time.例文帳に追加

短時間で自己テストを実行可能な入出力回路及び半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

The AM test signal is input to a multiplier 16 through a delay adjustment part 12 and a regulator 14.例文帳に追加

ＡＭテスト信号は、遅延調整部１２とレギュレータ１４を介して、乗算器１６に入力される。 - 特許庁

To substantially simultaneously generate a digital control trigger and an analog control trigger from a common input test signal.例文帳に追加

共通の入力試験信号からデジタル制御トリガ及びアナログ制御トリガを略同時に発生する。 - 特許庁

The test cell enables simultaneously both observation of input data and control of output data.例文帳に追加

テストセルは、入力データが観察されることと出力データが制御されることを同時に可能にする。 - 特許庁

The storage cell is connected in series to allow test input data to be set when the internal circuit is tested.例文帳に追加

記憶素子は、内部回路を試験するとき直列接続されてテスト入力データが設定される。 - 特許庁