「input test」に関連した英語例文の一覧と使い方(11ページ目) - Weblio英語例文検索

The changeover device 107 selectively outputs the input data signal when the continuity confirmation circuit 106 detects the input data signal or the test signal when the circuit 106 detects no input data signal from its output terminal.例文帳に追加

この切替え器１０７は、導通確認回路１０６によって入力データ信号が検出された場合は入力データ信号を、入力データ信号が検出されない場合はテスト信号を、出力端から選択的に出力する。 - 特許庁

A module-after- correction test part 3 conducts the confirmation test of the program 35 (after correction) to be tested by using the input database generation information 31 and input data generation information 32 and outputs the results as a database dump list 37 and an output information dump list 38.例文帳に追加

修正後モジュール試験部３は、入力データベース作成情報３１、入力データ作成情報３２を用いて試験対象プログラム（修正後）３５の確認試験を行い、その結果をデータベースダンプリスト３７、出力情報ダンプリスト３８として出力する。 - 特許庁

A module-before-correction test part 1 conducts a confirmation test of a program (before correction) to be tested by using input database generation information 11 and input data generation information 12 and outputs the results as a database dump list 17 and an output information dump list 18.例文帳に追加

修正前モジュール試験部１は、入力データベース作成情報１１、入力データ作成情報１２を用いて試験対象プログラム（修正前）１５の確認試験を行い、その結果をデータベースダンプリスト１７、出力情報ダンプリスト１８として出力する。 - 特許庁

The test pattern of an LSI for control is stored in a memory LSI as expected value data, and when the input/output timing is adjusted, the device is coped with all of the test patterns in a common discrimination circuit by means of discriminating with comparison of expected value data in the memory LSI and input data.例文帳に追加

制御用ＬＳＩのテストパターンをメモリＬＳＩに期待値データとして記憶し、入出力タイミング調整時には、入力データとメモリＬＳＩ内の期待値データを比較判定することで、共通の判定回路で全てのテストパターンに対応する。 - 特許庁

A test pattern data is input into a data input of the IP core 12, an output data output from a data output of the IP core 12 is compared with an expected value for the test pattern data, and the power source noise resistance is inspected when testing a function of the IP core 12.例文帳に追加

ＩＰコア１２のデータ入力にはテストパターンデータが印加され、ＩＰコア１２のデータ出力から出力される出力データとテストパターンデータに対する期待値と比較してＩＰコア１２のファンクションテスト時に電源ノイズ耐性の検査を行う。 - 特許庁

To realize a memory module in which electrical an assembly check of a memory device and a test for write-in and read-out operations of simple data can be performed with an inexpensive tester, the number of input/output pins for test is small and data input/output characteristics of a memory device is not deteriorated.例文帳に追加

安価なテスタでメモリデバイスの電気的なアセンブリチェックと簡単なデータの書き込みおよび読み出し動作の検査とが行え、検査用の入出力ピン数が少なく、メモリデバイスのデータの入出力特性を悪化させないメモリモジュールを実現する。 - 特許庁

The oscillation circuit oscillates at a first frequency by enabling the delay speed adjustment circuit when no test signal is input and oscillates at a second frequency shorter than the first frequency by disabling the delay speed adjustment circuit when the test signal is input.例文帳に追加

発振回路は、テスト信号が入力されていないとき、遅延速度調整回路を有効にして第１の周期で発振し、テスト信号が入力されているとき、遅延速度調整回路を無効化して、第１の周期よりも短い第２の周期で発振する。 - 特許庁

A file analyzing part 38 analyzes the original program and input/output data of the program, so as to specify a processing content and a processing characteristic, to generate a test case, and to determine the test result.例文帳に追加

ファイル解析部３８は、元のプログラムおよび当該プログラムの入出力データを解析することにより、処理内容および処理特性を特定し、テストケースの作成、テスト結果の判定を行う。 - 特許庁

The apparatus includes the test head for outputting an input signal of the image driver, and a testing part set to an upper part of the test head for testing an output of the image driver.例文帳に追加

本装置は、映像駆動ドライバの入力信号を出力するテストヘッドと、このテストヘッドの上部に、映像駆動ドライバの出力を試験する試験部とを設けたことを特徴とする装置である。 - 特許庁

When a test key of a control panel or a remote control device is operated by the user, a control part controls to superpose and display a test pattern TP (horizontal line Lh and vertical line Lv) on an input image Pi.例文帳に追加

制御部は、ユーザによって操作パネル又はリモコンのテストキーが操作されると、入力画像Ｐｉ上にテストパターンＴＰ（水平ラインＬｈ及び垂直ラインＬｖ）を重畳表示させる。 - 特許庁

Although the selection circuit 2b has the same constitution as that of the selection circuit 2a, the test input terminals 3b_n, 3b_1 to 3b_n-1 are connected to the test terminals 11_1 to 11_n of the logic circuit 10.例文帳に追加

選択回路２ｂは、上述した選択回路２ａと同じ構成を有するが、テスト入力端子３ｂ_ｎ、３ｂ_１〜３ｂ_ｎ−１が、論理回路１０のテスト端子１１_１〜１１_ｎに接続されている。 - 特許庁

According to input operation for selection of an icon representing the test position data displayed in a display part 7, the photograph data matching the test position data are displayed in the display part 7.例文帳に追加

そして、表示部７に表示される検査位置データを示すアイコンが入力操作され選択されることに伴い、その検査位置データに対応する撮像データを表示部７に表示する構成にした。 - 特許庁

In the semiconductor storage device, sense amplifiers SA1-SAn, a switch part YSW4, and an input/output control circuit IOC are activated for a test cell to read data out of the test cell first (process 1).例文帳に追加

本発明の半導体記憶装置では、（処理１）まず、テストセルに対してセンスアンプＳＡ１〜ＳＡｎとスイッチ部ＹＳＷ４と入出力制御回路ＩＯＣとを活性化させて、テストセルからデータを読み出す。 - 特許庁

When a burn-in test is set, a test control signal SW is input to a booster switch control circuit 15, a Hi signal is output from an inverter 22 and nodes B, D are fixed to the Hi level.例文帳に追加

バーンインテストが設定されると、テスト制御信号ＳＷがブースト切り替え制御部１５に入力されてインバータ２２からＨｉ信号が出力され、ノードＢ，ＤがＨｉレベル固定される。 - 特許庁

An output value of the test circuit 4 is changed by a plurality of combinations by switching setting to each of the plurality of modes, and thereby the input/output characteristics during an AC test time of the buffer circuit 6 can be measured efficiently.例文帳に追加

複数の各モードへの切り替え設定により、テスト回路４の出力値を複数の組み合わせで変更し、バッファ回路６のＡＣテスト時の入出力特性を効率よく測定可能とした。 - 特許庁

An n-bit test code is serially input to a terminal TCODEENT, and the n-bit shift register 101 performs shift operation, in synchronization with a periodic pulse inputted to a terminal TCLK to read a test code.例文帳に追加

端子ＴＣＯＤＥＥＮＴには、ｎビットのテストコードがシリアル入力され、ｎビットシフトレジスタ１０１は、端子ＴＣＬＫに入力される周期パルスに同期してシフト動作し、テストコードを取り込む。 - 特許庁

The test signal is input from the receiving antenna 11 to a measuring unit 7, and the control unit 5 varies a matching constant so that the level of the test signal measured by the measuring unit 7 may become maximum.例文帳に追加

テスト信号は受信用アンテナ１１から測定部７に入力され、制御部５は、測定部７により測定された、テスト信号のレベルが最大になるようにマッチング定数を変更する。 - 特許庁

And test output data corresponding to this test input data are shifted in order in each register (SF9) of a second data shift circuit formed by using a scan flip-flop, and captured in the inspection circuit BT1.例文帳に追加

そして、このテスト入力データに応じたテスト出力データは、スキャンフリップフロップを用いて形成される第２のデータシフト回路の各レジスタ（ＳＦ９）を順にシフトされて、検査回路ＢＴ１に取り込まれる。 - 特許庁

This performance test data construction tool universally and efficiently prepares large quantity of data used for a performance test by automatically creating a program for outputting the input file with hardware 1.例文帳に追加

前記課題を解決するため、本発明では、性能テストに使用する大量データを、その入力ファイルを出力するプログラムを自動生成することにより、汎用的かつ効率的に作成する。 - 特許庁

To provide an inspecting method of a semiconductor integrated circuit capable of easily detecting disconnection failure, capable of reducing input test patterns and capable of reducing test time in the inspecting method of the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路の検査方法において、断線不良を容易に検出でき、かつ、入力テストパターンを削減し、テスト時間を低減できる半導体集積回路の検査方法を提供する。 - 特許庁

The thread mapping test controller 11 is provided with an input means 16 for a thread mapping test for judging whether the message communication between the objects is to be made into synchronous communication or into asynchronous communication.例文帳に追加

本発明のスレッドマッピングテスト制御装置１１は、オブジェクト間のメッセージ通信を同期通信とするか非同期通信とするか判断するスレッドマッピングテストのための入力手段１６を備える。 - 特許庁

To provide a laminate excellent in steam barrier properties even after a breakdown test such as a pen input-endurance test in an electrode film such as a sheet of electronic paper and a laminate with a transparent conductive membrane.例文帳に追加

電子ペーパーなどの電極フィルムにおいて、ペン入力耐久試験などの破壊試験後にも水蒸気バリア性に優れる積層体および透明導電性薄膜付積層体を提供する。 - 特許庁

To provide a truck testing device capable of keeping truck levelness even if braking force or external force or disturbance input acts on a test truck, and ensuring the straight-ahead stability of the test truck.例文帳に追加

試験台車に制動力や外力や外乱入力が作用しても台車水平度を保持し、試験台車の直進安定性を確保することができる台車試験装置を提供すること。 - 特許庁

A test device 1 of a semiconductor integrated circuit comprises the input/output circuit 2, the tested circuit 3 formed of a SRAM, a logic circuit 4, a test circuit 5, a multiplexer MUX1, and a multiplexer MUX2.例文帳に追加

半導体集積回路の試験装置１には、入出力回路２、ＳＲＡＭからなる被試験回路３、論理回路４、試験回路５、マルチプレクサＭＵＸ１、及びマルチプレクサＭＵＸ２が設けられている。 - 特許庁

The input pattern is imparted to the semiconductor integrated circuit 112 from the test bench 102, and an output from the semiconductor integrated circuit 112 and the output expected value automatically prepared within the test bench 102 are compared.例文帳に追加

そして、テストベンチから入力パターンを半導体集積回路１１２へ与えるとともに、半導体集積回路からの出力とテストベンチ内で自動作成した出力期待値を比較する。 - 特許庁

When a normal operation signal is made to be in an inactivation state by the input of a test signal TEST, a protection transistor 13 connected to an e-fuse element 12 in parallel is activated.例文帳に追加

たとえば、テスト信号ＴＥＳＴの入力により、通常動作信号が非活性の状態になると、ｅ−ｆｕｓｅ素子１２に並列に接続された保護トランジスタ１３が活性化される。 - 特許庁

A protocol test device 10 for executing a protocol test for a server or a client on a network comprises determination means 20 for determining whether it must execute the protocol test for the server or client based on the packet input from the server or the client and test execution means 30 for executing the protocol test based on the determination result of the determination means.例文帳に追加

ネットワーク上のサーバまたはクライアントを対象としてプロトコル試験を実行するプロトコル試験装置１０であって、サーバまたはクライアントから入力されたパケットをもとに、サーバの試験を行うべきかクライアントの試験を行うべきかを判定する判定手段２０と、判定手段の判定結果に基づいて試験を行う試験実行手段３０とを備える。 - 特許庁

The semiconductor test device has the comparator which logically judges a voltage of a responded waveform from a semiconductor apparatus, and an input section of the comparator has an input buffer circuit and a pseudo input buffer circuit which generates quantities of leakage current identical to that from the input buffer circuit.例文帳に追加

半導体装置から応答波形の論理値電圧の判定を行うコンパレータを有する半導体試験装置であって、該コンパレータの入力部は入力バッファ回路と該入力バッファ回路からの漏れ電流と同量の漏れ電流を生じる擬似入力バッファ回路を備える。 - 特許庁

The arrangement region of a test pad used for inspection can be optimized by arranging an input test pad 20a at a pattern region adjacent to the space area of the arrangement region (group 21) of an output test pad 10, thus miniaturizing the semiconductor package.例文帳に追加

出力テストパッド１０の配置領域（グループ２１）の空き領域に隣接するパターン領域の入力テストパッド２０ａを配置することにより、検査時に用いるテストパッドの配置領域を最適化できるため、半導体パッケージの小型化を図ることができる。 - 特許庁

A breakable fuse element 3 is inserted within a test mode signal generating circuit 2 in series to a switching element 2b to which the test mode signal TE generated by a mode decoder 1 is input, so as to output-disable a test mode control signal TS by breaking of the element 3.例文帳に追加

テストモード信号発生回路２内に、モードデコーダ１が生成するテストモード信号ＴＥが入力されるスイッチング素子２ｂと直列に切断可能なヒューズ素子３を挿入し、ヒューズ素子３の切断によりテストモード制御信号ＴＳを出力不能とする。 - 特許庁

This semiconductor integrated circuit 1 incorporates a scan input data used as a test data in a scan path test, and a scan output expected value data of an expected value for a test result, to be stored in two RAMs respectively independently each other.例文帳に追加

スキャンパステスト時にテストデータとして使用されるスキャン入力データと、テスト結果に対する期待値データであるスキャン出力期待値データとを、半導体集積回路１が内蔵する、互いに独立して設けられた２つのＲＡＭにそれぞれ記憶させる。 - 特許庁

The semiconductor device further integrating and systemizing a plurality of integrated circuits different in functions such as a dram block 1, a logic circuit block 2 and an analog circuit block 3 is provided with a test control circuit 4 controlling input of a test signal to each integrated circuit, and a fuse programming circuit block 5 restricting the input of the test signal to each integrated circuit from the test control circuit 4.例文帳に追加

ＤＲＡＭブロック１、論理回路ブロック２、アナログ回路ブロック３など機能の異なった複数の集積回路をさらに集積してシステム化した半導体装置であって、各々の集積回路へのテスト信号の入力を制御するテストコントロール回路４と、このテストコントロール回路４から各集積回路へのテスト信号の入力を所定の集積回路の１つに限定するヒューズプログラミング回路ブロック５とを設ける。 - 特許庁

A test piece 9 is arranged between an input rod 2 and an output rod 3 via a replaceable collision plate 8, the test piece 9 is compressed in a state of not exerting influence of bending force, and a dynamic compression breaking test is performed by replacing the collision plate 8 without replacing the input rod 2 and the output rod 3 to obtain test data for evaluating dynamic compression breaking strength of a ceramic material.例文帳に追加

交換可能な衝突板８を介して入力ロッド２と出力ロッド３の間に試験片９を配置し、曲げ力の影響を与えない状態で試験片９を圧縮し、入力ロッド２と出力ロッド３を取り替えることなく衝突板８を交換することで、動的圧縮破壊試験を実施してセラミックス材料の動的圧縮破壊強度を評価する試験データを得る。 - 特許庁

After this preparation process, a voltage input test of the existing remote monitoring controller is performed with a disconnecting switch on, while performing a test process of voltage input test of a new remote monitoring controller with the disconnecting switch off, and after the test process with the disconnecting switch off, an existing one removal process of removing wiring having their base end at the existing remote monitoring controller is performed.例文帳に追加

この準備工程の後、断路スイッチを入りにして、既設の遠方監視制御装置の電圧入力試験を実施する一方、断路スイッチを切りにして、新設の遠方監視制御装置の電圧入力試験を実施する試験工程と、試験工程の後、断路スイッチを切りにして、既設の遠方監視制御装置を基端とする配線を撤去する既設撤去工程とを実施する。 - 特許庁

When the input image data indicate printing of a color test chart, a process corresponding to the amount of coloring materials in use is determined (S114-116).例文帳に追加

入力画像データがカラーテストチャートの印刷を示す場合、色材の使用量に応じた処理を決定する（Ｓ１１４−１１６）。 - 特許庁

To increase the number of parallel tests of semiconductor memory devices even in utilizing limited input/output channels of a test device.例文帳に追加

テスト装置の限定された入出力チャネルを利用しても、半導体メモリ素子の並列テスト数を拡張できるようにすることにある。 - 特許庁

A filter 24 receives an external RF input signal or a test signal at a standard frequency from a normalization signal source 34 via a switch.例文帳に追加

フィルタ２４はスイッチを介して外部ＲＦ入力信号又は正規化信号源３４の標準周波数のテスト信号を受ける。 - 特許庁

The erroneous test mode operation is prevented from being caused even when the noise enters the input signal in the use of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の使用時に入力信号にノイズが混入しても、誤ってテストモード動作が引き起こされるのを防ぐことができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit which enables a test of its input characteristics in contact by only a small number of specific pins.例文帳に追加

特定のごく少ないピンのみの接触にて入力特性の試験を行うことが可能な半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

Input means 110 receives a text definition file containing description of a specific test pattern including one or more segment description statements.例文帳に追加

入力手段１１０は、１つ以上のセグメント記述ステートメントを含む特定テスト・パターンの記述を含むテキスト定義ファイルを受け入れる。 - 特許庁

A test mode decode & latch circuit 101 decodes an input signal based on a latch signal TMRS to generate a TEST1 signal.例文帳に追加

テストモードデコード＆ラッチ回路１０１は、ラッチ信号ＴＭＲＳに基づいて、入力信号をデコードし、ＴＥＳＴ１信号を発生する。 - 特許庁

The method and the device for testing the complicated integrated circuit include an integrated circuit constituted of input/output pads provided with architecture optimized to a test.例文帳に追加

本発明は、テストに合わせて最適化されたアーキテクチャを備える入力／出力パッドから構成される集積回路を包含する。 - 特許庁

An instruction execution part 121 selects an input variable combination 193, and executes a test object program 191 step by step.例文帳に追加

命令実行部１２１は入力変数値組み合わせ１９３を選択し、試験対象プログラム１９１を一ステップずつ実行する。 - 特許庁

The test system includes a test object circuit which outputs an output signal based on the input signal having been input, signature operation circuits 110, 111, and 112 which store signatures in which a value of the output signal outputted from the test object circuit is compressed, and a built-in CPU 120 which processes the signature outputted from the signature operation circuit according to the input from the outside.例文帳に追加

本発明の第１の態様にかかるテストシステムは、入力された入力信号に基づいて、出力信号を出力するテスト対象回路と、テスト対象回路から出力された出力信号の値を圧縮したシグネチャを記憶するシグネチャ演算回路１１０、１１１、１１２と、シグネチャ演算回路より出力されたシグネチャを外部からの入力に応じて処理する内蔵ＣＰＵ１２０を備えるものである。 - 特許庁

A selector 4 selects the BIST signal to be output to the input-side scanning FF group 9A and conducts test for the memory block 10.例文帳に追加

セレクタ４はこのＢＩＳＴ信号を選択し、入力側スキャンＦＦ群９Ａに出力し、メモリブロック１０のテストを実行する。 - 特許庁