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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > light interferometerに関連した英語例文

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light interferometerの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 299



例文

This phase shift interferometer is equipped with a lighting optical system 200, a non-interference light beam generation means 300, and a phase shift interference fringe acquisition part 400.例文帳に追加

照明光学系200と、無干渉光束生成手段300と、位相シフト干渉縞取得部400と、を備える。 - 特許庁

To provide an interferometer system capable of suppressing deterioration of measurement performance caused by an environmental fluctuation of a space where light travels.例文帳に追加

光が進行する空間の環境変動に起因する計測性能の劣化を抑制できる干渉計システムを提供する。 - 特許庁

A laser beam Lout from a laser light source 10 is made to separately travel through two optical paths OP1 and OP2 in a two-beam interferometer.例文帳に追加

レーザ光源10からのレーザ光Loutを、2光束干渉計内で2つの光路OP1,OP2に分離して進行させる。 - 特許庁

To provide a reference beam interferometer where influence of an environmental parameter on variation of wavelength of a light beam is further minimized.例文帳に追加

光ビームの波長の変化に対する環境パラメータの影響がさらに最小化される参照ビーム干渉計を提供する。 - 特許庁

例文

A nonlinear crystal element 10 of this dispersion interferometer changes a part of laser light (fundamental wave W1) into a double harmonic W2.例文帳に追加

ディスパーション干渉計の非線形結晶素子10は、レーザ光(基本波W1)の一部を2倍高調波W2に変える。 - 特許庁


例文

The measurement unit has a Fizeau interferometer IF including an optical system 17 having a Fizeau plane for forming reference light and a reflecting mirror 22 for forming light to be inspected.例文帳に追加

測定ユニットは、参照光を形成するフィゾー面を含む光学系17と、被検光を形成する反射鏡22とを具備するフィゾー干渉計IFを含む。 - 特許庁

To determine the amplitude and the phase spectral of an optical device without performing the adjustment to make the reference light of an interferometer be agreed with a polarizing condition of the signal light.例文帳に追加

干渉計の参照光と信号光の偏光状態を一致させるための調整を行うことなく、光デバイスの振幅及び位相スペクトルを求める。 - 特許庁

To obtain a semiconductor optical delay interferometer which can be integrated with a light receiving element and is capable of suppressing sensitivity degradation after demodulation of differentially phase-modulation light.例文帳に追加

受光素子との集積化が可能であり、かつ、差動位相変調光の復調後の感度劣化を抑えることができる半導体光遅延干渉器を得る。 - 特許庁

An interferometer device condenses a part of a light beam reflected from an optical boundary of a moving long material and produces an interference signal indicating the condensed light.例文帳に追加

干渉計装置が移動する長手材料の光学界面から反射された光ビームの一部を集め、その集められた光を表す干渉信号を生成する。 - 特許庁

例文

A collimator optical system 11 applied to an interferometer 2 includes a light source 31 having a light emission surface 31a, a plano-concave lens 32, and a collimator lens 33.例文帳に追加

干渉計2に適用されるコリメータ光学系11は、光出射面31aを有する光源31と、平凹レンズ32と、コリメータレンズ33とを備えている。 - 特許庁

例文

The mirror 11 introduces the laser light emitted from a laser light source to the reference mirror 13, and at the same time, the laser light reflected by the reference mirror 13 to a laser interferometer in reverse, via the same route.例文帳に追加

オフセットミラー11は、レーザ光源から発射されたレーザ光をリファレンスミラー13へ導くとともに、リファレンスミラー13で反射されたレーザ光を、往路と逆の経路を辿ってレーザ干渉計へ導く。 - 特許庁

The interferometer of the wide wavelength range and low sensitivity confirms a rough range of a wavelength of the light signal, and then a wavelength of an incident beam is measured accurately by the interferometer of the narrow wavelength range and high sensitivity.例文帳に追加

大波長範囲で低敏感度の干渉器は、光信号の波長のおおよその範囲を確認してから小波長範囲で高敏感度の干渉器により入射光線の波長を正確に測定する。 - 特許庁

This method comprises processes of: dividing light radiated from a white light source 109 into reference light and signal light by a beam splitter 102; emitting the signal light to a sample 107 through a Morou interferometer 105; making light reflected from the sample surface with the reference light and imaging the interference intensity occurring in the Morou interferometer 105; and applying voltage current to the semiconductor circuit chip as the sample.例文帳に追加

白色光源109から放射された光をビームスプリッタ102により参照光と信号光に分割する工程と、信号光を試料107にミラウ干渉計105を通して入射する工程と、試料表面より反射した光と参照光を干渉させてミラウ干渉計105に生じた干渉強度を画像化する工程と、試料である半導体回路チップに電圧電流を印加する工程とを含む。 - 特許庁

The reflecting curved surface 31 is formed such that each light beam of measurement light entering the reflecting curved surface 31 from an interferometer 1 enters perpendicular to the curved surface P of the measured object, is recurrently reflected, and returns to the interferometer 1 via the reflecting curved surface 31, and such that the lengths of the optical paths of light beams are made equal to each other.例文帳に追加

この反射曲面31は、干渉計1から反射曲面31に入射した測定光の各光線が、被検曲面Pに対し垂直に入射して再帰反射され反射曲面31を経由して干渉計1に戻るとともに、該各光線の光路長が互いに等しくなるように形成されている。 - 特許庁

In a white light interferometer using a time-domain correlation image sensor (camera 10), an interference range of a temporally incoherent light source is determined in conformity with a workpiece, a correlation image obtained by the white light interferometer is binarized, and the inspection of the presence of the object within the interference range is performed by the binarized image.例文帳に追加

時間相関イメージセンサ(カメラ10)を使用した白色干渉計において、時間的にインコヒーレントな光源の干渉範囲を検査対象に合わせて決定し、前記白色干渉計で得られる相関画像を2値化して、該2値化された画像により、前記干渉範囲内の対象物有無検査を実施する。 - 特許庁

A collimator lens used in the interferometer body part is an achromatic optical system, wherein a light demultiplexing means and a light multiplexing means are coated corresponding to using wavelength band, and the light source device is provided with the laser and an optical fiber cord for conservation of polarization surface, and connected with the interferometer main body with an optical connector.例文帳に追加

干渉計本体部のコリメータレンズは色消し光学系とし、光分割手段、及び光重ね合わせ手段は使用波長帯域に対応したコーティング処理を施すと共に、光源装置はレーザと、偏波面保存ファイバコードを有し、光コネクタで干渉計本体部と結合されるようにしたこと。 - 特許庁

LIGHT TRACKING TYPE LASER INTERFEROMETER BY OSCILLATING OPTICAL LEVER USING SPHERICAL SURFACE MOTOR, AND COORDINATE MEASURING METHOD USING THIS DEVICE例文帳に追加

球面モータを用いた首振り運動光てこによる光線追尾式レーザ干渉測長装置および該装置を用いた座標測定方法 - 特許庁

To provide an oblique incidence interferometer which can alter sensitivity to interference fringes without requiring any advanced technique nor expensive laser light source.例文帳に追加

高度な技術や、高価なレーザ光源を要することなく、干渉縞感度を変更することができる斜入射干渉計の提供。 - 特許庁

The receiver measures a phase modulation amount of signal light outputted from the Sagnac interferometer to discriminate the information of the sender.例文帳に追加

受信者はサニャック干渉計から出力される信号光の位相変調量を測定して送信者の情報を判別する。 - 特許庁

A frequency-shifting interferometer 10 measures an optical profile of a specimen 12 with a continuous turning type light source 16.例文帳に追加

連続同調型光源16により被検体12の光学プロファイルを測定する周波数偏移干渉計10が提供される。 - 特許庁

A 1-bit delay interferometer 66 converts the phase modulation signal included in an output light of the branching unit 50 into an intensity modulation signal.例文帳に追加

1ビット遅延干渉計66は分波器50の出力光に含まれる位相変調信号を強度変調信号に変換する。 - 特許庁

To provide a white light interferometer dispensing with a moving device for a movable mirror and a displacement measuring instrument.例文帳に追加

可動ミラーのための移動装置及び変位測定装置を必要としない白色光干渉計を提供することを目的とする。 - 特許庁

Then, the recipient makes the component turning to the right and reference light interact in a nonlinear optical material arranged in an interferometer.例文帳に追加

次に受信者は右へ向かう成分と参照光を、干渉計の中に配置した非線形光学材料において相互作用させる。 - 特許庁

To provide an interferometer that makes accurate measurement possible by separating the reflected light only from the test surface of an object to be measured.例文帳に追加

測定対象の被検面のみからの反射光を分離して正確な計測を可能にする干渉計装置を提供すること。 - 特許庁

The input signal light is distributed to an upper waveguide and a lower waveguide of a Mach-zehnder interferometer by a 3 dB coupler 5.例文帳に追加

上記入力信号光は、3dBカプラ5によってマッハツェンダー干渉計の上部導波路と下部導波路に分配される。 - 特許庁

To provide a heterodyne interferometer having a simpler configuration than conventional ones and protected against incoming of return light to laser source.例文帳に追加

従来よりも簡単な構成で、レーザ光源への戻り光の進入に対する防御がなされたヘテロダイン干渉計を提供する。 - 特許庁

Compared to a comparative example which uses a high-priced interferometer, the outgoing light beam measuring apparatus can be constituted at a remarkably low price.例文帳に追加

また、高価な干渉計を用いる比較例と比較すると、出射光測定装置は格段に安価に構成することができる。 - 特許庁

The recipient measures the phase modulation amount of signal light outputted from the Sagnac interferometer and discriminates the information of the sender.例文帳に追加

受信者はサニャック干渉計から出力される信号光の位相変調量を測定して送信者の情報を判別する。 - 特許庁

To enhance resolution when a wavelength of a light source is measured by an interferometer, without lengthening remarkably an optical path length difference.例文帳に追加

干渉計により光源の波長を測定する際の分解能を、光路長差を著しく長くさせることなく向上させる。 - 特許庁

A laser beam Lout from a laser light source 10 is divided into three optical paths (first to third optical paths) and made to proceed by an interferometer.例文帳に追加

レーザ光源10からのレーザ光Loutを、干渉計において3つの光路(第1ないし第3の光路)に分離して進行させる。 - 特許庁

A laser gauge interferometer 100 using the interference of laser light includes: the measurement interferometer 51 which generates the measurement output corresponding to the displacement of a moving member 33; and the correction interferometer 52 which generates the measurement output corresponding to a change in a refractive index of air at a reference interval of a constant distance.例文帳に追加

レーザ光の干渉を利用したレーザ干渉測長器100が、移動体33の変位によって測定出力を生じる測定用干渉計51と、距離一定の基準間隔における空気屈折率変化によって測定出力を生じる補正用干渉計52と、を備えている。 - 特許庁

In addition, if the interferometer 10 is an oblique- incident type, the reflected light and the background light measured by the interferometer 10 and the side formed by the edge of the water 1 to be detected are set to be substantially parallel to each other when viewed from a direction perpendicular to the surface of the wafer 1.例文帳に追加

さらに,干渉計10が斜入射干渉計の場合,干渉計10により計測される前記反射光及び前記背景光と,検出対象となるウェハ1のエッジが形成する辺とが,ウェハ1の面に垂直な方向から見て略平行となるよう構成する。 - 特許庁

To provide an X-Y stage system capable of reducing a length-measurement error due to air fluctuation by including a length-measurement light path tube mechanism for adequately covering a length-measurement light path of a laser interferometer in its X-Y stage having a position length measurement part moving in X/Y directions by the laser interferometer.例文帳に追加

レーザー干渉計による位置測長部位がXY方向に運動するXYステージにおいて、レーザー干渉計の測長光路を十分に覆う測長光路筒機構を備えることで空気揺らぎによる測長誤差を低減できるXYステージ装置を提供する。 - 特許庁

The interferometer 1 is arranged on an optical path of the branched light beams L1, L2, and has phase plates 13, 15 for compensating a phase difference between the branched light beams L1, L2 generated when branching the incident light beam L0 by the half mirror 12.例文帳に追加

この干渉計1は、分岐光L1,L2の光路上に配置され、入射光L0をハーフミラー12で分岐する際に生ずる分岐光L1,L2間の位相差を補償する位相板13,15を備える。 - 特許庁

Light emitted from an optical fiber 2 is converged in a uniaxial direction by a cylindrical lens 4, made incident on a Fabry-Perot interferometer 5, and distributed in an X axis direction by changing an emitting angle by a wavelength by the interferometer 5.例文帳に追加

光ファイバー2を射出した光を、シリンドリカルレンズ4で一軸方向に集光させてファブリペロー干渉計5に入射させ、この干渉計5で波長によって射出する角度を変化させX軸方向に分布させる。 - 特許庁

The size of the extracted light, extracted by the light extraction means and heading for the interferometer optical system in the moving direction, is pratically set smaller than the size of the light beam which is incident on the light extraction means, in the moving direction.例文帳に追加

光抽出手段で抽出されて干渉計光学系へ向かう抽出光の移動方向に沿った寸法は、光抽出手段に入射する光束の移動方向に沿った寸法よりも実質的に小さく設定されている。 - 特許庁

In a chemical substance detection chip having a Mach-Zehnder interferometer formed on a substrate, an input light waveguide part of the interferometer or an output light waveguide part thereof is partly formed as a tapered waveguide, or the thickness or width of one of two waveguides, into which a waveguide is branched from a Y branch of the interferometer, is taperedly changed.例文帳に追加

基板上に形成したマッハツェンダー干渉計を有する化学物質検出チップにおいて、干渉計入力光導波路部又は出力光導波路部の一部をテーパ形状の導波路とするか、又はマッハツェンダー干渉計のY分岐から二つに分岐する導波路の一方の導波路の厚さ又は幅をテーパ状に変化するように構成する。 - 特許庁

This interferometer 1 is provided with a light source 11 for emitting linearly polarized light, and a nonpolarized light generating optical system 12 for converting the linearly polarized light into mixed light of the two linearly polarized lights of which the vibration directions are orthogonal each other and of which the advancing directions are the same each other.例文帳に追加

干渉計(1)に、直線偏光の光を射出する光源(11)と、その直線偏光の光を互いの振動方向が直交し互いの進行方向が同じである2つの直線偏光の光の混合光に変換する非偏光生成光学系(12)とを備える。 - 特許庁

The two-light flux interferometer uses two kinds of single lights and envelope-processes light intensity distribution of interference stripes detected with an imaging device.例文帳に追加

最近、測定範囲の拡大に二種類の単色光を利用した二光束干渉計及びその利用方法が提案されているが、干渉縞の位相を計算するための時間が膨大である。 - 特許庁

The splitter unit 120, the first waveguide 131, the second waveguide 132, and the directional coupler unit 140 form an optical interferometer that branches an input light and causes the branched light to interfere.例文帳に追加

分岐部120、第一導波路131、第二導波路132および干渉部140は、入力光を分岐し、分岐した各光を干渉させる光干渉計である。 - 特許庁

The light intensity of the interferometer 8 is minimized in the vicinity of the sensor gap of the load cell 6 and detected as a light correlation signal by an optical detector 9.例文帳に追加

ギャップ可変ファブリペロー型干渉計8は、ファブリペロー型ロードセル6のセンサギャップ間隙近傍で光強度が最小となり、光検出器9により光相関信号として検出される。 - 特許庁

The phase modulator 102 drives light 1 with a driving signal 6 of NRZI code to generate a light signal 7 of NRZI code and inputs it to the Mach- Zehnder interferometer 103.例文帳に追加

位相変調器102がNRZI符号の駆動信号6により光1を駆動し、NRZI符号の光信号7を生成して、マッハツェンダー干渉計103に入力する。 - 特許庁

To provide an interferometer, an optical switch and an optoelectronic integrated device, which facilitate control of light, have superior response characteristics and are miniaturized.例文帳に追加

光を容易に制御することができ、応答特性がよく小型化が可能な、干渉計、光スイッチ、及び光集積装置を提供する。 - 特許庁

To estimate the wavelength of measurement light of a tracking laser interferometer in a simple composition without performing measurement of an outside environment such as temperature.例文帳に追加

温度などの外部環境の測定を行わずに、簡略な構成で、追尾式レーザ干渉計の測定光の波長を推定可能とする。 - 特許庁

In the use as pinhole of an interferometer, it can be so arranged to emit a spherical wave from the microscopic light transmission area 31.例文帳に追加

干渉計のピンホールに使用された場合には微小光透過領域31から球面波が射出されるように構成することができる。 - 特許庁

To enable spatial positioning with high sensitivity by detecting weak reflected light from a body to be measured with high sensitivity by providing an interferometer which gives a uniform frequency shift to white light and scans interference fringes so as to actualize heterodyne interference and an interferometer which takes actual measurement separately in an interference method for a light wave by white light with wide spectrum width as a light source.例文帳に追加

光源としてスペクトル幅の広い白色光による光波の干渉法において、ヘテロダイン干渉を実現するために白色光に一様な周波数シフトを与えたり干渉縞を走査する干渉計と、実際に計測する計測用干渉計とを別々に設けることによって、被測定物体からの弱い反射光を高感度で検出し、空間的位置決めなどを高感度で可能とする。 - 特許庁

The white light interferometer has a first optical system for forming light path difference in the light from a white light source and a second optical system for detecting the light path difference of the light from the first optical system and the second optical system has a branch means for branching light into two lights and a photodetector for detecting the interference fringe formed by the light from the branch means.例文帳に追加

白色光干渉計は、 白色光源からの光に光路差を生成するための第1の光学系と、該第1の光学系からの光の光路差を検出するための第2の光学系と、を有し、該第2の光学系は光を2つに分岐する分岐手段と該分岐手段からの光によって生成された干渉縞を検出するための光検出装置を有する。 - 特許庁

The rear stage of the interferometer constituting the OCT system is provided with a light pulse time sharing multiplication unit which delays a second binding light pulse (interference light pulse) by a predetermined delay time behind a first binding light pulse (inference light pulse), and subsequently allowing the first binding light pulse to merge with the second binding light pulse to alternately emit the first binding light pulse and the second binding light pulse.例文帳に追加

OCT装置を構成する干渉計の後段に、前記第1の結合光パルス(干渉光パルス)に対して第2の結合光パルス(干渉光パルス)を所定の遅延時間遅らせた後、前記第1の結合光パルスと前記第2の結合光パルスを合流して、前記第1の結合光パルスと前記第2の結合光パルスを交互に出射する光パルス時分割多重化ユニットを設けること。 - 特許庁

In the positioning device that includes a laser interferometer loaded on a slider, and a fixed mirror, the slider is positioned by measuring the length, based on laser interference, by using laser light making a round trip between the laser interferometer and the fixed mirror.例文帳に追加

スライダに搭載されたレーザ干渉計と、固定ミラーとを備え、前記レーザ干渉計と前記固定ミラーとの間で往復するレーザ光を用いてレーザ干渉に基づく測長を行うことで前記スライダを位置決めする位置決め装置である。 - 特許庁

例文

When a optical path difference modulating mirror 6 is vibrated at a high speed to modulate the optical path difference of the interferometer, the alternating signals are generated by the modulation of the optical path difference on the outputs of the measured light and the reference light of the light synthesizer 7.例文帳に追加

この時、光路差変調用ミラー6を高速に振動させて干渉計の光路差を変調すると光合波器7の被測定光と参照光の出力には光路差の変調による交流信号が発生する。 - 特許庁




  
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