「light interferometer」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

Correction laser light irradiated from the correction interferometer 52 passes through the measurement interferometer 51 and travels on the same optical path as an optical path of correction laser light emitted from the measurement interferometer 51 to become interference light corresponding to a change in the refractive index of air through which the measurement laser light passes, and then enters the arithmetic processing device 60.例文帳に追加

補正用干渉計５２から照射される補正用レーザ光は、測定用干渉計５１を透過することにより、測定用干渉計５１から照射される補正用レーザ光と同一光路を辿り、測定用レーザ光が通過した空気屈折率の変化に対応した干渉光となり演算処理装置６０に出射される。 - 特許庁

A light wavelength measuring device is provided with a two light beam interferometer 1 which demultiplexes input light into two waves and multiplexes them again to measure the wavelength of light from the polarization.condition of the multiplexed wave.例文帳に追加

入力光を二つに分波し再び合波する二光束干渉計１を備えた光波長測定装置であり、合波偏波状態から、被測定光波長を測定する。 - 特許庁

A recipient prepares a Sagnac interferometer using two nonlinear optical materials of an equal light path length in a part of a light route.例文帳に追加

受信者は、光経路の一部に光路長の等しい２つの非線形光学材料を用いたサニャック干渉計を準備する。 - 特許庁

An optical interferometer is equipped with nonlinear semiconductor waveguides 10 and 11 and the 1st input light and 2nd input light are inputted.例文帳に追加

光干渉計には非線形半導体導波路１０及び１１が備えられ、第１及び第２の入力光が入力される。 - 特許庁

A wavelength scanning interferometer measures an absolute distance to an object on the basis of a signal of interference light between reference light, which is divided from a light flux emitted from a light source while changing a wavelength of the light flux, and test light.例文帳に追加

波長走査干渉計は、光源から射出される光束の波長を変更しながら該光束から分割された参照光と被検光との干渉光の信号に基づいて被検体までの絶対距離を計測する。 - 特許庁

A first laser interferometer 41 and a second laser interferometer 42 each include a light source, a mirror 104 attached to a stage 105, and an optical system which receives light reflected by the mirror 104 after being emitted from the light source.例文帳に追加

第１のレーザ干渉計４１と第２のレーザ干渉計４２は、それぞれ、光源と、ステージ１０５に取り付けられるミラー１０４と、光源から出射された後にミラー１０４で反射されて戻った光を受光する光学系とを備える。 - 特許庁

A triangle path interferometer using a low-coherence light source as a light source is used, and the block gage 5 and a transparent substrate 6 are arranged in the optical path.例文帳に追加

光源に低コヒーレンス光源を用いた三角光路干渉計を用い、その光路中にブロックゲージ５と透明基板６を配置する。 - 特許庁

The shape measuring device 1 which is a simultaneously pickup type oblique incident interferometer includes a tunable light source 11 which can tune the wavelength of light.例文帳に追加

同時撮像型の斜入射干渉計である形状測定装置１は、光の波長を変えられる波長可変光源１１を備える。 - 特許庁

The Fizeau type interferometer 12 can measure the wavefront from the entire surface of the diffracted light at the same time and in a short time.例文帳に追加

フィゾー型干渉計１２により、回折光全面からの波面を一括に、且つ短時間に計測できる。 - 特許庁

The oblique incidence interferometer 1 includes a laser light source 2; a first diffraction grating 3; and a second diffraction grating 4.例文帳に追加

斜入射干渉計１は、レーザ光源２と、第１回折格子３と、第２回折格子４とを備える。 - 特許庁

To eliminate the fluctuation of light quantity generated when a fringe scan is carried out in a interferometer using a pin hole.例文帳に追加

ピンホールを使った干渉計において、縞走査（フリンジスキャン）を行う際に生じる光量変動をなくす。 - 特許庁

To provide a laser-interferometer type displacement gauge, provided with a ring laser resonator as a dual-frequency ring laser light source.例文帳に追加

リングレーザ共振器を２周波リングレーザ光源として具備するレーザ干渉計型変位計を提供する。 - 特許庁

Output laser light of a laser diode 20 is input to an optical IQ multiplexer, having a Mach-Zehnder interferometer structure.例文帳に追加

レーザダイオード２０の出力レーザ光は、マッハツェンダ干渉計構造の光ＩＱ多重装置２２に入力する。 - 特許庁

To improve the reliability of data measured by the light wave interferometer off at the point of periodic calibration.例文帳に追加

光波干渉計において、定期校正の時点から離れた時点で測定されたデータの信頼性を向上する。 - 特許庁

To provide an interferometer capable of easily obtaining interference fringes with high contrast even when the coherence distance of a light source is short, and a highly precise projection lens manufactured by the interferometer.例文帳に追加

光源の可干渉距離が短い場合でも、容易に高コントラストな干渉縞を得ることができる干渉計及び該干渉計で製造された高精度投影レンズを提供する。 - 特許庁

Laser light 18a emitted from the first interferometer 18 along the X axis is reflected by the first mirror 34, the second mirror, and the third mirror 38 to be incident on the first interferometer 18.例文帳に追加

第１干渉計１８からＸ軸方向に発射されたレーザ光１８ａは、第１ミラー３４、第２ミラー、第３ミラー３８に反射されて、第１干渉計１８に入射する。 - 特許庁

The output light modulated in wavelength of a Fabry-Pelrot type load cell 6 based on the light of a light source 11 generating a low coherence light of a wide band is incident on a gap variable Fabry-Pelrot interferometer 8.例文帳に追加

広帯域の低コヒーレンス光を発生する光源１の光に基づくファブリペロー型ロードセル６の波長変調された出力光をギャップ可変ファブリペロー型干渉計８に入射させる。 - 特許庁

The Michelson interferometer 17 is a well-known interferometer having mirrors 21, 23 and 25, and emits the pair of beams 20a, 20b of the pulsed light 20 with Δt phase difference based on the pulsed light 27a emitted from a pulsed light emitting device 27.例文帳に追加

マイケルソン干渉計１７は、ミラー２１、２３及び２５を有する周知の干渉計であり、パルス光出射装置２７から出射するパルス光２７ａに基づいてΔｔの位相差を有するパルス光２０の対２０ａ・２０ｂを出射させることができる。 - 特許庁

The second interferometer I_2 radiates measuring light, and acquires a second interference fringe image, based on return light having returned to the second interferometer again after being reflected by a part of a spherical mirror formed on the backside of the reflecting flat mirror F_1.例文帳に追加

第２の干渉計Ｉ_2は、測定光を照射し、折り返し平面ミラーＦ_1の裏面に形成された球面ミラーの一部で反射され、再び第２の干渉計に戻ってきた戻り光を基に、第２の干渉縞画像を取得する。 - 特許庁

In a mode-coupling evaluation device 10, an interferometer 14 interferes a linearly-polarized light excited to BF 13 with a mode coupled linearly-polarized light.例文帳に追加

モード結合評価装置１０において、干渉計１４は、ＢＦ１３に励振した直線偏光とモード結合した直線偏光とを干渉させる。 - 特許庁

A optical path limiting device 15 generates an optical path difference between the excited linearly-polarized light and mode coupled linearly-polarized light at the interferometer 14.例文帳に追加

光路長制御装置１５は、干渉計１４における、励振した直線偏光とモード結合した直線偏光と光路に光路長差を発生させる。 - 特許庁

The optical axes of the light beams are deflected in parallel from the axis of measurement, and part of the light beams is passed through an interferometer and guided to the parallel reflecting part.例文帳に追加

光ビ−ムの光軸は、測定軸から平行に偏倚しかつ、光ビ−ムの一部が干渉計を通過して平行反射部へ導かれる。 - 特許庁

The interferometer 10 includes a laser light source 11; a light dividing member 12; a 1/4-wavelength plate 13; a movable mirror 14; and a detector 15.例文帳に追加

干渉計１０は、レーザ光源１１、光分割部材１２、１／４波長板１３、移動鏡１４、及び検出器１５を含んで構成される。 - 特許庁

The pulse beams pass through an optical fiber amplifier 4 and a wavelength conversion optical system 5 to be converted into ultra-violet light and used as light for the interferometer.例文帳に追加

このパルス光は、光ファイバ増幅器４と波長変換光学系５を通って紫外光となり、干渉計用の光として使用される。 - 特許庁

The Mach-Zehnder interferometer 103 sets an operation point so that when the light signal 7 of NRZI code does not vary, the light signal 11 is not outputted.例文帳に追加

マッハツェンダー干渉計１０３は、ＮＲＺＩ符号の光信号７が変化しない時に光信号１１を出力しないように、動作点を設定する。 - 特許庁

The modulated wave outputted from a modulated wave generator 11 is inputted to a light source 12 and passed through an interferometer 18.例文帳に追加

変調波発生器１１で出力される変調波を光源１２に入力し、干渉計１８を通過させる。 - 特許庁

A second grating is disposed on the focal surface to receive the refractive image of an irradiating light to form a Shearing interferometer.例文帳に追加

第２の格子は放射源の回折像を受け取る焦点面に配置されており、シアリング干渉計を形成している。 - 特許庁

The interferometer comprises a plane reflecting mirror for holding the optical path of the part of the light beams to be returned by the parallel reflecting part.例文帳に追加

干渉計は、平行反射部で戻される光ビ−ムの一部の光路を保持する平面反射鏡を有する。 - 特許庁

To provide an interferometer and a shape measuring method for achieving high-accuracy measurement even when light intensity changes.例文帳に追加

光強度が変動するような場合でも高精度に測定できる干渉計及び形状測定方法を提供する。 - 特許庁

To miniaturize a measuring device by constituting an interferometer with the minimum constitution, in minute displacement measurement utilizing laser light.例文帳に追加

レーザ光を利用した微小変位測定において、最小構成で干渉計を構成し、測定装置の小型化を図る。 - 特許庁

LASER INTERFEROMETER USING THIN FILM OPTICAL SENSOR WHICH CAN TRANSMIT LASER LIGHT, AND DISPLACEMENT, VELOCITY SENSOR USING THE SAME例文帳に追加

レーザー光が透過することが出来る薄膜光センサーを用いたレーザー干渉計とこれを使用した変移、速度センサー - 特許庁

To provide an interferometer apparatus for easily performing alignment work of incident light beam while being simple in constitution.例文帳に追加

簡単な構成でありながら、入射する光ビームのアライメント作業を容易に行なえる干渉計装置を提供する。 - 特許庁

To measure a plasma density by using an interferometer with a single optical path to measure the phase distribution of a laser light.例文帳に追加

レーザー光の位相分布測定によって単一光路の干渉計を用いてプラズマ密度の測定を可能にする。 - 特許庁

The interferometer 1 has a half mirror 12 for branching an incident light beam L0 into multiple branched light beams L1, L2, and makes the light beam L1, L2 branched by the half mirror 12 to interfere with each other.例文帳に追加

干渉計１は、入射光Ｌ０を複数の分岐光Ｌ１，Ｌ２に分岐するハーフミラー１２を備えており、ハーフミラー１２で分岐された分岐光Ｌ１，Ｌ２を干渉させるものである。 - 特許庁

To provide a laser interferometer which can properly reflect reference light, can surely cause the reflected reference light and measurement light to interfere with each other, and can reduce the number of components.例文帳に追加

参照光を適切に反射できて、反射された参照光と測定光とを確実に干渉させることができ、部品点数も削減できるレーザ干渉計を提供する。 - 特許庁

DEVICE FOR EXECUTING ALL OPTICAL SWITCHING OF LIGHT SIGNAL, METHOD FOR CHANGING OVER LIGHT SIGNAL BY USING LIGHT PUMP MD METHOD FOR USING SAGNAC INTERFEROMETER LOOP AS OPTICAL SWITCH例文帳に追加

光信号のオ—ル・オプティカル・スイッチングを行なうための装置、光ポンプを使用して光信号を切換えるための方法、および、サニャック干渉計ル—プを光スイッチとして使用する方法 - 特許庁

In the distance measuring equipment, a laser light source 11, a first splitter 12, a reference mirror 14, a mirror moving section 15, and a first light receiving element 16 form a Michelson interferometer, and the interferometer calculates the position where the amount of incident light at the first light receiving element 16 is the maximum level within a predetermined moving range of the reference mirror 14.例文帳に追加

距離測定装置のレーザ光源１１、第１スプリッタ１２、参照ミラー１４、ミラー移動部１５、第１受光素子１６はマイケルソン干渉計を構成し、参照ミラー１４が移動する所定範囲内において第１受光素子１６の入射光量が最大レベルとなる位置を算出する。 - 特許庁

The laser interferometer improves a laser interferometer wherein a laser beam from a semiconductor laser is branched so as to be sent to a fixed mirror and a moving mirror, beams of return light from the respective mirrors are composited to obtain interference light and the movement distance of the moving mirror is detected on the basis of the interference light.例文帳に追加

本発明は、半導体レーザからのレーザ光を分岐して固定ミラーと可動ミラーとに送り、各ミラーからの戻り光を合成して干渉光を得て、この干渉光に基づいて可動ミラーの移動距離を検出するレーザ干渉計に改良を加えたものである。 - 特許庁

Light wavelength-scanned like a sinusoidal wave from an SWS light source device 10 is caused to enter the interferometer including a beam splitter BS1 and mirrors M1 and M2, and interference light obtained from the interferometer is photoelectric-converted by a photo diode PD1 to obtain an interference signal S(t).例文帳に追加

ＳＷＳ光源装置１０からの正弦波状に波長走査された光を、ビームスプリッタＢＳ１、ミラーＭ１、Ｍ２からなる干渉計に入射させ、この干渉計から得られる干渉光をフォトダイオードＰＤ１により光電変換して干渉信号Ｓ(t)を得る。 - 特許庁

The diffraction grating is relatively inclined to the shape measuring interferometer so that the plus first-order diffracted light or minus first-order diffracted light from the diffraction grating and reference light from a reference optical flat 12 provided inside the Fizeau type interferometer 12 may be overlapped.例文帳に追加

回折格子からの＋１次回折光または−１次回折光と、フィゾー型干渉計１２の内部に搭載されている参照用オプティカルフラット１２からの参照光が重なり合うように、形状計測用干渉計に対して回折格子を相対的に傾ける。 - 特許庁

An interferometer device 3 produces measuring light and reference light from light emitted from a light source 1 by a reference lens 37, puts the measuring light produced through a projection optical system PL (photo luminescence) into inerference with the reference light, and inspects the optical performance of the projection optical system PL.例文帳に追加

干渉計装置３は、基準レンズ３７により光源１から射出される光から、測定光及び参照光を生成し、投影光学系ＰＬを介した測定光と参照光とを干渉させて投影光学系ＰＬの光学性能を検査する。 - 特許庁

The second interferometer I_2 emits measuring light and obtains a second interference fringe image based on return light that returns to the second interferometer I_2 again after being reflected from a mirror surface S_1 formed on a surface of the reflecting plane mirror F_1.例文帳に追加

そして、第２の干渉計Ｉ_2は、測定光を照射し、折り返し平面鏡Ｆ_1の表面に形成された鏡面Ｓ_1で反射され、再び第２の干渉計Ｉ_2に戻ってきた戻り光を基に、第２の干渉縞画像を取得する。 - 特許庁

Lights are applied to the entire surface of mono-axis diffraction grating 10 or bi-axis diffraction grating, and the respective wavefront information of plus first-order diffracted light and minus first-order diffracted light is evaluated by a shape measuring interferometer such as Fizeau type interferometer 11 or the like.例文帳に追加

１軸回折格子１０または２軸回折格子の全面に光を照射し、＋１次回折光と−１次回折光のそれぞれの波面情報をフィゾー型干渉計１１などの形状計測用干渉計で評価する。 - 特許庁

The delay demodulation device 1 includes a light input waveguide 2 to which a DQPSK (Differential Quadrature Phase Shift Keying) signal is input, a Y branch waveguide 3 for branching the light input waveguide 2, a first Mach-Zehnder interferometer (MZI) 4, and a second Mach-Zehnder interferometer (MZI) 5.例文帳に追加

遅延復調デバイス１は、DQPSK信号が入力される光入力導波路２と、光入力導波路２を分岐するＹ分岐導波路３と、第１のマッハツェンダー干渉計（MZI）４と、第２のマッハツェンダー干渉計５と、を備える。 - 特許庁

In the phase contrast X-ray imaging apparatus using an X-ray interferometer, a known reference material similar to a sample in shape and internal density distribution is installed in a light path different from the light path in the interferometer in which the sample is installed.例文帳に追加

Ｘ線干渉計を用いた位相コントラスト型Ｘ線撮像装置において、試料が設置された干渉計内の光路とは異なる光路に、形状及び内部密度分布が試料と類似し、且つ既知の参照体を設置する。 - 特許庁