「light interferometer」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

First of all, the laser interferometer 104 can detect interference light and selects at least four measuring positions p_i which do not exist on the same plane.例文帳に追加

まず、レーザ干渉計１０４が干渉光を検出でき、かつ同一平面上に存在しない少なくとも４つの測定位置ｐ_ｉを選ぶ。 - 特許庁

To precisely transmit a beam without mixing a polarization with a frequency component while a light-source laser or the like is isolated from the temperature environment of an interferometer.例文帳に追加

干渉計の温度環境から光源レーザ等を離隔しつつも、偏光／周波数成分を混合することの無い精密なビーム伝達を可能にする。 - 特許庁

The group delay of the DUT is measured by using zero- crossing of an AC coupled heterodyne beat signal generated by the test interferometer from the input light signal.例文帳に追加

ＤＵＴの群遅延は、入力光信号からテスト干渉計によって生成されるＡＣ結合ヘテロダインビート信号のゼロ交差を用いて測定される。 - 特許庁

A controllable interferometer unit 104 has a controllable delay (±180 degrees), which adjusts the relative phase of passing light inside the first arm.例文帳に追加

制御可能な干渉計ユニット１０４は、通過する光の相対的な位相を調整する制御可能な遅延（±１８０°）を第１アーム内に有している。 - 特許庁

The heterodyne interferometer is provided with a laser light source 101 which emits two beams of laser light in the longitudinal mode having lasing frequencies different from each other under a condition being not supplied with a magnetostatic field strongly.例文帳に追加

静磁場の積極的な印加を受ける環境を免れた環境下において相互に異なる発振周波数の２本の縦発振モードを有するレーザ光を出射するレーザ光源１０１を備えた。 - 特許庁

The humidity in an interferometer 12 including deliquescent optical materials such as transmitting windows for infrared light 5, 6, and 7 and a beam splitter 10 is controlled to be low with the heat produced at a heater 3 for a light source.例文帳に追加

赤外光源用ヒータ３から発生する熱により、赤外光透過窓５、６、７、ビームスプリッタ１０等の潮解性を有する光学材料を含む干渉計１２内を低湿度に保つ。 - 特許庁

The multiplexed light Lc is divided into light fluxes of wavelengths λ1 and λ2, and a measuring signal of a sine wave of one period is obtained for (1/2)λ1 movement and (1/2)λ2 movement by the principle of a Michelson interferometer.例文帳に追加

この合波光Ｌｃを波長λ１、λ２の光束に分離し、マイケルソン干渉計の原理により、（１／２）λ１移動及び（１／２）λ２移動に対して１周期の正弦波の測定信号を得る。 - 特許庁

This sensor is used in the field of electric communication application in the present, the optical fiber interferometer is driven using a narrow-band light source such as a semiconductor laser for increasing stability of a wavelength, and using a wide-band light source.例文帳に追加

現在、電気通信応用で用いられ、波長の安定性を増大させる半導体レーザ等の狭帯域光源、および広帯域光源を用いて、光ファイバー干渉計を駆動させ得る。 - 特許庁

The Talbot interferometer guides light that is emitted by a light source 1 and passes through an inspection-object optical system L to a sensor part M that includes a diffraction grating 3 and an image pickup device 4 to measure a wave front of the inspection-object optical system.例文帳に追加

トールボット干渉計は、光源１から発せられて被検光学系Ｌを通った光を、回折格子３および撮像素子４を含むセンサ部Ｍに導き、被検光学系の波面を計測する。 - 特許庁

The first liquid-crystal cell 161 and the second liquid-crystal cell 162 transmit the light branched in the optical interferometer and delay the light according to applied signals, respectively.例文帳に追加

第一液晶セル１６１および第二液晶セル１６２のそれぞれは、光干渉計において分岐された各光のうちの一方の光を通過させ、通過させる光を印加信号に応じて遅延させる。 - 特許庁

To provide a method capable of measuring an optical axis direction of measuring light even in a laser interferometer in which a positioning range of a target is narrower than ever before and an optical axis of the measuring light is fixed.例文帳に追加

ターゲットの位置決め範囲が従来より狭く、かつ、測定光の光軸が固定されたレーザ干渉計であっても、測定光の光軸方向を測定可能な方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a near-infrared spectral analyzer having a constitution in which a detector receiving interference light and converting it into an electric signal is placed outside an interferometer, and the interference light is guided into the detector by an optical fiber.例文帳に追加

干渉光を入光して電気信号に変換する検出器を干渉計の外部におき、干渉光を光ファイバで検出器に導く構成にした近赤外分光分析計を提供する。 - 特許庁

The measuring apparatus has a main interferometer, which emits a light beam on an object and receives its reflected light for measuring information about the position of the object.例文帳に追加

被計測物体に対して計測用の光ビームを出射してその反射光を受光することにより該被計測物体の位置に関する情報を計測する主干渉計を備えた計測装置である。 - 特許庁

To make the minute surface shape of an object precisely and quickly measurable by use of a two-luminous flux interferometer and a wavelength variable light source or wavelength selecting filter for a white light source.例文帳に追加

２光束干渉計と白色光源の波長可変光源あるいは波長選択フィルタとを利用して、対象物の微少な表面形状を高精度かつ迅速に測定可能にする。 - 特許庁

Consequently, the influence of the specimen 18 to the wave front by the measuring light L emitted from the interferometer 1 affected by the double refraction is substantially the same as that to the wave front of the random nonpolarized light.例文帳に追加

その結果、干渉計（１）から射出される測定光（Ｌ）の波面に対する被検物（１８）の複屈折の影響は、ランダムな非偏光の光の波面に対するそれとほぼ同じになる。 - 特許庁

In the heterodyne laser Doppler interferometer with the optical excitation function for the sample, the sample is irradiated with modulated light rays using the output signal of the heterodyne laser Doppler interferometer, the vibration of the sample is excited by the irradiated light rays, and the frequency characteristics or the mechanical characteristics of the sample are measured.例文帳に追加

試料の光励振機能を有するヘテロダインレーザドップラー干渉計において、このヘテロダインレーザドップラー干渉計の出力信号を用いて前記試料に変調された光を照射し、この照射光により試料の振動を励起し、前記試料の周波数特性や機械的特性を計測する。 - 特許庁

By constructing a Michelson interferometer or Mach-Zehnder interferometer constituted so that the primary standard or master and the substrate duplicated from the same may serve respectively as reflecting mirrors, the light containing phase data reflected from the primary standard or master and the light reflected from an inspection target interfere with each other to observe an interference fringe.例文帳に追加

原器あるいはマスターとそれから複製される基板とをそれぞれ反射ミラーとするような構成のマイケルソン型干渉計あるいは、マッハツェンダー型干渉計を構築することにより、原器あるいはマスターから反射する位相情報を含む光と、検査対象から反射する光とが干渉し干渉縞を観測する。 - 特許庁

Since the light splitting part 200 emits the reference light in such the attitude that the reference light reaches the composite part 300 directly, the oblique incidence interferometer 1 is made up similar to general conventional ones in fundamental configuration, thereby enabling the image inverting section 500 to be disposed in a conventional optical path of the measurement light or the reference light.例文帳に追加

光分割部２００は、参照光が直接合成部３００に至る姿勢で参照光を出射するので、斜入射干渉計１の基本的な構成を一般的な従来のものと同様にでき、従来の測定光または参照光の光路中に像反転部５００を設置できる。 - 特許庁

To correct the deviation of the optical path length easily and in real time between a waveguide through which measuring light and reflection light pass and a waveguide through which reference light passes caused by the variation of ambient temperature of an interferometer in an optical tomographic imaging apparatus to obtain a tomographic image by performing the frequency analysis of the interference light of the measuring light and reference light.例文帳に追加

測定光と参照光の干渉光の周波数解析を行うことにより断層画像を取得する光断層画像化装置において、干渉計の周辺温度の変化に起因して生じる、測定光と反射光が通る導波路および参照光が通る導波路の間の光路長のずれを、リアルタイムで容易に補正可能とする。 - 特許庁

The positioning device also includes a mirror for varying an optical path of the laser light, by bending the linearly polarized laser light acquired from the laser interferometer, and a quarter-wave plate for varying the laser light via the mirror into a circularly polarized laser light and irradiating the fixed mirror therewith.例文帳に追加

前記レーザ干渉計から得られた直線偏光のレーザ光を折り曲げることで、そのレーザ光の光路を変更させるミラーと、前記ミラーを経由した前記レーザ光を円偏光のレーザ光に変換して前記固定ミラーに照射するλ／４板と、を備える。 - 特許庁

An interferometer 26 radiates light L1 toward the surface of the film through the window 22 of the plane 21 and the light transmission region 13 of the polishing tape 10, receives reflected light L2 and L2' from the surfaces of the substrate and the film and detects the thickness of the film.例文帳に追加

干渉計２６は、平板２１の窓２２と、研磨テープ１０の光透過領域１３とを通じて、膜の表面に向けて光Ｌ１を放射し、基板と膜の表面からの反射光Ｌ２、Ｌ２´を受光し、膜の厚さを検出する。 - 特許庁

An interference detector 7 detects interference light of reflected light from the surface of a single crystal Si film grown on a substrate 20 and reflected light from a reference lens 73 with a Michelson interferometer by using a laser beam of wavelength λ.例文帳に追加

干渉検出装置７は、波長λのレーザ光を用いて、基板２０上に成長された単結晶Ｓｉ膜の表面から反射光と、リファレンスレンズ７３からの反射光との干渉光をマイケルソン干渉計によって検出する。 - 特許庁

On the second arm 44c of a Mach-Zehnder interferometer 44, an optical gate 46 passes the pilot signal light and a duplicate unit 48 duplicates the output pilot signal light from the optical gate 46 at predetermined time intervals Ts.例文帳に追加

マッハツェンダ干渉計４４の第２アーム４４ｃ上で、光ゲート４６が、パイロット信号光を通過し、複製装置４８が、光ゲート４６の出力パイロット信号光を所定時間間隔Ｔｓで複製する。 - 特許庁

To provide an interferometer which is made so as to be capable of freely adjusting and changing the coherent distance of a measurement light emitted from a light source, according to the state, the shape, and the property of a sample or the operational contents.例文帳に追加

試料の状態、形状、性質や行う操作内容に応じて、光源から発せられる測定光の可干渉距離を自在に調整、変化させることができるようになされた干渉計を提供する。 - 特許庁

Surface shape measurement by the use of the interferometer is performed, after integrating a light-shielding plate 2 and an object to be inspected 1 into a body, and restricting the measuring area by an edge 2a of the shielding plate 2.例文帳に追加

遮光板２を被検物１と一体化し、遮光板２のエッジ２ａにより測定領域を限定したうえで干渉計による面形状測定を実施する。 - 特許庁

To provide a device for measuring interferometer and an eccentricity, capable of observing eccentricity aberration by removing spherical aberrations from measured light transmitted through an object to be inspected.例文帳に追加

被検体を透過した被計測光から球面収差を除去して偏心収差を観察することが可能な干渉計及び偏心計測装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an optical receiver which can stably receive a transmission light signal without modulating a control signal of a delay interferometer, and to provide an optical transmitter.例文帳に追加

遅延干渉計の制御信号を変調することなく安定して送信光信号を受信することが可能な光受信器及び光送信器を実現する。 - 特許庁

To stably purge the inside of an exposure light passage in a space between the projection optical system of an aligner and a wafer, and to reduce any length measurement error to be generated in a laser interferometer.例文帳に追加

露光装置の投影光学系とウエハの間の空間の露光光路内を安定してパージし、且つレーザ干渉計発生する測長誤差を低減する。 - 特許庁

To prevent erroneous operation caused by unstable operation at the time of switching on a power source in a bias control circuit for an interferometer type light modulator having a periodical input-output characteristic.例文帳に追加

周期的入出力特性を有する光干渉計型光変調器のバイアス制御回路において、電源投入時の不安定な動作による誤動作を防止する。 - 特許庁

To provide a Fabry-Perot interferometer which does not have a metallic layer which does not include the transmission range of light on a substrate but has a small full width at half maximum (FWHM) of transmission wavelength.例文帳に追加

光の透過範囲を制限する金属層を基板に設けることなく、透過波長の半値巾（ＦＷＨＭ）の小さなファブリペロー干渉計を提供する。 - 特許庁

A demodulating portion includes a delayed interferometer for converting in-phase signals and orthogonal signals of the received signal light into electrical signals and a photoelectric conversion element.例文帳に追加

復調部は、受信した信号光の同相信号および直交信号をそれぞれ電気信号に変換する遅延干渉計および光電変換素子を含む。 - 特許庁

To provide a high-output frequency stabilization He-Ne laser for a optical heterodyne interferometer light source by taking three vertical modes out of five vertical modes using a polarizer.例文帳に追加

５本の縦モードから偏光子を用いて３本の縦モードをとり出し、光ヘテロダイン干渉計光源用の高出力周波数安定化Ｈｅ−Ｎｅレーザーを提供する。 - 特許庁

To provide a speckle interferometer system for obtaining relative stripe with high contrast, while switching the direction of two-light flux illumination to the surface of a rough-faced substance.例文帳に追加

粗面物体表面に対する２光束照明の方向を切替え可能としつつ、コントラストの高い相関縞を得ることが可能なスペックル干渉計装置を得る。 - 特許庁

To provide a two-wavelength laser interferometer capable of preventing a measurement error based on difference between optical axes of two kinds of light waves with different wavelengths and achieving highly accurate measurement.例文帳に追加

波長の異なる２種類の光波の光軸のずれに基づく測定誤差を防止し、高精度な測定が実現可能な２波長レーザ干渉計を提供する。 - 特許庁

To provide a Fabry-Perot interferometer capable of heightening light shielding capacity of an aperture, even when a metal layer or a doping layer expected to function as the aperture is not used.例文帳に追加

アパーチャとして機能させるための金属層やドーピング層を用いなくても、アパーチャの光遮断能力を高めることができるファブリペロー干渉計を提供する。 - 特許庁

This interferometer 101, measuring the face shape of the optical element 5 by use of interference, has a reference wave front deforming system that causes the wave front of a reference light to be deformed.例文帳に追加

干渉を利用して光学素子５の面形状を測定する干渉計１０１において、参照光の波面を変形させる参照波面変形システムを有する。 - 特許庁

In this system or this method for measuring group delay of an optical device under test(DUT), a test interferometer and a linked optical frequency counter are utilized in order to compensate a non-uniform frequency change generated in an input light signal used in the interferometer for group delay measurement.例文帳に追加

光学被測定物（ＤＵＴ）の群遅延を測定するためのシステムまたは方法において、群遅延測定用の干渉計で用いられる入力光信号に生じる一様でない周波数変化を補償するために、テスト干渉計と連携した光周波数カウンタを利用する。 - 特許庁

To provide a blood sugar measuring system using a low coherence optical interferometer combining a low coherence interferometer which is a basic technique of light wave tomography used actually and recently in opthalmological clinical medicine with polarimetry technique, and capable of reducing patient's burden and saving a measuring time.例文帳に追加

近年眼科臨床で実用されている光波断層画像測定法の基盤技術である低コヒーレンス干渉計と旋光分析技術とを融合させた、患者の負担が少なく、測定時間が速い低コヒーレンス光干渉計を用いた血糖測定装置を提供する。 - 特許庁

To obtain an interferometer which has the operating ability of a Hartmann-shack analyzer based on a low-luminance light source having an extremely wide or intensively disturbed spectrum width, and simple performance, and the flexibility of power characteristic adjustment of a four-side variation interferometer as well.例文帳に追加

実施が簡単であることと、強く擾乱されたまたはきわめて広いスペクトル幅の低輝度光源を基にしたハルトマン−シャック分析器の動作能力と、四辺偏移干渉計の動力特性調節の柔軟性とを同時に兼備した干渉計を提供すること。 - 特許庁

The exposure apparatus includes an interferometer that forms interference fringes including aberration information on projection optics 1 using polarized light beams emitted from an illumination system 10, and a processor 18 that calculates the optical characteristics of the projection optical system 1 on the basis of interference patterns formed by the interferometer.例文帳に追加

露光装置は、照明系１０から出射される偏光を使って投影光学系１の収差情報をもった干渉縞を形成する干渉計と、干渉計によって形成される干渉縞に基づいて投影光学系１の光学特性を算出する処理部１８とを備える。 - 特許庁

In the method for controlling optical characteristics of the waveguide type optical component by using light induction type refractive index changes, the waveguide type optical components has a Mach-Zehnder interferometer arranged in an optical circuit and two arms of the Mach-Zehnder interferometer are irradiated with ultraviolet light of polarized waves of different directions.例文帳に追加

光誘起型の屈折率変化を利用した導波路型光部品の光学特性調整方法であって、導波路型光部品が光回路中にマッハ-ツェンダ干渉計を有し、このマッハ-ツェンダ干渉計の２本のアームに、異なる向きの偏波の紫外光を照射することを特徴とする導波路型光部品の光学特性調整方法。 - 特許庁

A laser interferometer is provided with a hologram-forming medium 9, in which a hologram is formed on real time and an original image is reproduced; a 1st light source (not shown) which oscillates laser beam forming the hologram; and a 2nd light source 17, which is different from the 1st light source.例文帳に追加

リアルタイムにホログラムを形成しリアルタイムに元の像を再生するリアルタイムホログラム形成媒体９と、ホログラムを生成するレーザ光を発振させる第１光源（図示されず）と、第１光源と異なる光源である第２光源１７とを具備している。 - 特許庁

Ultraviolet laser light emitted from a laser light source 20 is condensed onto an arrangement position of a pinhole 22 having a smaller diameter than the diameter of an Airy disk of the ultraviolet laser light, and allowed to pass the pinhole 22, to thereby acquire ultraviolet laser light having an approximately stigmatic spherical wave, and the ultraviolet laser light is introduced into the interferometer 1.例文帳に追加

レーザ光源２０から出射された紫外レーザ光を集光レンズ２１により紫外レーザ光のエアリーディスクの直径よりも小さい直径を有するピンホール２２の配置位置に集光し、このピンホール２２を通過させることによりほぼ無収差の球面波を有する紫外レーザ光を得し、この紫外レーザ光を干渉計１に導入する。 - 特許庁

The interferometer includes a light source unit 10 generating coherent light, having two kinds of different wavelengths and a CPU 1 selecting one of the two kinds of wavelengths for observing the interference fringes for the respective wavelengths.例文帳に追加

干渉計は、波長の異なる２種類の波長の可干渉光を生成する光源ユニット１０と、各波長について前記干渉縞を観測するために前記２種類の波長の一つを選択するＣＰＵ１とを有する。 - 特許庁

The measuring parts have an interferometer 1 for measuring the surface shape of the inspection surface, based on the interference between reference light reflected by a reference surface 2a, arranged on the front side of the mirror and measuring light reflected by the inspection surface.例文帳に追加

測定部は、ミラーの前側に配置された参照面（２ａ）で反射された参照光と被検面で反射された測定光との干渉に基づいて被検面の面形状を測定するための干渉計（１）を有する。 - 特許庁