| 例文 |
multiple testの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 166件
a multiple‐choice test 例文帳に追加
〇×式テスト. - 研究社 新英和中辞典
a multiple‐choice test例文帳に追加
多肢選択式テスト - Eゲイト英和辞典
a multiple-choice test 例文帳に追加
多肢選択式のテスト - 日本語WordNet
The test consists of multiple choice questions. 例文帳に追加
試験は選択式の問題から成る。 - 浜島書店 Catch a Wave
MULTIPLE TEST MULTIPLEXING SUSPENSION AND MULTIPLE TEST MULTIPLEXING METHOD USING IT例文帳に追加
複数検査多重化用懸濁液およびその懸濁液を用いた複数検査多重化方法 - 特許庁
AUTOMATIC SUBMULTIPLE AND MULTIPLE TEST WEIGHT CALIBRATION APPARATUS例文帳に追加
被検分銅自動分量・倍量校正装置 - 特許庁
MULTIPLE RUBBER SWITCH FOR TEST AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加
試験用多連ラバースイッチとその製造方法 - 特許庁
TWO-PASS MULTIPLE STATE PARALLEL TEST FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体素子用ツ—パス多重状態並列試験 - 特許庁
To provide a test board that can test multiple devices to be tested separately at high speed.例文帳に追加
複数の被テストデバイスのテストを高速かつ個別に行えるテストボードを提供する。 - 特許庁
INTERCOM WITH REMOTE TEST FUNCTION FOR MULTIPLE DWELLING HOUSE AND CAMERA INTERCOM例文帳に追加
集合住宅用遠隔試験機能付ドアホン及びカメラドアホン - 特許庁
TEST METHOD AND DEVICE OF IGNITION RELATED APPARATUS IN MULTIPLE CYLINDER ENGINE例文帳に追加
多気筒エンジンにおける着火関連機器の試験方法及び装置 - 特許庁
When assigning again, the same valid test condition is assigned to multiple test patterns, the possible largest number of test patterns, and thereafter, the invalid test condition is assigned again.例文帳に追加
状態再割当にあたって、まず、可能な限り多数のテストパターンへ同一の有効テスト状態を割り当てた後、無効テスト状態への割り当てを行なう。 - 特許庁
To provide a multiple-test-item continuous testing device which can continuously test a plate-shaped metallic material on a plurality of test items by using one test piece at the time of testing the metallic material.例文帳に追加
板状金属材料の材料試験において複数の試験項目の試験を1枚の試験片を使用して連続的に行なう。 - 特許庁
Each thread can invoke the test case multiple times (see the following property). 例文帳に追加
各スレッドは、複数回テストケースを起動できます (次のプロパティーを参照)。 - NetBeans
TEST SITE FOR MEASURING ELECTRIC WAVE HAVING MULTIPLE FENCE AND STANDARD DESIGN METHOD THEREOF例文帳に追加
多重フェンスのある電波計測用テストサイト及びその標準設計方法 - 特許庁
Combining multiple such self-test instructions allows a custom test methodology to be built up by a user using a generic self-test controller 10.例文帳に追加
多数のこのような自己テスト命令を組み合わせることにより、ユーザは総称的自己テスト・コントローラ10を用いて特注のテスト方法を構築できる。 - 特許庁
Combining multiple such self-test instructions allows a user to build up a custom test methodology by using the generic self-test controller 10.例文帳に追加
多数のこのような自己テスト命令を組み合わせることにより、ユーザは総称的自己テスト・コントローラ10を用いて特注のテスト方法を構築できる。 - 特許庁
The system includes multiple-well test panels capable of conducting ID and AST testing on the same test panels.例文帳に追加
このシステムは、同じ試験パネル上でID試験およびAST試験を行うことのできる多重ウェル試験パネルを含む。 - 特許庁
To provide a technique of generating test data capable of testing a verification program without preparing multiple test data.例文帳に追加
複数のテストデータを準備することなく、検証プログラムをテストすることができるテストデータを生成する技術を提供する。 - 特許庁
The test area 10 is used to check a reproduction output value after test signals are multiple-recorded in the hologram layer.例文帳に追加
テスト領域10は、テスト信号をホログラム層に多重記録した後、再生出力値を確認する領域である。 - 特許庁
ELECTROCHEMICAL TEST PIECE HAVING MULTIPLE REACTION CHAMBER AND METHOD FOR USING THE SAME例文帳に追加
複数の反応チャンバーを有する電気化学的試験片およびその使用方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR MEMORY, AND WORD LINE MULTIPLE SELECTION TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加
半導体記憶装置及び半導体記憶装置のワード線多重選択試験方法 - 特許庁
The following form can be used in order to test the multiple file upload example. 例文帳に追加
複数ファイルのアップロードのサンプルを試してみるには、このようなフォームを使用します。 - PEAR
To provide a semiconductor device capable of easily performing a multiple and simultaneous test with high definition.例文帳に追加
多数個同時テストを容易かつ高品位に行える半導体装置を実現する。 - 特許庁
MULTIPLE LINE GRID FOR TESTING, SEMICONDUCTOR CHIP, AND TEST ELEMENT FOR CHECKING PERFORMANCE OF SEMICONDUCTOR CHIP例文帳に追加
テスト用マルティプルライングリッド、半導体チップ、並びに、半導体チップの性能チェック用テスト素子 - 特許庁
To provide a Web application function test terminal that can execute a multiple Web application function test despite a low throughput.例文帳に追加
処理能力が低くてもWebアプリケーション機能試験を多重化して実施できるWebアプリケーション機能試験端末を提供する。 - 特許庁
MULTIPLE-CAPTURE DFT SYSTEM FOR DETECTING OR LOCATING CROSSING CLOCK-DOMAIN FAULT DURING SELF-TEST OR SCAN TEST例文帳に追加
自己試験中または走査試験中にクロックドメインにまたがる故障を検出するか突き止める複数キャプチャDFTシステム - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR USING SINGLE eFUSE BANK TO PRESERVE TEST DATA CONTINUOUSLY FROM MULTIPLE TEST STAGE例文帳に追加
多重テスト・ステージからテスト・データを連続的に保存するために単一のeFuseバンクを使用するための装置および方法 - 特許庁
To provide a semiconductor test equipment and a method for the same capable of redoubling the throughput of the test capable of simultaneous measurement, and at the same time capable of shortening the test time, with regard to the semiconductor test equipment and the method capable of simultaneous measurement for the multiple objective device.例文帳に追加
同時測定可能な被試験デバイス数を倍増させると同時にテスト時間を短縮することができる半導体試験装置及び半導体試験方法を提供する。 - 特許庁
To conduct a selection test of a test of a very-multiple-terminal LSI by an LSI tester which has a small number of terminals without incorporating a circuit dedicated to the test in the tested LSI.例文帳に追加
超多端子LSIのテストの選別テストを、被テストLSIにテスト専用の回路を内蔵させることなく端子数が少ないLSIテスタにより可能とする。 - 特許庁
In an ultrafine hardness measuring device 100, hardness against a test piece of steel is measured at multiple points by an ultrafine hardness test.例文帳に追加
超微小硬さ測定装置100が、鋼材の試験片に対して超微小硬さ試験により硬さの多点測定を行う。 - 特許庁
Multiple pieces of information on test conditions described in a test program PR are stored in a hardware register 3, then one piece is selected by a register controller 9 from among the multiple pieces of information on test conditions stored in the hardware register 3, and the first test of a device 30 to be measured is conducted, based on the information on test conditions selected.例文帳に追加
試験プログラムPRに記述された複数の試験条件情報をハードウェア・レジスタ3に格納した後、ハードウェア・レジスタ3に格納された複数の試験条件情報のうちの一つをレジスタ・コントローラ9で選択し、その選択された試験条件情報に基づいて被試験デバイス30の一回目の試験を行う。 - 特許庁
MULTIPLE SCAN CHAIN CIRCUIT WITH PIN SHARING, ITS TEST METHOD, AND SCAN VECTOR LOADING METHOD例文帳に追加
ピン共有を用いた多重スキャンチェーン回路及びテスト方法並びにスキャンベクトルローディング方法 - 特許庁
In the electron beam device, primary electrons are divided into multiple beams at a plurality of openings and the multiple beams are reduced by an objective lens, and scans on the test piece.例文帳に追加
電子線装置において、一次電子を複数の開口でマルチビームに分割し、マルチビームを対物レンズで縮小し、試料上を走査する。 - 特許庁
To provide a method for testing many word lines of a semiconductor memory assembly in a multiple WL wafer test in which a multiple wafer test can be performed quickly without needing much cost.例文帳に追加
迅速に、そして多大の費用を伴わずにマルチプルWLウエハテストを実施できるような、マルチプルWLウエハテストにおける半導体メモリーアッセンブリーの多数のワード線のテスト方法を提供する。 - 特許庁
In the burn-in test, multiple light source elements and multiple photodetectors for monitoring each optical output from the multiple light source elements are installed on a jig table, and the multiple light source elements are energized, in a state where at least the multiple light source elements and the multiple photodetectors are immersed in insulating liquid.例文帳に追加
複数の光源素子と、複数の光源素子からの各々の光出力をモニタリングするための複数の光検出器と、を治具台に組み込み、少なくとも複数の光源素子と複数の光検出器とを絶縁性の液体に浸漬させた状態で、複数の光源素子に通電して行なうように構成される。 - 特許庁
A multiple event definition device 100 defines a multiple event obtained by combining a plurality of single events which simultaneously occur in an inspection object as a test item.例文帳に追加
多重イベント定義装置100は検証対象に同時に発生する複数の単一イベントを組み合わせた多重イベントをテスト項目として定義する。 - 特許庁
To provide a multiple-wavelength light source for simultaneously performing the performance test of a plurality of channels in a wavelength- multiple-system optical fiber communication system.例文帳に追加
波長多重方式の光ファイバ通信システムにおいて、複数のチャネルの性能試験を同時に行うことが可能な多波長光源を提供する。 - 特許庁
The respective events defined as multiple event definition information 195 are set to be the test items of the verification object.例文帳に追加
多重イベント定義情報195に定義された各イベントは検証対象のテスト項目となる。 - 特許庁
To provide a dedicated reading device using a test piece capable of measuring multiple samples in a short time.例文帳に追加
短時間で複数の試料を測定できる試験片を用いる専用の読み取り装置の提供。 - 特許庁
A transmitting receiving part 2a receives ultrasound from a test object to acquire a receiving signal of multiple channels.例文帳に追加
送受信部2aは、被検体からの超音波を受信して複数チャンネルの受信信号を得る。 - 特許庁
To provide a multiple scan chain circuit which prevents increase in the number of pins, and shortens test execution time.例文帳に追加
ピン数の増加をなくし、かつテスト実施時間を短縮できる多重スキャンチェーン回路を提供する。 - 特許庁
This method for examining the drug sensitivity is provided by dividing a test medium 1 surrounding a filter paper 2 into a multiple number of test areas 3a to 3f having stepwise different distances from the filter paper 2.例文帳に追加
濾紙2の周囲の試験培地1を、濾紙2からの距離が段階的に異なる複数の試験領域3a乃至3fに分割する。 - 特許庁
To start test without operating any pre-processing such as stab preparation or external variables setting in the simplex test and partial connection test of a program composed of multiple modules to be performed by using a debugger.例文帳に追加
デバッガを用いて行う複数モジュールからなるプログラムの単体テストおよび部分結合テストにおいて、スタブ作成や外部変数の設定等の前処理を行わずに、テストを開始できるようにする。 - 特許庁
| 例文 |
| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
| Copyright (c) 株式会社 高電社 All rights reserved. |
| 日本語ワードネット1.1版 (C) 情報通信研究機構, 2009-2026 License. All rights reserved. WordNet 3.0 Copyright 2006 by Princeton University. All rights reserved.License |
| Copyright © 1995-2026 Hamajima Shoten, Publishers. All rights reserved. |
| Copyright (c) 1995-2026 Kenkyusha Co., Ltd. All rights reserved. |
| Copyright © Benesse Holdings, Inc. All rights reserved. |
| この対訳コーパスは独立行政法人情報通信研究機構の研究成果であり、Creative Commons Attribution-Share Alike 3.0 Unportedでライセンスされています。 |
| Copyright © 2001 - 2008 by the PEAR Documentation Group. This material may be distributed only subject to the terms and conditions set forth in the Open Publication License, v1.0 or later (the latest version is presently available at http://www.opencontent.org/openpub/ ). |
| © 2010, Oracle Corporation and/or its affiliates. Oracle and Java are registered trademarks of Oracle and/or its affiliates.Other names may be trademarks of their respective owners. |
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|




