「multiple test」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a device for automatically creating multiple-choice questions, the device automatically creating, in cooperation with electronic dictionary data, multiple-choice questions to test the level of comprehension of a word.例文帳に追加

電子辞書データと連携して単語の理解度をテストするための選択問題を自動生成することのできる選択問題自動生成装置を提供する。 - 特許庁

The encoder further applies error correction encoding with multiple block encoding formats to an information array including the original symbol and the RS test symbols, and generates test symbols of multiple formats corresponding to the block encoding formats.例文帳に追加

また、元の情報記号とＲＳ検査記号とを有する情報配列に複数のブロック符号化形式による誤り訂正符号化を施すとともに、ブロック符号化形式に対応する複数の形式の検査記号を生成する。 - 特許庁

This eliminates the need of a plurality of scenarios to enable the Web application function test terminal 1 to execute a multiple Web application function test despite a low throughput.例文帳に追加

よって、複数のシナリオが必要なく、Webアプリケーション機能試験端末１の処理能力が低くてもWebアプリケーション機能試験を多重化して実施することができる。 - 特許庁

ALIGNMENT APPARATUS FOR ALIGNING MULTIPLE LIGHT SOURCE OUTPUTS OF OPTICAL SERVO SYSTEM, ALIGNMENT TEST TAPE, ALIGNMENT TEST TARGET AND METHOD FOR ALIGNING OPTICAL SERVO SYSTEM例文帳に追加

光サーボシステムの複数の光源出力を整列させるための整列機器、整列検査テープおよび整列検査対象、ならびに光サーボシステムを整列させる方法 - 特許庁

To provide an image formation apparatus which precisely reproduces multiple colors without imposing a user sorting operation of test print sheets.例文帳に追加

テストプリント紙の仕分け作業をユーザーに強いることなく、多次色を精度良く再現する画像形成装置を提供する。 - 特許庁

When the results of the first test are a failure, another piece is selected by the register controller 9 from the multiple pieces of information on test conditions stored in the hardware register 3, and the second test of the device 30 is conducted based on the information on test conditions selected.例文帳に追加

一回目の試験の結果がフェイルである場合、ハードウェア・レジスタ３に格納された複数の試験条件情報のうちの他の一つをレジスタ・コントローラ９で選択し、その選択された試験条件情報に基づいて被試験デバイス３０の二回目の試験を行う。 - 特許庁

When a tester 40 or a test board 12 itself of a test system is checked, or when a test program is debagged, a multiple switch 33 with contacts provided on the test board 12 is operated to be closed, so as to connect an IC socket 34 mounted with a finished product IC to an external connection terminal 32.例文帳に追加

テストシステムのテスタ４０、テストボード１２自体のチェックや、テストプログラムのデバッグを行う際には、テストボード１２上に設けられた有接点多重スイッチ３３を閉操作して、完成品ＩＣを載置したＩＣソケット３４と外部接続端子３２との間を接続する。 - 特許庁

A learning test region about one parameter of a disk is made length integral multiple of wobble beat period width caused in a reproduced wobble signal of wobble, test recording about one parameter value is performed for the learning test region, reproduction of test recording, reproduction evaluation, and preservation of a reproduction evaluation result are performed.例文帳に追加

ディスクの１つのパラメータに関する学習テスト領域をウォブルの再生ウォブル信号に生じるウォブルビート周期幅の整数倍の長さとし、学習テスト領域に対し１つのパラメータ値に関するテスト記録を行い、テスト記録の再生、再生評価、及び再生評価結果の保存を行う。 - 特許庁

The system has multiple paths in the synchronization circuitry that allows responses from several devices under test (DUT) to be synchronized with each other, and the test can be executed simultaneously.例文帳に追加

上記のシステムは、同期回路内に多数の経路を有し、同期回路によって、いくつかの被検査デバイスＤＵＴからの応答が互いに同期し、検査が同時に実行されるようになる。 - 特許庁

An exemplary embodiment of the disclosed technology can be used, e.g. to test one or multiple memories located on an integrated circuit during the manufacturing test.例文帳に追加

開示された技術の例示的実施形態は、例えば、製造時テストにおいて、集積回路上に配置された１つ又は複数のメモリをテストするために用いられることが可能である。 - 特許庁

Each TestCase instance represents a single test, but eachconcrete subclass may be used to define multiple tests -- the concrete class represents a single test fixture.例文帳に追加

TestCaseクラスのインスタンスは個別のテストをあらわすオブジェクトですが、TestCaseの具象サブクラスには複数のテストを定義する事ができます -- 具象サブクラスは、特定のfixture(テスト設備)を示している、と考えてください。 - Python

To perform a test under multiple temperature conditions for determining the optimum temperature condition of a glass material in a short time.例文帳に追加

ガラス材料の最適温度条件を決定するための、複数温度条件での試験を短時間で行うことを目的とする。 - 特許庁

To provide an electron beam device provided with an electron gun which can emit multiple beams of high precision, and can perform a sample test of high precision.例文帳に追加

高精度のマルチビームを放出可能な電子銃を備え、高精度で試料評価を行いうる電子線装置を提供する。 - 特許庁

To provide a multiple gear pump capable of performing running-in operation independent per pump and a shipment test.例文帳に追加

本発明は、ポンプ毎に独立したならし運転、出荷試験などが実施可能な多連歯車ポンプを提供することを目的とする。 - 特許庁

To reduce the number of elements of a drive circuit and the cost for the test in performing a multiple gradation display by an active matrix type liquid crystal device.例文帳に追加

アクティブマトリクス型液晶表示装置で多階調表示する場合において、駆動回路の素子数及びテストコストの低減を図る。 - 特許庁

When test printing is performed in a repeat printing mode, an image as large as one of the multiple images is printed in a layout where the multiple images would otherwise be printed in a repeat printing mode (Figure (A)).例文帳に追加

リピート印刷モードでお試し印刷を実行すると、本来リピート印刷モードにて複数の画像が印刷されるべきレイアウトで、そのうちの１つ分の画像の大きさにて試し印刷が行われる（図（Ａ））。 - 特許庁

To provide a positioning device of a semiconductor device and a carrying device for a test apparatus which can improve the efficiency of a test while coping with multiple kinds of packages having different dimensions of outline.例文帳に追加

異なる外形寸法を持つ複数種のパッケージに対応可能としながら、試験の効率化を図ることのできる半導体装置の位置決め装置及び試験装置用搬送装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory in which a test time of a word line multiple selection test is shortened and stable operation can be performed, in a semiconductor memory constituted of a plurality of blocks.例文帳に追加

複数のブロックで構成される半導体記憶装置において、ワード線多重選択試験の試験時間を短縮し、かつ安定した動作を可能とする半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a multiple torsional fatigue tester enabling the torsional test of a plurality of test pieces by one test to enhance the efficiency of a torsional fatigue test and capable of achieving the reduction of an arranging space and cost reduction as compared with a conventional case arranging a plurality of torsional fatigue testers.例文帳に追加

１度の試験により複数個の供試体のねじり疲労試験が可能で、ねじり疲労試験の能率を向上させ、かつ、従来のねじり疲労試験機を複数台設置する場合に比して設置スペースの削減およびコストの低減を達成することのできる多連ねじり疲労試験機を提供する。 - 特許庁

To carry out the evaluation of the defect inspection or the like of a test piece having a pattern of a minimum line width of 0.2 μ or less by using a multiple beam at high throughput.例文帳に追加

最小線幅０．２ミクロン以下のパターンを有する試料の欠陥検査等の評価を、マルチビームを用いて高スループットで行なう。 - 特許庁

To make a flash memory, etc., of multiple bit configuration a basic element and to reduce test cost of a memory card performing an input-output operation of data in one-bit unit.例文帳に追加

多ビット構成のフラッシュメモリ等を基本素子とし、１ビット単位でデータの入出力動作を行うメモリカードの試験コストを低減する。 - 特許庁

To provide a circuit module having circuit blocks in multiple stages and a function for executing the operation test only of the target circuit block.例文帳に追加

複数段の回路ブロックを備え、動作テストの対象となる回路ブロックのみの動作テストを行う機能を設けた回路モジュールを提供する。 - 特許庁

The test circuit (340) has a bidirectional switch arranged at each of multiple data lines and a control means for controlling switching of the switch.例文帳に追加

検査回路（３４０）は、複数のデータ線の各々毎に設けられた双方向性スイッチと、そのスイッチの開閉を制御する制御手段とをもつ。 - 特許庁

To test the packet throughput or the like of a router to be tested by forming the state of connecting the router in multiple stages.例文帳に追加

試験対象のルータが多段接続された場合等の状態を作り出して当該ルータのパケット処理能力等についての試験を行う。 - 特許庁

A multiple surface mounting board 10 is provided with a plurality of circuit boards 12 and substrates 14 for a chip mounting strength test.例文帳に追加

本発明の一実施形態に係る多面付け基板１０は、複数の回路基板１２と、チップ搭載強度試験用基板１４とを備える。 - 特許庁

Since the network test of the test server 6 can be conducted independent of the main control part 2, a load is not given to the main storage bus 24 and multiple client cards 401-40n can be inserted into one client control machine 1.例文帳に追加

主制御部２とは独立して試験用サーバ６のネットワーク試験を実行できるので、主記憶バス２４に負荷がかからず、１台のクライアント制御マシン１に多数のクライアントカード４０_1〜４０_nを挿入できる。 - 特許庁

Multiple correction test patterns are recorded using ejecting ports in part of the recording head, and correction data for correcting an image corresponding to ejecting ports in the entire area of the recording head is generated on the basis of the colorimetric result of the test patterns.例文帳に追加

記録ヘッドの全域ではなく一部を用いて、複数回補正用テストパターンを記録し、その測色結果に基づいて、全域の吐出口に対応した画像を補正するための補正データを生成する。 - 特許庁

A detector is included which can detect the secondary electrons mutually and independently generated from the test piece surface by each multiple beam in the secondary optical system.例文帳に追加

前記マルチビームの各々により試料面から発生する二次電子を二次光学系において互いに独立に検出できる検出器を含む。 - 特許庁

Signals corresponding to the respective beams of the multiple beams by the secondary electron group are detected by a plurality of detectors, and the evaluation of the pattern on the test piece face is carried out.例文帳に追加

複数の検出器で二次電子群によるマルチビームの各ビームに対応する信号を検出し、試料面上のパターンの評価を行なう。 - 特許庁

To solve the problem that connecting measuring pins of an LSI tester to all terminals under measurement prevents multiple simultaneous measurement when performing an output voltage test on an LSI.例文帳に追加

ＬＳＩの出力電圧試験を行う際に全被測定端子にＬＳＩテスタの測定ピンを接続すると、多個同測化の妨げになってしまう。 - 特許庁

To provide an X-ray CT system for CT photographing by irradiating a test sample with X rays from multiple directions, without having to install a rotation device.例文帳に追加

回転装置を設けることなく被検体に対して多方向からＸ線を照射してＣＴ撮影を行うＸ線ＣＴ装置を提供する。 - 特許庁

The semiconductor test device 100 measures the matching time of each DUT and performs processing calculating test efficiency values at each matching time by performing processing which takes the statistics of the distribution of the yield of DUT in a function test of a prescribed time out of multiple times.例文帳に追加

半導体試験装置１００では、複数回実行されるうちの所定回目のファンクションテストにおいて、各ＤＵＴのマッチ時間を計測し、ＤＵＴの収量の分布を統計する処理を行い各マッチ時間ごとに試験効率値を算出する処理を行う。 - 特許庁

Disclosed is a method for diagnosing multiple sclerosis by comparing the levels of antibodies in a test sample from a subject to a control sample selected from the group consisting of one or more individuals who have multiple sclerosis symptoms and have a known multiple sclerosis status and one or more individuals who do not show multiple sclerosis symptoms.例文帳に追加

被験体からの試験サンプル中の抗体のレベルと多発性硬化症症状を有し、かつ公知の多発性硬化症状態を有する１以上の個体および多発性硬化症症状を示さない１以上の個体からなる群から選択したコントロールサンプルから検出した抗体のレベルとを比較することにより、被験体の多発性硬化症を診断する方法を開示する。 - 特許庁

Multiple memory cells are sequentially tested and error pattern information is updated based on a relative arrangement relation of multiple defective memory cells each time a defective memory cell is detected by the test, and error address information is updated based on at least a part of the addresses of the multiple defective memory cells.例文帳に追加

複数のメモリセルに対して順番にテストを行い、テストによって不良メモリセルを検出するたびに、複数の不良メモリセルの相対的な配置関係に基づいてエラーパターン情報を更新するとともに、複数の不良メモリセルの少なくとも一部のアドレスに基づいてエラーアドレス情報を更新する。 - 特許庁

This testing system is constituted of a test control section (PC) 1 and a transmission-reception control section (TST) 2 and a multiple-frequency encoder (DUT) 4 to be tested is connected to an encoder connecting section (CON) 3.例文帳に追加

試験制御部（ＰＣ）１と送受信制御部（ＴＳＴ）２とで構成され、符号器接続部（ＣＯＮ）３に試験用の符号器（ＤＵＴ）４が接続される。 - 特許庁

Using the dielectric joint (220) to link together multiple conductive sleeves (240) results in a flexible test cable (200) with electrical transparency at the frequency of interest.例文帳に追加

誘電体ジョイントにより複数の導電性スリーブ（２４０）が連結され、関心周波数において電気的透過性を有する可撓性試験ケーブル（２００）が形成される。 - 特許庁

To provide a BGA package product for a semiconductor which can be mass-produced and is highly reliable in heat cycle test at a low cost by forming single layer wiring and performing multiple imposition.例文帳に追加

単層配線かつ多面付けして大量生産でき、さらにヒートサイクルテストにおける信頼性の高い半導体用ＢＧＡパッケージ製品を低価格で提供する。 - 特許庁

A test chart for printing black bars and white bars of a barcode, each of which has one of multiple different numbers of dots-in-width, is printed on a printing device on which barcodes are printed.例文帳に追加

バーコードを印刷する印刷装置で、バーコード用の黒バーおよび白バーをそれぞれ複数の異なるドット数の幅で印刷するためのテストチャートの印刷を行う。 - 特許庁

To achieve multiple blood sample tests on a single strip in a blood sample test device having a continuous strip sensor which is advanced through the device.例文帳に追加

装置を通って進行する連続したストリップ状のセンサを有する血液サンプルの検査装置にあって、単一のストリップ上で複数の血液サンプルの検査が行えるようにする。 - 特許庁

As a result, the multiple images of the scheduled amount are additionally printed in a blank left out by the print image 101 that has been printed in the initial test printing (Figure (B)).例文帳に追加

これにより、最初の試し印刷で印刷された印刷画像１０１を除く余白の部分に、予定量の複数の画像が繰り返して印刷される（図（Ｂ））。 - 特許庁

To detect short circuiting between bundled terminal groups or multiple troubles therebetween, even when those exist, and to allow a stable test even when input output terminals are bundled.例文帳に追加

束ねる端子群の端子間の短絡又は多重故障がある場合であっても、これらを検出し、入出力端子を束ねても安定したテストを行なう。 - 特許庁

An encoder applies RS (Reed Solomon) encoding to multiple information parts of an original information symbol, and generate RS test symbols corresponding to each information parts.例文帳に追加

符号化装置は、元の情報記号の複数の情報部分の各々にＲＳ（リード・ソロモン）符号化を施すとともに、各情報部分に対応するＲＳ検査記号を生成する。 - 特許庁

A test pattern utilized for acquiring an eccentricity correction value and an outside diameter correction value is formed to have a surplus region exceeding an integral multiple of the circumferential length of a roller.例文帳に追加

偏心補正値および外径補正値を取得するために利用されるテストパターンは、ローラの周長の整数倍を超える過剰領域を持って形成される。 - 特許庁

In a multi-task system in which a common resource is used by multiple tasks, the possibility of generation of dead lock that the multiple tasks wait for each other and stop their is operation is detected by comparing access information at each test performed to each task.例文帳に追加

複数のタスクが共通の資源を利用するマルチタスクシステムにおいて、前記複数のタスクが待ち合って停止してしまうデッドロックの発生の可能性を、各タスクの別々に行ったテスト時のアクセス情報の比較によって検出する。 - 特許庁

Multiple integrated circuit chip structure comprises an inter-chip interface circuit 360 configured to selectively connect an internal circuit of an integrated circuit so as to test an interface circuit 385, having an ESD protection circuit 387 and an input/output circuit 389, for communicating with an external test system during a test and a burn-in procedure.例文帳に追加

多重集積回路チップ構造は、テストおよびバーン・イン手順中に外部テスト・システムと通信するためのＥＳＤ保護回路３８７および入出力回路３８９を有するインターフェース回路３８５をテストするため集積回路の内部回路を選択的に接続するチップ間インターフェース回路３６０を有する。 - 特許庁