「ray S」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To provide an X-ray generator, capable of monitoring the characteristic of X-ray with a high S/N ratio.例文帳に追加

高いＳ／Ｎ比でＸ線の特性をモニタすることができるＸ線発生装置を提供する。 - 特許庁

This X-ray analyzer has an X-ray source for generating an X-ray with which the sample S placed on a measuring position is irradiated, an X-ray detector for detecting the X-ray diffracted by the sample S, and the vacuum path 17 provided between the X-ray source and the X-ray detector.例文帳に追加

測定位置に置かれた試料Ｓに照射するＸ線を発生するＸ線源と、試料Ｓで回折したＸ線を検出するＸ線検出器と、Ｘ線源とＸ線検出器との間に設けられた真空路１７とを有するＸ線分析装置である。 - 特許庁

This device comprises an X-ray source 6 generating X-ray, a sample holding base 8 holding a sample S, an X-ray detector 7 detecting X-ray emitted from the X-ray source 6 and penetrated the sample S, and an imaging system support means mounting the X-ray source 6 and the X-ray detector 7.例文帳に追加

Ｘ線を発生させるＸ線源６と、試料Ｓを保持する試料保持台８と、Ｘ線源６から放射され試料Ｓを透過してきたＸ線を検出するＸ線検出器７と、Ｘ線源６およびＸ線検出器７を搭載する撮像系支持手段とを備える。 - 特許庁

In the method, the crushed single crystal sample (crushed sample S) is irradiated with the X-ray.例文帳に追加

この方法において、Ｘ線の照射を粉砕された単結晶の試料（粉砕試料S）に対して行う。 - 特許庁

To provide an X-ray photoelectric converter which has a high responsiveness and a high S/N ratio.例文帳に追加

応答性が高く、かつ、Ｓ／Ｎ比の高いＸ線光電変換器を得る。 - 特許庁

To provide an X-ray photoelectric converter high in an S/N ratio and excellent in durability.例文帳に追加

Ｓ／Ｎ比が高く、耐久性にも優れたＸ線光電変換器を得る。 - 特許庁

An analysis sample S is mounted directly on an X-ray detecting element 1.例文帳に追加

Ｘ線検出素子１の上に分析試料Ｓを直接載置する。 - 特許庁

A heat ray sensor comprises a sensor element S and a resin cap 10.例文帳に追加

熱線センサをセンサ素子Ｓと樹脂キャップ１０とで構成した。 - 特許庁

To acquire a high S/N ratio radiographic image in spite of variation in duration of X-ray wave tail.例文帳に追加

Ｘ線の尾引の長さが変化してもＳ／Ｎ比が高い画像を得る。 - 特許庁

An iron plate S used for a shadow mask of a color cathode ray tube is rinsed in water.例文帳に追加

カラーブラウン管のシャドーマスクに用いる鉄板Ｓを水洗する。 - 特許庁

As a result, the S/N of the X-ray image signal can be enhanced.例文帳に追加

その結果、Ｘ線画像信号のＳ／Ｎを改善できる。 - 特許庁

An X-ray detector 13 detects a secondary X-ray from a sample S and an MCA 14 acquires a spectrum of the secondary X-ray.例文帳に追加

Ｘ線検出器１３は試料Ｓから二次Ｘ線を検出し、ＭＣＡ１４は二次Ｘ線のスペクトルを取得する。 - 特許庁

A sample S is irradiated with an X-ray from an x-ray source F being regulated by incident side slits 22a, 22b so that the X-ray diffracted by the sample S is detected by an X-ray film 7a or a CCD sensor 7b.例文帳に追加

Ｘ線源ＦからのＸ線を入射側スリット２２ａ，２２ｂで規制して試料Ｓへ照射し、試料Ｓで回折したＸ線をＸ線フィルム７ａ又はＣＣＤセンサ７ｂによって検出する。 - 特許庁

This X-ray analyzer 16 emits an X-ray emitted from an X-ray source 18 toward a sample S and detects the X-ray diffracted by the sample S by a two-dimensional CCD sensor 27.例文帳に追加

Ｘ線源１８から放射されたＸ線を試料Ｓに照射すると共にその試料Ｓで回折したＸ線を２次元ＣＣＤセンサ２７によって検出するＸ線分析装置１６である。 - 特許庁

In this X-ray diffraction device, an X-ray radiated from an X-ray source F is regulated by a divergence slit 2 and irradiated to the sample S, and a diffraction line R_2 emitted from the sample S is detected by an X-ray detector 10.例文帳に追加

Ｘ線源Ｆから放射されたＸ線を発散スリット２によって規制して試料Ｓに照射し、試料Ｓから出た回折線Ｒ_２をＸ線検出器１０によって検出するＸ線回折装置である。 - 特許庁

This X-ray analyzer 16 is a device for irradiating a sample S with an X-ray radiated from an X-ray source 17, and detecting the X-ray diffracted by the sample S by a two-dimensional CCD sensor 22.例文帳に追加

Ｘ線源１７から放射されたＸ線を試料Ｓに照射すると共に試料Ｓで回折したＸ線を２次元ＣＣＤセンサ２２によって検出するＸ線分析装置１６である。 - 特許庁

The estimate value VS' is compared with VD, and when VS' is larger than VD, it is decided that the detector is insensitive with respect to γ-ray up to the normalized dose rate DS.例文帳に追加

推定値Ｖ_S'をＶ_Dと比較し、Ｖ_S'＞Ｖ_Dであれば、規準線量率Ｄ_Sまでγ線に対し不感であると判定される。 - 特許庁

A sample-cooling device 5 is used for an X-ray analysis apparatus 1 in which a sample S supported by a sample rod 23 is rotated around a ω axis as center, the sample S is irradiated with an X-ray, and the X-ray exiting the sample S is detected by an X-ray detector 11.例文帳に追加

試料棒２３によって支持された試料Ｓをω軸線を中心として回転させ、試料ＳにＸ線を照射し、試料Ｓから出るＸ線をＸ線検出器１１によって検出するＸ線分析装置１に用いられる試料冷却装置５である。 - 特許庁

In this X-ray apparatus, the X ray is detected by the X-ray detector 21 while rotating the X-ray detector 21 and the monochromator 17 around the sample S by 2θ.例文帳に追加

このＸ線装置では、Ｘ線検出器２１及びモノクロメータ１７を試料Ｓを中心として２θ回転させながら、そのＸ線検出器２１によってＸ線を検出する。 - 特許庁

An X-ray apparatus has a monochromator 17 disposed on an optical axis L of X ray passing through a focus F of the X ray, a sample S, and X-ray detector 21.例文帳に追加

Ｘ線焦点Ｆ、試料Ｓ及びＸ線検出器２１を通るＸ線光軸Ｌ上に配設されたモノクロメータ１７を有するＸ線装置である。 - 特許庁

Another X-ray spectrum is obtained from the fluorescent X rays emitted from the sample S in a fluorescent X-ray yield spectrum detecting section 26.例文帳に追加

蛍光Ｘ線収量スペクトル検出部２６において試料Ｓから放出された蛍光Ｘ線に基づいてＸ線吸収スペクトルを得る。 - 特許庁

To reduce 1/f noise of a resistance change material in a bolometer type infrared ray sensor and to improve S/N of the infrared ray sensor.例文帳に追加

ボロメータ型の赤外線センサにおいて抵抗変化材料の１／ｆノイズを低減し、赤外線センサのＳ／Ｎを向上する。 - 特許庁

To provide an X-ray CT apparatus capable of eliminating the influence of a scattered ray by a simple method without lowering the S/N of images.例文帳に追加

画像のＳ／Ｎを低下させずに、簡便な手法により散乱線の影響を除去することが可能なＸ線ＣＴ装置を提供する。 - 特許庁

The imaging system support means is adapted to arrange the X-ray source 6 and the X-ray detector 7 oppositely across the sample S.例文帳に追加

また、撮像系支持手段は、試料Ｓを挟んでＸ線源６とＸ線検出器７とを対向配置する。 - 特許庁

X-ray detection sections S are arranged in the slice direction to face an X-ray tube focal point F.例文帳に追加

スライス方向に配列される各Ｘ線検出部Ｓが、それぞれＸ線管焦点Ｆを向くように各Ｘ線検出部Ｓを配置した。 - 特許庁

An X-ray source 6 and an X-ray detector 7 mounted on a guide arm 3 are movable in a touching or parting direction with respect to a specimen S.例文帳に追加

ガイドアーム３に搭載したＸ線源６およびＸ線検出器７が試料Ｓに対し接離する方向へ移動自在である。 - 特許庁

A diffracted X-ray generated in the sample S is converged by a solar slit 9 to be received by an X-ray detector 10.例文帳に追加

そして、試料Ｓで発生した回折Ｘ線をソーラースリット９で収束しＸ線検出器１０で受光する。 - 特許庁

This X-ray analyzer has an X-ray source F for generating the characteristic X-ray of Cr emitted to the sample S, a stimulable phosphor plate for receiving the diffracted rays emitted from the sample S, and a helium path 13 arranged between the sample S and the stimulable phosphor plate.例文帳に追加

試料Ｓに照射するＣｒの特性Ｘ線を発生するＸ線源Ｆと、試料Ｓから出る回折線を受光する蓄積性蛍光体プレートと、試料Ｓと蓄積性蛍光体プレートとの間に配置されたヘリウムパス１３とを有するＸ線分析装置である。 - 特許庁

This fluorescent X-ray analyzer is equipped with a sample stand 3 for supporting the sample S; an X-ray source 4 for irradiating the center of a prescribed irradiation position P1 with a primary X-ray P; and a detector 5 arranged toward the irradiation position P1, for detecting a fluorescent X-ray Q generated from the sample S.例文帳に追加

蛍光Ｘ線分析装置は、試料Ｓを支持する試料台３と、所定の照射位置Ｐ１を中心として一次Ｘ線Ｐを照射するＸ線源４と、照射位置Ｐ１に向って配置され、試料Ｓから発生する蛍光Ｘ線Ｑを検出する検出器５とを備えている。 - 特許庁

The optical axis of the poly-capillary X-ray half lens 13 is orthogonal to the sample placing surface 141, and the fine part of the sample S is surely irradiated with the X-ray regardless of the height of the sample S, and the fluorescent X-ray from the fine part is detected, to thereby perform stable fluorescent X-ray analysis.例文帳に追加

ポリキャピラリＸ線ハーフレンズ１３の光軸は試料載置面１４１に直交しており、試料Ｓの高さに拘わらずに、確実に試料Ｓの微小部分にはＸ線が照射され、微小部分からの蛍光Ｘ線は検出され、安定した蛍光Ｘ線分析が行われる。 - 特許庁

Meanwhile, Hancock has a strange feeling when he meets Ray’s wife Mary (Charlize Theron). 例文帳に追加

一方で，ハンコックはレイの妻メアリー(シャーリーズ・セロン)に会うと，不思議な気持ちになる。 - 浜島書店 Catch a Wave

Further, the X-ray photoelectric converter 10 having the under coating layer described above is also high in an S/N ratio.例文帳に追加

また、上記のような下引き層３を有するＸ線光電変換器１０はＳ／Ｎ比も高い。 - 特許庁

Accordingly, even if gamma rays are incident anywhere on the scintillator S, the gamma ray position can be accurately discriminated.例文帳に追加

したがって、シンチレータＳのいかなる場所にガンマ線が入射しても正確に位置弁別できる。 - 特許庁

To provide a bump inspection device constituted so as to enhance the S/N ratio of an X-ray image to stably inspect a bump.例文帳に追加

Ｘ線画像のＳ／Ｎ比を向上させ、安定してバンプを検査できるようにする。 - 特許庁

The super-small-angle X-ray scattering measuring device comprises a detector 7 for detecting an X-ray emitted from a sample S, an X-ray parallelizing mirror 16 disposed between an X-ray actual focal point F and the sample S, a monochromator 22 disposed between the mirror 16 and the sample S, and an analyzer 23 disposed between the sample S and the detector 7.例文帳に追加

試料Ｓから出射したＸ線を検出する検出器７と、Ｘ線実焦点Ｆと試料Ｓとの間に設けられたＸ線平行化ミラー１６と、ミラー１６と試料Ｓとの間に設けられたモノクロメータ２２と、試料Ｓと検出器７との間に設けられたアナライザ２３とを有する超小角Ｘ線散乱測定装置である。 - 特許庁

To provide an X-ray CT apparatus capable of photographing MD (Material Decomposition) images excellent in S/N.例文帳に追加

Ｓ／Ｎの良いＭＤ画像を撮影するＸ線ＣＴ装置を実現する。 - 特許庁

The bath is sterilized by irradiation of ultraviolet ray by the photo-cleaning device S in keeping the heat of the bath.例文帳に追加

風呂保温時に、光クリーン装置Ｓの紫外線照射による浴湯の除菌を行う。 - 特許庁

An X-ray receiving face of the stimulable phosphor plate is curved around the sample S as the center.例文帳に追加

蓄積性蛍光体プレートのＸ線受光面は試料Ｓを中心として湾曲する。 - 特許庁

The flow channel 29 is provided with the photo-cleaning device S capable irradiating ultraviolet ray.例文帳に追加

流路２９に、紫外線照射が可能な光クリーン装置Ｓを配置する。 - 特許庁

To provide an imaging apparatus of high S/N which copes with pixel addition and gain switching which are required in an X-ray FPD (flat panel detector) or the like.例文帳に追加

Ｘ線FPD(Flat Panel Detector)等で必要とされる画素加算やゲイン切り替えに対応した，高S/Nの撮像装置を提供する。 - 特許庁

Quantity Ts of infrared ray from an infrared ray entering part, i.e., a probe 1, is detected by means of an infrared sensor 3, inner temperature Ta is detected by means of a temperature sensor 6 and a body temperature measurement Tx is calculated by means of a CPU 5 according to a formula; Tx=k×Ts+Ta.例文帳に追加

赤外線入光部であるプローブ１からの赤外線量Ｔ_s を赤外線センサ３で検出し、内部温度Ｔ_a を温度センサ６で検出し、ＣＰＵ５で測定体温Ｔ_xを、Ｔ_x ＝ｋ×Ｔ_s ＋Ｔ_a で算出する。 - 特許庁

This X-ray analyzer 1 has a sample block 4 for supporting a sample S horizontally, X-ray irradiation devices 7, 8 for irradiating the sample S with X-rays, a storage phosphor plate 9 for detecting X-rays R1, R2 emitted for the sample S, and an X-ray source arm 6 for supporting the X-ray irradiation devices 7, 8.例文帳に追加

試料Ｓを水平に支持する試料台４と、試料ＳにＸ線を照射するＸ線照射装置７，８と、試料Ｓから出るＸ線Ｒ１，Ｒ２を検出する蓄積性蛍光体プレート９と、Ｘ線照射装置７，８を支持するＸ線源アーム６とを有するＸ線分析装置１である。 - 特許庁

A detection side collimator member 23 arranged on the X-ray incidence side of each X-ray detection section S is provided with multiple inter-slice collimators 23b to face the X-ray tube focal point F.例文帳に追加

また、各Ｘ線検出部ＳのＸ線入射側に配設される検出側コリメータ部材２３は、Ｘ線管焦点Ｆを向くように複数のスライス間コリメータ２３ｂが内設されている。 - 特許庁

This method is a micro X-ray diffraction measuring method for irradiating a micro part of a sample S with an X-ray to detect the diffracted X-ray generated in the micro part.例文帳に追加

試料Ｓの微小部にＸ線を照射してその微小部に発生する回折Ｘ線を検出する微小部Ｘ線回折測定方法である。 - 特許庁

To provide an X-ray analyzer for adjusting an X-ray application position that can easily analyze XAFS(X-ray absorption fine structure) with high sensitivity under a low S/B by measuring the amount of electron being generated by applying X-rays to a sample.例文帳に追加

試料にＸ線照射して発生する電子量を低いＳ／Ｂの下、高い感度で測定して容易にＸＡＦＳ解析をすることができるＸ線照射位置調整が簡単なＸ線分析装置を提供する。 - 特許庁